0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學習在線課程
  • 觀看技術視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領取20積分哦,立即完善>

3天內不再提示

LECO工藝對光伏組件的性能影響測試(環(huán)境致衰)

美能光伏 ? 2024-02-19 13:11 ? 次閱讀

隨著對可再生能源的需求不斷增加,太陽能組件發(fā)電作為一種重要的能源轉換技術,其效率和成本問題一直備受關注。在光伏電池制造領域,LECO(激光增強接觸優(yōu)化)技術正逐漸嶄露頭角。美能光伏環(huán)境致衰減老化解決方案為生產商提供更好的支持和保障,在產品研發(fā)和質量控制中發(fā)揮著關鍵作用。本文將介紹經過LECO處理光伏電池制備的光伏組件的可靠性和耐用性。

對經過LECO處理組件的穩(wěn)定性測試

LECO工藝能夠提高PERC和TOPCon電池的轉換效率,將經過LECO處理的電池與未處理的電池制成的光伏組件進行對比,兩者加速老化和衰減測試中沒有表現(xiàn)出任何不同。在遠遠超出IEC要求的熱循環(huán)濕熱、濕凍測試的試驗中,也發(fā)現(xiàn)了相同的結論。

通過長達一年的室內和室外延長加速老化試驗所收集的大量數據,以驗證經過LECO處理的組件的穩(wěn)定性。對于光伏組件的可靠性和耐用性的試驗方法為:

- 延長熱循環(huán)試驗(TC) > 600 次;

- 濕熱試驗(DH) > 2000 小時;

- 包含濕熱試驗,紫外老化,熱循環(huán),以及高頻濕凍試驗的結合應力測試。

熱循環(huán)試驗

熱循環(huán)試驗結果顯示,經過LECO處理的組件與未經過處理的具有相當的穩(wěn)定性。組件1在最初的BO-CID測試中表現(xiàn)出嚴重退化(如下圖),但由于電流注入,在前50個循環(huán)中性能逐漸恢復。

56d0674a-cee5-11ee-9118-92fbcf53809c.png經過LECO處理的組件在延長熱循環(huán)試驗中STC功率衰減圖

所有的測試組件均有相似的衰減趨勢:在標準200次循環(huán)后,退化趨勢在1%到2.5%之間,處于合理范圍內。經過延長的800個周期(4x IEC),與未經過處理的組件之間無任何偏差,并且相對于測試持續(xù)時間,功率下降處于4-6%的良好水平

濕熱試驗

經過1000小時的延長濕熱測試后,測試組件的性能下降了3%到4.5%,除了組件2顯示出6%的功率損失(如下圖),但由于該示例顯示出較高的初始退化,很可能部分退化可以通過光浸泡來或暗電流注入來恢復。經過3000小時的濕熱測試,衰減大都在8%-10%。

56ecd72c-cee5-11ee-9118-92fbcf53809c.png

經過LECO處理的組件在延長濕熱試驗中STC功率衰減圖

EL圖像(如下圖)顯示,2300小時后柵線附近出現(xiàn)泄露,腐蝕導致短路電流的降低和填充因子(FF)的降低。

56fedcc4-cee5-11ee-9118-92fbcf53809c.png

延長濕熱試驗中部分EL成像

濕凍試驗

連續(xù)性測試中,組件功率的快速恢復進一步證明它很可能是BO-CID缺陷。在下圖的測試中,測試組件1和4顯示了幾乎相同的行為,但在10 組濕凍測試中出現(xiàn)了相對較大的下降,組件5略有不同。10組濕凍測試中的再生步驟顯示,所有樣品的性能都顯著恢復。

571525ce-cee5-11ee-9118-92fbcf53809c.png

經過LECO處理的組件在連續(xù)性測試中的STC功率退化圖

大多數測試組件的功率損耗在恢復后為2.5%到4.5%之間,與其他測試組件的結果相當。IV曲線顯示,濕凍試驗之后的功率降低是由短路電流開路電壓的降低引起的,可以通過恢復步驟部分再生。

溫度循環(huán)測試的結果表明,長期的濕熱和連續(xù)性試驗中,經過LECO處理的組件和未經過處理的組件之間沒有顯著的區(qū)別,但有顯著的性能變化。其根本原因是開路電壓短路電壓的變化。

來自美能光伏熱循環(huán)環(huán)境試驗箱、高溫高濕環(huán)境試驗箱、高低溫濕凍環(huán)境試驗箱是光伏組件環(huán)境致衰減老化測試中常用的設備。模擬光伏組件在不同氣候條件下的工作環(huán)境,評估光伏組件性能,有助于提高光伏組件的質量和可靠性,助您實現(xiàn)最佳的能源生產和回報。

美能環(huán)境致衰減老化解決方案

57360898-cee5-11ee-9118-92fbcf53809c.png

熱循環(huán)環(huán)境試驗箱通過將組件在兩個設定溫度下對材料或設備進行循環(huán),并通過熱疲勞誘導失效模式,早期識別任何制造缺陷。

高溫高濕環(huán)境試驗箱:用來確定組件承受長期濕氣滲透的能力,驗證其在長期使用過程中的穩(wěn)定性和耐久性。

高低溫濕凍環(huán)境試驗箱:確定組件承受高溫和潮濕以及零下溫度影響的能力,以確保其在實際應用中能夠適應各種惡劣環(huán)境。

LECO技術作為一項創(chuàng)新的光伏電池制造技術,應用潛力巨大,隨著技術的不斷進步和應用經驗的積累,LECO技術還有進一步的發(fā)展空間。美能光伏專為行業(yè)提出環(huán)境致衰減解決方案,并研發(fā)出熱循環(huán),高溫高濕高低溫濕凍環(huán)境試驗箱,為光伏組件的應用提供重要參考依據。讓我們一起期待LECO技術在光伏電池制造中的更廣泛應用,以實現(xiàn)更高效、更可持續(xù)的能源轉換,推動清潔能源的普及和可持續(xù)發(fā)展。

聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • 太陽能
    +關注

    關注

    37

    文章

    3341

    瀏覽量

    113780
  • 光伏組件
    +關注

    關注

    4

    文章

    245

    瀏覽量

    14718
  • 電池
    +關注

    關注

    84

    文章

    10192

    瀏覽量

    127076
收藏 人收藏

    評論

    相關推薦

    EVA在光組件中加速降解測試

    目前光組件的主要失效模式包括腐蝕、分層、變色、裂紋和斷裂等,其中封裝材料變色和分層是主要問題,占總失效模式的60%。封裝材料退化的主要原因是水分、熱量和紫外線,為了測試評估光
    的頭像 發(fā)表于 09-13 08:09 ?90次閱讀
    EVA在光<b class='flag-5'>伏</b><b class='flag-5'>組件</b>中加速降解<b class='flag-5'>測試</b>

    組件引出端機械負載下的強度測試

    引出端的機械穩(wěn)定性對光組件的安全、可靠和持久運行至關重要,其失效可能導致電氣性能下降、濕氣侵入、漏電起火等問題。引出端強度測試用于確定光
    的頭像 發(fā)表于 09-03 08:05 ?107次閱讀
    光<b class='flag-5'>伏</b><b class='flag-5'>組件</b>引出端機械負載下的強度<b class='flag-5'>測試</b>

    動態(tài)機械載荷測試前后光組件的效率對比

    (PV)模塊在現(xiàn)場的使用壽命預計至少為20年。為了確保這一點,光組件的機械完整性非常重要,影響光模塊效率的關鍵因素之一是其安裝環(huán)境
    的頭像 發(fā)表于 08-14 08:33 ?163次閱讀
    動態(tài)機械載荷<b class='flag-5'>測試</b>前后光<b class='flag-5'>伏</b><b class='flag-5'>組件</b>的效率對比

    隆基光組件蟬聯(lián)權威測試大獎

    在光技術飛速發(fā)展的今天,光組件性能、可靠性和質量一直是業(yè)界和消費者關注的焦點。近日,兩大全球知名的光
    的頭像 發(fā)表于 06-25 10:06 ?336次閱讀

    濕熱環(huán)境下乙酸的形成對光組件的影響

    在光組件的應用過程中,面臨著各種惡劣的環(huán)境條件,如高溫、高濕、長期濕氣滲透等。通過濕熱試驗來模擬這些惡劣環(huán)境條件,可以確保組件的可靠性和持
    的頭像 發(fā)表于 01-26 08:35 ?392次閱讀
    濕熱<b class='flag-5'>環(huán)境</b>下乙酸的形成<b class='flag-5'>對光</b><b class='flag-5'>伏</b><b class='flag-5'>組件</b>的影響

    LECO技術在TOPCon電池制造工藝中的應用

    。使用LECO技術的TOPCon太陽能電池能夠提升0.2%-0.5%的轉換效率。美能TLM接觸電阻測試儀,可以測量接觸電阻率、線電阻,反應擴散、電極制作、燒結等工藝
    的頭像 發(fā)表于 01-26 08:34 ?1728次閱讀
    <b class='flag-5'>LECO</b>技術在TOPCon電池制造<b class='flag-5'>工藝</b>中的應用

    熱循環(huán)試驗-模擬光組件在溫度重復變化下的性能缺陷

    組件是將太陽能轉化為電能的核心裝置。其性能和可靠性直接影響著太陽能發(fā)電系統(tǒng)的效率和壽命。然而,光組件在實際應用中常常受到溫度、濕度等
    的頭像 發(fā)表于 01-16 08:32 ?594次閱讀
    熱循環(huán)試驗-模擬光<b class='flag-5'>伏</b><b class='flag-5'>組件</b>在溫度重復變化下的<b class='flag-5'>性能</b>缺陷

    激光增強接觸優(yōu)化(LECO)工藝:光電池效率提升的關鍵

    LECO工藝的本質,其實就是增強了銀漿與電池或電路的接觸能力,降低了接觸電阻,從而可以在同樣的線寬下獲得更高的電流,或在同樣的電流下獲得更細的線路。
    的頭像 發(fā)表于 01-12 10:26 ?1.1w次閱讀
    激光增強接觸優(yōu)化(<b class='flag-5'>LECO</b>)<b class='flag-5'>工藝</b>:光<b class='flag-5'>伏</b>電池效率提升的關鍵

    全方位評估光組件性能的高溫高濕環(huán)境試驗箱

    高溫高濕環(huán)境試驗箱的工作原理是通過密封的測試室、溫濕度控制系統(tǒng)、數據采集系統(tǒng)和安全措施等多個部分的協(xié)同作用,實現(xiàn)對光組件
    的頭像 發(fā)表于 01-11 15:30 ?567次閱讀
    全方位評估光<b class='flag-5'>伏</b><b class='flag-5'>組件</b><b class='flag-5'>性能</b>的高溫高濕<b class='flag-5'>環(huán)境</b>試驗箱

    高低溫濕熱試驗箱:光組件濕熱試驗的標準

    組件濕熱試驗是一種模擬光組件在高溫高濕環(huán)境下的耐久性能
    的頭像 發(fā)表于 01-11 15:29 ?714次閱讀
    高低溫濕熱試驗箱:光<b class='flag-5'>伏</b><b class='flag-5'>組件</b>濕熱試驗的標準

    組件暴露在次電壓和溫度條件下的功率損耗測試設備

    組件是將太陽能轉化為電能的重要設備,但在長期運行中可能會遭受PID效應的影響。為了確保光組件性能和可靠性,國際電工委員會(IEC)制
    的頭像 發(fā)表于 01-11 08:32 ?667次閱讀
    光<b class='flag-5'>伏</b><b class='flag-5'>組件</b>暴露在次電壓和溫度條件下的功率損耗<b class='flag-5'>測試</b>設備

    IV曲線測試的原理及意義

    IV測試作為評估光電池性能的重要手段,對光技術的發(fā)展和應用起著關鍵的作用。通過光
    的頭像 發(fā)表于 01-10 14:37 ?1504次閱讀

    組件功率測試儀:提高光產品質量

    組件功率測試儀是專門用于測量光組件輸出功率的設備,通過模擬實際光照條件下的輸出,對光
    的頭像 發(fā)表于 01-02 10:58 ?617次閱讀
    光<b class='flag-5'>伏</b><b class='flag-5'>組件</b>功率<b class='flag-5'>測試</b>儀:提高光<b class='flag-5'>伏</b>產品質量

    便攜式光組件測試儀,簡化測試流程,提升光能源效率

    便攜式光組件測試儀簡化光組件測試流程,提高測試
    的頭像 發(fā)表于 12-14 14:48 ?913次閱讀

    深入測量光組件組件功率

    隨著光產業(yè)的發(fā)展,光組件器件的性能以及其可靠性受到了廣泛關注和深度重視。光組件
    的頭像 發(fā)表于 10-10 10:16 ?1419次閱讀
    深入測量光<b class='flag-5'>伏</b><b class='flag-5'>組件</b>的<b class='flag-5'>組件</b>功率