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外籍高管Douglas Lefever出任愛德萬測試CEO

微云疏影 ? 來源:綜合整理 ? 作者:綜合整理 ? 2024-02-29 09:39 ? 次閱讀

日本集成電路測試設(shè)備領(lǐng)軍企業(yè)愛德萬測試宣稱,其首席運(yùn)營官(COO)兼美國公民道格拉斯·利弗弗爾(Douglas Lefever)自4月份起將領(lǐng)銜首席執(zhí)行官(CEO),現(xiàn)任CEO吉田義明(Yoshiaki Yoshida)轉(zhuǎn)任名譽(yù)董事長。

利弗弗爾在2023年1月成為首席運(yùn)營官,之前曾在愛德萬測試美國擔(dān)任CEO。作為一位跨國企業(yè)管理實(shí)踐者,他的加入無疑為愛德萬測試注入了新的活力。日本被譽(yù)為一個(gè)倡導(dǎo)嚴(yán)謹(jǐn)企業(yè)文化的國家。

在LEFEVER掌舵愛德萬測試之際,投資者對(duì)于芯片制造企業(yè)有望從人工智能AI)投資中獲取豐厚回報(bào)的服務(wù)出現(xiàn)問題,請(qǐng)稍后再試。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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