GD32 MCU如何使用雙ADC內核提高ADC采樣率？

如下圖所示，GD32F303系列MCU在不同的ADC位寬情況下均具有對應的最高采樣率，那這個最高采樣率還可以提高嗎？

答案是可以的。GD32F30X系列MCU可以支持雙ADC內核，分別為ADC0和ADC1，且雙ADC可以支持同步模式，同步模式可以支持常規(guī)并行模式、常規(guī)快速交叉模式和常規(guī)慢速交叉模式，其中可以使用ADC0和ADC1的交叉模式采樣同一個通道，同步等效為提高ADC采樣率。

下面以快速交叉模式為例來進行介紹：

以下為常規(guī)快速交叉模式工作示意圖，常規(guī)觸發(fā)后，ADC1立即啟動采樣，之后ADC0在7個ADC時鐘周期后自動啟動。

ADC0和ADC1采樣轉換的數(shù)據(jù)在快速交叉模式下會被自動放到32位的ADC0數(shù)據(jù)寄存器里，如下圖所示，高16位存放是ADC1的采樣數(shù)據(jù)，低16位存放的是ADC0的采樣數(shù)據(jù)。這樣當ADC1和ADC0采樣完成后，使用ADC0對應的DMA通道搬運32位ADC0數(shù)據(jù)寄存器，就可以把ADC0和ADC1的采樣數(shù)據(jù)進行搬運。

在快速交叉模式下，需要兩個ADC的采樣周期要小于7個ADC CLK，進而可以等效提高雙倍ADC采樣率。

另外慢速交叉模式，就是將兩個ADC之間的啟動間隔改成14個ADC CLK，其他工作原理一致。

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