Zeta電位納米粒度儀的原理介紹

Zeta電位納米粒度儀是一種用于測(cè)量納米材料電位和粒度分布的重要儀器。其原理基于電泳或電滲原理，通過(guò)測(cè)量納米顆粒在電場(chǎng)作用下的移動(dòng)行為，來(lái)獲得其電位和粒度信息。
首先，讓我們了解一下Zeta電位的概念。Zeta電位是連續(xù)相與附著在分散粒子上的流體穩(wěn)定層之間的電勢(shì)差，通常用來(lái)表征顆粒表面的電性質(zhì)。當(dāng)在樣品上加載電場(chǎng)后，帶電顆粒會(huì)產(chǎn)生電泳運(yùn)動(dòng)，向相反電荷的電極移動(dòng)。顆粒的電泳運(yùn)動(dòng)速度與Zeta電位的高低和正負(fù)有關(guān)，Zeta電位的值越高，體系內(nèi)顆?；ハ嗯懦猓鼉A向與穩(wěn)定的分散。
納米粒度儀則是基于光散射原理進(jìn)行測(cè)量。當(dāng)一束激光照射在納米顆粒上時(shí)，光的散射角度與顆粒的大小有關(guān)。通過(guò)測(cè)量散射角度，可以得到顆粒的粒度分布情況。

在Zeta電位納米粒度儀中，通常使用電泳光散射法來(lái)同時(shí)測(cè)量納米顆粒的電位和粒度。在電場(chǎng)作用下，通過(guò)測(cè)量納米顆粒的電泳速度和光散射強(qiáng)度，可以推算出其電位值和粒度分布。這種方法既具有高靈敏度，又能夠快速分析大量樣本。
此外，Zeta電位納米粒度儀還具有非侵入性測(cè)量的優(yōu)勢(shì)，無(wú)需操作者與樣品接觸，避免了污染和干擾，確保了測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
總的來(lái)說(shuō)，Zeta電位納米粒度儀的原理是結(jié)合電泳和光散射技術(shù)，通過(guò)測(cè)量納米顆粒在電場(chǎng)作用下的運(yùn)動(dòng)行為和光散射特性，來(lái)獲得其電位和粒度信息。這種儀器在納米材料的研究和開發(fā)中具有重要的應(yīng)用價(jià)值，為材料科學(xué)、環(huán)境保護(hù)和生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域的研究提供了有力支持。

審核編輯 黃宇