晶振可靠性測試的冷熱沖擊試驗(yàn)

評估晶振在極端溫度變化環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性。模擬晶振在實(shí)際使用中可能會(huì)遇到的溫度變化情況，確保它能夠在不同的溫度極端條件下保持其性能?？蓞⒖紭?biāo)準(zhǔn)：MIL-STD- 883E- 1011.9B。

試驗(yàn)說明

低溫：-55±5°C

高溫：125±5°C

循環(huán)次數(shù)：100次

高低溫度保持時(shí)間：5 min

高低溫切換時(shí)間：5sec

實(shí)驗(yàn)結(jié)束后24土 2 Hrs進(jìn)行電性能測試。

本試驗(yàn)對晶振的影響

晶體諧振器頻率降低2.5ppm左右(5max)，諧振阻抗增大3Ω左右(5max) or ±10%

晶體振蕩器頻率降低3ppm左右(5max)

KOAN 晶振

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審核編輯：黃飛