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泰克云上大講堂—如何測量MOSFET柵極電荷

泰克科技 ? 來源:泰克科技 ? 2024-03-19 16:34 ? 次閱讀

功率MOSFET是一種在電源管理信號處理、汽車電子和可再生能源系統(tǒng)等多種應用中廣泛使用的高效半導體開關器件。其器件的開關速度受到內部電容的影響,通常在產品數(shù)據表中以Ciss(輸入電容)和Coss(輸出電容)指出,它們源自于輸入的柵極與漏極之間的電容Cgs和Cgd。除了這些電容參數(shù)之外,柵電荷(Qgs和Qgd)的測量也是評估MOSFET開關性能的一個關鍵因素。

然而在進行實際測試時,常見的測試難點有:

1. 測試的動態(tài)范圍較大,需要使用專門的測試方法和儀器來準確測量;

2. 為了確保測試結果的有效性和通用性,必須嚴格遵守JEDEC標準。

直播預告(3月22日

本期云上大講堂,泰克高級應用工程師 林彩霞就將為大家詳細解讀如何測量MOSFET柵極電荷

■MOSFET的評估參數(shù)簡介

■解析開關性能的重要評估參數(shù)—柵電荷

JEDEC柵電荷測試方法&演示




審核編輯:劉清

聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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原文標題:3月22日|泰克云上大講堂—如何測量MOSFET柵極電荷

文章出處:【微信號:泰克科技,微信公眾號:泰克科技】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。

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