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2024一開年,科學(xué)儀器行業(yè)便迎面而來一大新政策。3月13日國務(wù)院印發(fā)《推動大規(guī)模設(shè)備更新和消費品以舊換新行動方案》。其中明確了“推動符合條件的高校、職業(yè)院校(含技工院校)更新置換先進教學(xué)及科研技術(shù)設(shè)備,提升教學(xué)科研水平?!?/p>
KLA Instruments作為儀器行業(yè)的優(yōu)質(zhì)提供商,將積極響應(yīng)國家政策,助力設(shè)備更新與以舊換新行動,為行業(yè)專家、學(xué)術(shù)界和其他創(chuàng)新者提供值得信賴的量測技術(shù),助力中國乃至世界實現(xiàn)科學(xué)技術(shù)上的突破性發(fā)展。
探針式輪廓儀
KLA InstrumentsAlpha-Step,TencorP系列和HRP系列探針式臺階儀提供高精度的2D和3D表面形貌量測,可為您的研發(fā)和生產(chǎn)提供臺階高度、表面粗糙度、彎曲度和應(yīng)力等測量,具有良好的穩(wěn)定性和可靠性。
光學(xué)輪廓儀
我們豐富的光學(xué)輪廓儀系列產(chǎn)品涵蓋多種光學(xué)測量技術(shù),包含白光干涉技術(shù),真彩色成像和ZDot點陣專利技術(shù),我們可以幫助您找到滿足您測量需求的正確解決方案。Profilm3D和Zeta光學(xué)輪廓儀可為樣品表面測量提供快速,便捷的非接觸式3D表面形貌測量解決方案。
納米壓痕儀
KLAInstruments的納米壓痕儀可對硬度、楊氏模量和其它力學(xué)性能進行精確測量。從發(fā)布市場上第一款納米壓痕儀,到將納米壓痕技術(shù)擴展到快速、高溫和高應(yīng)變速率測試中,我們一直在開發(fā)新的靜態(tài)與動態(tài)測量方案,推動下一代納米力學(xué)測試儀的發(fā)展。
薄膜厚度儀
我們就可以通過分析薄膜的反射光譜來測量薄膜的厚度,通過非可見光的測量,我們可以測量薄至1納米或厚至3毫米的薄膜。測量結(jié)果可在幾秒鐘顯示:薄膜厚度、顏色、折射率甚至是表面粗糙度。
方塊電阻測試儀
KLA方塊電阻測試儀能夠滿足各種測量需求,包括:金屬薄膜及背面工藝層厚度測量,襯底電阻率,方塊電阻,薄膜厚度或電阻率,薄層和體材料的導(dǎo)電率,等等。
對于較薄的金屬和離子注入層,建議采用接觸式四探針(4PP)測量方法,對于較厚的金屬層和柔性或軟性的導(dǎo)電表面,建議采用非接觸式渦流(EC)測量方法。
Candela系統(tǒng)對化合物半導(dǎo)體襯底(GaN,GaAs,InP,藍寶石,SiC等)和硬盤驅(qū)動器上的各種關(guān)鍵缺陷進行檢測和分類,保證生產(chǎn)過程中檢測的高靈敏度和高效率。
審核編輯:劉清
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原文標題:KLA Instruments?為儀器行業(yè)提供值得信賴的量測技術(shù)
文章出處:【微信號:KLA Corporation,微信公眾號:KLA Corporation】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。
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