瑞薩電容觸摸技術(shù)之低功耗應(yīng)用—RX140實驗環(huán)節(jié)(5)-4

Lab Session 4

在Lab 3的基礎(chǔ)上增加低功耗 (Auto Judgement) 功能

5.5

使用QE for Cap Touch監(jiān)控觸摸底層數(shù)據(jù)以及觸摸行為

5.5.1 按照前文 "2.6運行程序" 小節(jié)介紹的方法，在仿真狀態(tài)下全速運行程序。

在 "Cap Touch Workflow" 的 "4.monitoring" 中，點擊 "Start Monitoring (Emulator)" 下方的"Show Views"

5.5.2 具體操作大體上可以按照前文 "2.9 使用QE for Cap Touch監(jiān)控觸摸底層數(shù)據(jù)以及觸摸行為" 小節(jié)介紹的方法進(jìn)行。

不同點在于：

? 在低功耗狀態(tài)下，即時監(jiān)控窗口 "Enbale Monitoring"，也無法使用QE for Cap Touch監(jiān)控觸摸底層數(shù)據(jù)以及觸摸行為。各個監(jiān)控窗口處于停止?fàn)顟B(tài)，數(shù)據(jù)和波形曲線停止刷新。

? 在 "CapTouch Parameters (QE) View" 中的MEC電極 (Config01) 的參數(shù)項比之前少。

? 在 "e2 studio" 下方 "Console控制臺" 窗口顯示了MCU當(dāng)前處于低功耗狀態(tài)。

? 在 "e2 studio" 狀態(tài)欄的左下角，顯示了當(dāng)前工程的運行狀態(tài)處于 "待機(jī)" 狀態(tài)。

NOTE

在e2 studio左下角的狀態(tài)欄，顯示了當(dāng)前工程的運行狀態(tài)，包括以下幾種。

在低功耗時顯示：

在正常運行時顯示：

在程序暫時顯示：

5.6

調(diào)試低功耗 (Auto Judgement) 功能運行參數(shù)

5.6.1 在這一部分，我們主要關(guān)注以下三部分的參數(shù)調(diào)整：

1. 低功耗工作模式下MEC電極的運行參數(shù)

MEC電極的閾值Threshold（為Normal模式下工作時的50%）

2. 低功耗工作模式下的Auto Judgement自動判斷功能的相關(guān)參數(shù)

在 "Lab_session_1" → src → smc_gen→ r_ctsu_qe→ doc→ en文件夾下的應(yīng)用筆記 "r01an4469ej0210-rx.pdf" 中，對 "Auto Judgement" 自動判斷功能的相關(guān)參數(shù)進(jìn)行了詳細(xì)的說明，如下圖所示：

其中主要的控制參數(shù)如下：

Tlot，Non-touch judgment continuous count，與Button的Negative Noise Filter Cycle意義相同

Thot，Touch judgment continuous count，與Button的Positive Noise Filter Cycle意義相同

Ajmmat，Moving average，與Button的Moving Average Filter Depth意義相同

Ajbmat，Baseline average count，與Button的Drift Correction Interval意義相同

3. 其他低功耗工作相關(guān)的參數(shù)

低功耗控制周期，見下圖

低功耗模式下的MEC電極的Sensor驅(qū)動脈沖頻率

無按鍵按下時的等待時間

5.6.21. 低功耗工作模式下MEC電極的運行參數(shù)

MEC電極的閾值Threshold（為Normal模式下工作時的50%），舉例來說，在 "qe_touch_config.c" 中可以看到MEC電極的閾值Threshold為309。

但是在QE監(jiān)控窗口看到的閾值Threshold為309的50%，為154。

為Normal模式下工作時的50%的原因如下：

CTUS2為三頻率測量，三頻率測量是丟棄一個異常值，最終兩個頻率的值求和，因此自動調(diào)整過程 (Auto tuning process) 輸出一個頻率測量x2的結(jié)果，并反映在Log日志中。使用低功耗 (Auto Judgement) 功能時的監(jiān)測只顯示一個頻率的結(jié)果，因此結(jié)果是日志中顯示的閾值的一半。這是因為即使在測量三個頻率時，自動判斷版本也不會組合這些值，而是對每個頻率單獨執(zhí)行觸摸判斷【這個機(jī)制以后可能會修改】。

低功耗模式下MEC電極閾值Threshold，建議使用 "CapTouch Parameters (QE) View" 在程序運行狀態(tài)下通過 "Touch Threshold" 修改并調(diào)試，然后在 "qe_touch_config.c" 中直接修改。

調(diào)試時，先通過手指接近MEC電極，使系統(tǒng)自動判斷有按鍵動作，退出低功耗模式返回Normal模式，然后 "CapTouch Parameters (QE) View" 中修改 "Touch Threshold"，手指再次接近MEC電極觀測靈敏度變化，由于MEC電極在Normal模式下運行的時間非常短，因此需要反復(fù)調(diào)試以達(dá)到滿意的效果。

5.6.3 將低功耗工作模式下MEC電極的閾值Threshold，調(diào)整為300的示例操作，如下圖所示：

低功耗工作模式下的MEC電極除了在低功耗模式下運行外，在Normal模式下的也會短暫運行，因為需要在Normal模式下進(jìn)行baseline調(diào)整，因此在baseline調(diào)整期間可以通過QE的監(jiān)控窗口調(diào)試和修改閾值Threshold。在Normal模式下的短暫運行的時間，也可以調(diào)整。

審核編輯：劉清