概倫電子推出從測(cè)試系統(tǒng)、EDA工具到技術(shù)開(kāi)發(fā)的一站式可靠性解決方案

IEEE國(guó)際可靠性物理研討會(huì)(IRPS)于4月14日在美國(guó)德州達(dá)拉斯拉開(kāi)帷幕。60年來(lái)，IRPS一直是國(guó)際上工程師和科學(xué)家在集成電路可靠性領(lǐng)域的盛會(huì)，吸引了來(lái)自美國(guó)、歐洲、亞洲和世界其他地區(qū)的與會(huì)者，旨在通過(guò)對(duì)應(yīng)用環(huán)境的理解，提高半導(dǎo)體器件、集成電路和微電子組件的可靠性。作為國(guó)內(nèi)首家EDA上市公司，關(guān)鍵核心技術(shù)具備國(guó)際市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力的EDA領(lǐng)軍企業(yè)，概倫電子亮相此次盛會(huì)，現(xiàn)場(chǎng)發(fā)布了其從測(cè)試系統(tǒng)、EDA工具到技術(shù)開(kāi)發(fā)的一站式可靠性解決方案。

隨著新型技術(shù)和市場(chǎng)不斷興起，芯片的復(fù)雜性和集成度不斷提升，更先進(jìn)的制程工藝、更高的良率、更佳的性能成為半導(dǎo)體行業(yè)迫切需要面對(duì)和解決的問(wèn)題。概倫電子提供的一站式可靠性解決方案就是為應(yīng)對(duì)半導(dǎo)體行業(yè)在先進(jìn)工藝和新型材料研發(fā)、器件表征、電路及芯片系統(tǒng)設(shè)計(jì)中面臨的可靠性挑戰(zhàn)。該解決方案包括材料與器件特性測(cè)試芯片設(shè)計(jì)、特征參數(shù)量測(cè)、可靠性建模及PDK開(kāi)發(fā)、針對(duì)可靠性設(shè)計(jì)、高良率設(shè)計(jì)及噪聲分析的仿真驗(yàn)證、完整的ESD防護(hù)設(shè)計(jì)驗(yàn)證和車規(guī)級(jí)設(shè)計(jì)流程及IP開(kāi)發(fā)服務(wù)。根據(jù)客戶需求，實(shí)現(xiàn)從設(shè)計(jì)到驗(yàn)證的全流程覆蓋，確保從器件到產(chǎn)品的整體可靠性和最佳性能。

從測(cè)試系統(tǒng)、EDA工具到技術(shù)開(kāi)發(fā)的一站式可靠性解決方案融合了概倫電子行業(yè)黃金標(biāo)準(zhǔn)的9812系列低頻噪聲測(cè)試系統(tǒng)，基于FS-Pro和LabExpress的晶圓級(jí)多點(diǎn)位可靠性測(cè)試系統(tǒng)，可支持1/f噪聲、RTN噪聲、BTI/HCI/TDDB老化效應(yīng)及自熱效應(yīng)等自動(dòng)化量測(cè)和并行量測(cè)，提升測(cè)試效率?？蛻艨墒褂酶艂愲娮右訠SIMProPlus為代表的行業(yè)領(lǐng)先的SPICE模型建模平臺(tái)，高效準(zhǔn)確的完成包括基于AgeMOS和MOSRA老化模型提取和噪聲模型參數(shù)提取以及建模工作，ME-Pro驗(yàn)證平臺(tái)則助力客戶完成全面的可靠性模型QA。

同時(shí)概倫電子提供的電路仿真分析解決方案，為客戶設(shè)計(jì)可靠性綜合分析提供了便捷，NanoYield用于高西格瑪分析，ESDi可用于ESD防護(hù)電路的驗(yàn)證分析?？蛻艨墒褂酶艂愲娮拥慕鉀Q方案確保設(shè)計(jì)在可靠性和噪聲方面的精確性以及量產(chǎn)良率的可預(yù)測(cè)性，并優(yōu)化產(chǎn)品以滿足最嚴(yán)苛的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。此外，概倫電子也提供標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)、GPIO、SRAM編譯器、eFUSE宏模塊等基礎(chǔ)IP開(kāi)發(fā)服務(wù)，助力客戶的高可靠性和安全性設(shè)計(jì)，提升市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。

概倫電子的一站式可靠性解決方案可廣泛應(yīng)用于消費(fèi)電子、汽車電子、通信和航空航天等半導(dǎo)體工藝器件及芯片設(shè)計(jì)領(lǐng)域，確保產(chǎn)品在面對(duì)各種復(fù)雜工作條件和嚴(yán)苛環(huán)境挑戰(zhàn)時(shí)的穩(wěn)定性和可靠性，助力產(chǎn)品在開(kāi)發(fā)周期中實(shí)現(xiàn)更高的質(zhì)量和更低的風(fēng)險(xiǎn)。

審核編輯：劉清