ATECLOUD測(cè)試平臺(tái)功能介紹：儀器兼容

隨著科技的迅速發(fā)展，在電源模塊、電源芯片、射頻組件等自動(dòng)化測(cè)試過程中，需要測(cè)試系統(tǒng)不僅兼容示波器、萬(wàn)用表、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀等標(biāo)準(zhǔn)儀器，而且還要與一些非標(biāo)設(shè)備對(duì)接。為了提高測(cè)試效率，減少成本，一款能夠兼容多種儀器的測(cè)試系統(tǒng)顯得尤為重要。

ATECLOUD測(cè)試平臺(tái)以用戶測(cè)試需求為核心，致力于解決測(cè)試難題。其突出的特點(diǎn)之一就是強(qiáng)大的儀器兼容性。技術(shù)團(tuán)隊(duì)會(huì)對(duì)收集到的儀器指令進(jìn)行驗(yàn)證，無(wú)誤后再在系統(tǒng)中兼容開發(fā)。目前測(cè)試系統(tǒng)已兼容2000+儀器，實(shí)現(xiàn)了儀器自由選型，有效解決了儀器兼容性問題。除了示波器、萬(wàn)用表等常用的測(cè)試儀器之外，ATECLOUD還可以實(shí)現(xiàn)與非標(biāo)設(shè)備的快速對(duì)接，輕松完成測(cè)試，比如：

1. 與探針臺(tái)快速對(duì)接

在與北京某信息科技有限公司合作的晶圓芯片測(cè)試過程中，需要用探針臺(tái)和矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀來(lái)檢測(cè)晶圓上芯片的S參數(shù)。因此，測(cè)試系統(tǒng)不僅要兼容矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，采集網(wǎng)分的數(shù)據(jù)，而且還實(shí)現(xiàn)了與探針臺(tái)的互通，獲取探針臺(tái)的狀態(tài)，并且會(huì)給探針臺(tái)進(jìn)行信息反饋。通過測(cè)試系統(tǒng)、網(wǎng)分與探針臺(tái)之間的通訊，完成晶圓芯片的自動(dòng)化測(cè)試。

2. 與萬(wàn)用表切換工裝通訊

當(dāng)需要測(cè)試產(chǎn)品的多路電壓和電流時(shí)，由于測(cè)試點(diǎn)位多，一個(gè)萬(wàn)用表無(wú)法完成多點(diǎn)位自動(dòng)化測(cè)試，而用多個(gè)萬(wàn)用表會(huì)增加成本。因此，使用萬(wàn)用表切換裝置是理想選擇。將繼電器集成到切換裝置機(jī)箱內(nèi)，通過通訊線將切換裝置與ATE-BOX（邊緣計(jì)算設(shè)備）連接進(jìn)行程控，實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)位自動(dòng)化測(cè)試。

除此之外，ATECLOUD測(cè)試平臺(tái)的兼容性還體現(xiàn)在能夠支持儀器替換，實(shí)現(xiàn)儀器復(fù)用，減少測(cè)試成本。

審核編輯 黃宇