大電流注入探頭的校準方法

大電流注入 ( Bulk Current Injection， BCI) 法廣泛用于評估多種電子設(shè)備的電磁敏感度， 包括汽車、 航空、 計算處理、 醫(yī)學、 電信等設(shè)備， BCI法模擬被測設(shè)備在正常工作狀態(tài)下電導體中產(chǎn)生的連續(xù)波的電流， 這些導體包括被評估的設(shè)備信號、 控制和電源電路。

電流注入探頭是 BCI 技術(shù)中的關(guān)鍵設(shè)備， 它的作用像一個多繞組或單繞組的初級線圈， 被測的線路或電路像一個次級線圈，將一定大小的電流以耦合的方式注入到受試設(shè)備中， 使之產(chǎn)生感應電流進行抗擾度測試。

在抗擾度測試中，要把電流注入探頭的插入損耗值作為轉(zhuǎn)換系數(shù)導入測試軟件，由軟件根據(jù)轉(zhuǎn)換系數(shù)計算出 控制功率放大器的前向功率，得到最終的目標試驗電平。因此，對電流注入探頭的插入損耗的校準是此類抗擾度測試的第一步。

ISO 11452—4: 2011［1］在附錄 A 中介紹了校準電流注入探頭插入損耗的程序，但目前還沒有相對應的國家校準規(guī)范對電流注入探頭以及校準時所使用校準夾具的校準方法進行規(guī)范。

電流注入探頭校準夾具的作用是對探頭的性能進行標定，電流注入探頭校準夾具能讓使用戶在進行抗擾度測試之前能快速簡易的校準電流注入探頭，所以校準夾具的傳輸性能會影響抗擾度試驗時注入探頭饋入功率的有效轉(zhuǎn)換。

電流注入探頭及其校準夾具的 3 個主要參數(shù)分別是: 電流注入探頭的插入損耗、校準夾具的插入損 耗和校準夾具兩側(cè)端口的電壓駐波比。

(1) 電流注入探頭插入損耗是將電流注入探頭安裝在與其相匹配的校準夾具中，并將校準夾具一側(cè)的輸入端口用 50Ω 電阻端接時，校準夾具輸出端口電壓與電流注入探頭輸入口電壓的比值。

(2) 校準夾具的插入損耗是校準夾具輸出端口電壓與輸入端口電壓的比值，分為夾具上無探頭和夾具上放置探頭兩種情況的插入損耗。校準夾具插入電流注入探頭后， 會增加校準夾具的插入損耗， 增加值不得超過 1. 6 dB。

(3) 校準夾具兩側(cè)端口的電壓駐波比是校準夾具兩豎板間同軸結(jié)構(gòu)在駐波圖形上電壓最大值與電壓最小值之比值。校準夾具豎板的作用是固定夾具兩邊的圓柱凸臺，連接底板和頂板，形成外導體回路。

典型的 BCI 校準設(shè)置

1） 20dB 衰減器 10 W （>100 mA）

2） 150Ω 至 50Ω BCI 阻抗適配器

3） BCICF-6-150 校準夾具

4） FCCF-120-9A 注射探頭

5） 50 Ω端接負載

其中我司提供在校準IEC 61000-4-6大電流注入測試期間所需的適配器。包括的零件：

HNA 721-100：150 歐姆至 50 歐姆適配器（N 型）

HNA 721-150：150 歐姆終端（N 型）

深圳市華瑞高電子技術(shù)有限公司，是專業(yè)致力于為客戶提供優(yōu)質(zhì)且性價比高的電磁兼容抗擾度校準裝置，屏蔽效能測試系統(tǒng)和諧波閃爍分析測試系統(tǒng)的研發(fā)生產(chǎn)性企業(yè)。