評估Minitab 中的測量過程研究（EMP研究）

如果你有完成的或者計(jì)劃進(jìn)行流程改進(jìn)工作，那么您可能會問自己是否真的獲得了足夠精確的度量。在使用數(shù)據(jù)做出有關(guān)調(diào)整和資源分配的關(guān)鍵決策之前，您必須信任您的數(shù)據(jù)。測量系統(tǒng)分析（MSA）泛指估計(jì)和評估測量系統(tǒng)中的變化量。 一個類型是電磁脈沖研究（EMP），也稱為惠勒方法。EMP代表評估測量過程。EMP研究評估了兩種測量偏差來源:

·可重復(fù)性:當(dāng)同一操作員在相同的條件下，使用相同的量具多次測量同一部件時所觀察到的變化。

·再現(xiàn)性：當(dāng)?不同的操作人員?在相同的條件下使用相同的量具多次測量同一部件時所觀察到的變化。

根據(jù)重復(fù)性和再現(xiàn)性，EMP研究對測量系統(tǒng)進(jìn)行了分類，從一級的最佳評級到四級的最差評級不等。實(shí)際上，這些等級解釋了測量系統(tǒng)如何很好地檢測過程平均值至少3個標(biāo)準(zhǔn)差的變化。如果測量系統(tǒng)可以檢測到這樣的變化，那么測量系統(tǒng)應(yīng)該對其他過程改進(jìn)活動有用。例如，許多控制圖使用偏離總體平均值3個標(biāo)準(zhǔn)偏差以上的子組平均值作為特殊原因影響過程的信號。

例如，一個消費(fèi)品制造商監(jiān)控谷物包裝盒的填充重量。制造商希望確保不同測量的差異足夠小，以便他們可以使用其他過程改進(jìn)分析。EMP研究的結(jié)果有助于確定測量系統(tǒng)是否可接受以及如何改進(jìn)測量系統(tǒng)。

測量系統(tǒng)可以接受嗎？

EMP統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)為測量系統(tǒng)提供了分類。在這些結(jié)果中，分類是一級。團(tuán)隊(duì)可以確信測量系統(tǒng)足夠好，可以用于其他過程改進(jìn)活動。

測量系統(tǒng)如何改進(jìn)？

EMP研究還包括您可以用來決定何時優(yōu)先改進(jìn)測量系統(tǒng)的信息。平均范圍分析（ANOMR）和主效應(yīng)分析（ANOME）顯示了相對于過程變化而言再現(xiàn)性較低的地方。在這個ANOMR中，操作員B一致性低于其他兩個操作員。提高操作員B的一致性將改善測量系統(tǒng)。

在本例ANOME中，不同的操作員傾向于測量比彼此更高或更低的值。使不同操作員的平均測量值更接近的改進(jìn)將改進(jìn)測量系統(tǒng)。

信任您的數(shù)據(jù)

要對數(shù)據(jù)采取行動，你需要相信數(shù)據(jù)是正確的。Minitab統(tǒng)計(jì)軟件中的EMP研究使您能夠了解您的測量系統(tǒng)是否可接受以及如何改進(jìn)您的測量系統(tǒng)。當(dāng)您評估測量的精度時，您可以相信接下來的一切都是由您可以信任的數(shù)據(jù)構(gòu)建而成的。

審核編輯 黃宇