加速科技突破2.7G高速數(shù)據(jù)接口測試技術

隨著顯示面板分辨率的不斷提升，顯示驅動芯片（DDIC）的數(shù)據(jù)接口傳輸速率越來越高，MIPI、LVDS/mLVDS、HDMI等高速數(shù)據(jù)接口在DDIC上廣泛應用。為滿足高速數(shù)據(jù)接口的ATE測試需求，作為國內少數(shù)擁有完全自研的LCD Driver測試解決方案供應商，加速科技經(jīng)過近三年時間的不懈努力，已在國內率先完成了行業(yè)內最高標準的高速數(shù)據(jù)接口測試技術自主研發(fā)，推出了High Speed I/O測試板。它提供32 lanes測試接口，測試速率可達2.7Gbps。

目前，High Speed I/O測試板取得了多項核心技術的研發(fā)突破，EPR、EPA等關鍵指標達到國內領先水平，EPR 1ps，EPA ±66ps。除了皮秒級的高精度波形傳輸外，High Speed I/O測試板還集成了PMU（per pin）、Pattern generator、Frame processor、Jitter injection等功能單元，支持對高速數(shù)據(jù)接口測試對象進行全面的、定制化的測試。

加速科技基于對未來顯示驅動芯片發(fā)展的前瞻洞察，在探索中革新演進，最終實現(xiàn)了從1.0Gbps到2.7Gbps的技術跨越。行業(yè)周知，高速傳輸與高精度之間的平衡是永恒的難題。如何在實現(xiàn)高速傳輸?shù)耐瑫r，兼顧數(shù)據(jù)精確性，對于技術的落地應用提出了極大挑戰(zhàn)；此外，顯示驅動芯片功能集成度高，這就要求高速數(shù)據(jù)接口測試全面化且支持定制。高精度、高測試接口覆蓋率成為掣肘2.7Gbps落地的兩大關鍵技術難題。

提高高速數(shù)據(jù)傳輸精確性：在實際測試場景中，高速數(shù)據(jù)接口在傳輸數(shù)據(jù)時要求信號的完整性極高，包括波形的上升時間、下降時間、噪聲等指標。高速傳輸?shù)耐瑫r，保障傳輸信號質量的最優(yōu)，技術難度極大。High Speed I/O測試板目前已實現(xiàn)皮秒級的高精度波形傳輸，EPR 1ps，EPA ±66ps，解決了高速信號傳輸精確性難題。

保障測試接口覆蓋率：消費者對顯示設備的顯示效果要求日益提高，推動顯示驅動芯片產(chǎn)品性能不斷提升，顯示驅動芯片功能集成度持續(xù)躍升，測試接口的數(shù)量、復雜度、密度增加，同時測試需求也會變得更加定制化，High Speed I/O測試板目前能夠覆蓋主流接口的測試需求，且能確保各個接口之間的兼容性和穩(wěn)定性。

加速科技的發(fā)展之路是堅持創(chuàng)新，無論是在“自上而下”的頂層設計，即產(chǎn)品研發(fā)規(guī)劃上，還是在“自下而上”的技術落地實踐，應對高速接口測試各種嚴酷挑戰(zhàn)的前沿探索上，始終保持著高度的創(chuàng)新性、專業(yè)性，在半導體測試方面我們致力于為客戶提供最佳技術支持。

以顯示驅動芯片測試為代表的測試場景中，高速數(shù)據(jù)接口測試是核心要素，要讓測試技術真正落到實處，讓技術與用戶需求融合創(chuàng)新，提升效益助力產(chǎn)品升級迭代的同時，也讓顯示領域創(chuàng)新凸顯出更多的價值。作為國內半導體測試領域領軍企業(yè)，加速科技將通過不斷精研技術，創(chuàng)新突破，助力半導體測試產(chǎn)業(yè)持續(xù)升級和健康發(fā)展。

審核編輯 黃宇