使用MXO示波器的快速FFT功能進(jìn)行EMI調(diào)試

MXO示波器具有先進(jìn)的FFT功能、優(yōu)越的靈敏度和高動態(tài)范圍，非常適合電磁干擾(EMI)調(diào)試。利用時間相關(guān)的射頻分析，可以快速準(zhǔn)確地檢測并分析電子電路和電路板產(chǎn)生的EMI。使用操作快捷的高性能MXO示波器改進(jìn)調(diào)試。

您的任務(wù)

EMI/EMC測試可以為使用電氣和電子設(shè)備的用戶保證設(shè)備的可靠運(yùn)行和安全性，而設(shè)計人員需要投入大量的時間來確保產(chǎn)品符合相應(yīng)的限制規(guī)定。 在設(shè)計和原型制作階段，通常會通過調(diào)試測量來識別并解決可能存在的EMI/EMC問題，之后再對產(chǎn)品進(jìn)行一致性測試。這種方法能夠顯著降低產(chǎn)品不合規(guī)的風(fēng)險。這需要使用各種測試工具和故障排查方法來有效確定可能影響合規(guī)性測試結(jié)果的發(fā)射源。如果采用簡化了調(diào)試過程的多方位解決方案，可以使用MXO示波器進(jìn)行時間相關(guān)的射頻測量。

海洋儀器給出的解決方案在設(shè)計和原型制作階段，通常會通過調(diào)試測量來識別并解決可能存在的EMI/EMC問題，之后再對產(chǎn)品進(jìn)行一致性測試。這種方法能夠顯著降低產(chǎn)品不合規(guī)的風(fēng)險。這需要使用各種測試工具和故障排查方法來有效確定可能影響合規(guī)性測試結(jié)果的發(fā)射源。如果采用簡化了調(diào)試過程的多方位解決方案，可以使用示波器進(jìn)行時間相關(guān)的射頻測量，例如MXO示波器。 單獨(dú)優(yōu)化時域和頻域顯示界面頻譜顯示的更新率高信號可以通過波形和頻譜視圖顯示，無需切分信號路徑射頻和時間觸發(fā)功能便于輕松準(zhǔn)確地關(guān)聯(lián)時域和頻域事件峰值列表和對數(shù)-對數(shù)刻度可以輕松對比EMI

出色的射頻性能：高動態(tài)范圍和靈敏度

MXO示波器具有高動態(tài)范圍和輸入靈敏度（全測量帶寬下可達(dá)500μV/div），能夠檢測到微弱的輻射，非常適合EMI調(diào)試。12位ADC和18位HD模式進(jìn)一步增強(qiáng)了垂直精度。基于硬件加速的FFT、高采集率和多種功能（例如根據(jù)發(fā)生頻率采用不同顏色編碼顯示頻譜）相結(jié)合，能夠快速有效地進(jìn)行頻域分析。

多種功能可用于EMI調(diào)試 超快速FFT分析：頻譜采集率超過45000FFT/s，能夠捕獲雜散和難以檢測到的頻譜事件對數(shù)顯示和dBμV刻度：根據(jù)CISPR標(biāo)準(zhǔn)輕松對比EMC測試實驗室結(jié)果和查看限值線自動峰值列表測量快速提供結(jié)果：自動測量FFT標(biāo)記并列于表格中的頻率峰值最大/最小保持和平均值跡線：統(tǒng)計跡線記錄頻譜功率的最大值、最小值和平均值

門控FFT：時頻域相關(guān)聯(lián)示波器的門控FFT功能可以針對捕獲的時域信號在用戶自定義的范圍內(nèi)進(jìn)行FFT分析。隨信號移動時間窗口，能夠確定互相關(guān)聯(lián)的時域信號分段和頻譜事件。例如，這可以將開關(guān)電源的無用輻射與開關(guān)晶體管的過沖相關(guān)聯(lián)。

用電場和磁場近場測量的探頭組對于傳導(dǎo)發(fā)射，線路阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò) (LISN) 通常包含測量的噪聲輸出。但是，這包括被測設(shè)備 (DUT) 中的所有傳導(dǎo)噪聲。為了定位 DUT 中的發(fā)射源，可以使用近場探頭近距離檢測磁場和電場。R&SHZ-15近場探頭的頻率范圍為30MHz至3GHz。R&SHZ-16 放大器將頻率范圍向下擴(kuò)展至9kHz。近場探頭組包括各種電屏蔽探頭前端，這些探頭前端具有特殊形狀，能夠用于不同的測量任務(wù)。

快速FFT為什么重要？盡管目前的所有示波器都支持FFT功能，以便提供波形的頻譜信息，但是所需的計算操作通常會降低采集率。大多數(shù)示波器的采集率可能低至1FFT/s至100FFT/s，因此盲區(qū)時間較長，會遺漏采集間隔中的重要頻譜事件。這不利于使用近場探頭定位頻譜發(fā)射，因為用戶需要保持探頭操作長達(dá)數(shù)秒，才能檢測到可能存在的噪聲。MXO示波器具有功能強(qiáng)大的ASIC，能夠基于硬件實現(xiàn)FFT處理。得益于此，示波器的計算速度超過45000FFT/s，不僅縮短了盲區(qū)時間，而且保證快速響應(yīng)，有助于更加輕松地使用近場探頭探測發(fā)射。用戶可以使用探頭掃描DUT，確定可能出現(xiàn)噪聲問題的時間和位置。

如何開始調(diào)試？

如要識別EMI問題的根源所在，需要確定能量源及其輻射方式。導(dǎo)致EMI問題的常見原因包括：LCD輻射接地阻抗器件寄生效應(yīng)電纜屏蔽性差電源濾波器開關(guān)電源（直流-直流開關(guān)電源）內(nèi)部耦合問題信號返回不充分金屬外殼中的靜電放電首先使用磁場近場探頭定位能量源。對齊探頭，確定磁通量穿過環(huán)路平面的方向。沿著導(dǎo)體移動磁場近場探頭，可以定位能量源。然后使用分辨率更精細(xì)的探頭在更小的范圍內(nèi)集中搜索能量源。檢查EMI問題和電氣事件的關(guān)聯(lián)性，是EMI診斷過程中最耗時的操作。MXO示波器具備快速FFT功能，能夠輕松關(guān)聯(lián)頻譜和時域事件。其中MXO5系列示波器提供多種采用不同射頻設(shè)置的FFT，能夠?qū)Ρ菵UT不同位置的頻譜事件，從而進(jìn)行進(jìn)一步的調(diào)試。

EMI問題難以檢測，而如果不符合EMC標(biāo)準(zhǔn)，會阻礙產(chǎn)品開發(fā)。在開發(fā)早期進(jìn)行EMI調(diào)試，有助于在早期階段就檢測問題并增強(qiáng)電路性能。MXO示波器具有強(qiáng)大的FFT信號處理性能、高輸入靈敏度以及各種采集和分析功能，是開發(fā)人員在電子電路上執(zhí)行EMI調(diào)試的有用工具。示波器具有硬件加速FFT功能，并以不同的顏色編碼顯示頻譜，可以顯示所捕獲信號中頻譜分量的發(fā)生頻率，便于快速識別EMI源。示波器和頻譜分析儀采用相似方式控制FFT功能，便于用戶輕松查看頻域事件，不必?fù)?dān)心時域設(shè)置。