貼片電容容值偏低的原因

貼片電容容值偏低的原因多種多樣，涉及電容器本身的質(zhì)量、老化、構(gòu)造設(shè)計、環(huán)境因素以及安裝和焊接等多個方面。以下是關(guān)于貼片電容容值偏低原因的詳細分析：

1、電容器質(zhì)量問題：品質(zhì)欠佳的電容器其容量通常達不到所標稱的數(shù)值。

2、電容器老化問題：電容器老化后，內(nèi)部絕緣材料可能會損壞，導(dǎo)致容量不足。老化現(xiàn)象在所有以鐵電系材料做介電質(zhì)的材料產(chǎn)品中均有發(fā)生，是一種自然的不可避免的現(xiàn)象。

3、構(gòu)造設(shè)計問題：電容的構(gòu)造設(shè)計可能存在問題，例如電極的形狀、扁平度等不符合標準，都會影響電容的容量大小。

4、環(huán)境因素：

高溫：例如，在40℃時的測試容量將比25℃時的測試容量低了接近20%。

低溫、潮濕、腐蝕：這些變化都可能影響電容的容量大小。

5、安裝和焊接問題：若貼片電容安裝不穩(wěn)固或焊接方法不規(guī)范容易導(dǎo)致電容容量大小出現(xiàn)偏差。焊接時加熱過度，會導(dǎo)致電容內(nèi)部介質(zhì)材料損傷，從而影響電容容量大小。

6、測試儀器問題：

量測儀器差異：大容量的電容(通常指1UF以上)測量時更容易出現(xiàn)容值偏低的現(xiàn)象，主要原因是施加在電容兩端的實際電壓不能達到測試條件所需求的電壓。

測試條件：對于不同容值的貼片電容會采用不同的測試條件來測量容值，主要在測試電壓的設(shè)定和測試頻率的設(shè)定上有區(qū)別。

測量環(huán)境條件：貼片陶瓷電容系列產(chǎn)品被稱為非溫度補償性元件，在不同的工作溫度環(huán)境下，電容量會有比較顯著的變化。

7、MLCC產(chǎn)品材料老化現(xiàn)象：內(nèi)部晶體結(jié)構(gòu)隨溫度和時間產(chǎn)生了變化導(dǎo)致了容值的下降，但這是一個可逆現(xiàn)象，通過一定的條件可以恢復(fù)容值。

為了解決貼片電容容值偏低的問題，可以采取的措施包括：

使用高精度儀器進行測量，確保測試條件的準確性。

對于材料老化引起的容值下降，可以采用高溫烘烤的方法進行恢復(fù)。

確保安裝和焊接過程的質(zhì)量，避免不必要的容量損失。

將產(chǎn)品放置在穩(wěn)定的測試環(huán)境下進行測試，以減少環(huán)境因素對測試結(jié)果的影響。

審核編輯 黃宇