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RA6T2的16位模數(shù)轉(zhuǎn)換器操作 [8] 配置RA6T2 ADC模塊 (5)

RA生態(tài)工作室 ? 2024-04-29 08:08 ? 次閱讀

2配置RA6T2 ADC模塊

2.1 ADC規(guī)范

2.1.9 自校準功能

ADC內(nèi)置自校準功能,用于規(guī)范芯片間差異引起的A/D轉(zhuǎn)換器特性差異。

2.1.9.1 需要自校準的條件

修改ADC運行特性后(包括復位后、釋放模塊停止、從軟件待機模式或深度軟件待機模式返回時),以及每次調(diào)用R_ADC_B_ScanCfg() 函數(shù)時,都應執(zhí)行自校準。下表所示為需要自校準的條件的詳細列表。

表7. 需要自校準的條件

wKgZomaCU0iAf8JwAAZ75RYBudw695.png

如果出現(xiàn)該表中所示的條件,則在使用A/D轉(zhuǎn)換器之前需要執(zhí)行自校準,以保證轉(zhuǎn)換結(jié)果。如果在第一次嘗試后A/D轉(zhuǎn)換器仍在運行,則停止所有A/D轉(zhuǎn)換器并再次執(zhí)行自校準。

2.1.9.2 自校準操作和過程

自校準功能有以下用途:

(1) 內(nèi)部電路校準:

自校準可調(diào)整A/D內(nèi)部電路的操作。

(2) 增益和偏移校準:

自校準可測量A/D轉(zhuǎn)換器的增益誤差和偏移誤差?;跍y得誤差數(shù)據(jù)的A/D轉(zhuǎn)換結(jié)果校準處理在A/D轉(zhuǎn)換之后執(zhí)行。該自校準應在內(nèi)部電路自校準完成后執(zhí)行。

(3) 通道專用采樣保持電路增益和偏移校準:

當使用通道專用采樣保持電路時,自校準可測量A/D轉(zhuǎn)換器的增益誤差和偏移誤差?;跍y得誤差數(shù)據(jù)的A/D轉(zhuǎn)換結(jié)果校準處理在A/D轉(zhuǎn)換之后執(zhí)行。該自校準應在A/D轉(zhuǎn)換器增益/偏移自校準完成后執(zhí)行。

2.1.9.3 自校準限制

(1) 禁止掃描操作

要執(zhí)行掃描操作,請在完成自校準后啟動掃描操作。如果在自校準期間啟動掃描操作,則無法確保正常工作。

(2) 禁止對ADCALSTR寄存器進行附加寫操作

自校準啟動后,禁止對ADCALSTR寄存器進行寫操作,直到自校準完成為止。如果違反此限制,則無法確保正常工作。

(3) 禁止強制停止

請勿在自校準期間通過ADSTOPR寄存器執(zhí)行強制停止。即使由于系統(tǒng)錯誤或異常處理需要強制停止A/D轉(zhuǎn)換操作,也務必等到自校準完成后再停止,以確保正常工作。

(4) 關于通道專用采樣保持電路的限制

要對通道專用采樣保持電路執(zhí)行自校準,應按如下操作使能所有連接到A/D轉(zhuǎn)換器的通道專用采樣保持電路:

? 對于ADC0:將ADSHCR0.SHEN0至SHEN2位置1

? 對于ADC1:將ADSHCR1.SHEN4至SHEN6位置1

? 如果存在未使用的通道專用采樣保持電路,在自校準完成后將其設置為禁用(ADSHCRm.SHENn = 0(m = 0、1,n = 0 至 2、4 至 6)。

在禁用任何通道專用采樣保持電路的情況下,如果對通道專用采樣保持電路執(zhí)行自校準,則無法確保正常工作。

(5) 關于自校準操作和噪聲的限制

A/D轉(zhuǎn)換器應逐一執(zhí)行自校準。當一個A/D轉(zhuǎn)換器正在執(zhí)行自校準操作時,其他轉(zhuǎn)換器應處于空閑狀態(tài),也就是說,既不執(zhí)行掃描操作,也不執(zhí)行自校準操作。

如果違反此限制,A/D轉(zhuǎn)換精度將因自校準操作期間的噪聲而降低。在這種情況下,無法保證A/D轉(zhuǎn)換器的特性。為了獲得最佳結(jié)果,應在噪聲盡可能小的條件下執(zhí)行自校準操作。

(6) 關于狀態(tài)設置的限制

要在ADCALSTCR和ADCALSHCR寄存器中設置的狀態(tài)數(shù)應與《RA6T2硬件用戶手冊》的“電氣特性”一節(jié)中規(guī)定的值相符。此外,設置自校準所需的狀態(tài)數(shù)時應滿足以下限制:

(a) 關于設置 ADCALSTCR 寄存器的限制

? ADCALSTCR.CALADSST[9:0] 位

對于不同的自校準類型,設定值應與《RA6T2 硬件用戶手冊》的“電氣特性”一章中規(guī)定的值相符。

如果設定值因自校準類型而異,應在每次執(zhí)行自校準時更改寄存器設定值。

? ADCALSTCR.CALADCST[5:0] 位

設定值與ADCNVSTR.CSTm[5:0] (m=0,1) 位的值相同。

? (ADCALSTCR.CALADCST[5:0] =ADCNVSTR.CSTm[5:0])

(b) 關于設置ADCALSHCR寄存器的限制

這些限制僅在使用通道專用采樣保持電路時適用。

? ADCALSHCR.CALSHSST[7:0] 位

設定值等于ADSHSTRm.SHSST[7:0] 位的值加1(m=0、1)。

? (ADCALSHCR.CALSHSST[7:0] = ADSHSTRm.SHSST[7:0] + 1)

如果ADSHSTR0.SHSST[7:0] 與ADSHSTR1.SHSST[7:0] 的設定值不同,則在每次執(zhí)行ADC0(SH0至SH2)和ADC1(SH4至SH6)自校準時更改 CALSHSST[7:0] 的寄存器設定值。

? ADCALSHCR.CALSHHST[2:0] 位

設定值與ADSHSTRm.SHHST[2:0](m=0、1)位的值相同。

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