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什么是NPN晶體管?NPN晶體管的工作原理和結(jié)構(gòu)

CHANBAEK ? 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò)整理 ? 作者:網(wǎng)絡(luò)整理 ? 2024-07-01 18:02 ? 次閱讀

一、什么是NPN晶體管

NPN晶體管是最常用的雙極結(jié)型晶體管,通過(guò)將P型半導(dǎo)體夾在兩個(gè)N型半導(dǎo)體之間而構(gòu)成。 NPN 晶體管具有三個(gè)端子:集電極、發(fā)射極和基極。 NPN晶體管的行為類(lèi)似于兩個(gè)背對(duì)背連接的PN 結(jié)二極管。

這些背靠背 PN 結(jié)二極管稱為集電極-基極結(jié)和基極-發(fā)射極結(jié)。

對(duì)于NPN晶體管的三個(gè)端子,發(fā)射極是用于通過(guò)基極區(qū)域向集電極提供電荷載流子的區(qū)域。收集器區(qū)域收集從發(fā)射器發(fā)射的大部分電荷載流子?;鶚O區(qū)域觸發(fā)并控制流經(jīng)發(fā)射極到集電極的電流量。

NPN晶體管的等效電路如下圖所示。

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NPN 晶體管的等效電路

快速提醒一下,N 型半導(dǎo)體是一種具有大量自由電子的半導(dǎo)體,它充當(dāng)多數(shù)電荷載流子。在電勢(shì)差的影響下,電子獲得足夠的能量,從價(jià)帶移動(dòng)到導(dǎo)帶。由于電子的運(yùn)動(dòng),電流會(huì)流過(guò)N型半導(dǎo)體。

相反,在 P 型半導(dǎo)體中,電子不可用,空穴充當(dāng)多數(shù)電荷載流子。由于空穴的移動(dòng),電流將流過(guò)P型半導(dǎo)體。

三、NPN晶體管的工作原理

NPN晶體管是電子學(xué)中的基本元件之一,廣泛應(yīng)用于各種電子設(shè)備中。其名稱來(lái)源于其結(jié)構(gòu)特點(diǎn):由兩個(gè)N型半導(dǎo)體區(qū)域和一個(gè)P型半導(dǎo)體區(qū)域構(gòu)成,這三個(gè)區(qū)域分別稱為發(fā)射極(Emitter)、基極(Base)和集電極(Collector)。NPN晶體管的工作原理基于半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電特性,通過(guò)控制基極電流來(lái)改變集電極與發(fā)射極之間的電流。

NPN晶體管由三個(gè)不同的半導(dǎo)體區(qū)域組成:兩個(gè)N型半導(dǎo)體區(qū)域分別位于兩側(cè),夾持一個(gè)中間的P型半導(dǎo)體區(qū)域。N型區(qū)域富含自由電子(即負(fù)電荷載流子),而P型區(qū)域富含空穴(即正電荷載流子)。發(fā)射極和集電極分別與外部電路相連,而基極則通過(guò)一個(gè)小電阻與外部電路相連,用于控制基極電流。

靜態(tài)工作點(diǎn):在正常工作狀態(tài)下,NPN晶體管的發(fā)射極與基極之間施加一個(gè)正向偏置電壓(即發(fā)射極電壓高于基極電壓),而集電極與基極之間施加一個(gè)反向偏置電壓(即集電極電壓低于基極電壓)。這種偏置條件使得發(fā)射極中的自由電子能夠越過(guò)PN結(jié)進(jìn)入基極,并在基極中與空穴復(fù)合,產(chǎn)生基極電流。同時(shí),集電極中的空穴被電場(chǎng)吸引向基極移動(dòng),但由于集電極與基極之間的反向偏置電壓,這些空穴很難進(jìn)入基極,從而在集電極與基極之間形成一層耗盡層,阻止電流的進(jìn)一步流動(dòng)。

放大作用:當(dāng)在基極施加一個(gè)小的輸入信號(hào)(即基極電流的變化)時(shí),這個(gè)信號(hào)會(huì)改變基極與發(fā)射極之間的電壓,從而影響發(fā)射極中自由電子的注入。由于基極區(qū)域的寬度很窄,注入的電子會(huì)在基極中迅速擴(kuò)散到集電極區(qū)域。在集電極與基極之間的反向偏置電壓作用下,這些電子被收集到集電極中,形成集電極電流。由于集電極電流是基極電流的放大,因此NPN晶體管具有放大作用。放大倍數(shù)(即集電極電流與基極電流之比)取決于晶體管的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和外部偏置條件。

開(kāi)關(guān)作用:除了放大作用外,NPN晶體管還可以作為開(kāi)關(guān)使用。當(dāng)基極電流足夠大時(shí),它可以完全打開(kāi)晶體管的通道(即降低集電極與發(fā)射極之間的電阻),使集電極電流達(dá)到最大值。此時(shí),晶體管處于飽和狀態(tài)。相反,當(dāng)基極電流減小到零時(shí),晶體管的通道將關(guān)閉(即增大集電極與發(fā)射極之間的電阻),使集電極電流降至零或接近零。此時(shí),晶體管處于截止?fàn)顟B(tài)。通過(guò)控制基極電流的大小,可以實(shí)現(xiàn)晶體管的開(kāi)關(guān)功能。

NPN晶體管的工作原理基于半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電特性。通過(guò)控制基極電流的大小和方向,可以改變集電極與發(fā)射極之間的電流大小和方向。這種特性使得NPN晶體管具有放大和開(kāi)關(guān)功能,成為電子學(xué)中的基本元件之一。在實(shí)際應(yīng)用中,NPN晶體管被廣泛應(yīng)用于各種電子設(shè)備中,如放大器振蕩器、開(kāi)關(guān)電路等。

三、NPN晶體管的結(jié)構(gòu)

NPN晶體管的結(jié)構(gòu)如下所示。晶體管基極的電壓為+Ve,晶體管發(fā)射極端子的電壓為-Ve。晶體管的基極端子始終相對(duì)于發(fā)射極為正,并且集電極電壓供應(yīng)相對(duì)于晶體管的發(fā)射極端子為+Ve。在該晶體管中,集電極端子通過(guò) RL 連接到 VCC

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NPN 晶體管結(jié)構(gòu)

電阻器限制流經(jīng)最高基極電流的電流。在 NPN 晶體管中,電子流過(guò)基極代表晶體管的動(dòng)作。該晶體管動(dòng)作的主要特點(diǎn)是 i/p 和 o/p 電路之間的連接。因?yàn)榫w管的放大特性來(lái)自基極對(duì)集電極到發(fā)射極電流的控制。

NPN晶體管是電流激活器件。當(dāng)晶體管導(dǎo)通時(shí),巨大的電流 IC 在晶體管的集電極和發(fā)射極端之間提供。但是,只有當(dāng)微小的偏置電流“Ib”流過(guò)晶體管的基極端子時(shí),才會(huì)發(fā)生這種情況。它是一個(gè)雙極晶體管;電流是兩個(gè)電流(Ic/Ib)的關(guān)系,稱為器件的直流電流增益。

它用“hfe”或現(xiàn)在的 beta 指定。對(duì)于典型晶體管來(lái)說(shuō),β 值可能很大,高達(dá) 200。當(dāng) NPN 晶體管用于有源區(qū)域時(shí),基極電流“Ib”提供 i/p,集電極電流“IC”提供 o/p。 NPN晶體管從C到E的電流增益稱為α(Ic/Ie),它是晶體管本身的一個(gè)目的。因?yàn)镮e(發(fā)射極電流)是微小的基極電流和巨大的集電極電流之和。 alpha 的值非常接近 1,對(duì)于典型的低功率信號(hào)晶體管,該值的范圍約為 0.950-0.999。

四、NPN晶體管的失效機(jī)理

NPN晶體管是現(xiàn)代電子電路中的核心元件之一,廣泛應(yīng)用于各種電子設(shè)備中。然而,由于工作環(huán)境、使用條件等多種因素的影響,NPN晶體管在使用過(guò)程中可能會(huì)出現(xiàn)失效現(xiàn)象。

NPN晶體管的失效機(jī)理主要包括以下幾個(gè)方面:

1、熱擊穿與二次擊穿

熱擊穿是NPN晶體管失效的主要原因之一。當(dāng)晶體管中的電流過(guò)大時(shí),會(huì)產(chǎn)生大量的熱量,導(dǎo)致晶體管內(nèi)部溫度升高。當(dāng)溫度超過(guò)晶體管的最高允許結(jié)溫時(shí),就會(huì)發(fā)生熱擊穿現(xiàn)象。熱擊穿會(huì)導(dǎo)致晶體管的電流急劇增大,進(jìn)而使晶體管損壞。

二次擊穿是另一種常見(jiàn)的失效現(xiàn)象。當(dāng)晶體管中的電流密度超過(guò)一定值時(shí),會(huì)發(fā)生二次擊穿。在二次擊穿狀態(tài)下,晶體管的擊穿電壓會(huì)回落到一個(gè)新的更低的值上,稱為二次擊穿電壓。如果集電極-發(fā)射極電壓超過(guò)這個(gè)值,而發(fā)射極電流密度又超過(guò)臨界值,就會(huì)發(fā)生二次擊穿,導(dǎo)致晶體管損壞。

2、發(fā)射極去偏置

發(fā)射極去偏置是NPN晶體管失效的另一個(gè)重要原因。當(dāng)晶體管的發(fā)射極電流試圖抽取超過(guò)其正常份額的電流時(shí),會(huì)導(dǎo)致限流電阻上的壓降增大,從而限制流過(guò)發(fā)射極的電流大小。然而,在某些情況下,由于晶體管的內(nèi)部結(jié)構(gòu)或外部條件的影響,發(fā)射極電流可能會(huì)超過(guò)其正常份額,導(dǎo)致發(fā)射極去偏置現(xiàn)象的發(fā)生。發(fā)射極去偏置會(huì)導(dǎo)致晶體管的性能下降,甚至損壞。

3、基區(qū)擴(kuò)展效應(yīng)(Kirk效應(yīng))

基區(qū)擴(kuò)展效應(yīng)也稱為Kirk效應(yīng),是NPN晶體管在高電流密度下出現(xiàn)的一種現(xiàn)象。當(dāng)晶體管的電流很大時(shí),其有效基區(qū)寬度將隨注入電流的增加而擴(kuò)展。這會(huì)導(dǎo)致晶體管的放大倍數(shù)下降,甚至失去放大作用?;鶇^(qū)擴(kuò)展效應(yīng)對(duì)晶體管的性能產(chǎn)生負(fù)面影響,可能導(dǎo)致其失效。

4、環(huán)境因素與機(jī)械應(yīng)力

環(huán)境因素如溫度、濕度、灰塵等對(duì)NPN晶體管的性能也有重要影響。例如,高溫會(huì)導(dǎo)致晶體管的性能下降,甚至損壞;濕度過(guò)高則可能導(dǎo)致晶體管內(nèi)部元件的腐蝕和損壞;灰塵則可能影響晶體管的散熱性能,導(dǎo)致過(guò)熱而失效。此外,機(jī)械應(yīng)力如振動(dòng)、沖擊等也可能導(dǎo)致晶體管的損壞或失效。

為了預(yù)防NPN晶體管的失效,可以采取以下措施:

嚴(yán)格控制晶體管的工作電流和電壓,避免超過(guò)其最大允許值。

加強(qiáng)晶體管的散熱設(shè)計(jì),降低其工作溫度。

保持晶體管工作環(huán)境的清潔和干燥,避免灰塵和濕氣的侵蝕。

對(duì)晶體管進(jìn)行定期檢測(cè)和老化篩選,及時(shí)發(fā)現(xiàn)并處理潛在問(wèn)題。

NPN晶體管的失效機(jī)理是一個(gè)復(fù)雜的問(wèn)題,涉及多個(gè)方面的因素。通過(guò)對(duì)其失效機(jī)理的深入了解和分析,我們可以采取有效的措施來(lái)預(yù)防晶體管的失效,提高電子設(shè)備的可靠性和穩(wěn)定性。同時(shí),隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展,相信未來(lái)會(huì)有更多的新技術(shù)和新方法被應(yīng)用于晶體管的失效預(yù)防領(lǐng)域。

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