全面解析電工電子產(chǎn)品的溫度、光照、鹽霧和IP防護(hù)等級(jí)測(cè)試項(xiàng)目

一、溫度測(cè)試

1. 高溫、低溫、恒溫恒濕

- 溫度：溫度是衡量物體冷熱程度的物理量，從微觀角度來(lái)看，它是物體分子熱運(yùn)動(dòng)的劇烈程度。

- 濕度：表示大氣干燥程度的物理量。在一定溫度下，空氣中含有的水汽越少，空氣越干燥;水汽越多，空氣越潮濕。

高低溫測(cè)試：主要用于評(píng)估電工電子產(chǎn)品在高溫或低溫條件下的存儲(chǔ)和使用適應(yīng)性。

恒溫恒濕測(cè)試：主要用于評(píng)估電工電子產(chǎn)品、元件、材料等在恒定濕熱條件下的使用和存儲(chǔ)適應(yīng)性。

交變濕熱測(cè)試：主要用于評(píng)估電工電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化、產(chǎn)品表面產(chǎn)生凝露的濕熱條件下的使用和存儲(chǔ)適應(yīng)性。

溫度變化測(cè)試：包括以下幾種測(cè)試方法：

- 規(guī)定轉(zhuǎn)換時(shí)間的溫度變化，主要用于確定元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品經(jīng)受環(huán)境溫度迅速變化的能力。

- 規(guī)定溫度變化速率的溫度變化，主要用于確定元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在環(huán)境溫度變化中的工作能力。

- 兩液槽法溫度變化，主要用于確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品經(jīng)受溫度快速變化的能力，適用于玻璃-金屬組成的密封件及類似的試驗(yàn)樣品。

2. 冷熱沖擊、快速溫變

溫度變化率：表示溫度變化快慢的一個(gè)量，單位為度/分鐘。

冷熱沖擊測(cè)試：樣品從高溫環(huán)境突然進(jìn)入低溫環(huán)境，測(cè)試其耐受冷熱沖擊的能力。

快速溫變測(cè)試：通常指快速溫度變化測(cè)試，一般溫度變化速率大于2℃/分鐘，需要使用快速溫變箱進(jìn)行測(cè)試。

二、光照老化測(cè)試

黑板溫度計(jì)：由平面不銹鋼組成，對(duì)光源的一面涂有黑色平光涂層，通過(guò)測(cè)試板中心溫度來(lái)測(cè)量試樣表面可能達(dá)到的最高溫度。

黑標(biāo)準(zhǔn)溫度計(jì)：由平面不銹鋼組成，對(duì)光源一面涂有耐老化的黑色平光涂層，通過(guò)鉑電阻測(cè)量平板溫度。

氙燈：填充氙氣的光電管或閃光電燈，其光譜能量分布與陽(yáng)光中的紫外和可見(jiàn)光部分相似。

熒光紫外燈 (UV 燈)：發(fā)射400nm以下紫外光的能量至少占總輸出光能80%的熒光燈。

光老化測(cè)試的目的：通過(guò)模擬自然陽(yáng)光長(zhǎng)期暴露的加速試驗(yàn)，評(píng)估材料的耐候性。

常見(jiàn)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

- UV測(cè)試：ASTM G154-2016、ISO 4892.3-2016、GB/T 16422.3-2014

- 氙燈測(cè)試：ASTM G155-2021、ISO 4892-2-2013、GB/T 16422.2-2014

測(cè)試樣品要求：UV測(cè)試樣品最好為平面樣品，尺寸建議為60*95*5mm，最大厚度不超過(guò)5cm。若樣品超出試驗(yàn)箱尺寸要求，需要進(jìn)行裁剪。

三、鹽霧測(cè)試

鹽霧類型：中性鹽霧、醋酸鹽霧、銅加速乙酸鹽霧。

測(cè)試對(duì)象：

- 中性鹽霧試驗(yàn)：適用于金屬及其合金、金屬覆蓋層、有機(jī)覆蓋層、陽(yáng)極氧化膜。

- 醋酸鹽霧試驗(yàn)和銅加速乙酸鹽霧試驗(yàn)：適用于銅+鎳+鉻或鎳+鉻裝飾性鍍層，也適用于鋁的陽(yáng)極氧化膜。

常見(jiàn)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

- GB/T 2423.17、IEC 60068-2-11

- GB/T 2423.18、IEC 60068-2-52

- ASTM B117、GB/T 10125、ISO 9227

四、IP防護(hù)等級(jí)測(cè)試

防護(hù)定義：

- 防止固體異物進(jìn)入、防止人體接近危險(xiǎn)部件：IP1X~IP6X，共6個(gè)等級(jí)。

- 防止進(jìn)水造成有害影響：IPX1~IPX9，共8個(gè)等級(jí)。

常見(jiàn)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

- GB/T 4208、IEC 60529

- GB 7000.1、IEC 60598-1