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Pickering發(fā)布新一代低漏電流開關模塊,賦能半導體精密測試

CHANBAEK ? 來源:網(wǎng)絡整理 ? 作者:網(wǎng)絡整理 ? 2024-07-23 17:48 ? 次閱讀

英國知名電子測試與驗證解決方案提供商Pickering公司,近日宣布推出一款專為半導體行業(yè)設計的新型低漏電流開關保護模塊。該模塊聚焦于提升WAT(晶圓驗收測試)等關鍵測試環(huán)節(jié)中的電流驅(qū)動保護測量精度,以滿足半導體行業(yè)對極致低漏電流性能的迫切需求。

新款開關保護模塊采用創(chuàng)新的開關隨動保護層技術,有效隔絕外部干擾,確保測試環(huán)境的純凈與穩(wěn)定。該設計不僅支持PXI、PXIe及LXI等多種主流測試平臺,還實現(xiàn)了隔離電阻的飛躍性提升,高達1013Ω,為半導體參數(shù)測試樹立了新的性能標桿。

Pickering公司此次推出的低漏電流開關模塊,是其在模塊化信號切換與仿真領域深厚技術積累的又一力作。該產(chǎn)品的問世,將極大助力半導體制造商在晶圓驗收測試階段實現(xiàn)更精準、更可靠的測量結果,推動半導體產(chǎn)品質(zhì)量的全面提升。

隨著半導體技術的飛速發(fā)展,對測試設備的要求也日益嚴苛。Pickering公司憑借其卓越的創(chuàng)新能力和對市場需求的精準洞察,不斷推出符合行業(yè)發(fā)展趨勢的高性能測試解決方案,為半導體產(chǎn)業(yè)的持續(xù)進步貢獻力量。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內(nèi)容侵權或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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