OLED電學參數(shù)測試詳解

引言

有機發(fā)光二極管（Organic Light Emitting Diode，OLED），屬于一種電流型的有機發(fā)光器件，是通過載流子的注入和復(fù)合而致發(fā)光的現(xiàn)象。OLED以其自發(fā)光特性，提供了更高的對比度、更廣的視角以及更快的響應(yīng)時間，相較于傳統(tǒng)的液晶顯示技術(shù)（LCD），OLED展現(xiàn)出更加生動鮮明的色彩和更深的黑色。此外，OLED的柔性特性為可穿戴設(shè)備、折疊屏幕等創(chuàng)新應(yīng)用提供了可能，極大地推動了顯示技術(shù)的革新與發(fā)展。

隨著OLED技術(shù)的不斷進步，對其電學性能的測試與優(yōu)化變得尤為關(guān)鍵。高效準確的電學性能測試不僅可以評估OLED器件的性能，還能為改進設(shè)計、提高產(chǎn)品質(zhì)量提供重要依據(jù)。

在之前云上大講堂直播課程中，泰克高級應(yīng)用工程師趙克潤帶大家全面了解了OLED技術(shù)及其測試方法，包含OLED顯示原理介紹、OLED TEG器件電學性能測試以及OLED電路中MOSFET、電阻和電容測試優(yōu)化方法。

本期內(nèi)容中，我們邀請趙工詳細解答本次直播中各位同學的提問，并附上本期云上大講堂直播回放。

問答精選

Q1

電容值可以使用LCR測試儀測試嗎？

答

可以直接用4200A CVU模塊進行測試。

Q2

4200支持四線法么？

答

支持。

Q3

脈沖源如何設(shè)置測試？

答

可以用4200A自帶的KPulse進行設(shè)置。

Q4

小電容測試原理及基本框架

答

典型的半導(dǎo)體電容在pF或nF范圍內(nèi)。許多商業(yè)上可用的LCR表或電容計補償后可以使用適當?shù)臏y量技術(shù) 來測量這些值，然而，一些應(yīng)用需要在飛秒法（fF）或1e-15范圍內(nèi)進行非常靈敏的電容測量。這些應(yīng) 用包括測量金屬到金屬的電容，晶片上的互連電容，MEMS器件，如：開關(guān)，納米器件端子之間的電容。如果沒有使用適當?shù)膬x器和測量技術(shù)，這些非常小的 電容很難進行測量。

使用4200A-SCS參數(shù)分析儀配備的4215-CVU（CVU），用戶能夠測量大范圍的電容，<1pF非常低的電容值 也能測到。CVU采用獨特的電路設(shè)計，并由Clarius+軟件控制，支持校準和診斷工具，以確保最準確的結(jié) 果。使用這種CVU和適當?shù)臏y量技術(shù)可以使用戶實現(xiàn)多個噪聲水平的非常低的電容（1e-18f）測量。

Q5

為了減少Cable&接觸電阻誤差，小電阻測試應(yīng)該采用哪種方式？

答

四線法，四線法測試可以有效消除導(dǎo)線電阻和接觸電阻的影響，從而減少誤差。

Q6

電容補償方式有幾種？

答

電容補償有三種方式，open補償，short補償，load補償。

Q7

4201 SMU能否有效處理因為負載電容太大而導(dǎo)致的電壓源的振蕩

答

可以，4201 SMU可以把4200 SMU 的最大負載電容從10nF 增大到10uF, 從而可以有效處理因為負載電容太大而導(dǎo)致的電壓源振蕩。