電源芯片進(jìn)入Burst模式導(dǎo)致的故障問題

在某監(jiān)測產(chǎn)品中，模擬電路偶發(fā)地會出現(xiàn)噪聲突然增大的情況，這種噪聲導(dǎo)致的后果是使ADC(模數(shù)轉(zhuǎn)換器)之后的用于控制電路的數(shù)字信號出錯(cuò)。由于故障發(fā)生概率很低，所以在調(diào)試過程中，經(jīng)過了很長時(shí)間的監(jiān)測，才能確定故障根源。

經(jīng)大量測試發(fā)現(xiàn)，該故障的發(fā)生和給模擬信號供電的電源負(fù)載有關(guān)。

該模擬電路本身負(fù)載電流極小，電源在給模擬電路供電的同時(shí)，還給其他電路供電。在產(chǎn)品工作過程中，若其他電路待機(jī)，負(fù)載電流將大幅度減小，隨之，這種故障的現(xiàn)象就 可能會發(fā)生。

由此，調(diào)試方向指向電源。該電源型號支持Burst模式。因此，隨著負(fù)載電流的不同，每個(gè)周期的持續(xù)時(shí)間也將不同，這相當(dāng)于開關(guān)頻率被動態(tài)地調(diào)整。而輕載工作于 Burst 模式時(shí)，電源紋波一般都會更高，這種頻率更低的紋波，對工作于該頻段的模擬電 路正好造成了干擾，因?yàn)樵擃l帶正好位于模擬電路的帶通濾波器通頻段內(nèi)。

一個(gè)簡單的解決方法是，將電源芯片通過引腳配置為強(qiáng)制PWM模式。

【擴(kuò)展】

強(qiáng)制PWM模式的電源，在輕載時(shí)效率更低（因?yàn)樵谪?fù)電流時(shí)需要維持無效的逆時(shí)針 回路電流，以及存在無效的MOSFET柵極驅(qū)動功率，因此造成功率浪費(fèi)），但優(yōu)點(diǎn)是周期恒定，頻率恒定且紋波小，不容易產(chǎn)生與噪聲相關(guān)的莫名其妙的問題。

Burst模式的電源，輕載時(shí)進(jìn)入Burst模式，可以有效地提高電源效率，但通常伴隨紋波幅度增大，而且由于開關(guān)周期不定(降低)，可能產(chǎn)生與低頻噪聲有關(guān)的問題，且若產(chǎn)生了這類問題，有時(shí)定位是比較困難的。

在本案例中，由于電路進(jìn)入待機(jī)狀態(tài)是極為偶發(fā)的，概率極低，即使在這種情況下工作于PWM模式，對整板功耗也沒有明顯影響，所以為了避免噪聲問題，在本案例中采用強(qiáng)制PWM模式更為合理。

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