立儀光譜共焦傳感器行業(yè)應(yīng)用 薄膜高度差掃描

01｜檢測(cè)需求：掃描薄膜圓圈的高度差

立儀光譜共焦傳感器行業(yè)應(yīng)用|薄膜高度差掃描

02｜檢測(cè)方式

客戶要求掃描薄膜圓圈的高度差，根據(jù)觀察樣品我們選擇立儀科技D40A30鏡頭搭配H系列控制器進(jìn)行測(cè)量

03｜光譜共焦測(cè)量結(jié)果

薄膜圓圈的高度差輪廓

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04｜光譜共焦側(cè)頭

D40A30側(cè)頭相關(guān)參數(shù)

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05｜H系列控制器

H系列控制器相關(guān)參數(shù)

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審核編輯 黃宇