美國(guó) inTEST 高低溫沖擊熱流儀助力半導(dǎo)體芯片研發(fā)

上海伯東代理美國(guó) inTEST 高低溫沖擊熱流儀兼容各品牌半導(dǎo)體測(cè)試機(jī), 可正確評(píng)估與參數(shù)標(biāo)定芯片開(kāi)發(fā), 器件或模塊研發(fā), 品質(zhì)檢查, 第三方認(rèn)證, 失效分析, FAE 等幾乎所有流程, 高低溫沖擊測(cè)試作為一種常見(jiàn)的測(cè)試手段, 適用于 IGBT, MOSFET, 三極管, 二極管等各類半導(dǎo)體特性測(cè)試.

inTEST 高低溫沖擊熱流儀特性
1. 變溫速率更快, 每秒可快速升溫/降溫 15 °C
2. 溫控精度: ±1℃
3. 實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)待測(cè)芯片真實(shí)溫度, 可隨時(shí)調(diào)整沖擊氣流溫度
4. 針對(duì) PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個(gè)IC(模塊), 可單獨(dú)進(jìn)行高低溫沖擊, 而不影響周邊其它器件
5. 對(duì)測(cè)試機(jī)平臺(tái) load board上 的 IC 進(jìn)行溫度循環(huán) / 沖擊; 傳統(tǒng)高低溫箱無(wú)法針對(duì)此類測(cè)試
6. 對(duì)整塊集成電路板提供準(zhǔn)確且快速的環(huán)境溫度
7.inTEST 熱流儀兼容各品牌半導(dǎo)體測(cè)試機(jī), 通訊方便, 無(wú)異常中斷風(fēng)險(xiǎn), 可連續(xù)運(yùn)行.

inTEST 高低溫沖擊熱流儀熱銷型號(hào)

上海伯東美國(guó) inTEST 高低溫沖擊熱流儀廣泛應(yīng)用于車載芯片及器件, 電源芯片, 功率器件, 通信芯片, 光纖收發(fā)器等溫度沖擊測(cè)試.

美國(guó) inTEST ThermoStream 系列高低溫沖擊熱流儀, 溫度沖擊范圍 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防靜電設(shè)計(jì), 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻, 溫度顯示精度: ±1℃, 通過(guò) NIST 校準(zhǔn).通過(guò) ISO 9001, CE, RoHS 認(rèn)證. inTEST熱流儀提供適用于 RF 射頻, 微波, 電子, 功率器件, 通信芯片等溫度測(cè)試, 滿足芯片特性和故障分析的需求.
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