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電力場效應管的動態(tài)特性和主要參數(shù)

CHANBAEK ? 來源:網絡整理 ? 2024-09-13 14:21 ? 次閱讀

電力場效應管(Power Field-Effect Transistor,簡稱Power FET),特別是其中的絕緣柵型場效應管(MOSFET),在電力電子領域因其高速開關能力和高能效而得到廣泛應用。MOSFET的動態(tài)特性及其相關參數(shù)對于理解其在電路中的行為和優(yōu)化系統(tǒng)性能至關重要。以下是對電力MOSFET動態(tài)特性和主要參數(shù)的詳細闡述。

一、動態(tài)特性

MOSFET的動態(tài)特性主要涉及其在開關過程中的表現(xiàn),包括開通和關斷過程的時間延遲、電壓和電流的變化等。這些特性對于設計高速、高效的電力電子系統(tǒng)至關重要。

1. 開通過程

MOSFET的開通過程可以分為開通延遲時間(td(on))和上升時間(tr)兩個階段。

  • 開通延遲時間(td(on)) :這是指從柵源電壓(VGS)開始上升(通常定義為上升到其穩(wěn)態(tài)值的10%)到漏源電壓(VDS)開始顯著下降(通常定義為下降到其穩(wěn)態(tài)值的90%)之間的時間間隔。在這一階段,柵極電容開始充電,但VGS尚未達到閾值電壓(UT),因此MOSFET尚未開始導通,VDS保持不變。
  • 上升時間(tr) :這是指VDS從90%的穩(wěn)態(tài)值下降到10%的穩(wěn)態(tài)值所需的時間。在這一階段,VGS繼續(xù)上升并超過UT,MOSFET開始導通,VDS迅速下降,漏極電流(ID)迅速增加。值得注意的是,在上升過程中,由于米勒效應(Miller Effect)的存在,VGS可能會保持在一個相對穩(wěn)定的平臺(米勒平臺)上一段時間,導致ID的增加速度放緩。

2. 關斷過程

MOSFET的關斷過程與開通過程相反,也可以分為關斷延遲時間(td(off))和下降時間(tf)兩個階段。

  • 關斷延遲時間(td(off)) :這是指從VGS開始下降(通常定義為下降到其穩(wěn)態(tài)值的90%)到VDS開始顯著上升(通常定義為上升到其穩(wěn)態(tài)值的10%)之間的時間間隔。在這一階段,柵極電容開始放電,但VGS尚未降低到UT以下,因此MOSFET仍然保持導通狀態(tài),VDS保持不變。
  • 下降時間(tf) :這是指VDS從10%的穩(wěn)態(tài)值上升到90%的穩(wěn)態(tài)值所需的時間。在這一階段,VGS繼續(xù)下降并低于UT,MOSFET開始關斷,VDS迅速上升,ID迅速減小。

二、主要參數(shù)

1. 柵極電荷(Qg)

柵極電荷是指為導通MOSFET而注入到柵極電極的電荷量,也稱為總柵極電荷。它包括Qgs(柵極-源極的電荷量)和Qgd(柵極-漏極的電荷量,也稱米勒電荷量)??倴艠O電荷量越大,則導通MOSFET所需的電容充電時間越長,開關損耗增加。反之,總柵極電荷量越小,開關損耗就越小,有利于實現(xiàn)高速開關。

2. 電容參數(shù)

  • Ciss(輸入電容) :這是柵極與源極和漏極之間的總電容,等于Cgs(柵極-源極電容)和Cgd(柵極-漏極電容)之和。Ciss對MOSFET的開關速度有重要影響,因為它決定了柵極電壓的變化速度。
  • Coss(輸出電容) :這是漏極與源極之間的總電容,等于Cds(漏極-源極電容)和Cgd之和。Coss主要影響MOSFET的關斷速度和輸出特性。
  • Crss(反向傳輸電容) :這是柵極與漏極之間的電容,也稱為米勒電容。Crss在MOSFET的開關過程中起著重要作用,是導致米勒效應的主要原因。

3. 開關時間

  • 開通時間(ton) :開通時間等于開通延遲時間(td(on))和上升時間(tr)之和。它表示了MOSFET從接收到開通信號到完全導通所需的總時間。
  • 關斷時間(toff) :關斷時間等于關斷延遲時間(td(off))和下降時間(tf)之和。它表示了MOSFET從接收到關斷信號到完全關斷所需的總時間。

4. 跨導(gM)

跨導是表示柵源電壓(VGS)對漏極電流(ID)的控制能力,即ID變化量與VGS變化量的比值??鐚呛饬縈OSFET放大能力的重要參數(shù),在動態(tài)特性中也起著重要作用。

5. 其他參數(shù)

  • 漏源擊穿電壓(V(BR)DSS) :這是指當柵源電壓(VGS)為零時,MOSFET的漏極和源極之間所能承受的最大電壓。它是一項極限參數(shù),決定了MOSFET在電路中的耐壓能力。
  • 最大耗散功率(PD) :這是指MOSFET在特定條件下所能承受的最大功率損耗。它限制了MOSFET在長時間工作下的熱穩(wěn)定性。
  • 最大漏源電流(IDSM) :這是指MOSFET在正常工作條件下所能承受的最大漏源電流。它限制了MOSFET在電路中的電流處理能力。

三、總結

電力場效應管(特別是MOSFET)的動態(tài)特性和主要參數(shù)對于理解和設計電力電子系統(tǒng)至關重要。動態(tài)特性包括開通過程和關斷過程中的時間延遲、電壓和電流變化等,而主要參數(shù)則包括柵極電荷、電容參數(shù)、開關時間、跨導以及漏源擊穿電壓、最大耗散功率和最大漏源電流等。通過合理選擇和使用具有適當參數(shù)的MOSFET,可以優(yōu)化電路的性能和可靠性。同時,還需要注意MOSFET的保護和散熱問題,以確保其長期穩(wěn)定運行。

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