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設(shè)計(jì)分布式光纖檢測系統(tǒng)的技巧,這些知識(shí)學(xué)會(huì)事半功倍

電子設(shè)計(jì) ? 來源:互聯(lián)網(wǎng) ? 作者:佚名 ? 2018-01-09 07:41 ? 次閱讀

傳統(tǒng)的光纖檢測系統(tǒng)大都是基于MCU架構(gòu)來實(shí)現(xiàn)的,雖然MCU系統(tǒng)或DSP處理器數(shù)字信號(hào)處理方面功能強(qiáng)大,但難以完成大量實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)的采集,因采樣點(diǎn)少帶來的測量誤差會(huì)累積到測試結(jié)果。本設(shè)計(jì)基于光纖系統(tǒng)的檢測原理,設(shè)計(jì)一種快速光纖檢測系統(tǒng)。數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)采用FPGA做數(shù)據(jù)處理,可以實(shí)現(xiàn)高速實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)的采集。

光纖通信是用光纖作為傳輸介質(zhì),以光波作為載波來實(shí)現(xiàn)信息傳輸,從而達(dá)到通信目的的一種新通信技術(shù)。與傳統(tǒng)的電氣通信相比,光纖傳感技術(shù)具有精度和靈敏度高、抗電磁干擾、壽命長、耐腐蝕、成本低、光纖傳輸損耗極低,傳輸距離遠(yuǎn)等突出優(yōu)點(diǎn)。

雖然光纖通信具有以上突出的優(yōu)點(diǎn),但本身存在的缺陷也不容忽視,比如:光纖的質(zhì)地脆,容易斷裂、機(jī)械強(qiáng)度差,彎曲不能過小;供電困難;分路、耦合不靈活;光纖的切斷和連接需要特定的工具或設(shè)備等。城建施工、洪水侵襲、人為破壞、地殼運(yùn)動(dòng)等人為行為或者天災(zāi)的破壞,都很容易造成光纖線路的故障。如何有效地保證光纖通信系統(tǒng)的可靠性,一直是一個(gè)有待解決的技術(shù)難題。本設(shè)計(jì)在光纖通信的基礎(chǔ)之上,通過對(duì)光纖通信監(jiān)測系統(tǒng)的可靠性進(jìn)行研究。以FPGA代替?zhèn)鹘y(tǒng)的MCU架構(gòu)完成數(shù)據(jù)的采集和處理,能完成高速的實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)采集,測量誤差小,工作可靠性高。

1 光纖通信系統(tǒng)的測量原理

目前的光纖測量中,主要是要測量光纖的損耗和斷點(diǎn)。主要基于瑞利散射和菲涅爾反射兩種光學(xué)現(xiàn)象來進(jìn)行測量。瑞利散射是光纖材料本身固有的性質(zhì),由于光纖內(nèi)部含有的雜質(zhì)、纖核添加物等產(chǎn)生漫反射,其中部分向后散射形成瑞利背向散射,光纖整個(gè)長度上都呈現(xiàn)這種現(xiàn)象。而菲涅爾反射它只是發(fā)生在光纖接觸到空氣時(shí)或發(fā)生在諸如機(jī)械的連接接縫處。因此,光纖損耗的測量所依據(jù)的主要是瑞利散射原理;光纖斷點(diǎn)的測量所依據(jù)的主要原理是菲涅爾反射。

瑞利散射損耗可用下式進(jìn)行近似計(jì)算:

式(1)中,λ以u(píng)m為單位,A、B是與石英和摻雜材料有關(guān)的常數(shù)。

菲涅爾反射光的信號(hào)強(qiáng)度與反射面狀況和傳輸光的功率相關(guān)。對(duì)于來自光纖上L點(diǎn)處的菲涅爾反射光,在光纖注入端測得的光功率Pf(L)為:

以上公式中,L為菲涅爾反射處距離光注入端的距離,R為光纖中L處的功率反射系數(shù),P0為注入光纖的峰值功率,β為光纖衰減常數(shù)。

2 硬件設(shè)計(jì)

如圖1所示為系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)原理圖。由脈沖器產(chǎn)生的電脈沖,驅(qū)動(dòng)光源模塊產(chǎn)生光脈沖,經(jīng)方向耦合器射入待測光纖。射入光纖的光脈沖,由于光纖材料本身固有的性質(zhì)會(huì)產(chǎn)生瑞利散射光,連同遇到不平整光纖端面會(huì)產(chǎn)生菲涅爾反射光,一起反射回方向耦合器、射至光電二極管,轉(zhuǎn)換成電脈沖。轉(zhuǎn)換后的電信號(hào)經(jīng)由放大器和A/D轉(zhuǎn)換處理后送入數(shù)據(jù)處理模塊,由于此項(xiàng)反射光強(qiáng)度微弱,故需反復(fù)傳送、收集并進(jìn)行放大和平均處理。OTDR利用其激光光源向被測光纖反復(fù)發(fā)送光脈沖來實(shí)現(xiàn)測量。

2.1 數(shù)據(jù)采集與處理模塊

數(shù)據(jù)采集與處理模塊主要包括主控制器FPGA、AD轉(zhuǎn)換器及SRAM存儲(chǔ)器;主要完成對(duì)實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)的采集與處理。本設(shè)計(jì)采用FPGA芯片為EP3C35Q240C8共有240個(gè)引腳,分為8個(gè)bank,分布于芯片的四周,但是并非全部的引腳都是可以隨意使用的,只有是L/O接口的引腳才是芯片內(nèi)部可分配。這些接口用來提供給復(fù)位,ADC芯片和SDRAM數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和控制信號(hào)。

當(dāng)一個(gè)設(shè)計(jì)完成后,需要把設(shè)計(jì)下載到FPGA中運(yùn)行以進(jìn)行調(diào)試及應(yīng)用。FPGA有多種下載配置模式,本設(shè)計(jì)主要采用AS模式。

AS模式是將下載文件先放在外掛的加載芯片中,每次上電后FPGA會(huì)自動(dòng)從加載芯片中調(diào)用加載信息,然后存到FPGA的SRAM中去,對(duì)FPGA進(jìn)行配置。當(dāng)設(shè)計(jì)完成,調(diào)試無誤時(shí),應(yīng)當(dāng)用此模式進(jìn)行FPGA的配置。

AS下載需要AS配置芯片。本設(shè)計(jì)采用的存儲(chǔ)器為EPCS16,它與FPGA的接口為4個(gè)信號(hào):DCLK為串行時(shí)鐘輸入;ASDI為控制信號(hào)輸入;nCS為片選信號(hào);DATA為串行數(shù)據(jù)輸出。AS模式下載電路實(shí)現(xiàn)原理圖如圖2所示。

2.2 數(shù)據(jù)收發(fā)模塊

數(shù)據(jù)收發(fā)模塊主要功能是發(fā)送一個(gè)光脈沖信號(hào),經(jīng)過耦合器耦合后注入待測光纖,由待測光纖反射回來的反射光再送入數(shù)據(jù)采集和處理模塊。

具體實(shí)現(xiàn)過程:首先FPGA產(chǎn)生一個(gè)脈沖信號(hào),經(jīng)過脈沖放大器放大后,再連接到光電器,轉(zhuǎn)換成特定波長的光脈沖,將光脈沖注入待測光纖,這時(shí)會(huì)產(chǎn)生瑞利散射和菲涅爾反射,再由耦合器的輸出端送入光電探測器,將光信號(hào)轉(zhuǎn)換成電信號(hào),隨后送入到運(yùn)算放大器進(jìn)行放大后送入數(shù)據(jù)采集與處理模塊。圖3所示為脈沖放大電路,主要實(shí)現(xiàn)對(duì)脈沖信號(hào)進(jìn)行放大處理。

如圖3所示TPS2817為單通道高速MOSFET驅(qū)動(dòng)器,可以提供高達(dá)2 A的峰值電流,可達(dá)納秒級(jí)的開關(guān)速度,輸入回路中包括了有源上拉電路,采用集電極開路方式驅(qū)動(dòng)MOS管。電源電壓最大為30 V,電源電壓最小為2.75 V;當(dāng)輸入的脈沖信號(hào)接入輸入端口IN,TPS2817相當(dāng)于一個(gè)功率驅(qū)動(dòng)器,可將脈沖信號(hào)進(jìn)行功率放大。

3 測試結(jié)果及分析

首先檢測系統(tǒng)發(fā)射一個(gè)光脈沖信號(hào),這個(gè)光脈沖在遇到斷點(diǎn)、接頭、熔接點(diǎn)以后會(huì)反射回來,如果檢測系統(tǒng)能夠精確地測量回波時(shí)間,就可以利用下面的公式計(jì)算出距離L。

其中,c為光速,t為光脈沖從發(fā)射到接收的總時(shí)間,稱為回波時(shí)間,f為采樣率,N為總采樣點(diǎn)數(shù),

n為待測光纖的折射率。測試結(jié)果如下:橫坐標(biāo)表示待測光纖的長度,縱坐標(biāo)代表測量反射光得到的相對(duì)光功率。整個(gè)光纖網(wǎng)的故障可分為反射事件和非反射事件。

光纖中的熔接頭和微彎都會(huì)帶來損耗,但不會(huì)引起反射。在測量結(jié)果曲線上,這兩種事件會(huì)以在背向散射電平上附加一下突然的下降臺(tái)階的形式表現(xiàn)出來。那么在豎軸上的改變即為某一事件的損耗大小。

活動(dòng)連接器,機(jī)械接頭和光纖中的折裂都會(huì)同時(shí)引起損耗和反射。損耗的大小同樣是由背向電平值的改變量來決定。反射值(通常以回波損耗的形式表示)是由背向散射上反射峰的幅度所決定的。

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