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emc電磁兼容測試的波形怎么看

科技綠洲 ? 來源:網(wǎng)絡(luò)整理 ? 作者:網(wǎng)絡(luò)整理 ? 2024-10-21 17:48 ? 次閱讀

EMC電磁兼容性)電磁兼容測試是評估設(shè)備在電磁環(huán)境中能否正常工作且不對其他設(shè)備產(chǎn)生不可接受的電磁干擾的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。在解讀EMC測試波形時,需要掌握一定的專業(yè)知識和技能。

一、EMC測試波形的基本要素

在解讀EMC測試波形時,首先需要了解波形的基本要素,包括測試標(biāo)準(zhǔn)、測試條件、測試波形及其相關(guān)參數(shù)

  1. 測試標(biāo)準(zhǔn)
    • 測試標(biāo)準(zhǔn)通常規(guī)定了測試方法、測試設(shè)備、測試環(huán)境以及測試限值等關(guān)鍵參數(shù)。常見的EMC測試標(biāo)準(zhǔn)包括EN55032、FCC Part 15等。
    • 在解讀波形時,需要仔細(xì)核對測試標(biāo)準(zhǔn),確保測試過程符合規(guī)范要求。
  2. 測試條件
    • 測試條件包括測試電壓、測試頻率、測試環(huán)境等。這些條件對測試結(jié)果的準(zhǔn)確性具有重要影響。
    • 在解讀波形時,需要關(guān)注測試條件是否與實際情況相符,以及是否滿足測試標(biāo)準(zhǔn)的要求。
  3. 測試波形
    • 測試波形是EMC測試結(jié)果的直觀體現(xiàn)。常見的測試波形包括傳導(dǎo)測試波形(CE)和輻射測試波形(RE)。
    • 傳導(dǎo)測試波形主要反映設(shè)備在電源線或信號線上的電磁干擾情況;輻射測試波形則反映設(shè)備在空間中的電磁輻射情況。
  4. 相關(guān)參數(shù)
    • 在解讀波形時,需要關(guān)注的關(guān)鍵參數(shù)包括峰值(PK)、準(zhǔn)峰值(QP)、平均值(AV)等。這些參數(shù)反映了測試波形的不同特征。
    • 峰值(PK)表示單位時間內(nèi)的最高值,通常用于評估瞬態(tài)電磁干擾的強度。
    • 準(zhǔn)峰值(QP)表示單位時間內(nèi)的平均值,用于評估連續(xù)電磁干擾的強度。
    • 平均值(AV)則表示一段時間內(nèi)信號的算術(shù)平均值,用于評估穩(wěn)定電磁干擾的強度。

二、傳導(dǎo)測試波形(CE)的解讀

傳導(dǎo)測試波形主要用于評估設(shè)備在電源線或信號線上的電磁干擾情況。以下以CE傳導(dǎo)測試波形為例,詳細(xì)解析其解讀方法。

  1. 測試標(biāo)準(zhǔn)與測試條件
    • 在解讀CE傳導(dǎo)測試波形時,首先需要核對測試標(biāo)準(zhǔn)(如EN55032)和測試條件(如測試電壓、測試頻率等)。
    • 確保測試過程符合規(guī)范要求,以保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
  2. 波形解讀
    • CE傳導(dǎo)測試波形通常包括L線和N線兩部分。L線表示火線上的電磁干擾情況,N線表示零線上的電磁干擾情況。
    • 在波形圖中,紅線表示安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)的限制值(Limit),即測試波形不應(yīng)超過的限值。綠線表示安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)的平均值(AVG),用于評估測試波形的整體情況。
    • 測試波形下方表格中的Qver值表示余量值,負(fù)數(shù)越大說明余量越大,即測試波形與限制值之間的差值越大。
    • 在解讀波形時,需要關(guān)注測試波形是否超過紅線(Limit)或綠線(AVG),以及Qver值的大小。如果測試波形超過紅線或綠線,則說明測試不通過;如果Qver值較大,則說明測試波形具有較好的余量。
  3. 案例分析
    • 假設(shè)某設(shè)備的CE傳導(dǎo)測試波形如圖1所示。在圖中,紅線表示限制值(Limit),綠線表示平均值(AVG),測試波形位于紅線和綠線之間。
    • 通過觀察波形圖,可以發(fā)現(xiàn)測試波形在大部分頻率點上都低于限制值(Limit),且Qver值較大(如-10dB+),說明測試波形具有較好的余量。
    • 因此,可以判斷該設(shè)備在CE傳導(dǎo)測試方面表現(xiàn)良好,符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求。

三、輻射測試波形(RE)的解讀

輻射測試波形主要用于評估設(shè)備在空間中的電磁輻射情況。以下以RE輻射測試波形為例,詳細(xì)解析其解讀方法。

  1. 測試標(biāo)準(zhǔn)與測試條件
    • 在解讀RE輻射測試波形時,同樣需要核對測試標(biāo)準(zhǔn)(如FCC Part 15)和測試條件(如測試電壓、測試頻率等)。
    • 確保測試過程符合規(guī)范要求,以保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
  2. 波形解讀
    • RE輻射測試波形通常包括水平方向(Horizontal)和垂直方向(Vertical)兩部分。水平方向表示天線處于水平位置時的電磁輻射情況;垂直方向表示天線處于垂直位置時的電磁輻射情況。
    • 在波形圖中,紅線同樣表示安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)的限制值(Limit),即測試波形不應(yīng)超過的限值。綠線表示余量值(Margin),用于評估測試波形與限制值之間的差值。
    • 測試波形下方表格中的Qver值同樣表示余量值,負(fù)數(shù)越大說明余量越大。
    • 在解讀波形時,需要關(guān)注測試波形是否超過紅線(Limit)或綠線(Margin),以及Qver值的大小。如果測試波形超過紅線,則說明測試不通過;如果Qver值較大,則說明測試波形具有較好的余量。
  3. 案例分析
    • 假設(shè)某設(shè)備的RE輻射測試波形如圖2所示。在圖中,紅線表示限制值(Limit),綠線表示余量值(Margin),測試波形位于紅線和綠線之間。
    • 通過觀察波形圖,可以發(fā)現(xiàn)測試波形在大部分頻率點上都低于限制值(Limit),且Qver值較大(如-7dB+),說明測試波形具有較好的余量。
    • 因此,可以判斷該設(shè)備在RE輻射測試方面表現(xiàn)良好,符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求。

四、注意事項與常見問題

在解讀EMC測試波形時,還需要注意以下事項和常見問題:

  1. 測試設(shè)備的校準(zhǔn)與選擇
    • 確保測試設(shè)備經(jīng)過校準(zhǔn)并處于良好工作狀態(tài),以保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
    • 選擇合適的測試設(shè)備,以滿足測試標(biāo)準(zhǔn)和測試條件的要求。
  2. 測試環(huán)境的控制
    • 在測試過程中,需要嚴(yán)格控制測試環(huán)境,包括溫度、濕度、電磁場等干擾因素。
    • 確保測試環(huán)境符合測試標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范要求,以減少測試誤差。
  3. 測試結(jié)果的評估與判斷
    • 在評估測試結(jié)果時,需要綜合考慮測試波形、測試條件、測試標(biāo)準(zhǔn)等多個因素。
    • 根據(jù)測試結(jié)果判斷設(shè)備是否符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求,并采取相應(yīng)的改進措施。
  4. 常見問題與解決方案
    • 如果測試波形超過限制值(Limit),則需要檢查設(shè)備是否存在電磁干擾源或電磁泄漏問題,并采取相應(yīng)的屏蔽、濾波等改進措施。
    • 如果Qver值較小,則說明測試波形余量不足,需要優(yōu)化設(shè)備設(shè)計或提高測試標(biāo)準(zhǔn)以滿足要求。
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