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深入分析了650V和1200V第三代溝槽MOSFET

MEMS ? 來源:未知 ? 作者:李倩 ? 2018-08-20 17:26 ? 次閱讀

羅姆(ROHM)650V和1200V碳化硅(SiC)MOSFET中的溝槽(Trench)技術(shù)據(jù)麥姆斯咨詢介紹,碳化硅(SiC)與目前主流的硅基功率半導(dǎo)體器件相比,切換損耗小、耐壓性強、在高溫下也能擁有優(yōu)異的電子特性。因此,很多廠商生產(chǎn)碳化硅產(chǎn)品,例如Cree、Microsemi、Infineon、ROHM等。碳化硅器件市場前景看好,預(yù)計2017~2021年復(fù)合年增長率(CAGR)高達31%。由于汽車和工業(yè)應(yīng)用的拓展,預(yù)計2023年碳化硅器件市場將超過15億美元。

硅基IGBT和碳化硅MOSFET的切換損耗對比ROHM是碳化硅MOSFET分立器件和模組領(lǐng)域第二大公司,提供650V~1700V范圍內(nèi)各種產(chǎn)品。在商業(yè)化碳化硅生產(chǎn)后僅七年時間,ROHM推出了溝槽式碳化硅MOSFET,成為全球第一家量產(chǎn)此類產(chǎn)品的廠商。該產(chǎn)品系列基于ROHM專有的雙溝槽設(shè)計,包括柵極溝槽和源極溝槽。這種設(shè)計相對于平面碳化硅器件,將導(dǎo)通電阻(Rdson)減小了近一半;并且相對于具有相同電壓的硅基IGBT,電流密度增加了近五倍。

ROHM第三代碳化硅MOSFET特點(相比第二代)ROHM第三代設(shè)計應(yīng)用于650V和1200V產(chǎn)品之中,包括分立或模組封裝。本報告深入分析了650V和1200V第三代溝槽MOSFET,并利用光學(xué)顯微鏡和掃描電鏡研究復(fù)雜的碳化硅溝槽結(jié)構(gòu)。

ROHM第三代碳化硅MOSFET拆解與逆向分析本報告還對分立器件SCT3120AL進行生產(chǎn)成本剖析,并提供650V和1200V第三代技術(shù)及器件對比分析,以及第三代和第二代碳化硅MOSFET對比分析。

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原文標(biāo)題:《ROHM第三代碳化硅MOSFET溝槽設(shè)計系列》

文章出處:【微信號:MEMSensor,微信公眾號:MEMS】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

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