電阻式觸摸屏的結(jié)構(gòu)和實(shí)現(xiàn)原理介紹

很多LCD模塊都采用了電阻式觸摸屏，這些觸摸屏等效于將物理位置轉(zhuǎn)換為代表X、Y坐標(biāo)的電壓值的傳感器。通常有4線、5線、7線和8線觸摸屏來(lái)實(shí)現(xiàn)，本文詳細(xì)介紹了SAR結(jié)構(gòu)、四種觸摸屏的組成結(jié)構(gòu)和實(shí)現(xiàn)原理，以及檢測(cè)觸摸的方法。

電阻式觸摸屏是一種傳感器，它將矩形區(qū)域中觸摸點(diǎn)（X，Y）的物理位置轉(zhuǎn)換為代表X坐標(biāo)和Y坐標(biāo)的電壓。很多LCD模塊都采用了電阻式觸摸屏，這種屏幕可以用四線、五線、七線或八線來(lái)產(chǎn)生屏幕偏置電壓，同時(shí)讀回觸摸點(diǎn)的電壓。

過(guò)去，為了將電阻式觸摸屏上的觸摸點(diǎn)坐標(biāo)讀入微控制器，需要使用一個(gè)專用的觸摸屏控制器芯片，或者利用一個(gè)復(fù)雜的外部開(kāi)關(guān)網(wǎng)絡(luò)來(lái)連接微控制器的片上模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）。夏普公司的LH75400/01/10/11系列和LH7A404等微控制器都帶有一個(gè)內(nèi)含觸摸屏偏置電路的片上ADC，該ADC采用了一種逐次逼近寄存器（SAR）類型的轉(zhuǎn)換器。采用這些控制器可以實(shí)現(xiàn)在觸摸屏傳感器和微控制器之間進(jìn)行直接接口，無(wú)需CPU介入的情況下控制所有的觸摸屏偏置電壓，并記錄全部測(cè)量結(jié)果。本文將詳細(xì)介紹四線、五線、七線和八線觸摸屏的結(jié)構(gòu)和實(shí)現(xiàn)原理。

SAR結(jié)構(gòu)

SAR的實(shí)現(xiàn)方法很多，但它的基本結(jié)構(gòu)很簡(jiǎn)單，參見(jiàn)圖1。

圖1 SAR的基本結(jié)構(gòu)

該結(jié)構(gòu)將模擬輸入電壓（VIN）保存在一個(gè)跟蹤/保持器中，N位寄存器被設(shè)置為中間值（即100.。.0，其中最高位被設(shè)置為1），以執(zhí)行二進(jìn)制查找算法。因此，數(shù)模轉(zhuǎn)換器（DAC）的輸出（VDAC）為VREF的二分之一，這里VREF為ADC的參考電壓。之后，再執(zhí)行一個(gè)比較操作，以決定VIN小于還是大于VDAC：

1. 如果VIN小于VDAC，比較器輸出邏輯低，N位寄存器的最高位清0。

2. 如果VIN大于VDAC，比較器輸出邏輯高（或1），N位寄存器的最高位保持為1。

其后，SAR的控制邏輯移動(dòng)到下一位，將該位強(qiáng)制置為高，再執(zhí)行下一次比較。SAR控制邏輯將重復(fù)上述順序操作，直到最后一位。當(dāng)轉(zhuǎn)換完成時(shí)，寄存器中就得到了一個(gè)N位數(shù)據(jù)字。

圖2顯示了一個(gè)4位轉(zhuǎn)換過(guò)程的例子，圖中Y軸和粗線表示DAC的輸出電壓。

圖2 4位轉(zhuǎn)換過(guò)程

在本例中：

1. 第一次比較顯示VIN小于VDAC，因此位［3］被置0。隨后DAC被設(shè)置為0b0100并執(zhí)行第二次比較。

2. 在第二次比較中，VIN大于VDAC，因此位［2］保持為1。隨后，DAC被設(shè)置為0b0110并執(zhí)行第三次比較。

3. 在第三次比較中，位［1］被置0。DAC隨后被設(shè)置為0b0101，并執(zhí)行最后一次比較。

4. 在最后一次比較中，由于VIN大于VDAC，位［0］保持為1。

觸摸屏原理

觸摸屏包含上下疊合的兩個(gè)透明層，四線和八線觸摸屏由兩層具有相同表面電阻的透明阻性材料組成，五線和七線觸摸屏由一個(gè)阻性層和一個(gè)導(dǎo)電層組成，通常還要用一種彈性材料來(lái)將兩層隔開(kāi)。當(dāng)觸摸屏表面受到的壓力（如通過(guò)筆尖或手指進(jìn)行按壓）足夠大時(shí)，頂層與底層之間會(huì)產(chǎn)生接觸。所有的電阻式觸摸屏都采用分壓器原理來(lái)產(chǎn)生代表X坐標(biāo)和Y坐標(biāo)的電壓。如圖3所示，分壓器是通過(guò)將兩個(gè)電阻進(jìn)行串聯(lián)來(lái)實(shí)現(xiàn)的。上面的電阻（R1）連接正參考電壓（VREF），下面的電阻（R2）接地。兩個(gè)電阻連接點(diǎn)處的電壓測(cè)量值與下面那個(gè)電阻的阻值成正比。

圖3 分壓器通過(guò)兩個(gè)電阻進(jìn)行串聯(lián)實(shí)現(xiàn)

為了在電阻式觸摸屏上的特定方向測(cè)量一個(gè)坐標(biāo)，需要對(duì)一個(gè)阻性層進(jìn)行偏置：將它的一邊接VREF，另一邊接地。同時(shí)，將未偏置的那一層連接到一個(gè)ADC的高阻抗輸入端。當(dāng)觸摸屏上的壓力足夠大，使兩層之間發(fā)生接觸時(shí)，電阻性表面被分隔為兩個(gè)電阻。它們的阻值與觸摸點(diǎn)到偏置邊緣的距離成正比。觸摸點(diǎn)與接地邊之間的電阻相當(dāng)于分壓器中下面的那個(gè)電阻。因此，在未偏置層上測(cè)得的電壓與觸摸點(diǎn)到接地邊之間的距離成正比。

四線觸摸屏

四線觸摸屏包含兩個(gè)阻性層。其中一層在屏幕的左右邊緣各有一條垂直總線，另一層在屏幕的底部和頂部各有一條水平總線，見(jiàn)圖4。為了在X軸方向進(jìn)行測(cè)量，將左側(cè)總線偏置為0V，右側(cè)總線偏置為VREF。將頂部或底部總線連接到ADC，當(dāng)頂層和底層相接觸時(shí)即可作一次測(cè)量。

圖4 四線觸摸屏的兩個(gè)阻性層

為了在Y軸方向進(jìn)行測(cè)量，將頂部總線偏置為VREF，底部總線偏置為0V。將ADC輸入端接左側(cè)總線或右側(cè)總線，當(dāng)頂層與底層相接觸時(shí)即可對(duì)電壓進(jìn)行測(cè)量。圖5顯示了四線觸摸屏在兩層相接觸時(shí)的簡(jiǎn)化模型。對(duì)于四線觸摸屏，最理想的連接方法是將偏置為VREF的總線接ADC的正參考輸入端，并將設(shè)置為0V的總線接ADC的負(fù)參考輸入端。

五線觸摸屏

五線觸摸屏使用了一個(gè)阻性層和一個(gè)導(dǎo)電層。導(dǎo)電層有一個(gè)觸點(diǎn)，通常在其一側(cè)的邊緣。阻性層的四個(gè)角上各有一個(gè)觸點(diǎn)。為了在X軸方向進(jìn)行測(cè)量，將左上角和左下角偏置到VREF，右上角和右下角接地。由于左、右角為同一電壓，其效果與連接左右側(cè)的總線差不多，類似于四線觸摸屏中采用的方法。

為了沿Y軸方向進(jìn)行測(cè)量，將左上角和右上角偏置為VREF，左下角和右下角偏置為0V。由于上、下角分別為同一電壓，其效果與連接頂部和底部邊緣的總線大致相同，類似于在四線觸摸屏中采用的方法。這種測(cè)量算法的優(yōu)點(diǎn)在于它使左上角和右下角的電壓保持不變；但如果采用柵格坐標(biāo)，X軸和Y軸需要反向。對(duì)于五線觸摸屏，最佳的連接方法是將左上角（偏置為VREF）接ADC的正參考輸入端，將左下角（偏置為0V）接ADC的負(fù)參考輸入端。

七線觸摸屏

七線觸摸屏的實(shí)現(xiàn)方法除了在左上角和右下角各增加一根線之外，與五線觸摸屏相同。執(zhí)行屏幕測(cè)量時(shí)，將左上角的一根線連到VREF，另一根線接SAR ADC的正參考端。同時(shí)，右下角的一根線接0V，另一根線連接SAR ADC的負(fù)參考端。導(dǎo)電層仍用來(lái)測(cè)量分壓器的電壓。

八線觸摸屏

除了在每條總線上各增加一根線之外，八線觸摸屏的實(shí)現(xiàn)方法與四線觸摸屏相同。對(duì)于VREF總線，將一根線用來(lái)連接VREF，另一根線作為SAR ADC的數(shù)模轉(zhuǎn)換器的正參考輸入。對(duì)于0V總線，將一根線用來(lái)連接0V，另一根線作為SAR ADC的數(shù)模轉(zhuǎn)換器的負(fù)參考輸入。未偏置層上的四根線中，任何一根都可用來(lái)測(cè)量分壓器的電壓。

檢測(cè)有無(wú)接觸

所有的觸摸屏都能檢測(cè)到是否有觸摸發(fā)生，其方法是用一個(gè)弱上拉電阻將其中一層上拉，而用一個(gè)強(qiáng)下拉電阻來(lái)將另一層下拉。如果上拉層的測(cè)量電壓大于某個(gè)邏輯閾值，就表明沒(méi)有觸摸，反之則有觸摸。這種方法存在的問(wèn)題在于觸摸屏是一個(gè)巨大的電容器，此外還可能需要增加觸摸屏引線的電容，以便濾除LCD引入的噪聲。弱上拉電阻與大電容器相連會(huì)使上升時(shí)間變長(zhǎng)，可能導(dǎo)致檢測(cè)到虛假的觸摸。

四線和八線觸摸屏可以測(cè)量出接觸電阻，即圖5中的RTOUCH。RTOUCH與觸摸壓力近似成正比。要測(cè)量觸摸壓力，需要知道觸摸屏中一層或兩層的電阻。圖6中的公式給出了計(jì)算方法。需要注意的是，如果Z1的測(cè)量值接近或等于0（在測(cè)量過(guò)程中當(dāng)觸摸點(diǎn)靠近接地的X總線時(shí)），計(jì)算將出現(xiàn)一些問(wèn)題，通過(guò)采用弱上拉方法可以有效改善這個(gè)問(wèn)題。

圖5 RTOUCH

圖6 觸摸屏電阻計(jì)算方法