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適合高溫環(huán)境應(yīng)用的AD7981數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)計(jì)

電子設(shè)計(jì) ? 來源:郭婷 ? 作者:電子設(shè)計(jì) ? 2019-04-08 08:42 ? 次閱讀

電路描述

模數(shù)轉(zhuǎn)換器

本電路的核心是16位、低功耗、單電源ADC AD7981,它采用逐次逼近架構(gòu),最高支持600 kSPS的采樣速率。 如圖1所示,AD7981使用兩個(gè)電源引腳: 內(nèi)核電源(VDD)和數(shù)字輸入/輸出接口電源(VIO)。 VIO引腳可以與1.8 V至5.0 V的任何邏輯直接接口。 VDD和VIO引腳也可以連在一起以節(jié)省系統(tǒng)所需的電源數(shù)量,并且它們與電源時(shí)序無關(guān)。

在兩次轉(zhuǎn)換之間,AD7981自動(dòng)關(guān)斷以節(jié)省功耗。 因此,功耗與采樣速率成線性比例關(guān)系,使得該ADC對高低采樣速率(甚至低至數(shù)Hz)均適合,并且可實(shí)現(xiàn)非常低的功耗,支持電池供電系統(tǒng)。 此外,可以使用過采樣技術(shù)來提高低速信號的有效分辨率。

AD7981有一個(gè)偽差分模擬輸入結(jié)構(gòu),可對IN+與IN輸入之間的真差分信號進(jìn)行采樣,并抑制這兩個(gè)輸入共有的信號。IN+輸入支持0 V至VREF的單極性、單端輸入信號,IN輸入的范圍受限,為GND至100 mV。 AD7981的偽差分輸入簡化了ADC驅(qū)動(dòng)器要求并降低了功耗。AD7981采用10引腳MSOP封裝,額定溫度為175°C。 圖2給出了連接示意圖。

適合高溫環(huán)境應(yīng)用的AD7981數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)計(jì)

圖2. AD7981連接圖

ADC驅(qū)動(dòng)器

AD7981的輸入可直接從低阻抗信號源驅(qū)動(dòng);然而,高源阻抗會(huì)顯著降低性能,尤其是總諧波失真(THD)。因此,推薦使用ADC驅(qū)動(dòng)器或運(yùn)算放大器(如AD8634)來驅(qū)動(dòng)AD7981輸入,如圖3所示。 在采集時(shí)間開始時(shí),開關(guān)閉合,容性DAC在ADC輸入端注入一個(gè)電壓毛刺(反沖)。 ADC驅(qū)動(dòng)器幫助此反沖穩(wěn)定下來,并將其與信號源相隔離。

低功耗(1.3 mA/放大器)雙通道精密運(yùn)算放大器AD8634適合此任務(wù),因?yàn)槠涑錾闹绷骱徒涣魈匦詫?a href="http://ttokpm.com/v/tag/117/" target="_blank">傳感器信號調(diào)理和信號鏈的其他部分非常有利。 雖然AD8634具有軌到軌輸出,但輸入要求從正供電軌到負(fù)供電軌具有300 mV裕量。

此裕量要求使得負(fù)電源成為必要,所選負(fù)電源為2.5 V。

AD8634提供額定溫度為175°C的8引腳SOIC封裝和額定溫度為210°C的8引腳FLATPACK封裝。

適合高溫環(huán)境應(yīng)用的AD7981數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)計(jì)

圖3. SAR ADC前端放大器和RC濾波器

ADC驅(qū)動(dòng)器與AD7981之間的RC濾波器衰減AD7981輸入端注入的反沖,并限制進(jìn)入此輸入端的噪聲帶寬。 不過,過大的限帶可能會(huì)增加建立時(shí)間和失真。 最佳RC值的計(jì)算主要基于輸入頻率和吞吐速率。 對于所示實(shí)例,R = 85 Ω且C = 2.7 nF是最佳值,產(chǎn)生693 kHz的截止頻率。 詳細(xì)計(jì)算參見Analog Dialogue文章:精密SAR型模數(shù)轉(zhuǎn)換器的前端放大器和RC濾波器設(shè)計(jì)。

本電路中,ADC驅(qū)動(dòng)器為單位增益緩沖配置。 增加ADC驅(qū)動(dòng)器增益會(huì)降低驅(qū)動(dòng)器帶寬,延長建立時(shí)間。 這種情況下可能需要降低ADC吞吐速率,或者在增益級之后再使用一個(gè)緩沖器作為驅(qū)動(dòng)器。

基準(zhǔn)電壓源

ADR225 2.5 V基準(zhǔn)電壓源在時(shí)210°C僅消耗最大60 μA的靜態(tài)電流,并具有典型值40 ppm/°C的超低漂移特性,因而非常適合用于該低功耗數(shù)據(jù)采集電路。ADR225的初始精度為±0.4%,可在3.3 V至16 V的寬電源范圍內(nèi)工作。

像其他SAR ADC一樣,AD7981的基準(zhǔn)電壓輸入具有動(dòng)態(tài)輸入阻抗,因此必須利用低阻抗源驅(qū)動(dòng),REF引腳與GND之間應(yīng)有效去耦,如圖4所示。 除了ADC驅(qū)動(dòng)器應(yīng)用,AD8634同樣適合用作基準(zhǔn)電壓緩沖器。

使用基準(zhǔn)電壓緩沖器的另一個(gè)好處是,基準(zhǔn)電壓輸出端噪聲可通過增加一個(gè)低通RC濾波器來進(jìn)一步降低。 在該電路中,49.9 Ω電阻和47 μF電容提供大約67 Hz的截止頻率。

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圖4. SAR ADC基準(zhǔn)電壓緩沖器和RC濾波器

轉(zhuǎn)換期間,AD7981基準(zhǔn)電壓輸入端可能出現(xiàn)高達(dá)2.5 mA的電流尖峰。 在盡可能靠近基準(zhǔn)電壓輸入端的地方放置一個(gè)大容值儲(chǔ)能電容,以便提供該電流并使基準(zhǔn)電壓輸入端噪聲保持較低水平。 通常使用低ESR、10 μF或更大的陶瓷電容,但對于高溫應(yīng)用,沒有陶瓷電容可用。 因此,選擇一個(gè)低ESR、47 μF鉭電容,其對電路性能的影響極小。

數(shù)字接口

AD7981提供一個(gè)兼容SPI、QSPI和其他數(shù)字主機(jī)的靈活串行數(shù)字接口。該接口既可配置為簡單的3線模式以實(shí)現(xiàn)最少的輸入/輸出數(shù),也可配置為4線模式以提供菊花鏈回讀和繁忙指示選項(xiàng)。 4線模式還支持CNV(轉(zhuǎn)換輸入)的獨(dú)立回讀時(shí)序,使得多個(gè)轉(zhuǎn)換器可實(shí)現(xiàn)同步采樣。

本參考設(shè)計(jì)使用的PMOD接口實(shí)現(xiàn)了簡單的3線模式,SDI接高電平VIO。 VIO電壓是由SDP-PMOD轉(zhuǎn)接板從外部提供。

電源

本參考設(shè)計(jì)的+5 V和?2.5 V供電軌需要外部低噪聲電源。AD7981是低功耗器件,可由基準(zhǔn)電壓緩沖器直接供電,如圖5所示,因而無需額外的供電軌,節(jié)省功耗和板空間。

適合高溫環(huán)境應(yīng)用的AD7981數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)計(jì)

圖5. 從基準(zhǔn)電壓緩沖器為ADC基準(zhǔn)電壓源供電

IC封裝和可靠性

ADI公司高溫系列中的器件要經(jīng)歷特殊的工藝流程,包括設(shè)計(jì)、特性測試、可靠性認(rèn)證和生產(chǎn)測試。 專門針對極端溫度設(shè)計(jì)特殊封裝是該流程的一部分。 本電路中的175°C塑料封裝采用一種特殊材料。

耐高溫封裝的一個(gè)主要失效機(jī)制是焊線與焊墊界面失效,尤其是金(Au)和鋁(Al)混合時(shí)(塑料封裝通常如此)。 高溫會(huì)加速AuAl金屬間化合物的生長。 正是這些金屬間化合物引起焊接失效,如易脆焊接和空洞等,這些故障可能在幾百小時(shí)之后就會(huì)發(fā)生,如圖6所示。

適合高溫環(huán)境應(yīng)用的AD7981數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)計(jì)

圖6. 195°C時(shí)500小時(shí)后鋁墊上的金球焊

為了避免失效,ADI公司利用焊盤金屬化(OPM)工藝產(chǎn)生一個(gè)金焊墊表面以供金焊線連接。 這種單金屬系統(tǒng)不會(huì)形成金屬間化合物,經(jīng)過195°C、6000小時(shí)的浸泡式認(rèn)證測試,已被證明非??煽?,如圖7所示。

適合高溫環(huán)境應(yīng)用的AD7981數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)計(jì)

圖7. 195°C時(shí)6000小時(shí)后OPM墊上的金球焊

雖然ADI公司已證明焊接在195°C時(shí)仍然可靠,但受限于塑封材料的玻璃轉(zhuǎn)化溫度,塑料封裝的額定最高工作溫度僅為175°C。

除了本電路所用的額定175°C產(chǎn)品,還有采用陶瓷FLATPACK封裝的額定210°C型號可用。 同時(shí)有已知良品裸片(KGD)可供需要定制封裝的系統(tǒng)使用。

對于高溫產(chǎn)品,ADI公司有一套全面的可靠性認(rèn)證計(jì)劃,包括器件在最高工作溫度下偏置的高溫工作壽命(HTOL)。 數(shù)據(jù)手冊規(guī)定,高溫產(chǎn)品在最高額定溫度下最少可工作1000小時(shí)。 全面生產(chǎn)測試是保證每個(gè)器件性能的最后一步。 ADI高溫系列中的每個(gè)器件都在高溫下進(jìn)行生產(chǎn)測試,確保達(dá)到性能要求。

無源元件

必須選擇耐高溫的無源元件。 本設(shè)計(jì)使用175°C以上的薄膜型低TCR電阻。 COG/NPO電容用于低值濾波器和去耦應(yīng)用,其溫度系數(shù)非常平坦。 耐高溫鉭電容有比陶瓷電容更大的容值,常用于電源濾波。 本電路板所用SMA連接器的額定溫度為165°C,因此,在高溫下進(jìn)行長時(shí)間測試時(shí),必須將其移除。 同樣,0.1”接頭連接器(J2和P3)上的絕緣材料在高溫時(shí)只能持續(xù)較短時(shí)間,因而在長時(shí)間高溫測試中也必須予以移除。

PCB布局和裝配

在本電路的PCB設(shè)計(jì)中,模擬信號和數(shù)字接口位于ADC的相對兩側(cè),IC之下或模擬信號路徑附近無開關(guān)信號。 這種設(shè)計(jì)可以最大程度地降低耦合到ADC芯片和輔助模擬信號鏈中的噪聲。AD7981的所有模擬信號位于左側(cè),所有數(shù)字信號位于右側(cè),這種引腳排列可以簡化設(shè)計(jì)。 基準(zhǔn)電壓輸入REF具有動(dòng)態(tài)輸入阻抗,必須用極小的寄生電感去耦,為此須將基準(zhǔn)電壓去耦電容放在盡量靠近REF和GND引腳的地方,并用低阻抗的寬走線連接該引腳。 本電路板的元器件故意全都放在正面,以方便從背面加熱進(jìn)行溫度測試。 關(guān)于其他布局布線建議,參見AD7981數(shù)據(jù)手冊。

針對高溫電路,必須采用特殊電路材料和裝配技術(shù)來確??煽啃?。 FR4是PCB疊層常用的材料,但商用FR4的典型玻璃轉(zhuǎn)化溫度約為140°C。 超過140°C時(shí),PCB便開始破裂、分層,并對元器件造成壓力。 高溫裝配廣泛使用的替代材料是聚酰亞胺,其典型玻璃轉(zhuǎn)化溫度大于240°C。 本設(shè)計(jì)使用4層聚酰亞胺PCB。

PCB表面也需要注意,特別是配合含錫的焊料使用時(shí),因?yàn)檫@種焊料易于與銅走線形成金屬間化合物。 常常采用鎳金表面處理,其中鎳提供一個(gè)壁壘,金則為接頭焊接提供一個(gè)良好的表面。 此外,必須使用高熔點(diǎn)焊料,熔點(diǎn)與系統(tǒng)最高工作溫度之間應(yīng)有合適的裕量。 本裝配選擇SAC305無鉛焊料, 其熔點(diǎn)為217°C,相對于175°C的最高工作溫度有42°C的裕量。

性能預(yù)期

采用1 kHz輸入信號音和5 V基準(zhǔn)電壓時(shí),AD7981的額定SNR典型值為91 dB。 然而,當(dāng)使用較低基準(zhǔn)電影所時(shí)(低功耗/低電壓系統(tǒng)常常如此),SNR性能會(huì)有所下降。 根據(jù)AD7981數(shù)據(jù)手冊中的性能曲線,在室溫和2.5 V基準(zhǔn)電壓時(shí),預(yù)期SNR約為86 dB。 該SNR值與室溫時(shí)測試本電路所實(shí)現(xiàn)的性能(約86 dB SNR)符合得很好,如圖8所示。

適合高溫環(huán)境應(yīng)用的AD7981數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)計(jì)

圖8. 1 kHz輸入信號音、580 kSPS、25°C時(shí)的交流性能

當(dāng)溫度升高至175°C時(shí),SNR性能僅降低至約84 dB,如圖9所示。 THD仍然優(yōu)于?100 dB,如圖10所示。 本電路在175°C時(shí)的FFT摘要如圖11所示。

適合高溫環(huán)境應(yīng)用的AD7981數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)計(jì)

圖9. SNR隨溫度的變化(1 kHz輸入信號音、580 kSPS)

適合高溫環(huán)境應(yīng)用的AD7981數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)計(jì)

圖10. THD隨溫度的變化(1 kHz輸入信號音、580 kSPS)

適合高溫環(huán)境應(yīng)用的AD7981數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)計(jì)

圖11. 1 kHz輸入信號音、580 kSPS、175°C時(shí)的交流性能

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