影響TDR測試精度的原因有哪些？

TDR測試目前主要使用于電池電路板廠的PCB印制電路板)信號線、以及器件阻抗的測試。

影響TDR測試精度有很多的原因，主要有反射、校準(zhǔn)、讀數(shù)選擇等，反射會導(dǎo)致較短的PCB信號線測試值出現(xiàn)嚴(yán)重偏差，特別是在使用TIP(探針)去測試的情況下更為明顯，因為TIP和信號線接觸點會導(dǎo)致很大的阻抗不連續(xù)，導(dǎo)致反射發(fā)生，并導(dǎo)致附近三、四英寸左右范圍的PCB信號線的阻抗曲線起伏。

比如單端信號線，差分信號線，連接器等。這種測試有一個要求，就是和實際應(yīng)用的條件相結(jié)合，比如實際該信號線的信號上升沿在300ps左右，那么TDR的輸出脈沖信號的上升沿也要相應(yīng)設(shè)置在300ps附近，而不使用30ps左右的上升沿，否則測試結(jié)果可能和實際應(yīng)用有比較大的差別。