IGBT作為集MOS和BJT優(yōu)點(diǎn)于一身的存在,在經(jīng)歷了這些年的技術(shù)發(fā)展,從穿通型IGBT(PT-IGBT) 、非穿通型IGBT(NPT-IGBT)、溝道型IGBT 和場截止型IGBT(FS-IGBT),到現(xiàn)在的超結(jié)IGBT(SJ-IGBT),新結(jié)構(gòu)層出不窮,并且正在向功率器件集成化和智能功率模塊方向發(fā)展。今天我們來聊一聊一種具有雙向阻斷能力的,逆阻型IGBT(RB-IGBT)。
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逆阻型IGBT簡介
一般情況下,常見的IGBT主要定義的是其正向阻斷電壓,而反向阻斷電壓一般不會在Datasheet中被提及到,這是因?yàn)镮GBT通常會反并聯(lián)續(xù)流二極管,所以對實(shí)際應(yīng)用并沒有什么不良影響,除了由于二極管換流造成的反向電壓過沖的場合外,IGBT的反向阻斷能力不是必需的。但是一些特殊的場合需要IGBT具有雙向阻斷能力,即正向阻斷能力和反向阻斷能力。
傳統(tǒng)的方式是將常規(guī)IGBT與一個可以耐高壓的二極管相串聯(lián),但是,串聯(lián)的二極管引起通態(tài)壓降的增大,增加了損耗。而RB-IGBT是一種新型的IGBT,具有反向耐壓能力,相對于傳統(tǒng)串聯(lián)二極管的模式,減少器件的同時,還降低了通態(tài)壓降和損耗。兩種模式如下圖所示:
RB-IGBT
傳統(tǒng)IGBT串聯(lián)二極管
常規(guī)IGBT反向耐壓小的原因:
為了折中通態(tài)壓降Von和關(guān)斷損耗Eoff,一般都具有緩沖層以獲得更小的Von和Eoff,由于緩沖層和集電極層的摻雜濃度都很高,同時芯片邊緣由于晶格損傷和應(yīng)力會引起較大的漏電流,所以普通IGBT不具備反向阻斷能力(一般只有40V左右)。
逆阻型絕緣柵雙極型晶體管(RB-IGBT)是一種新型的IGBT器件,它是將IGBT元胞結(jié)構(gòu)與耐高壓的二極管元胞結(jié)構(gòu)集成到同一個芯片上,采用傳統(tǒng)的非穿通型結(jié)構(gòu),同時在背面和側(cè)面做了改進(jìn),具備雙向阻斷能力。
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正向耐壓和反向耐壓
正向耐壓:
RB-IGBT除終端結(jié)構(gòu)外和傳統(tǒng)的縱向NPT-IGBT基本相同,其有源區(qū)在正面,包括多晶硅柵極、n+發(fā)射區(qū)和p基區(qū),然后有源區(qū)的下面是n-漂移區(qū),最后是集電極。當(dāng)集射極之間加正電壓時,由p-基區(qū)和n-漂移區(qū)形成的反偏PN結(jié)來承擔(dān)外部電壓,為了提高擊穿電壓和抑制閂鎖,往往會將發(fā)射極的n+源區(qū)和p-基區(qū)短接。在正向阻斷時,為了提高擊穿電壓和抑制閂鎖,一定的終端技術(shù)是必要的,比較常見的有兩種:在p-基區(qū)旁加浮空場環(huán)和場板技術(shù),其他的技術(shù)還包括結(jié)終端擴(kuò)展、斜角邊緣終端技術(shù)等。下圖是加浮空場環(huán)的情況:
雖然方法不同,但都是為了防止電場的局部集中而在終端區(qū)域發(fā)生雪崩擊穿。由于比較厚的n-漂移區(qū)和出色的正面終端,使得器件具有很高的正向耐壓能力。
反向耐壓
NPT-IGBT 結(jié)構(gòu)雖然沒有緩沖層,但是它的反向阻斷能力依然很差,因?yàn)樾酒某叽缡怯邢薜?,在切割芯片時,如果切割線穿過了承受高壓的pn結(jié),晶格損傷和應(yīng)力會引起很大的反向漏電流,導(dǎo)致?lián)舸╇妷汉烷L期穩(wěn)定性的降低。早期的反向終端采用的是臺面刻蝕技術(shù),通過重?fù)诫s(p+)的集電極和低摻雜(n-) 的漂移區(qū)形成的pn結(jié)和深槽的正斜角來阻斷反向電壓,這種深溝槽將有晶格損傷的表面隔離,因而沒有形成很大的漏電流??傊?,RB-IGBT是在NPT-IGBT的基礎(chǔ)上,通過特有的終端技術(shù)和摻雜技術(shù)來,減小漏電流,同時形成反偏的PN結(jié)來提高擊穿電壓,相當(dāng)于串聯(lián)了一個耐高壓的二極管,使得IGBT具有反向耐壓能力。都是利用PN結(jié)來隔離晶格損傷的表面。
反向耐壓時的一種終端結(jié)構(gòu)(擴(kuò)散結(jié)隔離終端)
常見的RB-IGBT的隔離技術(shù):
①臺面刻蝕隔離(物理刻蝕隔離)
②擴(kuò)散隔離技術(shù)(PN結(jié)隔離)
③溝槽隔離技術(shù)(PN結(jié)隔離)
④V(凹)槽隔離技術(shù)(PN結(jié)隔離)
⑤混合隔離技術(shù)(擴(kuò)散和凹槽刻蝕相結(jié)合,PN結(jié)隔離)
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部分電特性
電子輻射減少載流子壽命
RB-IGBT具備雙向阻斷能力,應(yīng)用在電路中需要兩個器件反向并聯(lián),在關(guān)斷的時候,需要有快恢復(fù)二極管的工作方式。由于RB-IGBT采用的是NPT-IGBT結(jié)構(gòu),所以,n-漂移區(qū)的載流子壽命相對較高,工作在FRD關(guān)斷時,具有很大的dI/dt和較長的拖尾電流,造成較大的損耗,為了克服這個問題,一般需要電子輻照來減小載流子的壽命。雖然增大電子輻射劑量,可以減小關(guān)斷損耗E(off)和反向恢復(fù)損耗E(rec),但是同時增大大通態(tài)壓降,而造成通態(tài)損耗的增加,故需要注意輻照劑量的控制。
柵電壓的影響
加?xùn)艍汉筒患訓(xùn)艍合碌姆聪蚵╇娏骱蛽舸╇妷旱膶Ρ?,可見,加?xùn)艍?,可以有效地減小反向漏電流,增大反向耐壓。
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原文標(biāo)題:逆阻型IGBT
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