AOI
近年來(lái),作為一種經(jīng)典檢測(cè)技術(shù),AOI(自動(dòng)光學(xué)檢測(cè))以如此高的速度發(fā)展到AOI設(shè)備已廣泛應(yīng)用于SMT(表面貼裝技術(shù))PCB(印刷電路板)組裝。 AOI通過(guò)旋轉(zhuǎn)相機(jī)捕獲圖像,自動(dòng)掃描PCB,然后在測(cè)試的焊點(diǎn)和數(shù)據(jù)庫(kù)中的合格參數(shù)之間進(jìn)行比較。圖像處理將導(dǎo)致表面貼裝PCB上的缺陷暴露,并通過(guò)監(jiān)視器或自動(dòng)標(biāo)記顯示或指示這些缺陷,以便返工人員能夠?qū)ζ溥M(jìn)行處理。
AOI主要負(fù)責(zé)以下檢查目標(biāo)。
一個(gè)。最終質(zhì)量,即在產(chǎn)品離開生產(chǎn)線之前對(duì)產(chǎn)品狀態(tài)進(jìn)行檢查。當(dāng)制造問(wèn)題明確,SMT PCB組件覆蓋高混合,并且應(yīng)該嚴(yán)格考慮數(shù)量和速度時(shí),該檢查目標(biāo)應(yīng)該首先考慮。在這種情況下,AOI設(shè)備通常放置在裝配線的末端,在那里它能夠大規(guī)模地生成大量的過(guò)程控制信息。
b。過(guò)程跟蹤,即通過(guò)詳細(xì)的缺陷分類和元件安裝位移信息,利用AOI設(shè)備監(jiān)控表面安裝組裝過(guò)程的過(guò)程。當(dāng)產(chǎn)品的可靠性至關(guān)重要時(shí),制造商應(yīng)首先利用這一目標(biāo),需要大批量低混合組件,并且組件供應(yīng)處于穩(wěn)定狀態(tài)。確定此目標(biāo)后,應(yīng)將AOI設(shè)備放置在表面安裝組裝線的多個(gè)位置,以便在線監(jiān)控特定的制造情況,并為制造技術(shù)調(diào)整提供必要的基礎(chǔ)。
雖然AOI設(shè)備可以沿生產(chǎn)線放置在多個(gè)位置,并且它在每個(gè)位置上的位置將導(dǎo)致不同的缺陷檢查,但AOI設(shè)備應(yīng)放置在可以識(shí)別和糾正大多數(shù)缺陷的位置??梢钥紤]三個(gè)檢查位置:
a。焊錫膏印刷后。如果焊膏印刷工藝完全符合要求,ICT(在線測(cè)試)期間檢查的缺陷數(shù)將大幅減少。典型的焊膏印刷缺陷包括:
?焊盤上的焊膏不足
?焊盤上的焊膏過(guò)多
?焊膏和焊盤之間的不匹配
?焊盤之間的焊接橋接
在ICT的過(guò)程中,上述缺陷概率與問(wèn)題的嚴(yán)重程度成正比。稍微不足的焊膏很少會(huì)導(dǎo)致缺陷而沒(méi)有焊膏,但在ICT期間幾乎會(huì)導(dǎo)致缺陷。焊膏不足可能是導(dǎo)致元件缺失或開路的原因之一。然而,缺少組件是由其他原因引起的,這是確定AOI設(shè)備放置位置的前提。而且,這些原因必須包含在檢查時(shí)間表中。特定的放置檢查直接支持過(guò)程跟蹤和表征。在此階段,定量過(guò)程控制數(shù)據(jù)包括印刷位移和焊膏量以及印刷焊膏的定性信息。
b。在回流焊接之前。當(dāng)在回流焊接之前放置AOI設(shè)備時(shí),在焊膏印刷之后和回流焊接之前實(shí)施自動(dòng)光學(xué)檢查,這是AOI的典型檢查位置,因?yàn)樵撐恢媚軌蚴沟么蠖鄶?shù)缺陷暴露于焊膏印刷和元件安裝。在該位置處產(chǎn)生的定量過(guò)程控制信息提供關(guān)于IC安裝器和細(xì)間距部件安裝器的對(duì)準(zhǔn)信息,其可用于修改部件安裝或校準(zhǔn)表面安裝器。一般來(lái)說(shuō),這種位置檢查能夠滿足過(guò)程跟蹤的目標(biāo)。
c?;亓骱负?。 AOI設(shè)備放置在回流焊接之后,即表面貼裝組件的最后階段。這個(gè)位置是最流行的AOI選擇,因?yàn)樵诨亓骱附雍蠓胖肁OI設(shè)備時(shí)可以捕獲全尺寸組裝問(wèn)題?;亓骱负蟮淖詣?dòng)光學(xué)檢測(cè)提供了高安全性,因?yàn)樗梢宰R(shí)別由焊膏印刷,元件安裝和回流焊接引起的問(wèn)題。
ICT
ICT設(shè)備是應(yīng)用于電氣測(cè)試的最基本設(shè)備。傳統(tǒng)的ICT設(shè)備利用專業(yè)的床釘,與PCB板上牢固焊接的元件接觸,并使用一定的電壓和電流進(jìn)行最終測(cè)試,以便可以知道元件缺陷,包括缺失,位移,錯(cuò)位,參數(shù)偏差,焊接接頭橋接,開口和短路等。床釘適用于簡(jiǎn)單的PCBA和大批量生產(chǎn),因?yàn)樗哂懈咚俸偷统杀?。然而,隨著PCB組裝密度的逐漸增加,細(xì)間距SMT組裝和新產(chǎn)品的推出經(jīng)歷了越來(lái)越短的時(shí)期,PCB板變得多樣化,床釘測(cè)試必須面對(duì)一些無(wú)法克服的不可或缺的問(wèn)題。它甚至無(wú)法對(duì)某些高密度SMT PCB組件進(jìn)行測(cè)試。
SMT PCB組裝的另一種流行的ICT方法是飛針測(cè)試,它依賴于大量的飛針來(lái)測(cè)試電氣電路性能。然而,它被廣泛接受應(yīng)用于PCB制造測(cè)試。由于它用于表面貼裝組裝測(cè)試,它可以做更多。
AXI
與AOI相比, AXI是一種新開發(fā)的檢測(cè)方法。當(dāng)組裝好的PCB板沿軌道進(jìn)入AXI設(shè)備時(shí),X射線在被發(fā)射管傳輸并通過(guò)PCB后將被下方的探測(cè)器吸收。由于焊點(diǎn)含有大量可吸收X射線的鉛,因此良好成形的焊點(diǎn)將在圖像上顯示黑點(diǎn),而X射線則穿透某些材料,如玻璃纖維,銅或硅。因此,X射線檢測(cè)使焊點(diǎn)如此直接和清晰,可以通過(guò)圖像分析算法自動(dòng)檢查焊點(diǎn)缺陷。
由于現(xiàn)代技術(shù)的發(fā)展,X射線檢測(cè)已經(jīng)從2D發(fā)展到3D。作為通過(guò)X射線透射的檢查方法,前者產(chǎn)生清晰的元件焊點(diǎn)圖像,這些元件焊點(diǎn)放置在單面板上,同時(shí)在雙面板上表現(xiàn)不佳。然而,后者利用分層技術(shù)使其能夠檢查雙面板上的焊點(diǎn)。此外,3D X射線檢測(cè)還能夠檢查那些看不見(jiàn)的焊點(diǎn)的缺陷,例如BGA焊點(diǎn)和PTH焊點(diǎn)。此外,可以檢查PTH孔中的焊料以確保其充足,從而顯著提高焊點(diǎn)質(zhì)量。
AOI,ICT和AXI之間的比較
每個(gè)硬幣都有兩面。
ICT是制造過(guò)程中最常用的測(cè)試方法之一,具有以下優(yōu)點(diǎn):高缺陷觀察能力和高測(cè)試速度。由于其方便快捷的特點(diǎn),ICT被需要大批量產(chǎn)品的公司所接受。然而,當(dāng)涉及需要低容量和多種類型產(chǎn)品的用戶時(shí),這是不合適的,因?yàn)樾枰?jīng)常更換床釘。此外,隨著電路變得越來(lái)越復(fù)雜并且密度越來(lái)越高,傳統(tǒng)的測(cè)試方法必須面對(duì)極端的限制,并且ICT越來(lái)越難以發(fā)現(xiàn)缺陷。此外,更多的接觸點(diǎn)添加會(huì)導(dǎo)致測(cè)試錯(cuò)誤和更多的重新測(cè)試。
AOI的最大優(yōu)勢(shì)在于極短的測(cè)試編程時(shí)間和高靈活性。除了目視檢查無(wú)法檢查的缺陷外,AOI還能夠累積每個(gè)環(huán)節(jié)的制造質(zhì)量和缺陷類型,并將提供給技術(shù)控制工程師進(jìn)行分析和管理。 AOI的缺點(diǎn)包括未能檢測(cè)到電路錯(cuò)誤和檢測(cè)不可見(jiàn)焊點(diǎn)的殘疾。
作為一種相對(duì)成熟的檢測(cè)技術(shù),AXI能夠覆蓋高達(dá)97%的制造缺陷率并檢測(cè)焊料用肉眼看不到的關(guān)節(jié)。然而,AXI未能在電氣性能方面測(cè)試缺陷。
學(xué)會(huì)充分利用它們。
現(xiàn)在每個(gè)檢查方法有其自身的優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn),它們實(shí)際上不是兩種相互補(bǔ)充的關(guān)系。 ICT,AOI和AXI可以首先分為兩類:ICT和AOI/AXI,因?yàn)镮CT負(fù)責(zé)檢查電路中的缺陷,而AOI/AXI則用于外觀缺陷??傊畔?a href="http://ttokpm.com/soft/data/43-44/" target="_blank">通信技術(shù)應(yīng)該得到肯定,并且應(yīng)該考慮AOI/AXI或它們的組合。
AOI/AXI在確定表面貼裝組件質(zhì)量方面發(fā)揮著重要作用。它們?cè)诤芏喾矫姹舜瞬煌?/p>
根據(jù)上圖中的描述,成本,缺陷類型和檢查速度主要是當(dāng)您準(zhǔn)備好為表面貼裝PCB 選擇理想的檢查方法時(shí)應(yīng)該考慮的因素。
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