動態(tài)
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發(fā)布了文章 2024-09-18 10:55
廣電計量|功率場效應(yīng)管過壓失效機理及典型特征分析
失效分析最常觀察到的現(xiàn)象是EOS過電失效,分為過壓失效及過流失效的兩種失效模式。對于以功率器件為代表的EOS過電失效樣品,其失效表征往往表現(xiàn)為芯片的大面積熔融,導(dǎo)致難以進一步判定其失效模式。本文以常規(guī)MOS、IGBT場效應(yīng)管為例,從芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)進行分析和明確過壓擊穿容易出現(xiàn)的失效位置及機理解釋。450瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2024-09-11 11:01
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發(fā)布了文章 2024-08-23 11:01
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發(fā)布了文章 2024-08-13 09:37
技術(shù)干貨 | AI浪潮下的光模塊可靠性
人工智能(AI)技術(shù)的快速發(fā)展對數(shù)據(jù)處理和傳輸提出了前所未有的挑戰(zhàn)。在深度學(xué)習(xí)、自然語言處理和計算機視覺等AI應(yīng)用中,訓(xùn)練和學(xué)習(xí)需要巨大的數(shù)據(jù)量傳遞和交互。2023年GPT-4模型所需訓(xùn)練的參數(shù)量有1.8萬億,要完成這么大的數(shù)據(jù)量的運算,需要上萬個GPU同時工作。如此龐大的數(shù)據(jù)傳輸對于傳統(tǒng)銅纜而言是個巨大的挑戰(zhàn),因此光模塊在數(shù)據(jù)傳輸中發(fā)揮著非常重要的作用。光 -
發(fā)布了文章 2024-07-16 13:20
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發(fā)布了文章 2024-07-05 10:22
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發(fā)布了文章 2024-06-11 16:06
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發(fā)布了文章 2024-05-17 14:45
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發(fā)布了文章 2024-04-23 11:31
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發(fā)布了文章 2024-04-15 11:32