測(cè)試點(diǎn)到電路板邊緣間隙
測(cè)試點(diǎn)和邊緣之間所需的最小間隙D:板或任何大孔板為40mil。但是,建議間距為125mil。
測(cè)試點(diǎn)的直徑參數(shù)
這個(gè)直徑是測(cè)試點(diǎn)的最小尺寸,用于確保測(cè)試探針可以準(zhǔn)確地與測(cè)試點(diǎn)接觸。如果測(cè)試點(diǎn)直徑小于這個(gè)值,可能會(huì)....
接地探針如何計(jì)算
安培數(shù)計(jì)算:對(duì)于每1A的電流(四舍五入到下一個(gè)最高整數(shù)),需要一個(gè)探針。
BGA元件下的測(cè)試點(diǎn)實(shí)現(xiàn)與優(yōu)化策略
由于BGA元件下的測(cè)試點(diǎn)需要施加一定的壓力來(lái)確保良好的電氣連接,這可能會(huì)給BGA元件帶來(lái)高壓力。BG....
電路板測(cè)試之探針間距
探針間距是指在電路板測(cè)試過(guò)程中,探針之間的中心到中心距離。在理想情況下,電路板應(yīng)使用行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的100....
基于糾正措施系統(tǒng)(FRACAS)的關(guān)鍵技術(shù)
故障報(bào)告,分析和糾正措施系統(tǒng)是一種系統(tǒng)的方法,用于從一個(gè)或多個(gè)來(lái)源收集失效數(shù)據(jù),針對(duì)根本原因?qū)?shù)據(jù)進(jìn)....
軟件配置管理流程圖怎么做
配置項(xiàng)(CI)是硬件或軟件(或兩者)的項(xiàng)或集合,設(shè)計(jì)為作為單個(gè)實(shí)體進(jìn)行管理。軟件配置項(xiàng)(SCI)是作....
軟件過(guò)程定義是什么 軟件過(guò)程的要素包括哪些
軟件過(guò)程的完整定義還可能包括角色和能力、IT支持、軟件工程技術(shù)和工具,以及執(zhí)行過(guò)程所需的工作環(huán)境,以....
以數(shù)據(jù)為中心的系統(tǒng)工程有哪些特點(diǎn)和作用?(2)
“從以數(shù)據(jù)為中心的角度來(lái)看,系統(tǒng)工程涉及正式應(yīng)用集成數(shù)據(jù)集來(lái)表示系統(tǒng)工程工作產(chǎn)品以及整個(gè)系統(tǒng)生命周期....
以數(shù)據(jù)為中心的系統(tǒng)工程有哪些特點(diǎn)和作用?(1)
基于此本體,項(xiàng)目需要為項(xiàng)目的集成數(shù)據(jù)集定義一個(gè)主模式。該模式以正式語(yǔ)言對(duì)數(shù)據(jù)庫(kù)結(jié)構(gòu)進(jìn)行描述,該數(shù)據(jù)庫(kù)....
SWE.2軟件架構(gòu)設(shè)計(jì)
過(guò)程ID : SWE.2 過(guò)程名稱 : 軟件架構(gòu)設(shè)計(jì) 過(guò)程目的 : 軟件架構(gòu)設(shè)計(jì)過(guò)程目的是建立一個(gè)架....
如何計(jì)算處于活動(dòng)狀態(tài)的CAN收發(fā)器的功耗?
本文討論了一些CAN設(shè)計(jì)挑戰(zhàn),重點(diǎn)是功耗和在CAN應(yīng)用中使用多個(gè)電壓軌進(jìn)行設(shè)計(jì)。
關(guān)于階段(Stage)和關(guān)口(Gate)之間的區(qū)別與聯(lián)系
根據(jù)我的知識(shí),關(guān)于“階段(Stage)”和“關(guān)口(Gate)”之間的區(qū)別與聯(lián)系,我無(wú)法提供維基百科的....
可靠性證明測(cè)試:高度加速壽命測(cè)試
壽命測(cè)試是一種重要的可靠性測(cè)試方法,用于評(píng)估組件、子系統(tǒng)或系統(tǒng)在預(yù)期或指定的使用壽命條件下的性能和可....
DFR技術(shù)選擇的示例
技術(shù)選擇會(huì)影響產(chǎn)品的可靠性。關(guān)于可靠性設(shè)計(jì)(DFR),技術(shù)選擇的目的是使用可用于高可靠性性能的技術(shù)來(lái)....
測(cè)試(Test)和試驗(yàn)(Experiment)
測(cè)試和試驗(yàn)是實(shí)驗(yàn)性活動(dòng),用于評(píng)估、驗(yàn)證或驗(yàn)證特定對(duì)象的特性、性能或功能。測(cè)試更注重評(píng)估和驗(yàn)證預(yù)期要求....
可靠性與安全性
安全性促進(jìn)可靠性設(shè)計(jì):安全性要求通常會(huì)推動(dòng)可靠性設(shè)計(jì)的實(shí)施。為了滿足安全性要求,產(chǎn)品設(shè)計(jì)人員需要考慮....
詳細(xì)的理解可靠性分配
總之,可靠性分配是一種有助于理解復(fù)雜系統(tǒng)可靠性的方法。通過(guò)將系統(tǒng)分解為更小的組件,并為每個(gè)組件分配可....
可靠性設(shè)計(jì)和質(zhì)量設(shè)計(jì)之間的區(qū)別與關(guān)系
質(zhì)量設(shè)計(jì)(Design for quality):根據(jù)維基百科的定義,質(zhì)量設(shè)計(jì)是指在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和制造過(guò)....
什么是最壞情況電路分析
最壞情況電路分析的概念是考慮電路元器件參數(shù)的極端情況,即在最不利的條件下,以確保電路的性能和功能。
什么是最壞情況電路分析(WCCA)
最壞情況電路分析(WCCA)是對(duì)電路的評(píng)估,以確保即使在最壞的情況下同時(shí)出現(xiàn)電路元器件參數(shù)公差漂移(....
PCB設(shè)計(jì)的可制造性和可組裝性
DFF(Design for Fabrication)與DFM(Design for Manufac....
錯(cuò)誤、失效、故障之間的區(qū)別與關(guān)系
下面是對(duì)"錯(cuò)誤"(error)、"失效"(failure)和"故障"(fault)之間的區(qū)別與關(guān)系的....
兩種用于增強(qiáng)產(chǎn)品的測(cè)試和檢驗(yàn)?zāi)芰Φ脑O(shè)計(jì)方法
可測(cè)試性設(shè)計(jì)(Design for Test,DFT)和可檢驗(yàn)性設(shè)計(jì)(Design for Insp....
Symbol(符號(hào))和Designator(器件標(biāo)識(shí))
Symbol(符號(hào))是用于表示特定電子元件的圖形化表示,它是一個(gè)抽象的圖形,代表了元件的功能和特性。....
項(xiàng)目與項(xiàng)目集之間的區(qū)別與聯(lián)系
Project(項(xiàng)目)和Program(項(xiàng)目集)是與組織和管理相關(guān)的術(shù)語(yǔ),用于描述一系列相關(guān)活動(dòng)的集....
"security"(安全)和"safety"(安全)的定義、區(qū)別和示例
安全(Security):安全是指保護(hù)系統(tǒng)、組織或個(gè)人免受潛在的威脅、風(fēng)險(xiǎn)或危害的能力。它通常包括防....
Research和Develop相互依賴的過(guò)程
? "Research"(研究)和"Develop"(開(kāi)發(fā))是兩個(gè)緊密相關(guān)的概念,它們?cè)趧?chuàng)新、知識(shí)產(chǎn)....