淺談集成運(yùn)放的測(cè)試和可能出現(xiàn)的異常

1、集成運(yùn)放參數(shù)的測(cè)試

當(dāng)選定集成運(yùn)放的產(chǎn)品型號(hào)后，通常只要查閱有關(guān)器件手冊(cè)即可得到各項(xiàng)參數(shù)值，而不必逐個(gè)測(cè)試。但是手冊(cè)中給出的往往只是典型值，由于材料和制造工藝的分散性，每個(gè)運(yùn)放的實(shí)際參數(shù)與手冊(cè)上給定的典型值之間可能存在差異，因此有時(shí)仍需要對(duì)參數(shù)進(jìn)行測(cè)試。

參數(shù)的測(cè)試可以采用一些簡(jiǎn)單的電路和方法手工進(jìn)行。在成批生產(chǎn)或其他需要大量使用集成運(yùn)放的場(chǎng)合，也可以考慮利用專門的參數(shù)測(cè)試儀器進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試。

參數(shù)的測(cè)試可以采用一些簡(jiǎn)易的電路和方法手工進(jìn)行。在成批生產(chǎn)或其他需要大量使用集成運(yùn)放的場(chǎng)合，也可以考慮利用專門的參數(shù)側(cè)試儀器進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試。集成運(yùn)放各項(xiàng)參數(shù)具體測(cè)試方法請(qǐng)參閱有關(guān)文獻(xiàn)，此處不再贅述。

2、使用中可能出現(xiàn)的異?，F(xiàn)象

將集成運(yùn)放與外電路接好并加上電源后，有時(shí)可能出現(xiàn)一些異常現(xiàn)象。此時(shí)應(yīng)對(duì)異?，F(xiàn)象進(jìn)行分析，找出原因，采取適當(dāng)措施，使電路正常工作。常見的異?，F(xiàn)象有以下幾種：

1.不能調(diào)零

有時(shí)當(dāng)輸入電壓為零時(shí)，集成運(yùn)放的輸出電壓調(diào)不到零，可能輸出電壓處于兩個(gè)極限狀態(tài)，等于正的或負(fù)的最大輸出電壓值。

出現(xiàn)這種異?，F(xiàn)象的原因可能是：調(diào)零電位器不起作用;應(yīng)用電路接線有誤或有虛焊點(diǎn);反饋極性接錯(cuò)或負(fù)反饋開環(huán);集成運(yùn)放內(nèi)部已損壞等等。如果關(guān)斷電源后重新接通即可調(diào)零，則可能是由于運(yùn)放輸入端信號(hào)幅度過大而造成的“堵塞”，可在運(yùn)放輸入端加上保護(hù)措施。具體辦法將在本節(jié)后面介紹。

2.漂移現(xiàn)象嚴(yán)重

如果集成運(yùn)放的溫漂過于嚴(yán)重，大大超過手冊(cè)規(guī)定的數(shù)值，則屬于不正?，F(xiàn)象。

造成漂移過于嚴(yán)重的原因可能是：存在虛焊點(diǎn);運(yùn)放產(chǎn)生自激振蕩或受到強(qiáng)電磁場(chǎng)的干擾;集成運(yùn)放靠近發(fā)熱元件;輸入回路的保護(hù)二極管受到光的照射;調(diào)零電位器滑動(dòng)端接觸不良;集成運(yùn)放本身已損壞或質(zhì)量不合格等等。

3.產(chǎn)生自激振蕩

自激振蕩是經(jīng)常出現(xiàn)的異?，F(xiàn)象，表現(xiàn)為當(dāng)輸入信號(hào)等于零時(shí)，利用示波器可觀察到運(yùn)放的輸出端存在一個(gè)頻率較高，近似為正弦波的輸出信號(hào)。但是這個(gè)信號(hào)不穩(wěn)定，當(dāng)人體或金屬物體靠近時(shí)，輸出波形將產(chǎn)生顯著的變化。

產(chǎn)生自激振的原理將在本書第五章5.4節(jié)進(jìn)行介紹。常用的消除自激振蕩的措施主要有：按規(guī)定部位和參數(shù)接入校正網(wǎng)絡(luò);防止反饋極性接錯(cuò)，避免負(fù)反饋過強(qiáng);合理安排接線，防止雜散電容過大等等。