互感器校驗儀檢定規(guī)程 - 互感器校驗儀原理_互感器校驗儀技術(shù)參數(shù)_互感器校驗儀檢定規(guī)程

　　互感器校驗儀檢定規(guī)程

　　1、基本誤差

　　校驗儀的基本誤差不得超出下式給定范圍：

　　2、校驗儀內(nèi)附的電流與電壓百分表符合有關(guān)標準，準確度等級不低于1.5 級。當使用某一額定工作電流（或電壓） 改變其正常工作百分數(shù)范圍時，儀表的內(nèi)抗應(yīng)保持不變。

　　3、校驗儀的分辨力應(yīng)能滿足測量用互感器檢定規(guī)程的要求。

　　4、校驗儀的測量回路對高次諧波信號應(yīng)有足夠的抑制能力。對于準確度等級為l，2，3 的校驗儀，其三次以上諧波抑制比應(yīng)分別大于32、26、20dB。

　　5、校驗儀的工作回路（接地的除外） 對金屬面板及金屬外殼之間的絕緣電阻應(yīng)不低于20MQ。工作時不接地的回路（包括交流電源插座） 對金屬面板及金屬外殼應(yīng)能承受有效值為1.5KV 的50HZ 正弦波電壓1min 耐壓實驗。

　　6、校驗儀差值回對標準和檢互感器的附加容量，不應(yīng)超過校驗儀工作電流（電壓） 回路額定容量的1/15，最大不超過0.25VA。

　　二、檢定條件

　　環(huán)境條件

　　1、環(huán)境溫度為20+5“C。

　　2、周圍空氣的相對濕度小于80%。

　　3、因外界電磁場的干擾引起的誤差，應(yīng)不大于被檢校驗儀零值誤差允許值的

　　4、外界電磁場的影響可以用以下方法檢查：被檢儀器在額定工作電流（或電壓） 下，由于調(diào)換工作電流（或電壓） 的極性引起檢定結(jié)果的變化，應(yīng)不超過被檢儀器零值誤差允許值的1/2。

　　電源條件

　　電源的實際頻率與50 HZ 偏離的數(shù)值，應(yīng)不大于被檢校驗儀級別指數(shù)的1/10。電源電壓的波形失真不大于5%。如果電源頻率達不到上述要求，允許在50+0.5Hz 下檢定，并根據(jù)實際頻率對堅定結(jié)果作修正。

　　標準器條件

　　檢定應(yīng)使用互感器校驗儀整體檢定裝置作為標準器。檢定1級準確度的校驗儀，應(yīng)使用0.2 準確度的整體檢定裝置; 檢定2 級和3 級準確度的校驗儀，應(yīng)使用0.2 級或0.3 級準確度的整體檢定裝置。

　　整體檢定裝置由標準交流阻抗器具、標準交流比率器具、交流電源及其他必要設(shè)備按一定電路結(jié)構(gòu)組合而成。

　　整體檢定裝置的頻率附加誤差，應(yīng)有誤差曲線或公式表示。

　　整體檢定裝置的分辨力，應(yīng)能滿足檢定校驗儀的要求。

　　整體檢定裝置的工作電源和等效微差電源，應(yīng)能給出與被校驗儀相適應(yīng)的幅值和相位連續(xù)可調(diào)的電流源與電壓源信號。等效微差電源不穩(wěn)定及波形失真引起的測量讀數(shù)變化，其標準偏差應(yīng)小于整體檢定裝置允許誤差的1/10。

　　三、檢定項目和檢定方法

　　使用中的校驗儀受檢項目

　　1、外觀

　　2、 極性指示器;

　　3、內(nèi)附百分表;

　　4、儀器分辨力;

　　5、儀器的基本誤差。

　　6、新制造的校驗儀除按第10 條要求檢定外，尚應(yīng)增加以下受檢項目;修理后的儀器可按實際情況增加相應(yīng)的受檢項目。

　　7、標度盤主輔刻度的一致性;

　　8、標度盤符號的正確性;

　　9、儀器示值與工作電流（或電壓） 的無關(guān)性。

　　10、測量回路的諧波抑制能力。

　　11、校驗儀差值回路對標準和被檢互感器的附加容量;

　　12、儀器的絕緣電阻及絕緣強度。

　　外觀檢查

　　1、校驗儀的外觀應(yīng)完好，標識正確清晰; 各轉(zhuǎn)換開關(guān)轉(zhuǎn)動靈活，定位準確; 滑線盤動作平滑，接觸良好。

　　2、極性指示器的顯示值應(yīng)達到制造廠的技術(shù)指標要求。顯示電流與顯示電壓的測量可分別按圖1與圖2 所示線路進行。

　　內(nèi)附百分表的檢定參照《JJG124-1982 電流表及功率表檢定規(guī)程》進行。檢定點可按照互感器檢定要求選取。儀器分辨力實驗儀器在基本誤差檢定時，可同時檢查儀器的分辦力。實驗點為額定工作電最小檔的5%及額定工作電壓最小檔20%。對適應(yīng)于S 級的校驗儀，應(yīng)增加相應(yīng)額定工作電壓2%和5%的實驗點。對適應(yīng)于3P 級和6P 級的校驗儀，應(yīng)增加相應(yīng)額定工作電壓2%和5%的實驗點，實驗結(jié)果應(yīng)符合第3 條規(guī)定。標度盤主輔刻度的一致性。采用以下方法檢查： 將校驗儀標度盤準確地置

　　于基本量程刻度線上，然后讀出輔刻度在相應(yīng)儀器常數(shù)下的測量值。此測量值與基本量程刻度示值乘以儀器常數(shù)的值相比，偏差應(yīng)小于1/4 的最小分度值。標度盤符號的正確性在基本誤差檢定時間時考核。

　　測量回路的諧波抑制能力實驗

　　儀器處于零值誤差測量狀態(tài)，指零值置于最大靈敏度狀態(tài)，電流（或電壓）差值回路與諧波源連接。諧波信號為等量的3 次諧波和5 次諧波疊加，信號強度調(diào)節(jié)到使儀器的指零儀偏轉(zhuǎn)（或儀器的測量讀數(shù)）達到滿度值的1/5，然后改用工頻信號輸入，調(diào)節(jié)信號強度使指零儀的偏轉(zhuǎn)（或儀器的測量讀數(shù)） 也達到滿度值的1/5。兩次信號有效值之比用分貝表示，所得結(jié)果應(yīng)符合第4 條規(guī)定。

　　儀器的差值回路對標準和被檢互感器的附加容量，選該儀器最大量程的差值回路阻抗與差值電流（電壓） 上限值計算。該計算值應(yīng)符合第6 條規(guī)定。根據(jù)被檢儀器的使用范圍，基本誤差檢定內(nèi)容可包括電流互感器測量回阻抗測量回路及導(dǎo)納測量回路。路，電壓互感器測量回路，

　　檢定時可采用同相分量值誤差與正交量誤差分別檢定的方法。被檢儀器的示值誤差可以選取電流互感器（或電壓互感器） 測量回路的某一量程作為全檢量程，其余量程和其他回路的所有量程，只在該量程上限值的100%，10%及與全檢量程最大正負誤差相對應(yīng)的檢定點位置進行檢定。

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　　全檢量程的檢定點，應(yīng)包括正負最大示值之間全部標度點。多盤調(diào)節(jié)的校驗儀，應(yīng)逐盤檢定。用數(shù)字顯示測量結(jié)果的校驗儀，可去滿度值的10%為間隔選取檢定點。

　　儀器首次檢定時，應(yīng)在全檢量程對應(yīng)著同相與正交分量的中間示值與最大示值附近位置選4 個補充檢定點。電子式校驗儀還應(yīng)在其他受檢量程按上述方法選2 個補充檢定點。新制造的或修理后的儀器，除在每個額定工作電流（或電壓） 下進行檢定，檢定線路就如圖3 所示。

　　調(diào)節(jié)工作電流I 至規(guī)定值，調(diào)節(jié)整體檢定裝置等效微差電流O，調(diào)節(jié)有關(guān)回路使校驗儀在某個受檢示值點平衡（或顯示讀數(shù)）。記下同相分量與正交分量示值。電壓互感器測量回路的檢定檢定線路如圖4 所示。

　　調(diào)節(jié)工作電壓U 至規(guī)定值，調(diào)節(jié)整體檢定裝置輸出等效微差電壓O U，調(diào)節(jié)有關(guān)回路使校驗儀在某個受檢示值點平衡（或顯示讀數(shù)）。記下同相分量與正交分量示值。阻抗測量回路的檢定檢定線路如圖5 所示。

　　調(diào)節(jié)工作電流I 至規(guī)定值，調(diào)節(jié)整體檢定裝置輸出等效微差電壓O U，調(diào)節(jié)有關(guān)回路使校驗儀在某個受檢示值點平衡（或顯示讀數(shù)）。記下同相分量與正交分量示值。對新設(shè)計制造的儀器，應(yīng)在阻抗測量回路最大量程的上限點附近用實際阻抗量具核對儀器測量誤差是否在允許范圍之內(nèi)。導(dǎo)納測量回路的檢定檢定線路如圖6 所示：

　　調(diào)節(jié)工作電壓U 至規(guī)定值，調(diào)節(jié)整體檢定裝置輸出等效微差電流O I，調(diào)節(jié)有關(guān)回路使校驗儀在某個受檢示值點平衡（或顯示讀數(shù)）。記下同相分量和正交分量的示值。

　　對新設(shè)計制造的儀器，應(yīng)在導(dǎo)納測量回路最大量程的上限點附近，用實際導(dǎo)納測量具核對儀器測量誤差是否在允許范圍之內(nèi)。

　　四、檢定結(jié)果的處理和檢定周期

　　按照本規(guī)程檢定的校驗儀，在某個檢定點的測量示值與整體檢定裝置示值之差，不超出第一條規(guī)定的允許誤差范圍，則該檢定點合格。30 某一量程全部受檢點合格，則該量程合格。根據(jù)本規(guī)程進行檢定的校驗儀，如果沒有影響儀器的使用缺陷，而且全檢量程合格，可發(fā)檢定證書。

　　檢定證書中按檢定項目與受檢量程，逐相作出合格或不合格的結(jié)論，檢定證書不給出檢定結(jié)果的技術(shù)數(shù)據(jù)，但對于有超差項目者，可給出超差項目結(jié)果。

　　有超差項目的校驗儀，允許降級使用。對于不滿足第6 條要求的校驗儀，允許字限定范圍內(nèi)使用。檢定不合格的校驗儀，可發(fā)給檢定結(jié)果通知書。檢定周期一般不超過1年。連續(xù)兩次周期檢定合格的校驗儀，檢定周期可延長為2 年。使用頻繁和降級使用的校驗儀，檢定周期應(yīng)縮短為半年。