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電子發(fā)燒友網(wǎng)>可編程邏輯>FPGA/ASIC技術(shù)>FPGA系統(tǒng)調(diào)試與測試及結(jié)論

FPGA系統(tǒng)調(diào)試與測試及結(jié)論

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2017-11-18 05:46:281616

新版LabVIEW FPGA從三個方面優(yōu)化你的測試系統(tǒng)設(shè)計

龐大的IP庫、高逼真模擬器,以及更加方便的調(diào)試使新型LabVIEW FPGA完美滿足復雜現(xiàn)代設(shè)備的要求。 從低等待時間的被測設(shè)備(DUT)控制一直到高性能信號處理,測試系統(tǒng)使用基于FPGA的硬件會有
2017-11-18 06:25:335617

基于測試系統(tǒng)FPGA測試方法研究與實現(xiàn)

)等部分組成。對FPGA進行測試要對FPGA內(nèi)部可能包含的資源進行結(jié)構(gòu)分析,經(jīng)過一個測試配置(TC)和向量實施(TS)的過程,把FPGA配置為具有特定功能的電路,再從應(yīng)用級別上對電路進行測試,完成電路的功能及參數(shù)測試。 2 FPGA的配置方法 對FPGA進行配置有多種方法可以選擇,包括邊界掃描配置方法等。
2017-11-18 10:44:372001

FPGA進行測試調(diào)試有哪些辦法?

FPGA的設(shè)計速度、尺寸和復雜度明顯增加,使得整個設(shè)計流程中的驗證和調(diào)試成為當前FPGA系統(tǒng)的關(guān)鍵部分。獲得FPGA內(nèi)部信號有限、FPGA封裝和印刷電路板電氣噪聲,這一切使得設(shè)計調(diào)試和檢驗變成
2018-07-19 14:19:0013242

基于軟件測試技術(shù)的FPGA測試研究[圖]

摘要: 基于對FPGA系統(tǒng)失效機理的深入分析,提出了軟件測試技術(shù)在FPGA測試中的應(yīng)用,并分析了其可行性;通過對比FPGA與軟件系統(tǒng)的異同,歸納出FPGA特有的測試要求,從而在軟件測試技術(shù)的基礎(chǔ)上
2018-01-19 22:34:59937

SignalTapII ELA的FPGA在線調(diào)試技術(shù)介紹

在設(shè)計基于FPGA的電子系統(tǒng)時,一般需要用示波器、邏輯分析儀等外部測試設(shè)備進行輸入輸出信號的測試,借助測試探頭把信號送到測試設(shè)備上進行觀察分析。當然,前提是需要保留足夠多的引腳,以便能選擇信號來驅(qū)動
2018-02-14 09:19:00645

chipscope使用教程以及FPGA在線調(diào)試的方法

本文檔內(nèi)容介紹了基于chipscope使用教程以及FPGA在線調(diào)試的方法,供參考
2018-03-02 14:09:499

有助于提高FPGA調(diào)試效率的技術(shù)與問題分析

本文重點介紹在調(diào)試FPGA系統(tǒng)時遇到的問題及有助于提高調(diào)試效率的技術(shù),針對Altera和Xilinx的FPGA調(diào)試提供了最新的方法和工具。
2018-11-28 08:43:002095

FPGA測試系統(tǒng)中有哪四種典型應(yīng)用

FPGA可以通過專享的硬件資源進行處理數(shù)據(jù),從而實現(xiàn)較高的吞吐率,可以比通過I/O硬件先獲取數(shù)據(jù)再通過軟件執(zhí)行數(shù)據(jù)處理的速率更快。結(jié)合FPGA技術(shù)的測試系統(tǒng),不是按照傳統(tǒng)意義上的“采集、數(shù)據(jù)傳輸
2018-10-07 11:47:475023

FPGA系統(tǒng)對電源系統(tǒng)進行測試發(fā)現(xiàn)有一塊板相對其它的板功耗總偏“大”

在某FPGA系統(tǒng)中,對電源系統(tǒng)進行調(diào)試,在同樣的測試條件下,發(fā)現(xiàn)其中有一塊板相對其它的板功耗總偏大,進而對其進行調(diào)試分析。在該系統(tǒng)中,輸入電壓為DC12V,輸出電壓有:5V、3.3V、2.5V和1.2V,綜合考慮電源紋波和轉(zhuǎn)換效率,在該系統(tǒng)中采用了DC-DC和LDO。
2019-07-27 09:19:362799

基于FPGA的PCB測試機如何去設(shè)計硬件電路

基于FPGA的PCB測試機的硬件控制系統(tǒng),提高了PCB測試機的測試速度、簡化電路的設(shè)計。
2020-04-01 17:56:561688

基于FPGA的PCB怎樣來測試

 基于FPGA的PCB測試機的硬件控制系統(tǒng),提高了PCB測試機的測試速度、簡化電路的設(shè)計。
2019-10-23 15:15:451867

FPGA調(diào)試設(shè)計的指導原則

對于FPGA調(diào)試,主要以Intel FPGA為例,在win10 Quartus ii 17.0環(huán)境下進行仿真和調(diào)試,開發(fā)板類型EP4CE15F17。
2020-03-29 11:37:001142

FPGA設(shè)計與調(diào)試教程說明

FPGA概述FPGA調(diào)試介紹調(diào)試挑戰(zhàn)設(shè)計流程概述■FPGA調(diào)試方法概述嵌入式邏輯分析儀外部測試設(shè)備■使用 FPGAVIEW改善外部測試設(shè)備方法■FPGA中高速O的信號完整性測試和分析
2020-09-22 17:43:219

FPGA開發(fā)在線調(diào)試和配置過程

在線調(diào)試也稱作板級調(diào)試,它是將工程下載到FPGA芯片上后分析代碼運行的情況。
2020-11-01 10:00:493948

FPGA調(diào)試中常用的TCL語法簡介

使用Jtag Master調(diào)試FPGA程序時用到tcl語言,通過編寫tcl腳本,可以實現(xiàn)對FPGA的讀寫,為調(diào)試FPGA程序帶來極大的便利,下面對FPGA調(diào)試過程中常用的tcl語法進行介紹,并通過tcl讀FIFO的例子,說明tcl在實際工程中的應(yīng)用。
2022-02-19 19:44:342272

使用Jtag Master來調(diào)試FPGA程序

FPGA進行上板調(diào)試時,使用最多的是SignalTap,但SignalTap主要用來抓取信號時序,當需要發(fā)送信號到FPGA時,Jtag Master可以發(fā)揮很好的作用,可以通過Jtag Master對FPGA進行讀寫測試
2022-02-16 16:21:361900

詳解DC-DC電源波紋的調(diào)試方法

在某FPGA系統(tǒng)中,對電源系統(tǒng)進行調(diào)試,在同樣的測試條件下,發(fā)現(xiàn)其中有一塊板相對其它的板功耗總偏大,進而對其進行調(diào)試分析。
2022-04-26 13:45:384047

FPGA調(diào)試中LVDS信號線間串擾問題

FPGA調(diào)試過程中,除了邏輯代碼本身的質(zhì)量之外,FPGA板子上PCB走線、接插件質(zhì)量等因素的影響也非常重要。
2022-10-28 16:40:032220

避免FPGA、GPU和ASIC系統(tǒng)電源管理中的調(diào)試周期

在設(shè)計FPGA、GPU或ASIC控制系統(tǒng)時,與數(shù)字設(shè)計相關(guān)的電源管理和模擬系統(tǒng)相關(guān)的設(shè)計挑戰(zhàn)數(shù)量相形見絀。然而,假設(shè)電源系統(tǒng)設(shè)計可以留給“以后”或與數(shù)字設(shè)計保持一致是有風險的。即使是電源設(shè)計中看似無害的問題也會顯著延遲系統(tǒng)的發(fā)布,因為電源系統(tǒng)調(diào)試周期的任何增加時間都可能停止數(shù)字端的所有工作。
2023-01-06 09:24:07622

如何把FPGA調(diào)試中的數(shù)據(jù)給捕獲出來并保存為文件

FPGA調(diào)試過程中,經(jīng)常遇到這樣的情況:出現(xiàn)BUG時,想采用仿真環(huán)境把FPGA調(diào)試中遇到的BUG給重現(xiàn)出來,但無論怎樣改變仿真環(huán)境中的激勵,都無法重現(xiàn)FPGA上的出現(xiàn)BUG的情況。
2023-02-01 10:19:241815

國微思爾芯多FPGA聯(lián)合深度調(diào)試新思路

引言Preface隨著芯片設(shè)計規(guī)模的增加,傳統(tǒng)基于單顆FPGA的設(shè)計調(diào)試方法已經(jīng)不能滿足對大型設(shè)計的調(diào)試需求,因此多FPGA聯(lián)合調(diào)試技術(shù)應(yīng)運而生。本次國微思爾芯白皮書《先進多FPGA聯(lián)合深度調(diào)試方法
2022-06-16 10:16:48628

介紹FPGA在線調(diào)試的一大利器—VIO

之前的文章介紹了FPGA在線調(diào)試的方法,包括選定抓取信號,防止信號被優(yōu)化的方法等等。
2023-06-20 10:38:483333

FPGA測試面臨哪些挑戰(zhàn)?測試方案是什么?

點擊上方 藍字 關(guān)注我們 大容量、高速率和低功耗已成為FPGA的發(fā)展重點。 嵌入式邏輯分析工具無法滿足通用性要求,外部測試工具可以把FPGA內(nèi)部信號與實際電路聯(lián)合起來觀察系統(tǒng)真實運行情況。 隨著
2023-10-23 15:20:01460

如何用內(nèi)部邏輯分析儀調(diào)試FPGA?

1 推動FPGA調(diào)試技術(shù)改變的原因 進行硬件設(shè)計的功能調(diào)試時,FPGA的再編程能力是關(guān)鍵的優(yōu)點。CPLD和FPGA早期使用時,如果發(fā)現(xiàn)設(shè)計不能正常工作,工程師就使用“調(diào)試鉤”的方法。先將要觀察
2023-12-20 13:35:01147

FPGA硬件電路的調(diào)試必備原則和技巧

調(diào)試FPGA電路時要遵循必須的原則和技巧,才能降低調(diào)試時間,防止誤操作損壞電路。通常情況下,參考以下步驟執(zhí)行 FPGA硬件系統(tǒng)調(diào)試。 1、在焊接硬件電路前,首先要測試電路板的各個電源之間,各電源
2023-12-22 16:40:01217

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