電子發(fā)燒友App
?
編輯：黃飛
?
EMI測試過程中LISN作用是什么？
- 電磁兼容(96984)
- 測試系統(tǒng)(61759)
- LISN(13616)
相關(guān)推薦
【技術(shù)分享】ZTP800示教器的開發(fā)測試過程
示教器的使用環(huán)境通常是電磁干擾、溫濕度變化、灰塵覆蓋等多變的工業(yè)場所，同時示教器作為手持操作裝置，也存在脫手跌落、振動沖擊等可能性。那么示教器該如何應(yīng)對？ZTP800示教器的開發(fā)測試過程告訴
2023-07-01 10:01:29
295
295
4G LTE和LTE-Advanced設(shè)備在制造和測試過程中的挑戰(zhàn)分析
本文旨在對4G LTE和LTE-Advanced設(shè)備在制造和測試過程中會遇到的一些挑戰(zhàn)進(jìn)行分析。這些挑戰(zhàn)既有技術(shù)方面的，也有經(jīng)濟(jì)方面的。了解哪些缺陷需要檢測有助于我們在實(shí)際的生產(chǎn)環(huán)境中采用更好的測試
2019-07-18 06:22:43
EMI電磁干擾的傳播過程
電磁干擾是電子電路設(shè)計(jì)過程中最常見的問題，設(shè)計(jì)師們一直在尋找能夠完全消除或降低電磁干擾，也就是EMI的方法。但想要完全的消除EMI的干擾，首先需要的就是了解EMI是什么，它的傳播過程是怎樣的，本文
2019-05-31 06:42:24
EMI知識連載第一期----規(guī)范與測量
僅為 159nA。三、傳導(dǎo)EMI測試LISN 測量 EUT 產(chǎn)生的傳導(dǎo)發(fā)射。它是插入 EMI 源和電源之間測量點(diǎn)的接口，確保 EMI 測量結(jié)果的可重復(fù)性和可比較性。圖 3 所示為根據(jù) CISPR
2021-09-16 07:00:00
LISN阻抗
電磁干擾（EMI）的測試工作電路的一個熟悉的位。人們會使用各種LISN之間存在差異，但僅僅采用其中一種并實(shí)際計(jì)算出被測單元UUT與實(shí)際電力線的阻抗可能是有益的，而實(shí)際電力線的線路阻抗是假定的。變量
2018-07-25 18:07:47
lisn的作用有哪些
lisn中的電子被動元件的數(shù)值選?。ň哂兄笇?dǎo)意義）實(shí)際工作時的lisn電路lisn的作用作用解釋提供50Ω標(biāo)準(zhǔn)阻抗在相線和安全地線（綠線）之間、中線和安全地線之間提供一個穩(wěn)定的阻抗（50Ω）防止電網(wǎng)上的外部傳導(dǎo)噪聲干擾測量在傳導(dǎo)發(fā)射測量頻率（150kHz~30MHz）被滿足。
2021-10-29 07:48:56
測試過程中芯片表面打火？？？
在雙極測試過程中經(jīng)常出現(xiàn)表面打火，將芯片表面的雙極擊穿了，測試電壓在600--800v.請問哪位大俠有解決的方法嗎？
2012-09-12 21:41:51
ADS1216芯片調(diào)試過程中數(shù)據(jù)采集一直不對
有誰用過ADS1216這顆芯片啊，在調(diào)試過程中數(shù)據(jù)采集一直不對，不知道該如何配置它寄存器，具體怎么操作的，誰有demo或相關(guān)的例子程序??？
2019-02-27 14:42:20
AD芯片在調(diào)試過程中遇到的問題，應(yīng)該怎么解決？
AD芯片在調(diào)試過程中遇到的問題，應(yīng)該怎么解決？一款TI/國半的超高速ADC調(diào)試經(jīng)驗(yàn)分享
2021-04-09 06:41:24
ASEMI三相整流模塊MDS50HB160的原理和作用是什么
性阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)（LISN）。測試中使用的LISN結(jié)構(gòu)的主要作用是減少電網(wǎng)阻抗對測量結(jié)果的影響，隔離電網(wǎng)側(cè)的干擾。由于LISN的隔離作用，電網(wǎng)可以看作是只有基波電位和內(nèi)部阻抗的電源。
2021-08-19 15:33:53
EMC測試技術(shù)介紹
組件、電纜和連接線上的輻射發(fā)射。鑒定其輻射值是否符合標(biāo)準(zhǔn)的要求，保證在正常工作過程中不會影響環(huán)境中其他設(shè)備。 3.1.2 測試設(shè)備半電波暗室各式天線（棒天線9kHz~30MHz，環(huán)天線9kHz
2018-06-29 15:40:10
F28027 HVPSFB在調(diào)試過程中步進(jìn)查看程序發(fā)現(xiàn)反饋環(huán)沒有執(zhí)行是為什么？
C2000 HVPSFB在編譯調(diào)試過程中遇到的問題。使用的是TI官方的HVPSFB VCM程序。文件如下所示，在編譯過程中沒有遇到問題和警告。但是在調(diào)程序的時候發(fā)現(xiàn)了幾個不正常的地方，需要幫我解答
2020-05-28 12:33:31
NFC設(shè)備生產(chǎn)測試過程中應(yīng)考慮的因素
正確。在開發(fā)測試過程中，我們可以降低測試儀的磁場強(qiáng)度等級和調(diào)制深度，以確保任何與靈敏度、發(fā)送電平或損耗有關(guān)的缺陷都能被發(fā)現(xiàn)。當(dāng)然，我們也可以在生產(chǎn)測試中(上述連通性測試期間) 采用同樣的方法。此外
2014-05-19 19:25:45
OBC與DC-DC開發(fā)測試過程
Converter單件開發(fā)及整車開發(fā)測試過程中，都需要對其進(jìn)行功能和性能方面進(jìn)行全面的測試。目前，很多客戶將OBC充電、OBC放電、DC-DC Converter（以下簡稱DCDC）功能集成到一起，暫且將
2021-09-17 08:09:36
PCB設(shè)計(jì)過程中的EMC和EMI模擬仿真
，不可避免地會引入EMC（電磁兼容）和EMI（電磁干擾）的問題，所以對電子產(chǎn)品的電磁兼容分析顯得特別重要。與IC設(shè)計(jì)相比，PCB設(shè)計(jì)過程中的EMC分析和模擬仿真是一個薄弱環(huán)節(jié)。
2019-07-22 06:45:44
RS預(yù)兼容EMI測試解決方案
，和設(shè)備制造商提供有效的幫助，使研發(fā)人員可以提前采取相應(yīng)的措施避免以后重復(fù)進(jìn)行昂貴的認(rèn)證測試。多樣的測試能力，高精度和快速的自動測量模式使得這些解決方案成為研發(fā)實(shí)驗(yàn)室的首選。一、主要特點(diǎn)1、產(chǎn)品研發(fā)過程中
2019-10-15 14:29:54
SRIO高速大量數(shù)據(jù)傳輸測試，在測試過程中若發(fā)生錯誤，請問可以通過那些寄存器來讀取錯誤狀態(tài)？
現(xiàn)在對SRIO進(jìn)行長時間連續(xù)數(shù)據(jù)傳輸測試：時間：40小時、速率：2.5G模式：x4一般來說，多大的誤碼率是業(yè)界正常范圍？在測試過程中若發(fā)生錯誤，可以通過那些寄存器來讀取錯誤狀態(tài)？在C6657芯片內(nèi)部的SRIO模塊對于傳輸錯誤有硬件校驗(yàn)機(jī)制嗎？若有，那些相關(guān)寄存器進(jìn)行控制和狀態(tài)讀取？
2018-08-06 08:46:18
STM32F103RCT6項(xiàng)目調(diào)試過程中遇到了一些問題
STM32F103RCT6項(xiàng)目調(diào)試過程中遇到了一些問題，現(xiàn)在總結(jié)記錄一下，以留后用。程序經(jīng)過調(diào)試沒有問題，所有問題都可以說是硬件問題。出現(xiàn)的主要問題可以分為以下幾類：電源問題、時鐘問題、焊接問題。
2021-08-11 08:49:31
STM32F103VET6芯片重復(fù)上電測試過程中電流異常
我這邊測試出現(xiàn)這個情況：采用STM32F103VET6芯片，整個板子正常工作時電流為20mA; 在重復(fù)上電測試過程中，出現(xiàn)過整個板子工作電流在40-50mA,不等情況，在這個情況下，有部分功能不能正常工作。 出現(xiàn)頻率大約在30次中出現(xiàn)個一二次的樣子。
2019-02-27 09:47:25
STM32調(diào)試過程中常見的問題有哪些
STM32調(diào)試過程中常見的問題及解決方法一、 在“Debug選項(xiàng)卡”下設(shè)置好仿真器的類型后，下載程序時卻提示“No ULINK Device found.” 解決辦法： Keil MDK默認(rèn)
2021-08-06 06:12:27
一文讀懂EMI的傳播過程.
EMI是電子電路設(shè)計(jì)過程中普遍的問題，一直在尋找能夠完全消除或降低電磁干擾方法。想要完全的消除EMI的干擾，首先需要的就是了解EMI是什么，它的傳播過程是怎么樣的，下面對EMI的傳播過程進(jìn)行一個大
2020-10-21 11:36:41
為什么你的示波器抓不到調(diào)試過程中的異常信號呢？
如何讓您在調(diào)試中異常信號一覽無余呢？為什么你的示波器抓不到調(diào)試過程中的異常信號呢？
2021-04-29 06:27:18
產(chǎn)品研發(fā)過程中如何進(jìn)行EMC預(yù)測試？試驗(yàn)設(shè)備的推薦？
小生最近在琢磨如何使用頻譜分析儀如何進(jìn)行EMC預(yù)測試，目前已配備普源精電的頻譜分析儀及近場探頭，還需要配備人工電源網(wǎng)絡(luò)（LISN），各位同道中人、大佬大牛有什么推薦么？關(guān)于EMC預(yù)測試的方法，也希望各位能給一些意見，傳授一些經(jīng)驗(yàn)。。。
2018-12-28 11:57:25
使用keil調(diào)試過程中開啟看門狗就報錯怎么解決？
1.使用keil調(diào)試過程中，不可以開啟看門狗，不然會報錯：nu_Link ice:cmderror-get register data error2.官方方法，沒有深入嘗試，目前的解決方法
2021-11-22 07:29:48
關(guān)鍵字static的作用是什么
頭文件中的ifndef/define/endif 的作用？1.關(guān)鍵字static的作用是什么1). 在函數(shù)體，一個被聲明為靜態(tài)的變量在這一函數(shù)被調(diào)用過程中維持其值不變。2). 在模塊內(nèi)（但在函數(shù)體外
2021-11-09 07:23:40
分享基于STM32 4x4鍵盤掃描嘗試過程中踩到的雷
解決嗎？？有，當(dāng)然有了，那就是矩陣鍵盤掃描，在查閱許多大神博客、資料后有了點(diǎn)眉目便開始嘗試，歷經(jīng)千辛萬苦終于弄出來了！那喜悅！那開心！下面給大家分享嘗試過程中踩到的雷。矩陣鍵盤掃描原理瀏覽過多篇文章后決定嘗試翻轉(zhuǎn)法來進(jìn)行矩陣鍵盤掃描，丟出鍵盤原理圖：四行四列共八個IO口，矩陣鍵盤掃描難點(diǎn)
2022-01-05 07:56:34
在繪制原理圖過程中，發(fā)現(xiàn)了三個電阻相互連接的電路，請問一下它們的作用是分流嗎？
在繪制原理圖過程中，發(fā)現(xiàn)了三個電阻相互連接的電路，請問一下它們的作用是分流吧，基礎(chǔ)薄弱，請莫見笑
2016-10-11 15:41:39
在調(diào)試過程中，如何根據(jù)電流值來判斷電機(jī)選型的合理性？
在調(diào)試過程中，我們可通過Trace監(jiān)視電流值來看下電機(jī)選型是否為最優(yōu)，那么如何來正確判斷呢？電機(jī)工作在-重載高速時的值應(yīng)為額定值之上多少一般認(rèn)為是最優(yōu)的呢？特此請教
2023-11-16 07:43:03
基于示波器的EMI輻射干擾測試
的頻率，方向，波長。而且因?yàn)殡姶艌鰺o法進(jìn)入密閉的空間，在抗擾室測試的汽車部件在測試過程中能夠接收精確且高度可控的電磁波。同時，電磁波也無法離開干擾室，用于測試的測量儀器以及在抗擾室外操控的工程師能夠免于
2019-06-10 08:23:39
安泰測試分享~R&S預(yù)兼容EMI測試解決方案
，使研發(fā)人員可以提前采取相應(yīng)的措施避免以后重復(fù)進(jìn)行昂貴的認(rèn)證測試。多樣的測試能力，高精度和快速的自動測量模式使得這些解決方案成為研發(fā)實(shí)驗(yàn)室的首選。 主要特點(diǎn)l 產(chǎn)品研發(fā)過程中理想的EMI診斷工具l 可靠
2019-11-19 09:18:21
怎樣去解決keil在調(diào)試過程中無法打斷點(diǎn)與無法追蹤的問題
在調(diào)試過程中會發(fā)現(xiàn)有些語句為的前面為淺灰色無法打斷點(diǎn)，而有些變量在生存域內(nèi)無法追蹤，如下圖第33行定義的dSum在函數(shù)中無法追蹤到其值，而第36行的函數(shù)無法選擇斷點(diǎn)。看起來很像編譯器的bug但其實(shí)
2022-02-28 06:40:21
我用KEIL2編程調(diào)試過程中輸入SMOD無法編譯
本帖最后由 eehome 于 2013-1-5 09:55 編輯
大家好，我今天在做51單片機(jī)串口調(diào)試過程中，遇到一個問題，設(shè)置串口波特率那里，本來輸入SMOD=0；表示串口波特率不加倍，可惜我輸入這條指令無法編譯，請問這是怎么回事？
2012-12-12 18:37:15
晶振的作用是什么？
能夠出現(xiàn)機(jī)械力的。我們在了解晶振的時候，需要根據(jù)其材質(zhì)與性狀進(jìn)行對比，對于機(jī)電設(shè)備來說，在運(yùn)作的過程中，往往是會出現(xiàn)機(jī)電效應(yīng)的。晶振作用是什么？大家也可以根據(jù)重要的特征進(jìn)行分析，比如其熱膨脹系數(shù)、石英
2016-08-08 11:29:48
燒錄過程中如何解決.out文件的問題
用的是MSP430G2553，為了測試LED程序。燒錄過程中發(fā)現(xiàn)無法實(shí)現(xiàn)，由于對話框中所示：.out couldn't open. 請問各位：1，如何解決.out文件的問題2，.ccxml目標(biāo)文件是不是必須設(shè)置？它的作用是什么？初學(xué)者，時間較緊，有些信息可能自己沒有認(rèn)真去找，麻煩各位解答多謝
2019-06-12 12:43:47
用stm32f103寫的12864的驅(qū)動，記錄了調(diào)試過程中遇到的問題
在網(wǎng)上參考了大牛們的例程，自己用stm32f103寫的12864的驅(qū)動，終于可以顯示字符了，還有些許功能沒有摸透，抓住靈感，先把調(diào)試過程中遇到的問題記錄下來，也許某天就可以有和我一樣的小白遇到相同
2014-07-18 17:49:15
用示波器測試過程中探頭電阻在故障分析中的影響
我們的電路板出現(xiàn)了問題，在定位問題的過程中通常會用到萬用表、示波器等測試工具，這些設(shè)備在測試過程中自身的阻抗是需要考慮的，比如在測電流的時候要考慮萬用表自身的電阻，示波器探頭自身的電阻，下面就是一個
2022-01-11 07:52:05
電源設(shè)計(jì)中EMI是如何產(chǎn)生、傳播以及優(yōu)化
如下幾點(diǎn)對EMI進(jìn)行優(yōu)化： ● 輸入端增加EMI濾波器 EMI濾波器可以抑制流經(jīng)LISN的差模和共模電流，這在傳導(dǎo)測試中尤其關(guān)鍵，根據(jù)對噪聲的大小的衰減比例可以計(jì)算出EMI濾波器的參數(shù)大小。常見的EMI濾波器參數(shù)如圖5所示?！ D5 常見EMI濾波器設(shè)計(jì)參數(shù)
2018-12-25 11:47:36
記錄STM32調(diào)試過程中遇到的一些坑
記錄STM32調(diào)試過程中遇到的一些坑假裝這是一個目錄？零、 CubeMX1.發(fā)現(xiàn)新大陸一、串口與DMA1.配置與使用2.串口中斷與DMA3.串口中斷異常二、PWM三、FDCAN1.CAN波特率
2021-12-06 06:40:25
請問用ADXRS646設(shè)計(jì)了一款板子但是測試過程中發(fā)現(xiàn)，零偏可以達(dá)到4度每秒是正常的嗎？
尊敬的ADI工程師您好，近期用ADXRS646設(shè)計(jì)了一款板子但是測試過程中發(fā)現(xiàn)，零偏可以達(dá)到4度每秒，不知是否正常。
2018-07-31 07:30:23
附加相位噪聲的測試過程是怎樣的？有什么注意事項(xiàng)？
本文簡單介紹了相位噪聲的定義，詳細(xì)介紹了附加相位噪聲的測試過程，給出了實(shí)際的測試結(jié)果，指出了附加相位噪聲測試過程中的一些注意事項(xiàng)，希望對附加相位噪聲測試人員有一定的借鑒意義。
2021-05-11 06:50:14
動態(tài)模型在軟件系統(tǒng)測試過程中的應(yīng)用研究
系統(tǒng)測試是軟件開發(fā)過程中的重要環(huán)節(jié)，系統(tǒng)測試過程的動態(tài)模型有助于更好地理解和分析系統(tǒng)行為，做出正確的判斷和決策；相對于已有的軟件測試模型，通過對錯誤發(fā)現(xiàn)效率的
2009-07-16 11:58:55
8
8電源設(shè)計(jì)調(diào)試過程中的異?，F(xiàn)象分析
調(diào)試過程中所看到的一些異?，F(xiàn)象，以及后來的解決辦法。其實(shí)很多工程師認(rèn)為設(shè)計(jì)電源是非常重經(jīng)驗(yàn)的一門技術(shù)，要見多識廣。這種經(jīng)
2010-10-09 10:49:181606
1606LED測量過程中光學(xué)和熱學(xué)問題解決方法
LED測試過程中所遇到的幾個問題 LED測試隨方向性變化的問題 LED光學(xué)特性隨溫度變化的問題
2011-11-23 14:21:1859
59LISN在電力電子設(shè)備EMI測試中的應(yīng)用
電力電子設(shè)備產(chǎn)生的電磁發(fā)射通常在較低頻率范圍內(nèi)，根據(jù)GB/T6133.1 中關(guān)于電氣設(shè)備性能的測試要求，通常只需要測量其傳導(dǎo)干擾。本文詳述了在電力設(shè)備EMI 測試中的重要輔助設(shè)備電源
2011-12-22 15:58:10219
219【EMI測試】EMI測試中傳導(dǎo)騷擾是什么意思？和輻射干擾有啥區(qū)別？#電磁干擾 #電路知識 #EMI測試
電磁干擾EMI測試
安泰小課堂發(fā)布于 2023-11-30 17:48:26
壓力傳感器測試過程的可靠性概念概述[圖]
根據(jù)壓力傳感器的實(shí)際測試過程中的各個環(huán)節(jié)已經(jīng)或可能產(chǎn)生的影響，獲取壓力傳感器真實(shí)性能輸出數(shù)據(jù)的因素，采用可靠性的分析方法對其進(jìn)行分析；提示了測試過程中影響傳感器輸出的規(guī)律，減小傳感器因在測試過程中產(chǎn)生的誤差；并為深入研究壓力傳感器提供一條新的思路，為研究新的壓力傳感器提供一定的理論依據(jù)。
2018-01-18 11:21:593467
3467
單片機(jī)調(diào)試過程中的調(diào)試組件導(dǎo)致的問題
單片機(jī)調(diào)試過程中，經(jīng)常會遇到類似第3只眼的問題。何謂第3只眼呢？
2018-12-30 17:12:007006
7006
淺析STM32調(diào)試過程中的幾個相關(guān)問題
總的來講，單片機(jī)調(diào)試是單片機(jī)開發(fā)工作必不可少的環(huán)節(jié)。不管你愿不愿意，調(diào)試過程中總會有各種不期而遇的問題出現(xiàn)在我們面前來磨礪我們。這里分享幾點(diǎn)STM32調(diào)試過程中與開發(fā)工具及IDE有關(guān)的幾個常見問題，以供參考。
2019-01-21 13:50:584788
4788自動測量模式將成為預(yù)兼容EMI測試研發(fā)的首選
的措施避免以后重復(fù)進(jìn)行昂貴的認(rèn)證測試。多樣的測試能力，高精度和快速的自動測量模式使得這些解決方案成為研發(fā)實(shí)驗(yàn)室的首選。 傳導(dǎo)EMI測試所需的線性阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)(LISN) LISN將干擾信號從被測設(shè)備耦合到測試設(shè)備，同時，在所要求的頻帶內(nèi)提
2020-07-23 16:48:17320
320鋰離子電池測試過程的誤差分析
部分動力電池企業(yè)將電池送外檢測，不同結(jié)構(gòu)給出的結(jié)果往往也存在差異，更別提測試過程出現(xiàn)的各種數(shù)據(jù)波動等異常。
2019-12-02 17:19:265626
5626
如何在電磁干擾室中進(jìn)行EMI干擾測試
輻射抗擾室是一個完全密封的傳導(dǎo)空間，是一個理想的EMI測試環(huán)境，因?yàn)樗軌蛲耆刂瓶臻g中產(chǎn)生的電磁場的頻率，方向，波長。而且因?yàn)殡姶艌鰺o法進(jìn)入密閉的空間，在抗擾室測試的汽車部件在測試過程中能夠接收精確且高度可控的電磁波。
2020-05-04 17:27:002700
2700六線制稱重傳感器在測試過程中的注意事項(xiàng)都有哪些
六線制稱重傳感器在測試過程中的需要注意的地方， 六線制稱重傳感器實(shí)際上是一種將質(zhì)量信號轉(zhuǎn)變?yōu)榭蓽y量的電信號輸出的裝置。 用傳感器應(yīng)先要考慮傳感器所處的實(shí)際工作環(huán)境，這點(diǎn)對正確選用稱重傳感器至關(guān)重要
2020-08-25 15:50:491112
1112泄漏性測試儀是什么，它的作用是什么
尺寸符合的10名人員進(jìn)行佩戴測試，受試者需將胡須刮干凈。面罩佩戴以受試者感覺合適為度，頭帶調(diào)節(jié)不應(yīng)過緊或者過松。 2、檢測好測試倉內(nèi)顆粒物濃度。 3、過濾件對油霧過濾率高于99.997％，若制造商無此油霧過濾效率的過濾件，測試過程中允許用高于99.997％的過濾
2020-12-07 15:46:251448
1448鎖具套裝在使用過程中它起到的作用是什么
現(xiàn)在的工業(yè)經(jīng)濟(jì)時代發(fā)展之下，對于企業(yè)安全管理生產(chǎn)能力自然環(huán)境會有一個更高的要求，而在中國這樣的情況下，也就需要使用到鎖具套裝，在這種鎖具的使用教學(xué)過程中，也有我們自己的具體實(shí)際作用，那么它都是
2020-12-25 11:22:49595
595EMI濾波電路的作用是什么
EMI濾波器主要作用是濾除外界電網(wǎng)的高頻脈沖對電源的干擾，同時也起到減少開關(guān)電源本身對外界的電磁干擾。實(shí)際上它是利電感和電容的特性，使頻率為50Hz左右的交流電可以順利通過濾波器，但高于50Hz以上
2021-05-18 10:09:237270
7270EMI濾波電路的作用是什么
EMI濾波器主要作用是濾除外界電網(wǎng)的高頻脈沖對電源的干擾，同時也起到減少開關(guān)電源本身對外界的電磁干擾。實(shí)際上它是利電感和電容的特性，使頻率為50Hz左右的交流電可以順利通過濾波器，但高于50Hz以上
2021-08-10 17:44:045787
5787DCDC開關(guān)電源電磁兼容（二）什么是LISN（有內(nèi)部電路詳細(xì)解釋）
這里寫目錄標(biāo)題lisn的作用第一個作用：提供50Ω標(biāo)準(zhǔn)阻抗第二個作用：隔離電網(wǎng)噪音第三個作用：供電（對第二個作用的補(bǔ)充）lisn的電路結(jié)構(gòu)說明lisn的電路組成示意圖lisn的電路解釋的文字說明部分
2021-10-22 21:06:0520
20工程編譯和OAD測試過程中的注意事項(xiàng)
里, 由于很多細(xì)節(jié)沒有說明, 用戶使用過程可能出錯. 這里將結(jié)合TI CC1310 SDK 1.60.00.21 版本(http://www.ti.com.cn/tool/cn/simplelink-cc13x0-sdk), 講解在工程編譯和OAD測試過程中的注意事項(xiàng)…
2021-12-14 15:36:27908
908線束測試儀在聲吶設(shè)備生產(chǎn)過程中的應(yīng)用
線與電纜的其他芯線依次接觸并測試絕緣情況(每條芯線測試需要保壓 3~5 s)。由于電纜數(shù)量多，且需反復(fù)測試，以 37 芯電纜為例，僅一次絕緣就需測試 600 余次，測試過程中不允許出現(xiàn)漏測，600
2022-02-10 11:49:57260
260
氣密性測試過程中為什么會出現(xiàn)負(fù)的泄漏值
在進(jìn)行氣密性測試的時候測試過程中有時候會出現(xiàn)負(fù)的泄漏值，為什么會出現(xiàn)負(fù)的泄漏值呢？在了解這個問題之前，我們首先需要知道的是檢測過程中的測試原理，是在產(chǎn)品腔體內(nèi)充入一定壓力的氣體，到達(dá)設(shè)定的壓力值后再斷開氣體供給
2022-04-08 11:38:274051
4051
RT-Thread上的單元測試：什么是單元測試？單元測試的作用是什么？
RT-Thread上的單元測試：什么是單元測試？單元測試的作用是什么？ ? ? ? ? ? 審核編輯：彭靜
2022-05-27 16:06:201302
1302
堆錫孔的作用是什么 如何改善堆錫孔的EMI
一開始以為是為把錫漏下去和鋁基板接觸以達(dá)到改善EMI性能的作用，然而拆開之后發(fā)現(xiàn)鋁基板和外殼之間還隔著一個塑膠件，錫根本無法和鋁基板接觸，更何況即使接觸了，也會導(dǎo)致安規(guī)上的耐壓測試失效。
2022-12-23 11:02:58478
478滲透測試過程中所使用的抓包方法
本篇只是簡單分享平常筆者滲透測試過程中所使用的抓包方法，后面會繼續(xù)更新其他以及安卓端的抓包方法，比較適合沒理解過這方面的新手作參考。
2023-02-01 15:41:51990
990解決測試過程中多路供電的難題
■?■ 通信、人工智能、云計(jì)算、智能終端等產(chǎn)品功能越來越強(qiáng)大、電路也越來越復(fù)雜，在這些產(chǎn)品的測試過程中，往往需要多路的供電。與此同時，每個供電通道的電壓和電流規(guī)格各異，上電或下電過程電壓斜率、時序
2023-02-15 16:25:04571
571防靜電ESD測試過程展示
點(diǎn)擊上方藍(lán)字關(guān)注我們防靜電ESD測試過程展示本期內(nèi)容為ESD的測試過程，先來看一下規(guī)格書中有哪些參數(shù)VRWM和IT是固定的，可用作設(shè)置參考，所以我們要測試的就是VBIPPVCIRC和VESD。測試
2021-09-30 17:18:58934
934
淺析EMC認(rèn)證過程中的整改方法
何為EMC整改？EMC整改就是指產(chǎn)品在功能調(diào)試或EMC測試過程中出現(xiàn)問題后所采取的彌補(bǔ)手段。首先我們從EMC認(rèn)證測試項(xiàng)目說起，EMC認(rèn)證測試主要包含兩大項(xiàng)：EMI（干擾）和EMS（產(chǎn)品抗干擾和敏感度
2023-02-13 11:50:37873
873
海翎光電工業(yè)交換機(jī)測試過程
工業(yè)交換機(jī)在出廠前要經(jīng)過哪些測試呢？測試過程又是怎么樣的呢？主要是工業(yè)交換機(jī)性能檢驗(yàn)和可靠性檢驗(yàn)，又包括了電阻檢驗(yàn)、電容耐壓測試、電源功率測試、線材、模塊、電纜、網(wǎng)卡數(shù)據(jù)流量性能測試、高低溫耐沖擊
2023-07-07 11:03:39259
259
如何解決車載部品測試過程中峰值電流不足的問題？
如何解決車載部品測試過程中峰值電流不足的問題？ 隨著汽車電子系統(tǒng)的不斷發(fā)展和普及，車載部品的測試過程變得更加復(fù)雜和嚴(yán)峻。其中一個常見的問題是峰值電流不足。峰值電流不足可能導(dǎo)致測試結(jié)果不準(zhǔn)確、設(shè)備損壞
2023-11-23 10:33:05205
205
工商網(wǎng)監(jiān)
評論