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黑盒測(cè)試的7種測(cè)試方法

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2017-02-10 14:05:57

IDS測(cè)試有什么方法?

的性能指標(biāo),設(shè)計(jì)有效的方法來(lái)測(cè)試。實(shí)際上入侵檢測(cè)系統(tǒng)的測(cè)試是一個(gè)難度較大的問(wèn)題,也是一件費(fèi)時(shí)耗力的工作。對(duì)于這一工作,許多研究機(jī)構(gòu)都進(jìn)行了相應(yīng)的研究,給出了自己的測(cè)試方法測(cè)試結(jié)果。例如MIT的林肯實(shí)驗(yàn)室
2019-08-19 06:55:17

IGBT短路測(cè)試方法

https://mp.weixin.qq.com/s/5zWSxhNFF19kqCKUh7B4zg上述視頻鏈接包含了以下四個(gè)方面內(nèi)容:— 雙脈沖測(cè)試要點(diǎn)回顧— 短路的分類與安全工作區(qū)— 短路測(cè)試方法測(cè)試注意事項(xiàng)講師PPT見(jiàn)附件。
2020-06-28 10:48:45

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本文列數(shù)了軟件黑盒測(cè)試過(guò)程中,在被測(cè)試軟件中可能存在的常見(jiàn)軟件問(wèn)題。本文不會(huì)詳細(xì)討論基本的軟件測(cè)試思想與常用技術(shù),僅針對(duì)在軟件黑盒測(cè)試過(guò)程中若干的問(wèn)題做描述,并提供個(gè)人的參考測(cè)試意見(jiàn)與防范意見(jiàn),希望可以為初學(xué)者提供些許幫助。
2019-06-26 07:44:43

什么是黑盒測(cè)試與白盒測(cè)試

軟件測(cè)試其實(shí)就是對(duì)程序進(jìn)行一些操作,來(lái)發(fā)現(xiàn)程序所存在的缺陷,衡量軟件的質(zhì)量,并對(duì)其是否能滿足設(shè)計(jì)要求進(jìn)行評(píng)估的過(guò)程。
2019-07-22 07:56:47

什么是OTA測(cè)試

對(duì)手機(jī)的輻射性能進(jìn)行考察:一是從天線的輻射性能進(jìn)行判定,是目前較為傳統(tǒng)的天線測(cè)試方法,稱為無(wú)源測(cè)試;另一是在特定微波暗室內(nèi),測(cè)試手機(jī)的輻射功率和接收靈敏度,稱為有源測(cè)試。
2019-08-27 07:28:55

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2008-06-13 13:30:08

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2019-06-06 06:02:51

智能天線的測(cè)試項(xiàng)目及測(cè)試方法是什么?

智能天線有哪些分類?智能天線的測(cè)試項(xiàng)目及測(cè)試方法是什么?
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  如何在眾多選擇中尋找到最佳的測(cè)試電纜?時(shí)代微波系統(tǒng)在此向您介紹一專為生產(chǎn)測(cè)試及實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用而設(shè)計(jì)的理想之選 — SilverLine測(cè)試電纜。以下內(nèi)容將闡述電纜與電纜組件的機(jī)械及電氣性能,以及
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求一測(cè)試平臺(tái)上的阻抗測(cè)試方案

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電池電量的兩測(cè)試方法檢測(cè)普通鋅錳干電池的電量是否充足,通常有兩種方法。第一種方法是通過(guò)測(cè)量電池瞬時(shí)短路電流來(lái)估算電池的內(nèi)阻,進(jìn)而判斷電池電量是否充足;第二種方法是用電流表串聯(lián)一只阻值適當(dāng)?shù)碾娮?/div>
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系統(tǒng)測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試黑盒測(cè)試、白盒測(cè)試、單元測(cè)試、集成測(cè)試的區(qū)別

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2018-01-31 17:07:3317914

基于二分K-means的測(cè)試用例集約簡(jiǎn)方法

測(cè)試用例集約簡(jiǎn)是軟件測(cè)試中的重要研究問(wèn)題之一,目的是以盡量少的測(cè)試用例達(dá)到測(cè)試目標(biāo)。為此,提出一種新的測(cè)試用例集約簡(jiǎn)方法。應(yīng)用二分K-means聚類算法對(duì)回歸測(cè)試測(cè)試用例集進(jìn)行約簡(jiǎn),以白盒測(cè)試
2018-03-12 15:06:230

藍(lán)牙BR/EDR測(cè)試測(cè)試指標(biāo)及其測(cè)試方法

Bluetooth SIG的藍(lán)牙測(cè)試規(guī)范定義了藍(lán)牙無(wú)線測(cè)試指標(biāo)及其測(cè)試方法。藍(lán)牙無(wú)線測(cè)試配置包括一臺(tái)測(cè)試儀和被測(cè)設(shè)備DUT,兩者之間可以通過(guò)射頻線相連也可以通過(guò)天線耦合進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試儀發(fā)送指令激活DUT進(jìn)入測(cè)試模式,并對(duì)測(cè)試儀與DUT之間的藍(lán)牙鏈路的一些參數(shù)進(jìn)行配置。
2018-03-30 08:58:0389674

一文看懂軟件測(cè)試方法和規(guī)范

軟件測(cè)試方法是指測(cè)試軟件的方法。隨著軟件測(cè)試技術(shù)的不斷發(fā)展,測(cè)試方法也越來(lái)越多樣化,針對(duì)性更強(qiáng);選擇合適的軟件測(cè)試方法可以讓我們事半功倍。本文主要介紹的是軟件測(cè)試方法和規(guī)范,跟隨小編一起來(lái)了解一下具體的測(cè)試流程及規(guī)范吧。
2018-04-24 11:39:576878

測(cè)試工程師怎樣進(jìn)階測(cè)試開(kāi)發(fā)工程師

黑盒測(cè)試:沒(méi)有開(kāi)發(fā)基礎(chǔ)的測(cè)試工程師通常由黑盒測(cè)試做起,不過(guò)根據(jù)個(gè)人經(jīng)驗(yàn),這部分工作依然會(huì)給我們帶來(lái)很多經(jīng)驗(yàn)性的東西,比如熟悉瀏覽器特性,熟悉公司業(yè)務(wù)流程,業(yè)務(wù)知識(shí),以及測(cè)試用例的設(shè)計(jì)。
2019-04-26 09:52:372018

黑盒秒開(kāi)智能門鎖 正規(guī)智能鎖產(chǎn)品并不受影響

5月5日,中國(guó)消費(fèi)者協(xié)會(huì)公布了29款智能門鎖比較試驗(yàn)結(jié)果,為驗(yàn)證此傳聞,本次比較試驗(yàn)特別增加了小黑盒攻擊的測(cè)試。測(cè)試結(jié)果顯示28款樣品小黑盒攻擊后門鎖沒(méi)有打開(kāi),只有1款線上購(gòu)買的、品牌標(biāo)稱為“亞摩斯”的無(wú)生產(chǎn)企業(yè)、無(wú)產(chǎn)品型號(hào)標(biāo)注的樣品,被小黑盒攻擊后打開(kāi)。
2019-05-08 09:40:26745

pcb測(cè)試方法

本視頻主要詳細(xì)介紹了pcb測(cè)試方法,分別是手工視覺(jué)測(cè)試、自動(dòng)光學(xué)檢查(AutomatedOpticalInspection,AOI)、功能測(cè)試(FunctionalTest)、飛針測(cè)試機(jī)(Flying-ProbeTester)。
2019-05-24 15:53:047429

測(cè)試電路板的方法有哪些

更密集的PCB、更高的總線速度以及模擬RF電路等等對(duì)測(cè)試都提出了前所未有的挑戰(zhàn),這種環(huán)境下的功能測(cè)試需要認(rèn)真的設(shè)計(jì)、深思熟慮的測(cè)試方法和適當(dāng)?shù)墓ぞ卟拍芴峁┛尚诺?b class="flag-6" style="color: red">測(cè)試結(jié)果。
2019-07-26 15:02:0910246

耐壓測(cè)試儀使用方法_耐壓測(cè)試儀選用測(cè)試

本文主要介紹了耐壓測(cè)試儀使用方法及耐壓測(cè)試儀的選用測(cè)試。
2019-12-19 10:04:103575

ETest黑盒測(cè)試平臺(tái)的使用資料詳細(xì)說(shuō)明

嵌入式系統(tǒng)的軟件測(cè)試越來(lái)越重要,對(duì)其功能、接口和性能測(cè)試要求也越高,需要一種高效通用的黑盒測(cè)試平臺(tái)。ETest是一款通用的黑盒測(cè)試平臺(tái),針對(duì)嵌入式系統(tǒng)軟件的通用測(cè)試平臺(tái)。用一個(gè)測(cè)試實(shí)例,說(shuō)明其通用性、易用性、高效性,功能很清大,可實(shí)現(xiàn)廣泛應(yīng)用。
2020-03-11 08:00:007

數(shù)據(jù)測(cè)試:輸入數(shù)據(jù)的設(shè)計(jì)方法測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法

測(cè)試用例的設(shè)計(jì)是測(cè)試設(shè)計(jì)的重要內(nèi)容,關(guān)于測(cè)試用例的設(shè)計(jì)方法,當(dāng)前不少出版的測(cè)試書和發(fā)表的測(cè)試文章,不少存在著表述錯(cuò)誤,主要是把測(cè)試用例中的輸入數(shù)據(jù)的設(shè)計(jì)方法測(cè)試用例的設(shè)計(jì)方法混為一談,對(duì)測(cè)試初學(xué)者和測(cè)試用例設(shè)計(jì)人員產(chǎn)生誤導(dǎo)。
2020-06-29 10:22:222632

詳談黑盒測(cè)試用例設(shè)計(jì)

黑盒測(cè)試(Black-box Testing,又稱為功能測(cè)試或數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)測(cè)試)是把測(cè)試對(duì)象看作一個(gè)黑盒子。利用黑盒測(cè)試法進(jìn)行動(dòng)態(tài)測(cè)試時(shí),需要測(cè)試軟件產(chǎn)品的功能,不需測(cè)試軟件產(chǎn)品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和處理過(guò)程。
2020-06-29 10:45:312566

軟件測(cè)試的代碼劃分:黑盒白盒灰盒的區(qū)別

黑盒測(cè)試也是功能測(cè)試,測(cè)試中把被測(cè)的軟件當(dāng)成一個(gè)黑盒子,不關(guān)心盒子的內(nèi)部結(jié)構(gòu)是什么,只關(guān)心軟件的輸入數(shù)據(jù)和輸出數(shù)據(jù)。
2020-06-29 11:00:1915975

詳談黑盒測(cè)試與白盒測(cè)試的異同及用例

詳談黑盒測(cè)試與白盒測(cè)試的異同及用例
2020-08-19 17:07:215794

軟件測(cè)試方法有哪些有什么的規(guī)范

軟件測(cè)試方法是指測(cè)試軟件的方法。隨著軟件測(cè)試技術(shù)的不斷發(fā)展,測(cè)試方法也越來(lái)越多樣化,針對(duì)性更強(qiáng);選擇合適的軟件測(cè)試方法可以讓我們事半功倍。本文主要介紹的是軟件測(cè)試方法和規(guī)范,跟隨小編一起來(lái)了解一下具體的測(cè)試流程及規(guī)范吧。
2020-10-06 12:20:008281

淺談PCBA功能測(cè)試方法:有線測(cè)試和無(wú)線測(cè)試

有線測(cè)試夾具一直是功能測(cè)試夾具的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。在較低探針數(shù)的PCBA或設(shè)計(jì)可能發(fā)生變化的原型上,有線測(cè)試夾具提供了一種經(jīng)濟(jì)的方法,因?yàn)樗鼈儽苊饬朔枪こ蹋∟RE)成本。
2021-03-18 11:07:157079

起毛起球評(píng)級(jí)箱的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)及測(cè)試方法的簡(jiǎn)介

二、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)及條件 目前國(guó)內(nèi)對(duì)紡織品起毛起球測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)主要有三種: ①、GB/T4802.3—1997《織物起球試驗(yàn)方法——起球箱法》,測(cè)試條件,不受壓力; ②、GB/T4802.2—1997《織物起球試驗(yàn)方法——馬丁代爾法》,測(cè)試條件,受輕微壓力; ③、GB/T
2021-06-15 11:29:125172

軟件測(cè)試的基本知識(shí) 技術(shù)的優(yōu)缺點(diǎn)分析

黑盒測(cè)試 又叫 功能測(cè)試、數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)測(cè)試 或 基于需求規(guī)格說(shuō)明書的功能測(cè)試。該類測(cè)試注重于測(cè)試軟件的功能性需求。
2022-11-21 09:32:271562

軟件測(cè)試中的功能測(cè)試和非功能測(cè)試

什么是功能測(cè)試? 進(jìn)行功能測(cè)試以確保應(yīng)用程序的功能符合需求規(guī)范。這是黑盒測(cè)試,不涉及應(yīng)用程序源代碼的詳細(xì)信息。在執(zhí)行功能測(cè)試時(shí),重點(diǎn)應(yīng)放在應(yīng)用程序主要功能的用戶友好性上。要首先執(zhí)行功能測(cè)試,我們需要
2023-01-03 17:07:351215

PCBA測(cè)試常見(jiàn)ICT測(cè)試方法

一站式PCBA智造廠家今天為大家講講什么是PCBA測(cè)試的ICT測(cè)試?PCBA測(cè)試常見(jiàn)ICT測(cè)試方法。 PCBA測(cè)試的ICT測(cè)試主要是通過(guò)測(cè)試探針接觸PCBA板上的測(cè)試點(diǎn),可以檢測(cè)出線路的短路、開(kāi)路
2023-05-09 09:25:082172

淺談PCB測(cè)試技術(shù)和測(cè)試方法

今天是關(guān)于 PCB 測(cè)試技術(shù) 、 PCB 測(cè)試方法 。
2023-06-09 12:39:411871

分享芯片功能測(cè)試的五種方法!

芯片功能測(cè)試常用5種方法有板級(jí)測(cè)試、晶圓CP測(cè)試、封裝后成品FT測(cè)試、系統(tǒng)級(jí)SLT測(cè)試、可靠性測(cè)試。
2023-06-09 15:46:581665

代碼的黑盒測(cè)試(上)--目標(biāo)文件測(cè)試Object File Testing

本次為大家介紹VectorCAST/C++在軟件測(cè)試方面的軟件黑盒測(cè)試。
2022-08-01 14:16:58342

代碼的黑盒測(cè)試(下)|?庫(kù)接口測(cè)試Library Interface Testing

本文介紹通過(guò)VectorCAST實(shí)現(xiàn)代碼黑盒測(cè)試的一種方法:庫(kù)接口測(cè)試Library Interface Testing,可以利用工具為API創(chuàng)建測(cè)試用例,來(lái)驗(yàn)證應(yīng)用程序庫(kù)函數(shù)的正確性,而無(wú)需訪問(wèn)源代碼。
2022-08-04 14:37:32566

基于模糊測(cè)試方法實(shí)現(xiàn)車載通信測(cè)試

作者|J小編|吃不飽模糊測(cè)試是網(wǎng)絡(luò)安全測(cè)試領(lǐng)域必然會(huì)被提及的一類測(cè)試方法。它有著極其鮮明的特點(diǎn),包括極低的需求依賴性、可逆向的測(cè)試理念等,與常規(guī)測(cè)試方法顯得是那么的“風(fēng)格迥異”。但同時(shí),這種測(cè)試方法
2022-09-15 11:09:06354

使用TPT進(jìn)行測(cè)試建模/測(cè)試設(shè)計(jì)

自然語(yǔ)言,測(cè)試用例都很容易閱讀和維護(hù)。TPT支持多種測(cè)試方法。功能黑盒測(cè)試、結(jié)構(gòu)或白盒測(cè)試、模塊測(cè)試、集成測(cè)試: 所有這些測(cè)試方法都可以很容易地用TPT建模。
2022-11-25 11:15:50608

電蜂分享測(cè)試LVDS線材的方法有哪些?

在進(jìn)行LVDS線材測(cè)試時(shí),需要遵循標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試方法和流程,確保測(cè)試條件和測(cè)試步驟的一致性和準(zhǔn)確性。標(biāo)準(zhǔn)化的測(cè)試方法有助于消除人為因素和儀器誤差對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響,提高測(cè)試的可重復(fù)性和可比性。
2023-06-16 17:49:07822

PCB飛針測(cè)試幾個(gè)有效的方法

飛針測(cè)試是一個(gè)檢查PCB電性功能的方法(開(kāi)短路測(cè)試)之一。飛測(cè)試機(jī)是一個(gè)在制造環(huán)境測(cè)試PCB抄板的系統(tǒng)。不是使用在傳統(tǒng)的在線測(cè)試機(jī)上所有的傳統(tǒng)針床(bed-of-nails)界面,飛針測(cè)試使用四到八個(gè)獨(dú)立控制的探針,移動(dòng)到測(cè)試中的元件。
2023-08-21 14:39:03675

小阻值電阻用什么表測(cè)?小阻值電阻的測(cè)試方法

小阻值電阻用什么表測(cè)?小阻值電阻的測(cè)試方法? 小阻值電阻是指電阻值較小的電阻,通常指的是小于1歐姆的電阻。小阻值電阻在電子元器件中使用廣泛,特別是在高精度、高頻率和低噪聲的應(yīng)用中,因此,其測(cè)試方法
2023-08-24 15:17:111893

V2X功能測(cè)試用例設(shè)計(jì)及測(cè)試分類方法

汽車行業(yè)中,任何一款產(chǎn)品的上線都離不開(kāi)測(cè)試工作,在整個(gè)測(cè)試工作中,測(cè)試人員通過(guò)使用不同的測(cè)試技術(shù)來(lái)創(chuàng)建測(cè)試用例,保證測(cè)試活動(dòng)的全面性和高效性。根據(jù)ISTQB可以將測(cè)試技術(shù)分為黑盒、白盒和基于經(jīng)驗(yàn)
2023-09-07 08:27:13357

開(kāi)關(guān)電源帶載測(cè)試方法是什么?怎么測(cè)試?

開(kāi)關(guān)電源帶載測(cè)試也叫開(kāi)關(guān)電源負(fù)載測(cè)試,是檢測(cè)電源輸出性能的重要測(cè)試方法之一,如輸出電壓、電流、效率、紋波等參數(shù)。通過(guò)測(cè)試來(lái)評(píng)估開(kāi)關(guān)電源的輸出穩(wěn)定性,保證電源可以正常工作。
2023-10-27 15:29:19949

半導(dǎo)體可靠性測(cè)試有哪些測(cè)試項(xiàng)目?測(cè)試方法是什么?

可靠性測(cè)試是半導(dǎo)體器件測(cè)試的一項(xiàng)重要測(cè)試內(nèi)容,確保半導(dǎo)體器件的性能和穩(wěn)定性,保證其在各類環(huán)境長(zhǎng)時(shí)間工作下的穩(wěn)定性。半導(dǎo)體可靠性測(cè)試項(xiàng)目眾多,測(cè)試方法多樣,常見(jiàn)的有高低溫測(cè)試、熱阻測(cè)試、機(jī)械沖擊測(cè)試、引線鍵合強(qiáng)度測(cè)試等。
2023-11-09 15:57:52748

測(cè)試焊接質(zhì)量的方法,推拉力測(cè)試機(jī)測(cè)試方法

焊點(diǎn)推力測(cè)試是一種測(cè)試焊接質(zhì)量的方法,它可以檢測(cè)焊點(diǎn)的強(qiáng)度和耐久性。測(cè)試時(shí),將焊點(diǎn)固定在測(cè)試機(jī)上,然后施加一定的力量來(lái)測(cè)試焊點(diǎn)的承載能力。測(cè)試結(jié)果可以用來(lái)評(píng)估焊接的質(zhì)量和可靠性,以及確定焊接是否符合
2023-12-11 17:59:52253

紋波電壓的正確測(cè)試方法

 過(guò)大的紋 波電壓對(duì)受電設(shè)備會(huì)造成不良影響,在設(shè)計(jì)制作樣品時(shí),我們要測(cè)試驗(yàn)證電源的輸出紋波電壓是否符合設(shè)計(jì)要求,但是往往 由于測(cè)試方法不對(duì),造成測(cè)試偏差比較大,下面我們介紹紋波電壓的正確測(cè)試方法。
2023-12-15 10:59:50678

開(kāi)關(guān)電源功率如何測(cè)試?有哪些測(cè)試方法?開(kāi)關(guān)電源測(cè)試軟件的測(cè)試優(yōu)勢(shì)是什么?

開(kāi)關(guān)電源功率常見(jiàn)的測(cè)試方法有:通過(guò)測(cè)量電壓和電流來(lái)計(jì)算出功率、使用功率計(jì)直接測(cè)出功率。這兩種測(cè)試方法各有優(yōu)點(diǎn)與不足。以自動(dòng)化方式測(cè)試開(kāi)關(guān)電源工率,用開(kāi)關(guān)電源測(cè)試軟件不僅可以提高測(cè)試速度,還可以對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行多維度分析,確保測(cè)試數(shù)據(jù)和結(jié)果可靠性。
2023-12-20 16:03:42637

電路板振動(dòng)測(cè)試測(cè)試方法

電路板振動(dòng)測(cè)試測(cè)試方法 電路板振動(dòng)測(cè)試是一種對(duì)電路板進(jìn)行可靠性和穩(wěn)定性的測(cè)試方法。在實(shí)際運(yùn)行中,電路板可能會(huì)受到機(jī)械振動(dòng)的影響,例如由于交通運(yùn)輸、設(shè)備震動(dòng)或其他外部因素引起的振動(dòng)。這些振動(dòng)可能導(dǎo)致
2024-02-01 15:48:23392

如何使用EMC測(cè)試軟件執(zhí)行輻射抗擾度測(cè)試?(一)測(cè)試方法

一、前言 輻射抗擾度測(cè)試是對(duì)對(duì)講機(jī)、移動(dòng)電話、便攜式電話和廣播發(fā)射機(jī)等強(qiáng)發(fā)射機(jī)產(chǎn)生的射頻場(chǎng)的模擬。 二、測(cè)試方法 在輻射抗擾度測(cè)試期間,測(cè)試電波暗室中會(huì)產(chǎn)生射頻場(chǎng)。不同的EMC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)使用不
2024-03-11 15:03:06126

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