IC芯片測試專業(yè)研發(fā)各類BGA/QFN測試座、老化座(Burn-in & Test Socket)； &
2009-12-05 16:45:29
Flash連接到MCU的嵌入式系統(tǒng)，其約束是完全不同的。了解這些差異將幫助開發(fā)人員避免代價(jià)高昂且耗時(shí)的錯(cuò)誤。明確需求為了在面對NAND Flash的細(xì)微差別時(shí)，做出良好的設(shè)計(jì)決策，開發(fā)人員必須仔細(xì)確定系統(tǒng)
2020-09-04 13:51:34
求教 對ad8367進(jìn)行VGA測試時(shí)發(fā)現(xiàn)DETO 管腳為1.9V，完全按照手冊figure33圖連接，對DETO 進(jìn)行電壓測試時(shí)，DETO 管腳和7ICOM管腳是否需要連接接地，對輸入信號200MV，68.2HZ的正弦信號可以嗎？為什么輸出信號為雜波
2018-12-20 09:11:46
IC卡管腳的特性，進(jìn)行測試；5.LCD顯示二維碼做測試，測試主機(jī)掃碼判斷測試結(jié)果，并通過取消、確認(rèn)鍵告知結(jié)果；6.蜂鳴器測試，測試主機(jī)用咪頭感應(yīng)測試結(jié)果，并通過取消、確認(rèn)鍵告知結(jié)果；7.打印測試，打印二維碼做測試，測試主機(jī)掃碼判斷測試結(jié)果，并通過取消、確認(rèn)鍵告知結(jié)果；...
2022-02-11 07:03:24
。請幫我確認(rèn)一下。3、我們的PCB為了節(jié)省空間，只想用兩片16bit的內(nèi)存，也就是只連接DDRC0控制器，總?cè)萘繛?GB，另外一個(gè)DDRC1不連接，請問將來跑linux系統(tǒng)和DSP算法同時(shí)運(yùn)行，這樣設(shè)計(jì)能否滿足要求？希望大家給予幫助，謝謝大家了。
2018-05-28 13:30:39
工具： DVRRDK中的nand-flash-writer.out，CCS編譯通過；板子DDR3已通過BSL代碼的測試，并作了SWleveling
2019-02-22 10:15:44
如圖所示，這個(gè)IC 充電狀態(tài)管腳高低電平的狀態(tài)靠什么檢測？
2021-01-06 14:41:24
什么以獲得非 XIP 應(yīng)用程序？ 任何 mcubootutility 內(nèi)置示例現(xiàn)在得到的結(jié)果如下： SEMC NAND有沒有已經(jīng)做好的測試文件？
2023-03-29 07:39:05
在嵌入式系統(tǒng)領(lǐng)域，做為存儲設(shè)備的NOR flash和NAND flash，大家應(yīng)該不陌生。早期NOR flash的接口是并行口的形式，也就是把數(shù)據(jù)線，地址線并排設(shè)置與IC的管腳中。但是由于不同容量
2018-08-07 17:01:06
一般可通過PAD
連接閃存，比如Cadence公司的Octal-SPI
NAND Flash controller, 支持8-bit的數(shù)據(jù)和地址傳輸，這樣的速度會比傳統(tǒng)的單比特串行SPI快很多。因?yàn)?/div>
2022-07-01 10:28:37
TSOP48測試機(jī)，BGA植球返修， IC測試架(BGA IC測試治具和BGA 測試座)。如QFP測試座，QFN測試座FPC測試架內(nèi)存條測試治具 手機(jī)測試治具 BGA植球 BGA燒錄座 ,U盤測試
2011-05-18 13:22:24
VI Tree.vi 程序中可以添加VISA寫入函數(shù)，用示波器觀察RS232接口Txd 引腳波形，與模擬程序的波形比較。
2015-03-28 05:05:39
本公司長年提供IC測試服務(wù) ，具體服務(wù)內(nèi)容如下： IC封裝測試服務(wù)：利用BOUNDARY SCAN（邊界掃描）測試設(shè)備提供FPGA、PLD、ARM、DSP等常見器件型號驗(yàn)證及管腳
2009-07-21 11:40:36
arm device tree 設(shè)備樹分享 掙分
2013-04-16 18:21:24
不錯(cuò)的選擇,正好一個(gè)項(xiàng)目在選擇NAND存儲方案, 恰巧論壇中聯(lián)系到雷龍公司申請到了兩片SD NAND,所以就進(jìn)行一下測試評估。 SD NAND是什么? 為什么選擇SD NAND? 其與TF/SD卡
2023-04-18 23:03:42
互連的開路與短路故障,可采用外部測試加以驗(yàn)證: ·測試PCB上總線的完整性,通過其測試可檢測與總線相連的IC芯片I/O管腳是否存在開路故障?！ ‰S著BST技術(shù)的不斷發(fā)展,PCB測試將逐步完善。由于
2018-09-10 16:50:00
，通過我們公司的"基于U盤測試夾具"測試后可以將閃存部分沒有損壞的eMMC IC用作U盤FLASH; C、我們最近推出一拖四、一拖八NAND Flash燒錄器，可以
2013-05-27 22:01:53
同步博客地址：從STM32開始的RoboMaster生活：進(jìn)階篇 V [Clock Tree]項(xiàng)目&教程倉庫：-STM32-RoboMaster-1.0 什么是Clock Tree？1.1
2021-08-11 08:41:57
卡有著本質(zhì)上的區(qū)別。
SD NAND 與 TF卡的區(qū)別：（看圖表）
SD和TF區(qū)別
LGA-8封裝
什么是LGA-8封裝？
LGA-8封裝是一種將芯片引腳通過電路板的層間連接
2024-01-05 17:54:39
剖析線纜與連接器技術(shù)的測試要點(diǎn)
2021-05-11 07:17:13
件（草稿件由客人確認(rèn)清楚）4.確認(rèn)OK后，我司會安排在IC防火測試報(bào)告電子檔正式文件給客戶5.寄出正本文件IC-4防火測試報(bào)告申請周期：5-7個(gè)工作日QQ3004686958電話（微信同號）***楊先生
2020-05-27 11:09:07
件（草稿件由客人確認(rèn)清楚）4.確認(rèn)OK后，我司會安排在IC防火測試報(bào)告電子檔正式文件給客戶5.寄出正本文件IC-4防火測試報(bào)告申請周期：5-7個(gè)工作日QQ3004686958電話（微信同號）***楊先生
2020-05-27 11:12:17
如何采用多功能混合信號管腳實(shí)現(xiàn)汽車IC的高效益低成本測試？
2021-05-12 07:00:42
求教 對ad8367進(jìn)行VGA測試時(shí)發(fā)現(xiàn)DETO 管腳為1.9V，完全按照手冊figure33圖連接，對DETO 進(jìn)行電壓測試時(shí)，DETO 管腳和7ICOM管腳是否需要連接接地，對輸入信號200MV，68.2HZ的正弦信號可以嗎？為什么輸出信號為雜波
2023-11-23 07:03:29
`需求IC與FPC貼片后的成品 測試軟件與工具,要求如下：因?yàn)?b class="flag-6" style="color: red">IC是舊IC，所以IC在貼片后需要對FPC成品進(jìn)行測試1.測試位置：FPC下面的一排金手指與IC四周的PIN角是否有開短路,如圖片2.要求測試工具1帶3，直接顯示PASS`
2020-03-23 09:44:03
1目的：[/td] 為了規(guī)范公司對于元器件的技術(shù)評定，確保元器件達(dá)到我司質(zhì)量要求，特制定本標(biāo)準(zhǔn)。 2適用范圍： 本標(biāo)準(zhǔn)用于公司工程對器件選型認(rèn)證測試。 3測試方法： 原則
2015-05-16 16:46:45
件（草稿件由客人確認(rèn)清楚）4.確認(rèn)OK后，我司會安排在IC防火測試報(bào)告電子檔正式文件給客戶5.寄出正本文件IC-4防火測試報(bào)告申請周期：5-7個(gè)工作日QQ3004686958電話（微信同號）***楊先生
2020-05-28 10:17:44
測試應(yīng)用范圍：8寸以內(nèi)Wafer，IC測試，IC設(shè)計(jì)等芯片失效分析探針臺測試probe測試內(nèi)容：1.微小連接點(diǎn)信號引出2.失效分析失效確認(rèn)3.FIB電路修改后電學(xué)特性確認(rèn)4.晶圓可靠性驗(yàn)證來源：知乎`
2020-10-16 16:05:57
Hi, Ti的技術(shù)支持
請幫忙確認(rèn)一下AM335x處理器的Timer7工作是否正常，分下面二種情況進(jìn)行測試：
1. 在cpsw驅(qū)動中，將定時(shí)器改成Timer6和Timer7的組合，測試網(wǎng)絡(luò)功能是否
2018-06-04 02:30:19
rmii2_crs_dv只復(fù)用到這個(gè)管腳上，在其它管腳沒有復(fù)用。由am335x技術(shù)手冊可知從nand啟動必須要使用gpmc_wait0這個(gè)管腳，這顯然與rmii2接口沖突了?，F(xiàn)在要求從nand啟動且使用雙網(wǎng)卡(rmii接口)，該怎么辦
2018-06-20 06:56:29
一、無線數(shù)字設(shè)備發(fā)射機(jī)特性測試技術(shù) 移動終端和個(gè)人電腦的無線數(shù)據(jù)功能已發(fā)展為多頻帶、多系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，導(dǎo)致對前端器件需求的迅速增加。目前，簡單易用、輕便及低成本終端已成為市場趨勢，由此引起市場對小巧
2019-06-05 08:12:26
提出了一種適合于數(shù)據(jù)遷移、又能保證分布并行特性的樹結(jié)構(gòu)DPB+-Tree，討論了基于DPB+-Tree的數(shù)據(jù)遷移策略，其中數(shù)據(jù)節(jié)點(diǎn)遷移采用分布式提交協(xié)議來保證原子性，索引重構(gòu)通過對
2009-03-10 20:57:04
8 時(shí)空數(shù)據(jù)的索引結(jié)構(gòu)中，HR-tree可以高效處理時(shí)間片查詢，但對時(shí)間段查詢效率低下，同時(shí)存在存儲冗余。3D-tree索引的效率較低，雙樹結(jié)構(gòu)使索引維護(hù)較為困難，且磁盤訪問開銷大。
2009-04-06 08:57:1311 非接觸IC 卡模塊封裝技術(shù)中電智能卡有限責(zé)任公司1、簡介非接觸式IC 卡模塊是IC 卡的心臟，是通過專業(yè)封裝技術(shù)將IC 芯片和引線框架以特定的連接方式組合在一起， 由
2009-12-15 14:37:2768
IC卡座與CPU連接的電路
2009-02-25 21:35:10
1348 
NAND FLASH在儲存測試系統(tǒng)中的應(yīng)用
0 引言
計(jì)算機(jī)技術(shù)的高速發(fā)展，存儲系統(tǒng)容量從過去的幾KB存儲空間，到現(xiàn)在的T8；乃至不久的將來要達(dá)到的PB存儲空間，
2009-11-07 10:21:25857 IC測試常見問答提供了IC測試中最常見到的一些問題并給出了解決方法，希望對您有所幫助！
2012-02-03 16:40:383528 本文通過分析ZigBee協(xié)議中Cluster-Tree和AODVjr算法的優(yōu)缺點(diǎn)，提出一種基于Cluster-Tree+AODVjr的優(yōu)化路由算法。
2012-11-08 11:02:566161 近期在學(xué)校如何寫linux的設(shè)備驅(qū)動，這片文章告訴我們?yōu)槭裁匆M(jìn)設(shè)備樹Device Tree，以及舉例說明設(shè)備樹是怎樣寫的
2015-11-17 18:16:0821 IC測試技術(shù)--設(shè)計(jì)驗(yàn)證，可以下來看看。
2016-12-14 21:50:0353 集成電路測試（IC測試）主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開，保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。隨著集成電路的飛速發(fā)展，其規(guī)模越來越大，對電路的質(zhì)量與可靠性要求進(jìn)一步提高，集成電路的測試方法也變得
2017-10-20 09:57:4370 集成電路（Integrated Circuit，IC）測試技術(shù)是集成電路產(chǎn)業(yè)中不可或缺的重要組成部分，而測試設(shè)備是IC測試技術(shù)的一種重要工具。模擬IC自動測試系統(tǒng)是一款針對模擬IC直流參數(shù)和交流參數(shù)
2017-11-15 16:27:5215 NAND Flash控制IC大廠群聯(lián)日前宣布，PCI-e規(guī)格的固態(tài)硬碟（SSD）晶片已經(jīng)通過3D NAND Flash BiCS3測試，下半年將成為PC／NB OEM的SSD市場主流規(guī)格，將可望擴(kuò)大SSD市占率。
2018-08-03 16:08:211946 一些背景知識（例如：為何要引入Device Tree，這個(gè)機(jī)制是用來解決什么問題的）請參考引入Device Tree的原因，本文主要是介紹Device Tree的基礎(chǔ)概念。
2019-05-10 11:33:051080 
DE 10 Nano Power Tree
2021-02-04 16:26:347 DE 10 Nano Power Tree
2021-03-06 10:42:373 HTG-K816 Power Tree
2021-03-10 14:13:400 Basys 3 Power Tree
2021-03-10 14:16:4014 HTG-830 Power Tree
2021-03-10 14:19:401 HTG-Z100 Power Tree
2021-03-10 14:20:412 HTG-K800 Power Tree
2021-03-10 14:28:411 HTG-9100 Power Tree
2021-03-10 14:44:423 i.MX7 96Board Power Tree
2021-03-11 08:55:091 QorIQ LS1088A-RDB Power Tree
2021-03-11 08:59:090 QorIQ LS1043A-RDB Power Tree
2021-03-11 09:01:093 NOVPEK i.MX6Q/D Power Tree
2021-03-11 09:02:091 IC卡管腳的特性，進(jìn)行測試；5.LCD顯示二維碼做測試，測試主機(jī)掃碼判斷測試結(jié)果，并通過取消、確認(rèn)鍵告知結(jié)果；6.蜂鳴器測試，測試主機(jī)用咪頭感應(yīng)測試結(jié)果，并通過取消、確認(rèn)鍵告知結(jié)果；7.打印測試，打印二維碼做測試，測試主機(jī)掃碼判斷測試結(jié)果，并通過取消、確認(rèn)
2021-12-07 20:51:137 ? 今天邀請到賽靈思專家和大家分享下如何在?Petalinux?下定位?decice-tree?錯(cuò)誤的一些技巧。? 首先我們來了解下 Petalinux 工程中 device-tree 的文件位置
2022-07-21 09:16:081668 一．什么是軟件產(chǎn)品測試？ 確認(rèn)測試也稱有效性測試，即驗(yàn)證軟件的功能、性能及其它特性是否與用戶的要求一致。軟件確認(rèn)測試是在模擬的環(huán)境下，驗(yàn)證軟件是否滿足需求規(guī)格說明書列出的需求。為此，需要首先制定測試
2022-10-22 22:52:30793 
大家應(yīng)該熟悉或了解 Linux 中的目錄結(jié)果，它就像樹的根。這正是 tree 命令的概念。它以樹狀方式顯示當(dāng)前目錄及其子目錄的內(nèi)容。
2023-01-04 16:59:561404 
IC測試座是一種常用于集成電路測試的工具，它可以通過將芯片插入座子中進(jìn)行信號傳輸、功能測試、參數(shù)測試等多項(xiàng)檢測。IC測試座的主要用途包括以下幾個(gè)方面：
2023-06-02 14:23:36518 IC測試座是一種專門用于測試集成電路（IC）的工具，也被稱為IC插座或者IC測試夾。
2023-06-19 15:07:23576 
德索五金電子工程師指出，鹽霧測試通常用于水下環(huán)境并且通常用來評估金屬連接器外殼的耐腐蝕性通過檢查絕緣電阻來確認(rèn)暴露后的零件的性能，來確定殼體密封件是有效的。
2023-05-05 17:27:06237 
IC測試座是一種用于測試集成電路（IC）和其他電子元件的工具，它將元件安裝在座上，可以用來連接電源和測試設(shè)備，并將測試結(jié)果反饋給用戶。
2023-06-29 13:50:05541 
芯片測試座又稱：IC Socket 、 IC 測試座、IC插座。
2023-07-08 15:13:181447 
測試插座的主要起著一個(gè)連接導(dǎo)通的作用，用于集成電路應(yīng)用功能驗(yàn)證。它是PCB與IC之間的靜態(tài)連接器，可以讓芯片的更換測試更方便，不用一直重復(fù)焊接和取下芯片，從而減少IC與PCB的損傷，以及達(dá)到快速高效的測試效果。
2023-07-11 10:11:32455 
它的主要作用是將待測的IC芯片插入其中，與測試儀器連接，進(jìn)行信號測試、功耗測試、溫度測試等多項(xiàng)測試。
2023-07-18 14:21:09313 在IC芯片測試中，芯片測試座起著至關(guān)重要的作用。它是連接芯片和測試設(shè)備的關(guān)鍵橋梁，為芯片提供測試所需的電流和信號。
2023-07-25 14:02:50632 ic芯片電源管腳并聯(lián)小電容的作用? IC（Integrated Circuit）芯片是現(xiàn)代電子設(shè)備中不可或缺的重要組成部分，其能夠集成多個(gè)晶體管、電容、電阻等器件，從而實(shí)現(xiàn)各種復(fù)雜的電路功能。在IC
2023-09-05 14:41:161231 集成電路（Integrated Circuit，IC）是現(xiàn)代電子設(shè)備的核心組件之一，而為了確保IC的質(zhì)量和性能，需要進(jìn)行各種測試。IC測試是一個(gè)多層次、復(fù)雜而關(guān)鍵的過程，旨在檢測和驗(yàn)證IC是否符合設(shè)計(jì)規(guī)格。本文將介紹IC測試的分類，涵蓋了各種類型的測試，以及其在半導(dǎo)體制造和電子設(shè)備領(lǐng)域中的重要性。
2023-10-20 09:00:231292 
IC測試原理 IC 測試是指依據(jù)被測器件（DUT）特點(diǎn)和功能，給DUT提供測試激勵(lì)（X），通過測量DUT 輸出響應(yīng)（Y）與期望輸出做比較，從而判斷DUT是否符合格。圖1所示為IC測試的基本原理模型
2023-10-30 11:16:58845 
IC芯片測試基本原理是什么？ IC芯片測試是指對集成電路芯片進(jìn)行功能、可靠性等方面的驗(yàn)證和測試，以確保其正常工作和達(dá)到設(shè)計(jì)要求。IC芯片測試的基本原理是通過引入測試信號，檢測和分析芯片的響應(yīng)，以判斷
2023-11-09 09:18:37903 目前，Marvell以自主開發(fā)或外包的方式，為掌握nand閃存ic市場而展開競爭。因此，Marvell在企業(yè)市場上的運(yùn)營受到了影響，Marvell正在縮小相關(guān)團(tuán)隊(duì)。
2023-11-17 10:28:48362 
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