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數(shù)據(jù)分析法 - 基于邊界掃描的電路板測(cè)試系統(tǒng)

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再好的電路板,哪能沒(méi)有測(cè)試點(diǎn)!

基本上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)的目的是為了測(cè)試電路板上的零組件有沒(méi)有符合規(guī)格以及焊性。
2022-02-08 16:09:3112

JTAG(四) 邊界掃描測(cè)試技術(shù)

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2021-12-20 19:47:3318

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在本文中,我們將回顧在早期的DFT(可測(cè)試性設(shè)計(jì))階段使用邊界掃描標(biāo)準(zhǔn),以增強(qiáng)可測(cè)試性以?xún)?yōu)化您的測(cè)試策略。 您是否面臨著在高工作頻率的器件下,高速電路板設(shè)計(jì)信號(hào)完整性問(wèn)題? 由于高速走線的阻抗靈敏度
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電路板設(shè)計(jì)為什么要加測(cè)試點(diǎn)

接下來(lái)為大家介紹電路板設(shè)計(jì)為什么要加測(cè)試點(diǎn)?
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DSP電路板測(cè)試中的邊界掃描技術(shù)研究綜述

針對(duì)含DSP電路板測(cè)試與診斷問(wèn)題,本文提出一種利用邊界掃描技術(shù)和傳統(tǒng)的外部輸入矢量測(cè)試相結(jié)合的方法,對(duì)含DSP電路板中的邊界掃描器件的器件及非邊界掃描器件進(jìn)行了測(cè)試。較大的改善了含DSP電路板測(cè)試覆蓋率和定位精度,具有非常重要的實(shí)用價(jià)值。
2021-04-13 16:35:039

基于MERGE邊界掃描測(cè)試模型實(shí)現(xiàn)雷達(dá)數(shù)字自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

以新型雷達(dá)裝備數(shù)字電路維修保障為背景,提出了“MERGE(組合)”邊界掃描測(cè)試模型的建立方法,基于此方法,設(shè)計(jì)了完善的便攜式數(shù)字電路自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),解決了ICT 測(cè)試、功能測(cè)試及傳統(tǒng)邊界掃描測(cè)試TPS
2021-03-29 11:31:121936

印制電路板如何幫助您測(cè)試電路板原理圖?

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2020-11-09 19:06:142282

便攜式邊界掃描故障診斷儀的軟硬件設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

邊界掃描技術(shù)的核心思想是在器件內(nèi)部的核心邏輯與I/O引腳之間插入的邊界掃描單元,它在芯片正常工作時(shí)是“透明”的,不影響電路板的正常工作。各邊界掃描單元以串行方式連接成掃描鏈,通過(guò)掃描輸入端將測(cè)試矢量
2020-08-23 10:56:42597

邊界掃描測(cè)試解決方案的原理及應(yīng)用分析

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2020-03-27 14:23:461968

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2019-09-08 10:58:401599

電路板設(shè)計(jì)基礎(chǔ)有哪些問(wèn)題

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2019-08-26 09:20:13546

你了不了解邊界掃描

會(huì)進(jìn)行邊界掃描測(cè)試,然后進(jìn)行全面的功能測(cè)試,以確保正確的實(shí)時(shí)數(shù)字和模擬性能。
2019-08-14 23:00:004629

電路板的板子測(cè)試有哪兩種方法

電路板制作完成之后,就需要用一些測(cè)試工具來(lái)對(duì)電路板進(jìn)行檢查,以確保生產(chǎn)出來(lái)的電路板是符合要求的合格電路板。通常電路板的板子測(cè)試有以下兩種方法:
2019-07-30 17:13:5214003

什么是電路板及PCB抄的作用?

,然后將這些技術(shù)文件和生產(chǎn)文件用于PCB,電路板焊接,飛針測(cè)試,電路板調(diào)試,原電路完成。電路板模板的完整副本。
2019-07-28 11:15:1211097

電路板功能測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試對(duì)象及特點(diǎn)是什么

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2019-07-26 15:11:485400

音響電路板壞了修理方法

使用電路在線維修測(cè)試儀進(jìn)行檢測(cè)時(shí),如果情況允許,最好是有一塊與待修一樣的好電路板作為參照。然后使用測(cè)試儀的雙棒VI曲線掃描功能對(duì)兩塊進(jìn)行好、壞對(duì)比測(cè)試。開(kāi)始的對(duì)比測(cè)試點(diǎn)可以從電路板的端口開(kāi)始;然后由表及里,尤其是對(duì)電容器的對(duì)比測(cè)試。這可彌補(bǔ)萬(wàn)用表在線難以測(cè)出電容是否漏電的缺憾。
2019-06-10 14:37:4241783

怎樣測(cè)試電路板故障

本文詳細(xì)介紹看測(cè)試電路板故障的方法,另外還介紹了電路板故障現(xiàn)象時(shí)好時(shí)壞的維修方法。
2019-04-25 15:28:2812316

如何在邊界掃描機(jī)制下增加級(jí)互連的故障診斷覆蓋率

邊界掃描技術(shù)的基本思想是在芯片管腳和內(nèi)部邏輯之間增加了串聯(lián)在一起的移位寄存器組,在邊界掃描測(cè)試模式下,寄存器單元在相應(yīng)的指令下控制引腳狀態(tài),從而對(duì)外部互連及內(nèi)部邏輯進(jìn)行測(cè)試邊界掃描結(jié)構(gòu)定義了4個(gè)基本硬件單元:測(cè)試存取口(TAP)、TAP控制器、指令寄存器和測(cè)試數(shù)據(jù)寄存器組。
2019-04-25 15:09:571089

邊界掃描技術(shù)的詳細(xì)資料描述

安捷倫邊界掃描軟件包支持符合IEEE標(biāo)準(zhǔn)1149.1的數(shù)字設(shè)備的測(cè)試。測(cè)試開(kāi)發(fā)人員可以有效和高效地測(cè)試數(shù)字設(shè)備,同時(shí)顯著減少測(cè)試開(kāi)發(fā)時(shí)間。當(dāng)邊界掃描被實(shí)現(xiàn)時(shí),故障覆蓋和診斷可以增加。本章提供了關(guān)于邊界掃描和IEEE標(biāo)準(zhǔn)1149.1的概述和背景信息。
2018-12-04 08:00:0021

針對(duì)含DSP電路板測(cè)試方法與診斷分析

電路板中形成了邊界掃描鏈,支持邊界掃描。本文采用邊界掃描技術(shù)與傳統(tǒng)的外部輸入矢量測(cè)試方法相結(jié)合,為含DSP電路板測(cè)試與診斷提供了可以借鑒的方法。
2018-09-05 08:13:008039

TMS320VC5510 GGW BSDL Model邊界掃描DSP模型的詳細(xì)資料概述

邊界掃描(Boundary Scan)測(cè)試發(fā)展于上個(gè)世紀(jì)90年代,隨著大規(guī)模集成電路的出現(xiàn),印制電路板制造工藝向小,微,薄發(fā)展,傳統(tǒng)的ICT 測(cè)試已經(jīng)沒(méi)有辦法滿足這類(lèi)產(chǎn)品的測(cè)試要求。由于芯片的引腳多
2018-05-03 17:48:185

邊界掃描測(cè)試應(yīng)用與九大指令

對(duì)于需要進(jìn)行IC元件測(cè)試的設(shè)計(jì)人員來(lái)說(shuō),只要根據(jù)TA P控制器的狀態(tài)機(jī),設(shè)計(jì)特定的控制邏輯,就可以進(jìn)行IC元件的邊界掃描測(cè)試或利用JTA G接口使IC元件處于某個(gè)特定的功能模式。
2018-03-03 14:26:086218

邊界掃描測(cè)試技術(shù)的原理解析

邊界掃描測(cè)試有兩大優(yōu)點(diǎn) :一個(gè)是方便芯片的故障定位,迅速準(zhǔn)確地測(cè)試兩個(gè)芯片管腳的連接是否可靠,提高測(cè)試檢驗(yàn)效率;另一個(gè)是,具有 JTAG接口的芯片,內(nèi)置一些預(yù)先定義好的功能模式,通過(guò)邊界掃描通道來(lái)使芯片處于某個(gè)特定的功能模式,以提高系統(tǒng)控制的靈活性和方便系統(tǒng)設(shè)計(jì)。
2018-03-03 14:15:1522658

電路板清洗技術(shù)詳解_電路板怎么清洗_電路板清洗方法

電路板的名稱(chēng)有:陶瓷電路板,氧化鋁陶瓷電路板,氮化鋁陶瓷電路板,線路,PCB,鋁基板,高頻,厚銅板,阻抗,PCB,超薄線路,超薄電路板,印刷(銅刻蝕技術(shù))電路板等。
2018-02-27 15:46:3282203

邊界掃描測(cè)試的基本原理及其測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

隨著超大規(guī)模集成電路(VLSI)、表面安裝器件(SMD)、多層印制電路板(MPCB)等技術(shù)的發(fā)展,電路板的常規(guī)測(cè)試方式面臨挑戰(zhàn)。介紹了邊界掃描技術(shù)及邊界掃描測(cè)試的基本原理,提出了一種基于邊界掃描技術(shù)
2017-12-01 10:50:1617

電路板功能測(cè)試解決方案

電路板功能測(cè)試(FCT)解決方案
2017-11-06 16:37:3136

邊界掃描測(cè)試技術(shù)在帶DSP芯片數(shù)字電路板測(cè)試中的應(yīng)用解析

0 引言 在現(xiàn)代雷達(dá)系統(tǒng)中,帶有DSP(數(shù)字信號(hào)處理器)芯片的數(shù)字電路板應(yīng)用很廣。DSP芯片基本支持IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn),并且在電路板中形成了邊界掃描鏈,支持邊界掃描測(cè)試。 在DSP電路板中有
2017-11-03 15:11:403

電路板ICT、FCT測(cè)試解決方案

電路板ICT、FCT測(cè)試解決方案
2017-10-24 13:48:1981

手動(dòng)電路板測(cè)試治具介紹與印制電路板手動(dòng)測(cè)試原理及案例分析

1、印制電路板手動(dòng)測(cè)試治具介紹: 手動(dòng)電路板測(cè)試治具是指:通過(guò)針床、手動(dòng)測(cè)試治具、印制插腳、輸入/輸出接口,向被測(cè)電路板施加控制信號(hào)及輸入信號(hào),并實(shí)時(shí)讀取被測(cè)電路板的輸出信號(hào),通過(guò)一系列的數(shù)據(jù)
2017-09-27 14:58:3218

簡(jiǎn)述BSDL邊界掃描語(yǔ)言,BSDL邊界掃描語(yǔ)言的應(yīng)用

BSDL邊界掃描語(yǔ)言的邊界掃描是一個(gè)完善的測(cè)試技術(shù)。 邊界掃描在自當(dāng)聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)組(JTAG)90年代初發(fā)明了一種解決方案來(lái)測(cè)試使用了許多新的印刷電路,正在開(kāi)發(fā)和制造的地方幾乎沒(méi)有或根本沒(méi)有測(cè)試探針的物理訪問(wèn)。
2017-04-19 14:49:487612

Cyclone_IV器件的JTAG邊界掃描測(cè)試

電子專(zhuān)業(yè)單片機(jī)相關(guān)知識(shí)學(xué)習(xí)教材資料之Cyclone_IV器件的JTAG邊界掃描測(cè)試
2016-09-02 16:54:4013

邊界掃描測(cè)試的原理及應(yīng)用設(shè)計(jì)

邊界掃描測(cè)試的原理及應(yīng)用設(shè)計(jì),有需要的下來(lái)看看。
2016-02-16 18:25:4424

安捷倫推出Agilent x1149邊界掃描分析儀

安捷倫科技公司(NYSE:A)日前宣布推出 Agilent x1149 邊界掃描分析儀。x1149 邊界掃描分析儀是一款功能廣泛、使用方便的電路板測(cè)試工具,能夠幫助用戶進(jìn)行電路板設(shè)計(jì)和驗(yàn)證
2013-02-20 11:06:203981

基于邊界掃描技術(shù)的級(jí)測(cè)試分析

隨著支持IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)的邊界掃描芯片的廣泛應(yīng)用,傳統(tǒng)的電路板測(cè)試方法如使用萬(wàn)用表、示波器探針,已不能滿足級(jí)測(cè)試的需求,相反一種基于級(jí)測(cè)試邊界掃描技術(shù)得到了迅速發(fā)
2012-05-30 15:06:4244

通用電路板自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

介紹了一種通用的電路板自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)。系統(tǒng)從針床到測(cè)試軟件的各個(gè)環(huán)節(jié)都采用了開(kāi)放型的設(shè)計(jì),通用性很強(qiáng),可以用于多種電路板的自動(dòng)測(cè)試;具有高達(dá)2 Gs/s 的信號(hào)
2011-10-25 17:21:586870

基于邊界掃描的PCB測(cè)試

隨著電子技術(shù)的發(fā)展,印刷電路板越來(lái)越復(fù)雜,其制造技術(shù)不斷提高;伴隨著IC封裝技術(shù)的發(fā)展又使得印刷電路板越來(lái)越小,器件安裝密度則越來(lái)越高。在這種情況下,傳統(tǒng)的測(cè)試技術(shù)
2011-07-19 11:43:4250

電路板TPS驗(yàn)證評(píng)估系統(tǒng)設(shè)計(jì)

針對(duì)對(duì) 電路板測(cè)試 程序集(TPS)難以進(jìn)行客觀全面地驗(yàn)證評(píng)估的難題,對(duì)電路板驗(yàn)證評(píng)估系統(tǒng)進(jìn)行了設(shè)計(jì)。首先分析了電路板TPS的組成以及常用的評(píng)估技術(shù);其次,針對(duì)不同的部分分
2011-07-13 11:23:0633

基于USB總線的邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)

分析了 邊界掃描 測(cè)試技術(shù)的工作機(jī)制對(duì)測(cè)試主控系統(tǒng)的功能需求, 提出了一種基于 USB總線 的低成本邊界掃描測(cè)試主控系統(tǒng)的硬件設(shè)計(jì)方案; 該系統(tǒng)以便攜式計(jì)算機(jī)為平臺(tái), 用FPGA 實(shí)現(xiàn)
2011-07-04 15:18:1524

VLSI邊界掃描測(cè)試故障診斷

介紹了支持JTAG 標(biāo)準(zhǔn)的IC 芯片結(jié)構(gòu)和故障測(cè)試的4-wire 串行總線,以及運(yùn)用 邊界掃描 故障診斷的原理。實(shí)驗(yàn)中分析了IC 故障類(lèi)型、一般故障診斷流程和進(jìn)行掃描鏈本身完整性測(cè)試的方案
2011-07-04 15:08:4730

手動(dòng)電路板測(cè)試原理

手動(dòng)電路板測(cè)試治具是指:通過(guò)針床、手動(dòng)測(cè)試治具、印制插腳、輸入/輸出接口,向被測(cè)電路板施加控制信號(hào)及輸入信號(hào),并實(shí)時(shí)讀取被測(cè)電路板的輸出信號(hào),通過(guò)一系列的數(shù)據(jù)分析
2011-06-20 17:56:182397

基于廣義特征分析與邊界掃描技術(shù)的混合信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)

分析了用于模數(shù)混合電路邊界掃描測(cè)試技術(shù)的工作機(jī)制對(duì)測(cè)試主控系統(tǒng)的功能需求,提出了一種基于微機(jī)的符合IEEE1149.4標(biāo)準(zhǔn)的混合信號(hào)邊界掃描測(cè)試主控系統(tǒng)。所采用的廣義特征
2010-11-19 15:04:5621

電路板測(cè)試性技術(shù)分析

   電路板測(cè)試性的定義可簡(jiǎn)要解釋為:電路板測(cè)試工程師在檢測(cè)某種元件的特性時(shí)應(yīng)該盡可能使用最簡(jiǎn)單的方法來(lái)測(cè)試,以確定該元件能是否到達(dá)預(yù)期的功能需求
2010-07-10 10:27:391083

印制電路板自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)分析

自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的廣泛適用性是因?yàn)樽詣?dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)不是針對(duì)單一的測(cè)試對(duì)象進(jìn)行的, 而是將印制電路板的功能測(cè)試進(jìn)行抽象和分類(lèi), 印制電路板測(cè)試(這里是抽象的印制電路
2010-07-10 10:24:42954

手動(dòng)電路板測(cè)試原理

 1、印制電路板手動(dòng)測(cè)試治具介紹:  手動(dòng)電路板測(cè)試治具是指:通過(guò)針床、手動(dòng)測(cè)試治具、印制插腳、輸入/輸出接口
2010-06-25 08:20:07885

電路板技術(shù)之光板測(cè)試工藝指導(dǎo)

電路板技術(shù)之光板測(cè)試工藝指導(dǎo) 光板工藝測(cè)試技術(shù)是電路板過(guò)程中常用到的一種制工藝技術(shù),目的是為了能確保最后成品電路板的品質(zhì)。以下我們提供
2010-01-23 11:26:34861

電路板設(shè)計(jì)中的可測(cè)試性技術(shù)

電路板設(shè)計(jì)中的可測(cè)試性技術(shù) 電路板測(cè)試性的定義可簡(jiǎn)要解釋為:電路板測(cè)試工程師在檢測(cè)某種元件的特性時(shí)應(yīng)該盡可能使用最簡(jiǎn)單的方法來(lái)測(cè)試,以確定
2010-01-23 11:22:50389

基于邊界掃描電路板快速測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

本文設(shè)計(jì)了一套基于邊界掃描電路板快速測(cè)試系統(tǒng),該系統(tǒng)利用計(jì)算機(jī)并行端口,通過(guò)適配器發(fā)送、接收測(cè)試向量,然后對(duì)采集數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,顯示測(cè)試結(jié)果。本文主要介紹了
2010-01-20 11:35:5719

電路板測(cè)試、檢驗(yàn)及規(guī)范

電路板測(cè)試、檢驗(yàn)及規(guī)范 1、Acceptability,acceptance 允收性,允收前者是
2010-01-11 23:39:263703

基于VXI總線的多功能邊界掃描控制器

根據(jù)系統(tǒng)級(jí)邊界掃描測(cè)試技術(shù)的應(yīng)用需求,基于VXI總線的多功能邊界掃描測(cè)試控制器具備三種操作模式:IEEE1149.1 TAP模式、IEEE1149.5主控制器模式和從控制器模式。由上位機(jī)控制模件
2009-12-05 16:27:2726

硬盤(pán)電路板測(cè)試及維修技巧

硬盤(pán)電路板測(cè)試及維修技巧 硬盤(pán)電路板維修故障分析與處理步驟,下面僅簡(jiǎn)要介紹物理故障的分析與一般的處理步驟: 短路,需做進(jìn)一步的檢查。 ①首先檢查CMO
2009-10-17 14:05:262600

在線測(cè)試儀在電路板維修中的應(yīng)用

在線測(cè)試儀在電路板維修中的應(yīng)用 介紹一種新的維修工具——在線測(cè)試儀,并著重介紹測(cè)試儀的功能特點(diǎn)以及利用其維修電路板的方法和步驟。
2009-10-16 09:35:021225

VXI邊界掃描模塊接口電路的設(shè)計(jì)

XI邊界掃描模塊接口電路的設(shè)計(jì):根據(jù)IEEE1149.X標(biāo)準(zhǔn)和VXI總線規(guī)范,采用EDA技術(shù)對(duì)VXI邊界掃描模塊的接口電路進(jìn)行了研究和設(shè)計(jì),通過(guò)仿真和實(shí)際測(cè)試驗(yàn)證了設(shè)計(jì)的正確性,很好地
2009-10-10 14:43:0629

邊界掃描測(cè)試技術(shù)在硬件實(shí)驗(yàn)中的應(yīng)用

本文提出將廣泛用于測(cè)試領(lǐng)域的邊界掃描技術(shù)應(yīng)用在基于FPGA的計(jì)算機(jī)硬件實(shí)驗(yàn)課程中,利用邊界掃描技術(shù)解決FPGA的配置和測(cè)試兩大關(guān)鍵問(wèn)題。在PC機(jī)上編寫(xiě)邊界掃描主控器的C語(yǔ)
2009-08-18 10:10:2117

基于電路板維修測(cè)試儀軟件系統(tǒng)的實(shí)現(xiàn)

本文介紹了基于測(cè)試儀在Windows 98 下實(shí)現(xiàn)電路板維修測(cè)試儀軟件系統(tǒng)的原理、方法和技術(shù)。我們著重介紹了器件功能表的邏輯編程、測(cè)試邏輯和測(cè)試功能實(shí)現(xiàn)等方面的研究成果。[
2009-08-03 11:40:3139

電路板自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)

介紹一種印制電路板自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn),給出了該自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的整體結(jié)構(gòu),同時(shí)對(duì)該系統(tǒng)的硬件組成和軟件實(shí)現(xiàn)作了詳細(xì)說(shuō)明,實(shí)際應(yīng)用表明,該系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單可靠,
2009-08-03 11:18:5612

基于仿真的數(shù)字電路板自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

文章詳細(xì)描述了LASAR數(shù)字仿真軟件的測(cè)試數(shù)據(jù)生成流程和基于數(shù)字仿真的電路板自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),利用該系統(tǒng)可以避免數(shù)字電路板測(cè)試維修過(guò)程中,電路板測(cè)試程序集人工開(kāi)發(fā)和手工診
2009-07-10 16:24:1516

高速邊界掃描主控器設(shè)計(jì)

分析邊界掃描測(cè)試技術(shù)的工作機(jī)制和對(duì)測(cè)試支撐系統(tǒng)的功能需求,提出一種基于USB總線的高速邊界掃描測(cè)試主控器的設(shè)計(jì)方案。利用CY7C68013作為USB2.0接口控制器,使用CPLD實(shí)現(xiàn)JTAG主控
2009-04-03 08:43:2517

邊界掃描電路板測(cè)試技術(shù)

摘 要: 本文論述了邊界掃描技術(shù)的基本原理和邊界掃描電路板測(cè)試及在FPGA、DSP器件中的應(yīng)用。介紹了為提高電路板的可測(cè)試性而采用邊界掃描技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)時(shí)應(yīng)注意的一些基本
2006-03-11 13:45:441525

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