電子系統(tǒng)數(shù)字電路的邏輯測試

電子系統(tǒng)數(shù)字電路的邏輯測試

一、實驗要求
利用實驗室提供的集成電路版,通過通過邏輯分析儀對其中的某一功能模塊測試其工作時的邏輯狀態(tài)。
二、實驗目的
1．學習使用邏輯分析儀。
2．了解芯片的邏輯功能和工作原理。
三、實驗設備
L 系列邏輯分析儀一臺。
EDA 實驗箱。
四、設備簡介：
1．功能介紹
L 系列邏輯分析儀是一種通用型邏輯分析儀，可以用于各種數(shù)字電路的信號測量和調試工作。 除了具備邏輯分析儀的標準功能外，L 系列邏輯分析儀還具有實時邏輯示波器功能，用戶可以象在示波器上一樣實時觀察周期性的信號波形，即接即用，非常方便。L 系列邏輯分析儀具有完善的采樣控制能力，具有40 個信號輸入通道。
L 系列邏輯分析儀中配備了豐富的各種功能觸發(fā)器，這些觸發(fā)器還可以進行與/或邏輯運算，以幫助使用者捕捉特殊狀態(tài)的信號。
（1）信號狀態(tài)觸發(fā)器
其功能是在40 個輸入信號中相應的若干個信號的電平（高電平/低電平）處于特定組合狀態(tài)時發(fā)出觸發(fā)信號。
（2）信號邊沿觸發(fā)器
其功能是在40 個輸入信號中某個信號發(fā)生跳變（上升沿/下降沿/雙沿）時發(fā)出觸發(fā)信號，其中的“雙沿”為只要發(fā)生信號跳變（無論是上升沿還是下降沿），均產(chǎn)生觸發(fā)信號。
（3）信號總線觸發(fā)器
其功能是可以使用40 個輸入信號中的任意位構成一個不超過16 位寬度的總線信號，當總線信號的值處于特定狀態(tài)（大于某值/小于某值/等于某值/在某區(qū)間內/在某區(qū)間外/發(fā)生變化）時發(fā)出觸發(fā)信號。
（4）信號寬度觸發(fā)器
其功能是在由40 個輸入信號合成的特定信號狀態(tài)所持續(xù)時間的值處于特定范圍（大于某值/小于某值/在某區(qū)間內/在某區(qū)間外）時發(fā)出觸發(fā)信號。使用這一功能，能夠捕捉到2ns 的窄脈沖（毛刺）信號，也可以設定任意的信號時間寬度來產(chǎn)生觸發(fā)信號，可以設定的信號寬度最大約為1 小時。
2．使用說明
（1）首先在計算機上安裝邏輯測試軟件并啟動；
（2）通過USB 口將邏輯分析儀與計算機相連。
（3）．將待測信號（ALE,PSEN,RD,WR,CLK,P0,P1）通過線夾連到邏輯分析儀。
（4）對軟件進行相應的設置（采樣速率，觸發(fā)條件，數(shù)據(jù)緩存等）。
五、實驗內容
對于8051 系列的單片機來說，P0 口輸出地址的低8 位，P2 口輸出地址的高8 位。并且當鎖存信號ALE 和PSEN 同時為低時，RD 和WR 信號才能有效，才能進行讀寫操作。 針對EDA 實驗箱上的RAM 單元，分別對其進行讀寫操作，觀測其讀寫時序。
六、實驗報告
1．編寫RAM 單元的讀寫程序，并畫出RAM 單元的讀寫時序。
2．回答下面的思考題：
（1）什么是拍節(jié)，機器周期和指令周期？它們之間的關系如何？
（2）簡單介紹PSEN 和ALE 信號的作用？