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電子發(fā)燒友網(wǎng)>今日頭條>彈片微針模組可解決測(cè)試探針效率低下、成本高的難題

彈片微針模組可解決測(cè)試探針效率低下、成本高的難題

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2023-09-27 06:25:41

鏈表在單片機(jī)上效率高嗎?

鏈表在單片機(jī)上效率高么?
2023-09-26 08:01:13

注射座連接牢固度測(cè)試

注射座連接牢固度測(cè)試 醫(yī)藥包裝撕拉力測(cè)試儀是專門設(shè)計(jì)用于測(cè)試藥品包裝材料的性能和質(zhì)量的一款強(qiáng)大儀器。其應(yīng)用范圍廣泛,涵蓋了安瓿瓶、丁基膠塞、鋁塑組合蓋、聚丙烯組合蓋、薄膜、復(fù)合膜
2023-09-25 15:42:08

美能四探針電阻測(cè)試儀為您提供高效的產(chǎn)業(yè)化測(cè)量技術(shù)

的技術(shù)理解,生產(chǎn)了可對(duì)沉積ITO薄膜后的太陽(yáng)能電池實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)多點(diǎn)掃描測(cè)量的美能四探針電阻測(cè)試儀,大大提高了太陽(yáng)能電池在產(chǎn)業(yè)化生產(chǎn)中的質(zhì)量檢測(cè)效率。本期「美能光伏」
2023-09-23 08:36:01299

座連接牢固度測(cè)試

 座連接牢固度測(cè)試儀 品質(zhì)可靠/濟(jì)南三泉智能科技有限公司 YYL-03醫(yī)療器械性能測(cè)試儀配有多功能觸摸屏控制,更方便快捷操作界面設(shè)備配有微型打印機(jī),可適時(shí)打印實(shí)驗(yàn)結(jié)果
2023-09-22 10:46:30

使用雙工器提高多端口微波器件的測(cè)試效率

動(dòng)作(兩次接電纜,兩次接測(cè)試負(fù)載),然后再對(duì)儀器進(jìn)行手動(dòng)操作測(cè)試。在大批量生產(chǎn)情況下,這種傳統(tǒng)測(cè)試方法的測(cè)試效率較低,測(cè)試成本較高;尤其是高低溫試驗(yàn)時(shí),傳統(tǒng)的測(cè)試方法無(wú)法滿足需求。本文討論了一種測(cè)試方法
2023-09-21 07:50:32

越聯(lián) 探針式初粘力測(cè)試

PW-US16T 探針式初粘力測(cè)試儀又叫探針式初粘力試驗(yàn)機(jī)(ProbeTackTester),是膠帶初粘力測(cè)試的方式之一,主要用于各種膠帶、粘合劑類等各種不同產(chǎn)品的初始粘著力測(cè)試,產(chǎn)品滿足ASTM
2023-09-19 16:17:03

高頻探針-鎢針

制造工藝:制造高頻探針需要高度精密的工藝。通常,鎢粉與其他金屬粉末混合,然后通過(guò)拉拔機(jī)械等工藝加工成所需的尺寸和形狀。這確保了探針的尺寸精度和表面光滑度,以滿足高頻測(cè)試的要求。
2023-09-15 17:04:07527

電源ATE測(cè)試助力提高短路保護(hù)測(cè)試效率,提供軟硬件解決方案

電源ATE測(cè)試在短路保護(hù)測(cè)試中不僅可以提高測(cè)試效率,而且還提供智能數(shù)據(jù)分析,幫助短路測(cè)試實(shí)現(xiàn)高精準(zhǔn)度,也為企業(yè)降低了測(cè)試成本
2023-09-11 18:21:19368

自動(dòng)化按鍵測(cè)試模組技術(shù)規(guī)格書(shū)

自動(dòng)化按鍵測(cè)試模組技術(shù)規(guī)格書(shū)的產(chǎn)品詳情?|深圳磐石測(cè)控儀器
2023-09-04 10:09:23642

教你怎么使用R&S的網(wǎng)分,去嵌探針測(cè)試影響

"去嵌"是一種高頻測(cè)試中常用的技術(shù),旨在消除測(cè)量中探針或連接線等外部元件的影響,以便更準(zhǔn)確地測(cè)量被測(cè)試器件的性能。
2023-08-28 15:39:241152

鍵盤模組ATE手感測(cè)試機(jī)的功能

鍵盤模組ATE手感測(cè)試機(jī)的功能?|深圳市磐石測(cè)控儀器有限公司
2023-08-28 09:45:35504

美能四探針電阻測(cè)試儀的智能操作軟件

近年來(lái),隨著電池廠商對(duì)太陽(yáng)能電池生產(chǎn)的要求越來(lái)越高,在生產(chǎn)中太陽(yáng)能電池的效率和性能也愈發(fā)重要。為了更好的判斷太陽(yáng)能電池的效率和性能是否符合生產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn),「美能光伏」研發(fā)了美能四探針電阻測(cè)試儀,可對(duì)
2023-08-26 08:36:01331

測(cè)量薄層電阻的四探針

點(diǎn)擊美能光伏關(guān)注我們吧!薄層電阻在太陽(yáng)能電池中起著非常重要的作用,它影響著太陽(yáng)能電池的效率和性能。四探針法能夠測(cè)量太陽(yáng)能電池的薄層電阻,從而精確地獲取電池片的電阻數(shù)據(jù)?!该滥芄夥箵碛械拿滥軖呙?/div>
2023-08-24 08:37:061069

PCB測(cè)試

毫米波。為大尺寸雷達(dá)天線陣列PCB測(cè)試用戶帶來(lái)福音。       此外,奕葉同時(shí)推出雙面PCB同時(shí)點(diǎn)測(cè)試探針臺(tái)。歡迎有需求的
2023-08-23 17:17:56

EB-8VQ4探針臺(tái)

奕葉最新四向毫米波探針臺(tái)         奕葉最新的四向毫米波探針臺(tái)在IMS2023展出。該產(chǎn)品具有四向毫米波座搭建及可以滿足客戶的東南,西南
2023-08-23 16:51:04

奕葉最新四向毫米波探針臺(tái)

奕葉四向毫米波探針臺(tái)
2023-08-23 14:21:22555

彈簧彈片測(cè)試儀有什么作用

彈簧彈片測(cè)試儀有什么作用?|深圳市磐石測(cè)控儀器有限公司
2023-08-23 09:22:46477

如何選擇制作PCB測(cè)試治具材料

測(cè)試治具的針的選用對(duì)治具成本關(guān)系,目前測(cè)試探針分國(guó)產(chǎn)、臺(tái)灣香港、進(jìn)口三種。進(jìn)口產(chǎn)品一般是德國(guó)、美國(guó)、日本的產(chǎn)品,品牌有INGUN、TCI、日電、華榮、中探、亞探等等。測(cè)試探針的質(zhì)量主要體現(xiàn)在材質(zhì)、鍍層、彈簧、套管的直徑及制作工藝。
2023-08-15 14:24:50536

KAN347-調(diào)試探針固件更新信息應(yīng)用說(shuō)明

及更高版本的各種調(diào)試探針。一些開(kāi)發(fā)板需要更新板上固件才能與Keil Studio一起工作。 此應(yīng)用程序說(shuō)明指向板載調(diào)試探測(cè)器的更新信息。
2023-08-08 06:35:54

Arm調(diào)試或跟蹤目標(biāo)時(shí)的常見(jiàn)問(wèn)題

了解使用Arm調(diào)試或跟蹤目標(biāo)時(shí)的常見(jiàn)問(wèn)題和答案開(kāi)發(fā)工作室(Arm DS)。此頁(yè)面主要介紹連接、調(diào)試和跟蹤仿真、FPGA和硅靶。 要使用Arm DS調(diào)試目標(biāo),您必須具備以下條件: ?調(diào)試探針,如
2023-08-02 06:50:15

大電流彈片微針模組助力多BTB連接器手機(jī)主板測(cè)試

,BTB連接器的大電流需求也帶來(lái)了測(cè)試的挑戰(zhàn)。傳統(tǒng)的測(cè)試方法不僅效率低下,而且容易損壞連接器。為了解決這個(gè)問(wèn)題,我們引入了大電流彈片微針模組,對(duì)手機(jī)主板的多BTB連接器進(jìn)行同時(shí)測(cè)試
2023-08-01 14:29:27598

檢測(cè)PCB板電性能的飛針測(cè)試方法

飛針測(cè)試:用探針來(lái)取代針床,使用多個(gè)由馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的、能夠快速移動(dòng)的電氣探針同器件的引腳進(jìn)行接觸并進(jìn)行電氣測(cè)量。
2023-07-25 11:12:151419

連接微觀與宏觀:半導(dǎo)體探針臺(tái)的科技與創(chuàng)新

半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)是全球技術(shù)進(jìn)步的核心引擎,其成果無(wú)處不在,從我們的智能手機(jī)到現(xiàn)代交通工具,再到各種先進(jìn)的醫(yī)療設(shè)備。而在這一巨大產(chǎn)業(yè)中,每一個(gè)微小但至關(guān)重要的部分都需經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的測(cè)試,以確保其性能和可靠性。這就是半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備探針臺(tái)(通常稱為“探針卡”或“探針臺(tái)”)發(fā)揮作用的地方。
2023-07-25 09:59:13747

《基于“礦板”低成本學(xué)習(xí)Zynq系列》之六-DDR測(cè)試

《基于“礦板”低成本學(xué)習(xí)Zynq系列》之六-DDR測(cè)試
2023-07-19 19:19:441741

電磁干擾測(cè)試探頭的選擇

在現(xiàn)代的電磁環(huán)境中,我們周圍的電子設(shè)備數(shù)量越來(lái)越多,這也就意味著電磁干擾的問(wèn)題也越來(lái)越突出。為了確保電子設(shè)備的正常運(yùn)行和相互之間的兼容性,進(jìn)行電磁干擾測(cè)試變得至關(guān)重要。而正確選擇適用于不同測(cè)試環(huán)境的電磁干擾測(cè)試探頭,則是執(zhí)行一項(xiàng)成功的測(cè)試的關(guān)鍵。
2023-07-19 14:34:03281

概述大電流彈片微針模組在手機(jī)攝像頭測(cè)試中的作用

大電流彈片微針模組是一種在手機(jī)攝像頭測(cè)試中具有重要作用的設(shè)備。該模組通過(guò)使用高電流彈片和微針技術(shù),能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)手機(jī)攝像頭的精確測(cè)試和評(píng)估。
2023-07-06 14:58:44384

電源紋波測(cè)試探頭該如何選用?

電源紋波是指電源輸出波形中存在的不穩(wěn)定性和干擾信號(hào),它對(duì)于電子設(shè)備的正常運(yùn)行和性能表現(xiàn)起著重要的影響。為了保證設(shè)備的穩(wěn)定性和可靠性,對(duì)電源紋波進(jìn)行測(cè)試是至關(guān)重要的。而要進(jìn)行有效的電源紋波測(cè)試,選擇合適的測(cè)試探頭是非常關(guān)鍵的。
2023-07-05 10:25:42644

IC老化測(cè)試座的清理與保養(yǎng)

凱智通微電子的IC老化測(cè)試座均采用優(yōu)質(zhì)材料原廠精工生產(chǎn),采用翻蓋或是下壓彈片、探針結(jié)構(gòu),探針為良好電氣導(dǎo)通性能的優(yōu)質(zhì)鈹金測(cè)試針,芯片定位快捷準(zhǔn)確,再結(jié)合性能良好的歐式插針,經(jīng)久耐用。良好的日常保養(yǎng)
2023-06-28 15:19:05539

鑒源實(shí)驗(yàn)室丨TBOX通訊模組AT指令測(cè)試

引言:上一篇文章我們講了整車的OTA升級(jí)測(cè)試(詳解車載設(shè)備FOTA測(cè)試),本篇我們介紹在車載零配件上比較少見(jiàn)卻很實(shí)用的測(cè)試:通訊模組的AT(Attention)指令測(cè)試。
2023-06-20 17:00:51633

大電流彈片微針模組在指紋模組性能測(cè)試中的應(yīng)用

屏下指紋模組建立了隱形的指紋識(shí)別,手指指紋通過(guò)屏幕玻璃下方的虛擬指紋圖案即可完成指紋識(shí)別解鎖。
2023-06-16 15:08:51385

穎崴科技:芯片測(cè)試探針卡新工廠預(yù)計(jì)年底完工

據(jù)《經(jīng)濟(jì)日?qǐng)?bào)》報(bào)道,芯片測(cè)試設(shè)備制造企業(yè)穎崴科技6月14日在高雄舉行了高雄第二工廠竣工儀式。公司方面表示:“為生產(chǎn)用于半導(dǎo)體測(cè)試探針芯片,將于今年年底在臺(tái)元科技園區(qū)建設(shè)新工廠。將擴(kuò)大現(xiàn)有生產(chǎn)能力?!崩^新工廠啟動(dòng)之后,預(yù)計(jì)明年將以探針卡業(yè)績(jī)加倍為目標(biāo)。
2023-06-15 10:31:42633

什么是彈片微針模組?讓我?guī)懔私獍?/a>

使用帶有RT1170EVK 的 MCU-LINK-PRO調(diào)試器報(bào)異常怎么解決?

我目前正在使用 MCU-Link Pro 調(diào)試探針和 RT1170EVK。我的目標(biāo)是針對(duì)將使用 RT1172 且不包括 EVK 的板載調(diào)試器電路的電路板測(cè)試 MCU-Link Pro 的調(diào)試功能
2023-06-02 09:04:08

探針臺(tái)的功能有哪些

探針臺(tái)的主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái),探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片,并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座,配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)
2023-05-31 10:29:33

LTCC/HTCC基板在晶圓測(cè)試探針卡中的應(yīng)用

在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的制造流程上,主要可分成IC設(shè)計(jì)、晶圓制程、晶圓測(cè)試及晶圓封裝四大步驟。 其中所謂的晶圓測(cè)試,就是對(duì)晶圓上的每顆晶粒進(jìn)行電性特性檢測(cè),以檢測(cè)和淘汰晶圓上的不合格晶粒。 下面我們一起來(lái)了解一下半導(dǎo)體晶圓測(cè)試的核心耗材——探針卡,以及探針卡與LTCC/HTCC技術(shù)有著怎樣的聯(lián)系。
2023-05-26 10:56:55730

深度剖析邏輯探針電路

這些簡(jiǎn)單而通用的3 LED邏輯探針電路可用于測(cè)試數(shù)字電路板,如CMOS、TTL或類似電路板,以排除IC和相關(guān)級(jí)的邏輯功能故障。
2023-05-18 17:36:48979

Multisim中測(cè)試探針的使用

Multisim的虛擬測(cè)試儀器中還有電流探針,模擬鉗式電流表,其原理是電流互感器原理。與傳統(tǒng)電流表不一樣,鉗式電流表不需要串聯(lián)接入電路中,而只需要將其前端的鉗子(電流夾)打開(kāi),使得待測(cè)電流導(dǎo)線與鉗子相互環(huán)繞,利用變壓器變電流的原理測(cè)量電流。其特點(diǎn)就是可以實(shí)現(xiàn)在線測(cè)量。
2023-05-18 11:26:007264

基于微懸臂梁的MEMS探針中與傾斜相關(guān)定位誤差的量化和校正

就微型探針而言,已經(jīng)研究了避免誤差的自動(dòng)定位技術(shù)。量化并控制傾斜誤差,對(duì)于利用微懸臂梁優(yōu)化自動(dòng)化探針測(cè)試至關(guān)重要。然而,后者的研究還沒(méi)有考量潛在的微型MEMS探針的機(jī)械柔韌性。微懸臂梁可用于制造各種微型電氣探針,包括射頻探針。
2023-05-17 09:51:30500

什么是半導(dǎo)體測(cè)試探針?半導(dǎo)體測(cè)試探針的需求來(lái)自哪里?

Chiplet將復(fù)雜芯片拆解成一組具有單獨(dú)功能的小芯片單元die(裸片),通過(guò)die-to-die將模塊芯片和底層基礎(chǔ)芯片封裝組合在一起。相較于傳統(tǒng)SoC,Chiplet能有效提高芯片良率、集成度,降低芯片設(shè)計(jì)、制造成本,加速迭代速度。
2023-05-16 15:45:291063

晶圓測(cè)試設(shè)備的指尖—探針

晶圓測(cè)試的方式主要是通過(guò)測(cè)試機(jī)和探針臺(tái)的聯(lián)動(dòng),在測(cè)試過(guò)程中,測(cè)試機(jī)臺(tái)并不能直接對(duì)待測(cè)晶圓進(jìn)行量測(cè),而是透過(guò)探針卡(Probe Card)中的探針(Probe)與晶圓上的焊墊(Pad)或凸塊(Bump)接觸而構(gòu)成電性接觸
2023-05-11 14:35:142362

PCBA測(cè)試常見(jiàn)ICT測(cè)試方法

一站式PCBA智造廠家今天為大家講講什么是PCBA測(cè)試的ICT測(cè)試?PCBA測(cè)試常見(jiàn)ICT測(cè)試方法。 PCBA測(cè)試的ICT測(cè)試主要是通過(guò)測(cè)試探針接觸PCBA板上的測(cè)試點(diǎn),可以檢測(cè)出線路的短路、開(kāi)路
2023-05-09 09:25:082172

晶圓測(cè)試設(shè)備的“指尖”——探針

探針卡是半導(dǎo)體晶圓測(cè)試過(guò)程中需要使用的重要零部件,被認(rèn)為是測(cè)試設(shè)備的“指尖”。由于每一種芯片的引腳排列、尺寸、間距變化、頻率變化、測(cè)試電流、測(cè)試機(jī)臺(tái)有所不同,針對(duì)不同的芯片都需要有定制化的探針
2023-05-08 10:38:273458

半導(dǎo)體晶圓測(cè)試探針卡與LTCC/HTCC的聯(lián)系

晶圓測(cè)試的方式主要是通過(guò)測(cè)試機(jī)和探針臺(tái)的聯(lián)動(dòng),在測(cè)試過(guò)程中,測(cè)試機(jī)臺(tái)并不能直接對(duì)待測(cè)晶圓進(jìn)行量測(cè),而是透過(guò)探針卡(Probe Card)中的探針(Probe)與晶圓上的焊墊(Pad)或凸塊(Bump)接觸而構(gòu)成電性接觸。
2023-05-08 10:36:02885

模組推拉力測(cè)試設(shè)備焊點(diǎn)強(qiáng)度測(cè)試

點(diǎn)焊模組
力標(biāo)精密設(shè)備發(fā)布于 2023-05-06 18:09:55

思達(dá)科技推出3D/2.5D MEMS微懸臂WAT探針

思達(dá)科技多年來(lái)致力在MEMS探針的技術(shù)研發(fā),持續(xù)推出先進(jìn)的測(cè)試探針卡,以滿足各種行業(yè)的產(chǎn)業(yè)測(cè)試需求,Virgo Prima系列是專為微型化程序IC而設(shè)計(jì),用在產(chǎn)線WAT(晶圓驗(yàn)收)/ 電性測(cè)試
2023-04-13 11:24:371155

如何使用PE微型探針偵聽(tīng)和恢復(fù)鎖定的kinetis設(shè)備?

當(dāng)我在 MKV42F64 定制板上測(cè)試我的定制引導(dǎo)加載程序時(shí),閃存配置字段似乎已損壞,因此設(shè)備是安全的,我無(wú)法使用 PE 微型探針再次對(duì)其進(jìn)行編程。嘗試通過(guò) SWD 擦除或編程芯片時(shí),我從 PE
2023-04-04 06:27:50

【電測(cè)】飛測(cè)試的流程有哪些?

后按小板進(jìn)行測(cè)試,目前常用都是自動(dòng)測(cè)試機(jī),所以效率很高,節(jié)省時(shí)間。飛測(cè)試的子流程主要有3個(gè)。1.做測(cè)試資料。根據(jù)客戶原稿制作生產(chǎn)資料,以避免用生產(chǎn)稿而生產(chǎn)稿與原稿偶有不一致導(dǎo)致的漏測(cè)。測(cè)試。飛測(cè)試
2023-03-31 11:41:43

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