開關(guān)電源可靠性測試是檢測開關(guān)電源質(zhì)量、穩(wěn)定性和質(zhì)量的重要手段。可靠性測試也是開關(guān)電源測試的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，以此評估開關(guān)電源的性能和使用壽命。
2024-03-21 15:50:27
83 中芯國際車載芯片可靠性專項檢測中心涵蓋了公司自身工藝和IP、第三方IP或客戶產(chǎn)品的全面測試能力。根據(jù)AEC-Q100標準，配備了需滿足產(chǎn)品可靠度的多項測試設(shè)施，能滿足車載芯片的全方位可靠性檢測需求。
2024-03-20 14:32:48230 檢測l 板卡電性能測試及壽命特征分析l 板卡壽命及加速壽命試驗l 板卡失效分析l 板卡可靠性提升相關(guān)資質(zhì)CNAS服務(wù)
2024-03-15 17:27:02
服務(wù)內(nèi)容橫向科研技術(shù)支持和服務(wù)、高鐵裝備、零部件失效分析、可靠性試驗方案及可靠性提升方案開發(fā)與執(zhí)行、裝備及系統(tǒng)健康管理技術(shù)方案開發(fā)及軟硬件平臺搭建。服務(wù)范圍● 車體部件：側(cè)窗、底部大部件、連接件等
2024-03-15 16:46:27
服務(wù)范圍大規(guī)模集成電路芯片檢測標準●JESD22-A103/ A104/ A105/ A108/ A110●J-STD-020●JS-001/002●JESD78檢測項目（1）芯片級可靠性驗證試驗
2024-03-14 16:28:30
許多可靠性“磨損”測試監(jiān)測的是一個性能參數(shù)，該參數(shù)隨著對數(shù)變化的時間長度而穩(wěn)步下降。
2024-03-13 14:28:37316 
安規(guī)測試是對開關(guān)電源進行電氣性能、安全性能等檢測，確保開關(guān)電源符合規(guī)定并且安全可靠，為開關(guān)電源的質(zhì)量把關(guān)。那么開關(guān)電源安規(guī)測試有哪些測試要求和標準呢？
2024-03-11 14:57:12140 評估晶振在極端溫度變化環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性。模擬晶振在實際使用中可能會遇到的溫度變化情況，確保它能夠在不同的溫度極端條件下保持其性能?？蓞⒖?b class="flag-6" style="color: red">標準：MIL-STD- 883E- 1011.9B。
2024-03-08 12:39:08155 
Electronics Council)制定和推動，是集成電路制造商進入汽車行業(yè)的關(guān)鍵認證之一。 該認證主要針對車載應(yīng)用的芯片進行嚴格的質(zhì)量和可靠性驗證，特別是對產(chǎn)品功能和性能進行標準規(guī)范測試，以提高車載電子設(shè)備的穩(wěn)定性和標準化程度。由于車規(guī)級芯片在可靠性、安全性和使用壽命方面的要求較消費級芯片更
2024-03-05 14:00:40128 
什么樣的電子元件才是車規(guī)級的器件呢？車規(guī)級芯片有哪些可靠性要求？ 車規(guī)級的電子元件是指能夠滿足汽車行業(yè)嚴格可靠性要求的器件。由于汽車行業(yè)對電子元件的可靠性要求非常高，因此車規(guī)級的器件需要經(jīng)過
2024-02-18 11:14:42662 電子產(chǎn)品高加速壽命測試HALT、高加速應(yīng)力篩選測試HASS，都是可靠性測試的方法，用于評估電子產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的性能表現(xiàn)和可靠性。那他們之前的區(qū)別是什么呢，跟隨本文來一起了解。
2024-01-30 10:25:44206 
封裝可靠性最重要的可靠性測試，也是進行器件壽命模型建立和壽命評估的根本。服務(wù)范圍車規(guī)級功率器件模塊及基于分立器件的等效特殊設(shè)計產(chǎn)品。檢測標準● DINENISO/
2024-01-29 22:46:02
標準。安森美(onsemi)作為一家半導(dǎo)體供應(yīng)商，為高要求的應(yīng)用提供能在惡劣環(huán)境下運行的產(chǎn)品，且這些產(chǎn)品達到了高品質(zhì)和高可靠性。之前我們分享了如何對IGBT進行可靠性測試，今天我們來介紹如何通過可靠性審核程序確保IGBT的產(chǎn)品可靠性。
2024-01-25 10:21:16997 
標準。安森美 (onsemi) 作為一家半導(dǎo)體供應(yīng)商，為高要求的應(yīng)用提供能在惡劣環(huán)境下運行的產(chǎn)品，且這些產(chǎn)品達到了高品質(zhì)和高可靠性。
2024-01-17 09:56:32448 
前言 光器件的可靠性標準中，我們最常接觸的應(yīng)該就是GR-468和GR-1209/1221了。GR-468重點講了有源器件的可靠性要求，而GR-1209/1221重點講無源器件的可靠性要求。雖然涵蓋
2024-01-15 09:32:54114 
本文將介紹半導(dǎo)體的可靠性測試及標準。除了詳細介紹如何評估和制定相關(guān)標準以外，還將介紹針對半導(dǎo)體封裝預(yù)期壽命、半導(dǎo)體封裝在不同外部環(huán)境中的可靠性，及機械可靠性等評估方法。 什么是產(chǎn)品可靠性？ 半導(dǎo)體
2024-01-13 10:24:17711 
杭州廣立微電子股份有限公司近日推出了一款全新的晶圓級可靠性（Wafer Level Reliability WLR）測試設(shè)備，該設(shè)備具備智能并行測試功能，能夠顯著縮短測試時間，提高工作效率。
2023-12-28 15:02:23362 電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《IPC-9797A_EN 汽車要求和其他高可靠性應(yīng)用的壓配標準.pdf》資料免費下載
2023-12-25 09:48:38
8 當(dāng)今競爭激烈的汽車市場中，汽車的品質(zhì)和可靠性已成為消費者選擇的重要標準。通過整車可靠性測試，汽車制造商可以確保他們的產(chǎn)品在各種極端條件下都能表現(xiàn)出色，從而贏得消費者的信任和滿意度。
此外，整車
2023-12-22 17:16:20355 
在進行船舶產(chǎn)品可靠性測試之前，需要進行了充分的準備工作。需要準備各種先進的測試設(shè)備和儀器。得以模擬真實使用環(huán)境中的條件，如溫度、濕度、壓力等，以確保測試的準確性和可靠性。
2023-12-22 17:14:28153 
半導(dǎo)體可靠性測試主要是為了評估半導(dǎo)體器件在實際使用過程中的可靠性和穩(wěn)定性。這些測試項目包括多種測試方法和技術(shù)，以確保產(chǎn)品的性能、質(zhì)量和可靠性滿足設(shè)計規(guī)格和用戶需求。下面是關(guān)于半導(dǎo)體可靠性測試的詳細
2023-12-20 17:09:04696 及應(yīng)用， 然而， 相比金線鍵合， 由于銅線特殊的材料屬性和鍵合工藝， 其可靠應(yīng)用面臨一定的挑戰(zhàn)。為了確保汽車電子系統(tǒng)的高可靠性和穩(wěn)定性， 汽車電子委員會制定了一系列標準和認證要求， 其中針對銅線鍵合器件于 2016 年發(fā)布了 AEC-Q006 標準。 對AEC-Q00
2023-12-18 14:07:14326 
SDNAND可靠性驗證測試的重要性SDNAND可靠性驗證測試至關(guān)重要。通過檢驗數(shù)據(jù)完整性、設(shè)備壽命、性能穩(wěn)定性，確保產(chǎn)品符合標準，可提高產(chǎn)品的可信度、提高品牌聲譽，減少維修成本，確保
2023-12-14 14:29:34164 
可靠性測試是電源模塊測試的一項重要測試內(nèi)容，是檢測電源模塊穩(wěn)定性、運行狀況的重要測試方法。隨著對電源模塊的測試要求越來越高，用電源模塊測試系統(tǒng)測試電源模塊可以提高測試效率，確保測試結(jié)果可靠性，滿足測試要求。
2023-12-13 15:36:36384 近日，杭州廣立微電子股份有限公司正式推出了晶圓級可靠性（Wafer Level Reliability WLR）測試設(shè)備。該產(chǎn)品支持智能并行測試，可大幅度縮短WLR的測試時間。同時，可以結(jié)合廣立微提供的定制化軟件系統(tǒng)來提升用戶工作效率。
2023-12-07 11:47:37434 
加速環(huán)境應(yīng)力可靠性測試：需要對芯片進行加速環(huán)境應(yīng)力測試，模擬高溫、低溫、濕熱和溫度循環(huán)等極端環(huán)境條件。這些測試旨在評估芯片在極端溫度條件下的可靠性和穩(wěn)定性。
2023-12-05 14:05:28565 子高可靠性和穩(wěn)定性要求，可用于環(huán)境溫度范圍-40°C~105°C的大部分車載應(yīng)用環(huán)境。
武漢芯源半導(dǎo)體始終將安全可靠性要求放在第一位，遵循AEC-Q100測試標準，進行了包括高溫工作壽命試驗
2023-11-30 15:47:01
近日，深圳市航順芯片技術(shù)研發(fā)有限公司（下文稱“航順芯片”）HK32AUTO39A家族產(chǎn)品經(jīng)第三方權(quán)威檢測機構(gòu)廣電計量檢測集團（下文稱“廣電計量”）嚴格的可靠性標準測試，順利完成AEC-Q100 Grade 1 -40~125℃車規(guī)認證。
2023-11-28 15:06:03349 
如何判斷標準PoE供電交換機的可靠性？ 隨著物聯(lián)網(wǎng)和智能家居的快速發(fā)展，越來越多的設(shè)備需要使用到以太網(wǎng)供電（Power over Ethernet，PoE）交換機。在選擇合適的PoE交換機時，評估
2023-11-28 14:18:46263 柵既解決柵極氧化層的可靠性問題、又提高了SiCMOSFET的性能?增強型M1HCoolSiC芯片又“強“在哪里？英飛凌零碳工業(yè)功率事業(yè)部高級工程師趙佳女士，在2023英
2023-11-28 08:13:57372 
，應(yīng)盡量簡化設(shè)計，簡化電路和結(jié)構(gòu)設(shè)計，使每個部件都成為最簡設(shè)計。當(dāng)今世界流行的模塊化設(shè)計方法是提高設(shè)備可靠性的有效措施。塊功能相對單一，系統(tǒng)由模塊組成，可以減少設(shè)計的復(fù)雜性，將設(shè)計標準化、規(guī)范化
2023-11-22 06:29:05
到酷熱的沙漠地帶都有可能面對，溫度極大程度上影響車規(guī)芯片的性能和可靠性。下面將詳細介紹車規(guī)芯片三溫測試的意義和重要性。 首先，理解三溫測試的概念。三溫測試是指在惡劣和極端溫度環(huán)境下對車規(guī)芯片的性能和可靠性進行
2023-11-21 16:10:482596 芯片出廠前的測試主要包括芯片功能測試、性能測試和可靠性測試，這三大類測試是缺一不可的。
2023-11-21 14:53:36242 如何提升基于DC-DC模塊的電源系統(tǒng)的可靠性？ 基于DC-DC模塊的電源系統(tǒng)可靠性是關(guān)乎設(shè)備穩(wěn)定運行的重要因素。為了提高可靠性，我們可以從設(shè)計、選型、制造、測試和維護等方面進行優(yōu)化和改進。以下是一些
2023-11-17 14:35:58323 器件可靠性驗證是GR-468最重要的一個項目，標準對光電子器件可靠性試驗的執(zhí)行程序與主要項目（測試項，試驗條件，樣本量等）進行了說明。主要測試內(nèi)容分為器件性能測試、器件應(yīng)力測試和器件加速老化測試。
2023-11-10 17:47:27628 可靠性測試是半導(dǎo)體器件測試的一項重要測試內(nèi)容，確保半導(dǎo)體器件的性能和穩(wěn)定性，保證其在各類環(huán)境長時間工作下的穩(wěn)定性。半導(dǎo)體可靠性測試項目眾多，測試方法多樣，常見的有高低溫測試、熱阻測試、機械沖擊測試、引線鍵合強度測試等。
2023-11-09 15:57:52744 
芯片的老化試驗及可靠性如何測試？ 芯片的老化試驗及可靠性測試是評估芯片性能和使用壽命的關(guān)鍵步驟。老化試驗旨在模擬芯片在長期使用過程中可能遭遇的各種環(huán)境和應(yīng)激，并確定芯片的可靠性和耐久性。本文將詳細
2023-11-09 09:12:011120 機械溫控開關(guān)的可靠性有多少？我看溫控開關(guān)的體積很小，價格便宜，可以用于一些溫度控制方面，不過可靠性有多少呢？
2023-10-31 06:37:26
電學(xué)測試是芯片測試的一個重要環(huán)節(jié)，用來描述和評估芯片的電性能、穩(wěn)定性和可靠性。芯片電學(xué)測試包括直流參數(shù)測試、交流參數(shù)測試和高速數(shù)字信號性能測試等。
2023-10-26 15:34:14629 半導(dǎo)體器件可靠性測試指的是評估半導(dǎo)體器件在不同工作條件下的長期穩(wěn)定性和可靠性的一系列測試和分析方法。這些測試旨在確保半導(dǎo)體器件在其設(shè)計壽命內(nèi)能夠正常運行，不會出現(xiàn)意外故障，從而滿足用戶和應(yīng)用的需求
2023-10-25 09:19:15635 
智能鑰匙是一種新型的智能家居設(shè)備，它使你可以通過手機或者其他智能設(shè)備輕松地控制你的房門、車門、辦公室等入口。智能鑰匙可以提供更加便捷、安全和智能化的操作方式，但是這種設(shè)備并非完美無缺，它也面臨著一些風(fēng)險和缺陷，需要經(jīng)過可靠性測試，確保它能夠可靠地運行。
2023-10-17 14:07:57239 
電子元器件可靠性測試是保證元器件性能和質(zhì)量的一個重要測試項目，同時也是電子設(shè)備可靠性的基礎(chǔ)。常見的可靠性測試項目有機械沖擊測試、高溫存儲測試、溫度循壞測試、引線鍵合強度測試等。
2023-10-11 14:49:05350 
基于可靠性試驗所用的菊花鏈測試結(jié)構(gòu)，對所設(shè)計的扇出型封裝結(jié)構(gòu)進行了完整的菊花鏈芯片制造及后道組裝工藝制造，并對不同批次、不同工藝參數(shù)條件下的封裝樣品進行電學(xué)測試表征、可靠性測試和失效樣品分析。
2023-10-08 10:18:15217 
通過PLC組態(tài)軟件提高系統(tǒng)可靠性的幾項措施
2023-09-25 06:26:12
電流探頭是一種用于測量電路中電流的設(shè)備，通常與萬用表或示波器一起使用。它是一個重要的測試工具，因此必須進行驗證以確保其可靠性。
2023-09-22 10:53:07242 
服務(wù)內(nèi)容廣電計量是國內(nèi)振動試驗?zāi)芰^完善的權(quán)威檢測認證服務(wù)機構(gòu)之一，配備了（1~35）噸不同推力的振動臺，可滿足不同尺寸、重量的樣品的振動測試需求。服務(wù)范圍本商品可提供針對家用電器、汽車零部件、線束
2023-09-21 16:52:00
龍騰半導(dǎo)體建有功率器件可靠性與應(yīng)用實驗中心，專注于產(chǎn)品設(shè)計驗證、參數(shù)檢測、可靠性驗證、失效分析及應(yīng)用評估，公司參考半導(dǎo)體行業(yè)可靠性試驗條件和抽樣原則，制定產(chǎn)品可靠性規(guī)范并依此對產(chǎn)品進行完整可靠性驗證。
2023-09-20 16:29:21808 
硬件IIC與軟件IIC在使用上的區(qū)別，對產(chǎn)品可靠性與效率的影響
2023-09-20 07:53:05
MCU可靠性設(shè)計——小芯片里的大學(xué)問
2023-09-18 10:58:41264 
(MGEQ1C064AD48)于今年6月已獲AEC-Q100 Grade2車規(guī)級可靠性認證，滿足安全標準車規(guī)級MCU的功能，近期也正導(dǎo)入試產(chǎn)中，預(yù)計今年第4季可實現(xiàn)規(guī)模量產(chǎn)。
表1_車規(guī)等級芯片要求
資料來源: 方正證券
2023-09-15 12:04:18
和多功能化要求，以及無鉛、無鹵進程的推動，對PCB可靠性的要求會越來越高，因此如何快速定位PCB可靠性問題并作相應(yīng)的可靠性提升成為PCB企業(yè)的重要課題之一。
2023-08-31 15:46:08521 smt電子元器件焊接可靠性判斷標準有哪些
2023-08-22 11:35:22815 
碳化硅作為第三代半導(dǎo)體經(jīng)典的應(yīng)用，具有眾多自身優(yōu)勢和技術(shù)優(yōu)勢，它所制成的功率器件在生活中運用十分廣泛，越來越無法離開，因此使用碳化硅產(chǎn)品的穩(wěn)定性在一定程度上也決定了生活的質(zhì)量。作為高尖精的產(chǎn)品，芯片的可靠性測試貫徹始終，從設(shè)計到選材再到最后的出產(chǎn)，那研發(fā)過程中具體需要做哪些測試呢
2023-08-18 09:52:23750 
從以前的模式中進行掃描，然后掃描除第一種以外的所有以及測試程序中的最后一個模式。
2023-08-11 09:38:02553 
壽命測試是一種重要的可靠性測試方法，用于評估組件、子系統(tǒng)或系統(tǒng)在預(yù)期或指定的使用壽命條件下的性能和可靠性。壽命測試旨在模擬實際應(yīng)用環(huán)境中物品所面臨的各種因素和應(yīng)力，例如時間、溫度、振動、沖擊、電壓等，并通過持續(xù)的測試和監(jiān)測來觀察物品在這些條件下的行為。
2023-08-01 16:31:20505 季豐電子面向客戶提供完整的半導(dǎo)體工藝可靠性測試、驗證和咨詢服務(wù)，可有效縮短制造工藝和器件開發(fā)的時間，加速客戶產(chǎn)品投入市場的進程周期。 ? 工藝可靠性業(yè)務(wù)主要基于行業(yè)通用及客戶定制標準、產(chǎn)品、工藝特點
2023-07-23 11:16:121376 
前言 光器件的可靠性標準中，我們最常接觸的應(yīng)該就是GR-468和GR-1209/1221了。GR-468重點講了有源器件的可靠性要求，而GR-1209/1221重點講無源器件的可靠性要求。雖然涵蓋
2023-07-20 18:10:43889 
固有可靠性指的是什么？指的是在生產(chǎn)過程中已經(jīng)確立的可靠性，它是產(chǎn)品內(nèi)在的可靠性，是生產(chǎn)廠家模擬實際工作條件的標準環(huán)境下，對產(chǎn)品進行檢查并給予保證的可靠性。固有可靠性由電子元器件的生產(chǎn)單位電子元器件
2023-07-17 09:16:08850 
在半導(dǎo)體器件中，常見的一些加速因子為溫度、濕度、電壓和電流。 在大多數(shù)情況下，加速測試不改變故障的物理特性，但會轉(zhuǎn)移觀察時間。 加速條件和正常使用條件之間的轉(zhuǎn)移稱為“降額”。那么半導(dǎo)體可靠性測試有哪些？讓凱智通小編告訴你~
2023-07-13 14:47:182544 
安全性促進可靠性設(shè)計：安全性要求通常會推動可靠性設(shè)計的實施。為了滿足安全性要求，產(chǎn)品設(shè)計人員需要考慮風(fēng)險評估、故障預(yù)防和容錯設(shè)計等措施。這些措施有助于提高產(chǎn)品的可靠性，減少故障率，增加產(chǎn)品在不安全環(huán)境下的穩(wěn)定性和可用性。
2023-07-12 10:44:132790 設(shè)備的可靠性涉及多個方面：穩(wěn)定的硬件、優(yōu)秀的軟件架構(gòu)、嚴格的測試以及市場和時間的檢驗等等。
2023-07-11 10:09:32212 電子產(chǎn)品可靠性測試是為了評估產(chǎn)品在規(guī)定的壽命期間內(nèi)，在預(yù)期的使用、運輸或儲存等所有環(huán)境下，保持功能可靠性而進行的活動。是將產(chǎn)品暴露在自然的或人工的環(huán)境條件下經(jīng)受其作用，以評價產(chǎn)品在實際使用、運輸
2023-07-04 14:30:441184 目標到2025年,重點行業(yè)關(guān)鍵核心產(chǎn)品的可靠性水平明顯提升，可靠性標準體系基本建立，企業(yè)質(zhì)量與可靠性管理能力不斷增強，可靠性試驗驗證能力大幅提升，專業(yè)人才隊伍持續(xù)壯大。
2023-07-04 11:26:39313 
到2030年，10類關(guān)鍵核心產(chǎn)品可靠性水平達到國際先進水平，可靠性標準引領(lǐng)作用充分彰顯，培育一批可靠性公共服務(wù)機構(gòu)和可靠性專業(yè)人才，我國制造業(yè)可靠性整體水平邁上新臺階，成為支撐制造業(yè)高質(zhì)量發(fā)展的重要引擎。
2023-07-04 11:15:07471 車規(guī)級功率器件未來發(fā)展趨勢
材料方面: SiC和GaN是必然趨勢，GaAs在細分領(lǐng)域有可能
●封裝方面:高功率密度、高可靠性和定制化
●評測方面:多應(yīng)力綜合測試方法、新型結(jié)溫測試方法和技術(shù)
●進展方面:國產(chǎn)在趕超進口(參數(shù)和性能)，可靠性還需要時間沉淀
2023-07-04 10:48:05415 
在芯片測試中，分類和選擇是關(guān)鍵的步驟，以確保芯片的質(zhì)量和可靠性。根據(jù)不同的測試目標和要求，可以采用不同的分類方法和選擇策略。
2023-06-30 13:50:22478 芯片封裝測試是在芯片制造過程的最后階段完成的一項重要測試，它主要用于驗證芯片的封裝質(zhì)量和功能可靠性。芯片封裝測試包括以下主要方面。
2023-06-28 13:49:561167 拉力試驗機夾具的初始距離、材質(zhì)、規(guī)格、定制、種類、廠家等因素都對測試的準確性和可靠性具有重要影響。在使用拉力試驗機夾具時，需要根據(jù)被測物體的特性和測試要求，選擇合適的夾具，確保測試的準確性和可靠性。
2023-06-27 13:37:29459 
IEC 62308的范圍規(guī)定“本標準描述了項目的可靠性評估方法。適用于任務(wù)、安全、業(yè)務(wù)關(guān)鍵、高完整性、復(fù)雜電子產(chǎn)品。它包含有關(guān)為什么需要可靠性以及如何以及在何處使用評估結(jié)果的信息。最后，它詳細說明了如何選擇可靠性評估方法以及支持評估所需的數(shù)據(jù)。
2023-06-27 09:55:11508 
單片GaN器件集成驅(qū)動功率轉(zhuǎn)換的效率、密度和可靠性
2023-06-21 09:59:28
通過集成和應(yīng)用相關(guān)壓力測試的GaN可靠性
2023-06-21 06:02:18
GaNPower集成電路的可靠性測試與鑒定
2023-06-19 11:17:46
GaN功率集成電路可靠性的系統(tǒng)方法
2023-06-19 06:52:09
，保險絲/熔斷器提供必要的過負載保護。最新的AEC-Q200修訂版E確定了保險絲/熔斷器廠商的測試要求，并確保符合AEC-Q200認證的保險絲/熔斷器能高標準地滿足耐用性和可靠性。本文介紹了汽車電子理事會、AEC-Q200標準及其新修訂版E。 ? 當(dāng)今汽車電氣化供電需求復(fù)雜而
2023-06-15 16:53:541009 
封裝可靠性設(shè)計是指針對集成電路使用中可能出現(xiàn)的封裝失效模式，采取相應(yīng)的設(shè)計技術(shù)，消除或控制失效模式，使集成電路滿足規(guī)定的可靠性要求所采取的技術(shù)活動。
2023-06-15 08:59:55505 芯片功能測試常用5種方法有板級測試、晶圓CP測試、封裝后成品FT測試、系統(tǒng)級SLT測試、可靠性測試。
2023-06-09 16:25:42
芯片功能測試常用5種方法有板級測試、晶圓CP測試、封裝后成品FT測試、系統(tǒng)級SLT測試、可靠性測試。
2023-06-09 15:46:581663 
提高可靠性最簡單的方法就是把文件系統(tǒng)設(shè)置為只讀狀態(tài)。即禁止對其中的內(nèi)容作任何修改。這樣，文件系統(tǒng)便不會因?qū)懭氩僮髌陂g發(fā)生故障而受損。
2023-06-08 09:49:51860 
軍用電子元器件二篩，二次篩選試驗，進口元器件可靠性篩選試驗
按性質(zhì)分類：
（1）檢查篩選：顯微鏡檢查、紅外線非破壞檢查、X射線非破壞性檢查。
（2）密封性篩選：液浸檢漏、氦質(zhì)譜檢漏、放射性示蹤檢漏
2023-06-08 09:17:22
芯片測試治具是一種用于芯片測試的實驗室設(shè)備，可以實現(xiàn)芯片的功能測試、參數(shù)測試和性能測試，它可以幫助電子工程師驗證芯片的性能和可靠性，實現(xiàn)芯片的精確測試和優(yōu)化。
2023-05-30 15:26:25453 試驗，電壓暫降測試，騷擾功率試驗，電磁抗擾試驗室，射頻測試，電磁場輻射試驗，抗繞度試驗，電瞬態(tài)干擾試驗，插入損耗試驗等。
可靠性試驗/可靠性測試：
可靠性強化試驗，加速壽命試驗（halt），環(huán)境應(yīng)力篩選試驗（ess），可靠性驗收試驗，可靠性鑒定試驗，可靠性增長試驗。
2023-05-23 15:55:57
可靠性測試對于芯片的制造和設(shè)計過程至關(guān)重要。通過進行全面而嚴格的可靠性測試，可以提前發(fā)現(xiàn)并解決潛在的設(shè)計缺陷、制造問題或環(huán)境敏感性，從而確保芯片在長期使用中的性能和可靠性。
2023-05-20 16:47:5211453 
課程名稱：《硬件電路可靠性設(shè)計、測試與案例分析》講師：王老師時間地點：北京6月15日-17日主辦單位：賽盛技術(shù)課程特色1.案例多，案例均來自于電路設(shè)計缺陷導(dǎo)致的實際產(chǎn)品可靠性問題2.課程內(nèi)容圍繞電路
2023-05-18 10:40:50350 
我想知道產(chǎn)品MPC5200CVR400B和PCF8582C-2T/03的MTBF或FIT值來做可靠性預(yù)測工作
2023-05-17 08:49:55
支持系統(tǒng)的導(dǎo)航設(shè)備和立體成像設(shè)備中。
?不同位置的PCB的不同可靠性要求
就公共安全而言，汽車屬于高可靠性產(chǎn)品類別，因此，汽車PCB必須通過一些可靠性測試，而尺寸，尺寸，機械和電氣性能等一般
2023-04-24 16:34:26
昂貴且復(fù)雜的離散互連電纜會降低設(shè)計的可靠性，增加設(shè)計成本和總體設(shè)計尺寸。幸運的是，還有其他形式的柔性和柔性剛硬的PCB.柔性PCB可以為您提供滿足您的設(shè)計互連要求的經(jīng)濟高效且方便的解決方案，并
2023-04-21 15:52:50
點擊藍字關(guān)注我們SUBSCRIBEtoUSLED汽車照明市場在最近幾年得到了飛速的發(fā)展,LED器件在符合汽車照明標準體系的同時，也面臨著成本和可靠性方面的多重挑戰(zhàn)。一、LED汽車照明標準體系1.國際
2023-04-21 09:22:30366 
PCB設(shè)計中的可靠性有哪些？ 實踐證明，即使電路原理圖設(shè)計正確，如果PCB設(shè)計不當(dāng)，也會對電子設(shè)備的可靠性產(chǎn)生不利的影響。舉個簡單的例子，如果PCB兩條細平行線靠得很近的話，則會造成信號波形
2023-04-10 16:03:54
半導(dǎo)體元器件在高溫環(huán)境下的可靠性是制造商和用戶十分關(guān)注的問題。高溫試驗是一種常用的測試方法，通過模擬實際使用中的高溫環(huán)境，可以評估元器件在高溫下的性能和可靠性。高溫試驗需要仔細設(shè)計實驗方案，包括選擇
2023-04-07 10:21:03766 
我想知道這些設(shè)備的可靠性數(shù)據(jù)，例如 MTBF 和 FIT，BSS138PW BSS84AKW，115
2023-04-03 08:12:35
可靠性/可用性驗證測試FIT:定義及目的
FIT (Fault Injection Test) :故障注入測試,通過向系統(tǒng)注入在實際應(yīng)用中可能發(fā)生的故障,觀察系統(tǒng)功能性能變化,故
障檢測、定位、隔離以及故障恢復(fù)情況，發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品缺陷、評估系統(tǒng)可靠性的測試方法。
2023-03-29 09:18:47589 電子產(chǎn)品的可靠性和可用性。 射頻組件測試的目的 射頻組件測試的目的是確保射頻組件的性能符合要求，以確保電子產(chǎn)品的可靠性和可用性。射頻組件測試的主要內(nèi)容包括射頻組件的發(fā)射功率測試、射頻組件的接收靈敏度測試、射
2023-03-28 16:33:16362 
嗨，我在哪里可以獲得以下芯片的可靠性測試報告？FS32K144HAT0MLHTPCA85073ADPTJA1044GT/3
2023-03-23 06:20:13
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