導(dǎo)讀:工在當(dāng)前大批量工業(yè)自動(dòng)生產(chǎn)過(guò)程中,用人工檢查產(chǎn)品質(zhì)量效率過(guò)低且精度不高;和其他一些人工視覺(jué)檢測(cè)難以滿足要求的場(chǎng)合,表面瑕疵檢測(cè)儀正在迅速取代人工視覺(jué)檢測(cè)。事實(shí)上,也正因如此,在世界上現(xiàn)代自動(dòng)化生產(chǎn)過(guò)程中表面瑕疵檢測(cè)系統(tǒng)已廣泛應(yīng)用于帶鋼、薄膜、金屬、紙張、無(wú)紡布、玻璃等領(lǐng)域。
基于CCD的精譜測(cè)控光學(xué)薄膜污點(diǎn)檢測(cè)儀與傳統(tǒng)的人工肉眼檢測(cè)相比,具有快速、可靠、準(zhǔn)確的優(yōu)點(diǎn),實(shí)時(shí)在線檢測(cè),自動(dòng)報(bào)警并顯示當(dāng)前瑕疵的具體信息,以便及時(shí)進(jìn)行處理。同時(shí)系統(tǒng)根據(jù)產(chǎn)品批次號(hào)對(duì)每一卷產(chǎn)品的檢測(cè)報(bào)表自動(dòng)保存,方便后期的查詢、調(diào)用。從而實(shí)現(xiàn)了產(chǎn)品質(zhì)量的評(píng)級(jí)分類、客訴有據(jù)追溯,大大節(jié)約了生產(chǎn)成本,提高了成品質(zhì)量。薄膜瑕疵在線檢測(cè)系統(tǒng)成為自動(dòng)化薄膜生產(chǎn)線中不可或缺的一部分。
精譜測(cè)控光學(xué)薄膜污點(diǎn)檢測(cè)儀工作原理:
生產(chǎn)線正常生產(chǎn)時(shí),高亮的LED線性聚光冷光源采用透射的原理照射在生產(chǎn)線表面(對(duì)于不透明的薄膜產(chǎn)品采用反射的檢測(cè)原理),架設(shè)在生產(chǎn)線上的線陣相機(jī)進(jìn)行實(shí)時(shí)同步掃描,同時(shí)系統(tǒng)將相機(jī)采集到的薄膜圖像通過(guò)圖像處理單元進(jìn)行瑕疵分割處理。
精譜測(cè)控光學(xué)薄膜污點(diǎn)檢測(cè)儀系統(tǒng)功能:
1.操作便捷,操作簡(jiǎn)單,只需點(diǎn)擊“開(kāi)始”、“停止”即可完成所有操作。
2.穩(wěn)定性高,可連續(xù)工作在極端溫度和廠房環(huán)境中。
3.100%幅面表面檢測(cè),發(fā)現(xiàn)疵點(diǎn)時(shí)可根據(jù)設(shè)定發(fā)出報(bào)警,提示及時(shí)修復(fù),避免大量缺陷產(chǎn)品的產(chǎn)生。
4.完整的表面質(zhì)量信息,材料表面疵點(diǎn)圖像由計(jì)算機(jī)進(jìn)行保存,每卷產(chǎn)品都有完全的疵點(diǎn)圖像/位置和數(shù)量等信息,產(chǎn)品幅面邊緣根據(jù)需要可以進(jìn)行自動(dòng)貼標(biāo)。
5.高精度檢測(cè),方案可100%檢測(cè)出0.02 平方毫米以上的疵點(diǎn)缺陷,滿足客戶的不斷提升的產(chǎn)品品質(zhì)要求。
6.軟件數(shù)據(jù)庫(kù)管理功能,可以對(duì)生產(chǎn)的每卷材料進(jìn)行精確的質(zhì)量統(tǒng)計(jì),詳細(xì)的缺陷記錄(大小和位置)和統(tǒng)計(jì)為生產(chǎn)工藝及設(shè)備狀態(tài)調(diào)整提供了方便;離線分析,用于后續(xù)分切和質(zhì)量管理,可有效保證產(chǎn)品質(zhì)量。
7.定位標(biāo)識(shí)功能,每生產(chǎn)一卷產(chǎn)品,系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)對(duì)這一卷產(chǎn)品的表面缺陷進(jìn)行統(tǒng)計(jì),同時(shí)打印出統(tǒng)計(jì)標(biāo)簽,貼在每一卷產(chǎn)品上,跟隨產(chǎn)品發(fā)放下游。這樣用戶就可以通過(guò)每一卷產(chǎn)品上面的標(biāo)簽對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行評(píng)級(jí),從而有效的用于分配不同質(zhì)量要求的用途。
8.系統(tǒng)聯(lián)動(dòng),當(dāng)系統(tǒng)檢測(cè)到疵點(diǎn)時(shí)進(jìn)行聲光報(bào)警,也可在系統(tǒng)中加入其他連鎖I/O 輸出。
9.一鍵導(dǎo)出,一鍵導(dǎo)出EXCEL缺陷明細(xì)表,便于用戶做進(jìn)一步的查詢,分析,建檔。
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評(píng)論
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