金鑒顯微紅外熱點定位測試儀優(yōu)點介紹

近日，廣州市科學(xué)技術(shù)局公示了《廣州市2019年度創(chuàng)新產(chǎn)品目錄擬入選名單》，金鑒實驗室自主研發(fā)的顯微光分布測試儀、顯微紅外熱點定位測試儀成功入選廣州市創(chuàng)新產(chǎn)品“科研儀器設(shè)備”目錄。

廣州市2019年度創(chuàng)新產(chǎn)品目錄擬入選名單

此次公布的廣州市創(chuàng)新產(chǎn)品涉及科研儀器設(shè)備、教學(xué)科研儀器等5個領(lǐng)域，入選產(chǎn)品必須符合創(chuàng)新程度高、產(chǎn)品質(zhì)量可靠、技術(shù)先進等要求。產(chǎn)品運用新技術(shù)原理、新設(shè)計構(gòu)思，在結(jié)構(gòu)、材質(zhì)、工藝等方面對原有產(chǎn)品進行根本性改進，顯著提高產(chǎn)品性能，在同類產(chǎn)品中處于領(lǐng)先水平，同時具有自主知識產(chǎn)權(quán)。

金鑒顯微光分布測試儀、顯微紅外熱點定位測試儀性能卓著，已獲得高?？蒲性核蜕鲜?a target="_blank">公司的廣泛使用，廣受老師和科研人員普遍贊譽。此次能獲得廣州市創(chuàng)新產(chǎn)品榮譽稱號，再次證明了金鑒實驗室的設(shè)備研發(fā)與自主創(chuàng)新能力。

金鑒顯微光分布測試儀

顯微光分布測試儀，針對LED及其他光電器件產(chǎn)業(yè)打造，可用于觀察微米級發(fā)光器件的光分布，測試波長范圍190nm ～1100nm，包含了紫外和紅外不可見光的測試，可用于測量光源的光強分布、直徑、發(fā)散角等參數(shù)。通過CCD測量光強分布，通過算法計算出光源直徑等參數(shù)，測量光強的相對強度，不需要使用標準燈進行校準。適合光電器件及照明相關(guān)領(lǐng)域的來料檢驗、研發(fā)設(shè)計和客訴處理等過程，以達到企業(yè)節(jié)省研發(fā)和品質(zhì)支出的目的。

應(yīng)用領(lǐng)域：適用于LED芯片、LED燈珠燈具、面板燈、汽車照明燈、LCD顯示屏、激光器及其他光電器件的來料檢驗、研發(fā)設(shè)計和客訴處理等過程，助力LED芯片設(shè)計優(yōu)化、光源的光線追跡及發(fā)光均勻性測量。

金鑒顯微光分布與傳統(tǒng)設(shè)備大PK：

金鑒顯微光分布測試系統(tǒng)可模擬工作溫度進行測試，分辨率可達1微米，其具有3D功能，可觀測芯片出光效果。

金鑒顯微紅外熱點定位測試儀?

金鑒顯微紅外熱點定位測試儀是專為電子產(chǎn)品FA設(shè)計的高精智能化的測試系統(tǒng)，可應(yīng)用于PCBA短路熱點失效分析、IC器件缺陷定位、升溫熱分布動態(tài)采集、功率器件發(fā)熱點探測、集成電路失效分析、無損失效分析、細微缺陷探測、熱梯度。

金鑒顯微紅外熱點定位測試儀優(yōu)點：

①　高靈敏度的鎖相熱成像缺陷定位；

②　配合電測，XRAY等對樣品作無損分析；

③　選配不同鏡頭，可分析封裝芯片及裸芯片；

④　對短路及漏電流等分析效果佳；

⑤　0.03℃溫度分辨率，20um定位分辨率，可探測uW級功耗；

⑥　其他功能如真實溫度測量，熱的動態(tài)分析，熱阻計算；

⑦　相對于其他缺陷查找設(shè)備（EMMI,THERMAL,OBIRCH），價格可承受。

根據(jù)《廣州市人民政府關(guān)于印發(fā)進一步加快促進科技創(chuàng)新政策措施的通知》（穗府規(guī)〔2019〕5號）有關(guān)規(guī)定，將探索建立符合國際規(guī)則的創(chuàng)新產(chǎn)品政府首購制度，加大重大創(chuàng)新產(chǎn)品的采購力度。金鑒實顯微光分布測試儀、顯微紅外熱點定位測試儀獲得創(chuàng)新產(chǎn)品的認定，將有助于通過首購等方式實施政府采購。

今后，金鑒實驗室將不斷研發(fā)和創(chuàng)新設(shè)備產(chǎn)品，歡迎政府部門、科研機構(gòu)及各大企業(yè)采購！
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