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銀膠剝離失效分析

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2023-09-11 09:59:46210

集成電路為什么要做失效分析?失效分析流程?

失效分析(FA)是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。
2023-09-06 10:28:051331

透明膠帶剝離試驗機-概要

。 若黏性過大,剝離強度就會過大,則輸液后輸液貼不易撕掉,在撕扯的過程中造成患者強烈的疼痛感;相反,若過小,輸液貼易發(fā)生脫落,喪失其固定作用。 
2023-09-01 16:23:03

集成電路失效分析

集成電路失效分析 隨著現(xiàn)代社會的快速發(fā)展,人們對集成電路(Integrated Circuit,簡稱IC)的需求越來越大,IC在各種電子設(shè)備中占據(jù)著至關(guān)重要的地位,如手機、電腦、汽車等都需要使用到
2023-08-29 16:35:13627

肖特基二極管失效機理

肖特基二極管失效機理? 肖特基二極管(Schottky Barrier Diode, SBD)作為一種快速開關(guān)元件,在電子設(shè)備中得到了廣泛的應(yīng)用。但是,隨著SBD所承受的工作壓力和工作溫度不斷升高
2023-08-29 16:35:08971

芯片失效分析方法 芯片失效原因分析

芯片失效分析方法 芯片失效原因分析? 隨著電子制造技術(shù)的發(fā)展,各種芯片被廣泛應(yīng)用于各種工業(yè)生產(chǎn)和家庭電器中。然而,在使用過程中,芯片的失效是非常常見的問題。芯片失效分析是解決這個問題的關(guān)鍵。 芯片
2023-08-29 16:29:112800

半導(dǎo)體失效分析

半導(dǎo)體失效分析? 半導(dǎo)體失效分析——保障電子設(shè)備可靠性的重要一環(huán) 隨著電子科技的不斷發(fā)展,電子設(shè)備已成為人們生活和工作不可或缺的一部分,而半導(dǎo)體也是電子設(shè)備中最基本的組成部分之一。其作用是將電能轉(zhuǎn)化
2023-08-29 16:29:08736

電子元器件損壞的原因有哪些?電子芯片故障原因有哪些?常見的電子元器件失效機理與分析

電子元器件的主要失效模式包括但不限于開路、短路、燒毀、爆炸、漏電、功能失效、電參數(shù)漂移、非穩(wěn)定失效等。對于硬件工程師來講電子元器件失效是個非常麻煩的事情,比如某個半導(dǎo)體器件外表完好但實際上已經(jīng)半失效
2023-08-29 10:47:313729

鉭電容失效分析 鉭電容失效原因分析 鉭電容燒壞的幾種原因 ;我需要詳盡、詳實、細致的最少1500字的文

鉭電容失效分析 鉭電容失效原因分析 鉭電容燒壞的幾種原因 鉭電容是一種電子元器件,通常用于將電場儲存為電荷的裝置。它們具有高電容和低ESR等優(yōu)點,因此被廣泛應(yīng)用于數(shù)字電路、模擬電路和電源等領(lǐng)域。然而
2023-08-25 14:27:562133

半導(dǎo)體器件鍵合失效模式及機理分析

本文通過對典型案例的介紹,分析了鍵合工藝不當,以及器件封裝因素對器件鍵合失效造成的影響。通過對鍵合工藝參數(shù)以及封裝環(huán)境因素影響的分析,以及對各種失效模式總結(jié),闡述了鍵合工藝不當及封裝不良,造成鍵合本質(zhì)失效的機理;并提出了控制有缺陷器件裝機使用的措施。
2023-07-26 11:23:15930

DTS(Die Top System)預(yù)燒結(jié)焊片

      DTS(Die Top System)預(yù)燒結(jié)焊片簡介DTS(die Top System)預(yù)燒結(jié)焊片是一種用于電子元器件焊接的材料
2023-07-23 13:14:48

芯片失效分析程序的基本原則

與開封前測試結(jié)果加以比較,是否有改變,管殼內(nèi)是否有水汽的影響。進一步可將表面氧化層、鋁條去掉,用機械探針扎在有關(guān)節(jié)點上進行靜態(tài)(動態(tài))測試、判斷被隔離部分是否性能正常,分析失效原因。
2023-07-05 09:43:04317

集成電路封裝失效的原因、分類和分析方法

與外界的連接。然而,在使用過程中,封裝也會出現(xiàn)失效的情況,給產(chǎn)品的可靠性帶來一定的影響。因此,對于封裝失效分析和解決方法具有很重要的意義。
2023-06-28 17:32:001779

溫度-機械應(yīng)力失效主要情形

集成電路封裝失效機理是指與集成電路封裝相關(guān)的,導(dǎo)致失效發(fā)生的電學(xué)、溫度、機械、氣候環(huán)境和輻射等各類應(yīng)力因素及其相互作用過程。根據(jù)應(yīng)力條件的不同,可將失效機理劃分為電應(yīng)力失效機理、溫度-機械應(yīng)力失效
2023-06-26 14:15:31603

BGA失效分析與改善對策

BGA失效分析與改善對策
2023-06-26 10:47:41438

集成電路封裝失效分析流程

為了防止在失效分析過程中丟失封裝失效證據(jù)或因不當順序引人新的人為的失效機理,封裝失效分析應(yīng)按一定的流程進行。
2023-06-25 09:02:30315

集成電路封裝失效分析方法

集成電路封裝失效分析就是判斷集成電路失效中封裝相關(guān)的失效現(xiàn)象、形式(失效模式),查找封裝失效原因,確定失效的物理化學(xué)過程(失效機理),為集成電路封裝糾正設(shè)計、工藝改進等預(yù)防類似封裝失效的再發(fā)生,提升
2023-06-21 08:53:40572

講一下失效分析中最常用的輔助實驗手段:亮點分析(EMMI)

EMMI:Emission microscopy 。與SEM,F(xiàn)IB,EB等一起作為最常用的失效分析手段。
2023-06-12 18:21:182310

膠粘劑剝離強度試驗機

膠粘劑剝離強度試驗機醫(yī)用膠帶也叫輸液貼,是輸液過程中固定注射藥液后對輸液導(dǎo)管、針柄的重要作用,其相關(guān)的粘性指標是藥包材等相關(guān)單位需要進行檢測控制的指標,剝離強度就是檢測醫(yī)用膠帶粘性的重要元素。若
2023-06-06 09:38:23

SMT出現(xiàn)焊點剝離現(xiàn)象的原因分析

焊點剝離現(xiàn)象多出現(xiàn)在通孔波峰焊接工藝中,但也在SMT回流焊工藝中出現(xiàn)過?,F(xiàn)象是焊點和焊盤之間出現(xiàn)斷層而剝離。這類現(xiàn)象的主要原因是無鉛合金的熱膨脹系數(shù)和基板之間的差別很大,導(dǎo)致焊點固話時在剝離部分有太大的應(yīng)力而使它們分開,一些焊料合金的非共晶性也是造成這種現(xiàn)象的原因之一。
2023-05-26 10:10:25586

復(fù)合膜180度剝離強度試驗機

。 若黏性過大,剝離強度就會過大,則輸液后輸液貼不易撕掉,在撕扯的過程中造成患者強烈的疼痛感;相反,若過小,輸液貼易發(fā)生脫落,喪失其固定作用。&nbs
2023-05-23 16:28:30

PCBA焊接潤濕不良分析

No.1 案例概述 PCBA出現(xiàn)焊接潤濕不良,分析剝離的器件與PCB板,推測虛焊發(fā)生原因與助焊劑(警惕!電子產(chǎn)品的“隱形殺手”——助焊劑殘留)相關(guān)性較大。詳細分析方案,請瀏覽文章獲知。 No.2
2023-05-23 09:08:19666

血袋斷裂力連接力牢固度測試儀剝離強度試驗

處應(yīng)承受20N靜拉力15s不斷裂和泄漏,可通過連接力牢固度測試儀/剝離強度測試儀/拉力測試儀等專業(yè)檢驗。連接力牢固度測試儀剝離強度試驗應(yīng)符合gb 14232-19
2023-05-19 17:17:28388

SiC燒結(jié)

,AS9385有壓燒結(jié),AS9395燒結(jié)膜。  二 AS9200系列燒結(jié):包括AS9220燒結(jié),AS9221燒結(jié)。 
2023-05-13 21:10:20

怎樣進行芯片失效分析?

失效分析為設(shè)計工程師不斷改進或者修復(fù)芯片的設(shè)計,使之與設(shè)計規(guī)范更加吻合提供必要的反饋信息。
2023-05-13 17:16:251365

TVS二極管失效機理與失效分析

。 通過對TVS篩選和使用短路失效樣品進行解剖觀察獲得其失效部位的微觀形貌特征.結(jié)合器件結(jié)構(gòu)、材料、制造工藝、工作原理、篩選或使用時所受的應(yīng)力等。采用理論分析和試驗證明等方法分析導(dǎo)致7rvS器件短路失效的原因。
2023-05-12 17:25:483678

電阻、電容、電感的常見失效分析

失效模式:各種失效的現(xiàn)象及其表現(xiàn)的形式。
2023-05-11 14:39:113227

進口芯片失效怎么辦?做個失效分析查找源頭

芯片對于電子設(shè)備來說非常的重要,進口芯片在設(shè)計、制造和使用的過程中難免會出現(xiàn)失效的情況。于是當下,生產(chǎn)對進口芯片的質(zhì)量和可靠性的要求越來越嚴格。因此進口芯片失效分析的作用也日漸凸顯了出來,那么進口芯片失效分析常用的方法有哪些呢?下面安瑪科技小編為大家介紹。
2023-05-10 17:46:31548

ABAQUS中的損壞與失效模型

ABAQUS為材料失效提供了一個通用建模框架,其中允許同一種材料應(yīng)用多種失效機制。
2023-05-02 18:12:002842

環(huán)旭電子發(fā)展先進失效分析技術(shù)

為了將制程問題降至最低,環(huán)旭電子利用高精度3D X-Ray定位異常元件的位置,利用激光去層和重植球技術(shù)提取SiP 模組中的主芯片。同時,利用X射線光電子能譜和傅立葉紅外光譜尋找元件表面有機污染物的源頭,持續(xù)強化SiP模組失效分析領(lǐng)域分析能力。
2023-04-24 11:31:411357

負光刻顯影殘留原因

151n光刻曝光顯影后開口底部都會有一撮殘留,找不到原因。各位幫分析
2023-04-20 13:13:52

壓接型與焊接式IGBT的失效模式與失效機理

失效率是可靠性最重要的評價標準,所以研究IGBT的失效模式和機理對提高IGBT的可靠性有指導(dǎo)作用。
2023-04-20 10:27:041117

電子剝離試驗機都有什么類型?剝離試驗機的意義是什么?

電子剝離試驗機適用于膠黏劑、膠粘帶、不干膠、復(fù)合膜、人造革、編織袋、薄膜、紙張、電子載帶等相關(guān)產(chǎn)品的剝離、剪切、拉斷等性能測試。電子剝離試驗機有立式和臥式兩種結(jié)構(gòu),顯示方面又可分為LCD數(shù)顯和電腦顯示兩種。
2023-04-19 10:25:42420

半導(dǎo)體集成電路失效分析原理及常見失效分析方法介紹!

失效分析(FA)是一門發(fā)展中的新興學(xué)科,近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。在提高產(chǎn)品質(zhì)量,技術(shù)開發(fā)
2023-04-18 09:11:211360

BGA失效分析與改善對策

BGA失效分析與改善對策
2023-04-11 10:55:48577

PCB失效分析技術(shù)總結(jié)

程中出現(xiàn)了大量的失效問題。 對于這種失效問題,我們需要用到一些常用的失效分析技術(shù),來使得PCB在制造的時候質(zhì)量和可靠性水平得到一定的保證,本文總結(jié)了十大失效分析技術(shù),供參考借鑒。
2023-04-10 14:16:22749

單片機封裝裸芯一般用什么呢?有沒有了解的朋友,麻煩分享下,謝啦!

如題,單片機封裝使用導(dǎo)電和絕緣有什么區(qū)別嗎?感謝大神
2023-04-03 14:24:11

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