Kelvin探針為標(biāo)準(zhǔn)陣列和晶圓級(jí)設(shè)備的量產(chǎn)測(cè)試提供一流性能

史密斯英特康是全球領(lǐng)先的關(guān)鍵半導(dǎo)體測(cè)試應(yīng)用創(chuàng)新解決方案的供應(yīng)商,其最新推出的創(chuàng)新且穩(wěn)健的Kelvin(開爾文)彈簧探針技術(shù),適用于低至 0.35 毫米間距的Kelvin測(cè)試應(yīng)用。該探針獨(dú)特的鑿尖設(shè)計(jì)能夠在設(shè)備焊接點(diǎn)上實(shí)現(xiàn)更緊密的中心,低至 0.25 毫米。

Kelvin測(cè)試是一種通過(guò)高分辨率測(cè)量來(lái)確定電阻的有限變化的方法。開爾文探針通過(guò)與載流元件或測(cè)試選點(diǎn)的精密電接觸,可消除或大大降低接觸電阻的影響,從而實(shí)現(xiàn)更精確的測(cè)量。這在處理用于大電流測(cè)試的低毫伏參考電壓時(shí)尤為重要。

史密斯英特康的 Kelvin 探針同樣具備了其在半導(dǎo)體測(cè)試行業(yè)公認(rèn)的標(biāo)準(zhǔn)彈簧探針的 DNA 和世界一流的質(zhì)量。該產(chǎn)品獨(dú)特的鑿尖設(shè)計(jì)可為物聯(lián)網(wǎng)、移動(dòng)、互聯(lián)網(wǎng)和汽車芯片等關(guān)鍵應(yīng)用測(cè)試提供可靠、穩(wěn)定的接觸電阻。 史密斯英特康的開爾文探針頭設(shè)計(jì)應(yīng)用于標(biāo)準(zhǔn)陣列測(cè)試插座或晶圓級(jí)別探針頭(Volta WLCSP ),提供穩(wěn)健、易于維護(hù)、長(zhǎng)壽命的測(cè)試解決方案。此外,為了增加探針的使用壽命,Kelvin探針可以使用 Smiths Interconnect 專有的均質(zhì)合金進(jìn)行優(yōu)化,以提供適用于量產(chǎn)的測(cè)試解決方案。

“隨著行業(yè)對(duì)精密模擬、電源和 RF 測(cè)試的要求不斷提高,史密斯英特康對(duì)我們的 Kelvin 產(chǎn)品系列進(jìn)行了創(chuàng)新,以提供更準(zhǔn)確的測(cè)試,實(shí)現(xiàn)最大化的測(cè)試良率?！?史密斯英特康半導(dǎo)體測(cè)試事業(yè)部全球業(yè)務(wù)發(fā)展總監(jiān) Rick Marshall 分享道。

作為創(chuàng)新的Kelvin 產(chǎn)品系列,Kelvin探頭具備幾個(gè)顯著的優(yōu)點(diǎn),包括:

? 適用于0.35mm 間距及以上的測(cè)試應(yīng)用

? 用于低電阻電源和模擬測(cè)試的四線制測(cè)量

? 易于維護(hù)

? 出色的信號(hào)完整性

? 自清潔

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