保定聯(lián)智電氣的電能質(zhì)量分析儀器是專門用于檢測(cè)電網(wǎng)中發(fā)生波形畸變、諧波含量和三相不平衡等電能質(zhì)量問題的高精度測(cè)試儀器；同時(shí)還具備電參量測(cè)試、諧波判斷、矢量分析、歷史查閱的功能。 電能質(zhì)量分析儀 1.
2024-03-22 08:55:41
52 WD4000國產(chǎn)晶圓幾何形貌量測(cè)設(shè)備通過非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV、BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷?？蓪?shí)現(xiàn)砷化鎵
2024-03-15 09:22:08
現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試 電源質(zhì)量和能量分析儀
2024-03-14 22:33:48
的移相特性非常重要，并且在電子電路中有許多實(shí)際應(yīng)用。 首先，我們來觀察和分析RC電路的移相特性。為了用于觀測(cè)和分析移相特性，我們可以通過輸入一個(gè)正弦信號(hào)來激勵(lì)RC電路。正弦信號(hào)是一種周期性變化的信號(hào)，通常用于分析系統(tǒng)的頻率響應(yīng)。在
2024-03-09 14:07:49308 的情況下，需要迅速找到原因解決問題。電能質(zhì)量分析儀PQ3100 具備準(zhǔn)確捕捉各種電源異常的測(cè)量能力，并且擁有*的操作性，從接線到記錄，簡(jiǎn)單順暢，幫助用戶準(zhǔn)確的進(jìn)行電源
2024-03-09 11:36:30
APM510/FT電能質(zhì)量分析多功能表按 IEC 國際標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)，具有全電量測(cè)量、電能統(tǒng)計(jì)、電能質(zhì) 量分析（包括諧波、間諧波、閃變）、故障錄波功能(包括電壓暫升暫降中斷、沖擊電流等記錄)、事件記錄功 能及網(wǎng)絡(luò)通訊等功能，主要用于電網(wǎng)供電質(zhì)量的綜合監(jiān)控
2024-03-08 16:11:4263 
?形貌觀察，鍍層厚度測(cè)量，錫須長(zhǎng)度測(cè)量等；
材料微觀結(jié)構(gòu)觀察，如金屬材料的晶粒及晶界分析， 鑄鐵材料石墨形態(tài)分析、鋼鐵材料的金相觀察， 納米材料分析等；
區(qū)成分分析，利用電子束與物質(zhì)作用時(shí)產(chǎn)生的特征X
2024-03-01 18:59:58
WD4000無圖晶圓幾何形貌測(cè)量系統(tǒng)是通過非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷?？杉嫒莶煌馁|(zhì)
2024-02-21 13:50:34
輪廓儀，也被稱為白光干涉儀，是利用白光干涉原理進(jìn)行成像測(cè)量的儀器，是一種通過測(cè)量干涉光的干涉條紋來獲取物體表面形貌的方法。該儀器通過發(fā)射一束寬光譜的白光，并將其照射到
2024-02-20 09:10:09
0 表面形貌信息。具體而言，掃描探針通過細(xì)微的力變化，測(cè)量樣品表面的起伏程度以及凹凸部分的高度差。然后通過數(shù)據(jù)處理，形成高分辨率的圖像。它能夠?qū)崿F(xiàn)納米級(jí)別的測(cè)量，對(duì)微觀結(jié)構(gòu)的細(xì)節(jié)進(jìn)行觀測(cè)和分析，揭示出表面的微
2024-02-20 09:06:240 光學(xué)3D表面輪廓儀利用白光干涉原理，以0.1nm分辨率精準(zhǔn)捕捉物體表面細(xì)節(jié)，實(shí)現(xiàn)三維顯微成像測(cè)量。廣泛應(yīng)用于材料學(xué)領(lǐng)域，可測(cè)量各種材料表面形貌，提高超光滑表面形貌的測(cè)試精度。
2024-02-19 13:47:01237 
共聚焦顯微鏡在材料學(xué)領(lǐng)域應(yīng)用廣泛，通過超高分辨率的三維顯微成像測(cè)量，可清晰觀察材料的表面形貌、表層結(jié)構(gòu)和納米尺度的缺陷，有助于理解材料的微觀特性和材料工程設(shè)計(jì)。
2024-02-18 10:53:13224 
臺(tái)階儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測(cè)量儀，能高精度測(cè)量微觀表面形貌，揭示表面微觀特征。它具有高速掃描能力，測(cè)量范圍廣泛，可應(yīng)用于科學(xué)研究、材料表征、納米技術(shù)等領(lǐng)域。臺(tái)階儀的優(yōu)勢(shì)包括高精度、快速測(cè)量和廣泛適用范圍。
2024-02-18 10:51:05242 
擴(kuò)散硅、單晶硅、電容式壓力差壓變送器的區(qū)別與選擇? 擴(kuò)散硅、單晶硅和電容式壓力差壓變送器是常用于工業(yè)領(lǐng)域中測(cè)量流體壓力的儀器。它們各自具有不同的特點(diǎn)和適用場(chǎng)景。下面將詳細(xì)介紹這三種壓力變送器的區(qū)別
2024-01-30 15:06:28577 原理。在顯微鏡的幫助下，可以放大被測(cè)物體的面積和形狀，使其更容易被觀察和測(cè)量。這種技術(shù)的應(yīng)用范圍非常廣泛，涵蓋了諸多領(lǐng)域。在先進(jìn)制造業(yè)中，不管是零件尺寸的測(cè)量還是表面質(zhì)量
2024-01-23 09:37:170 半導(dǎo)體晶圓形貌厚度測(cè)量的意義與挑戰(zhàn)半導(dǎo)體晶圓形貌厚度測(cè)量是半導(dǎo)體制造和研發(fā)過程中至關(guān)重要的一環(huán)。它不僅可以提供制造工藝的反饋和優(yōu)化依據(jù)，還可以保證半導(dǎo)體器件的性能和質(zhì)量。在這個(gè)領(lǐng)域里，測(cè)量的準(zhǔn)確性
2024-01-18 10:56:121 擴(kuò)散硅和電容式壓力變送器區(qū)別？ 擴(kuò)散硅壓力變送器和電容式壓力變送器是兩種常見的壓力傳感器，用于測(cè)量液體或氣體壓力。它們有不同的工作原理和應(yīng)用領(lǐng)域，下面將詳細(xì)介紹它們的區(qū)別。 1. 工作原理
2024-01-16 14:26:40301 半導(dǎo)體晶圓形貌厚度測(cè)量是制造和研發(fā)的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，涉及精確度和穩(wěn)定性。面臨納米級(jí)別測(cè)量挑戰(zhàn)，需要高精度設(shè)備和技術(shù)。反射、多層結(jié)構(gòu)等干擾因素影響測(cè)量準(zhǔn)確性。中圖儀器推動(dòng)測(cè)量技術(shù)發(fā)展，提高精度和速度，滿足不同材料和結(jié)構(gòu)需求。光學(xué)3D表面輪廓儀和臺(tái)階儀等設(shè)備助力測(cè)量，為半導(dǎo)體行業(yè)注入新活力。
2024-01-16 13:32:18313 
我在使用SC573的SPI2的通信功能，在現(xiàn)有例程EEPROM_ReadWrite中將SPI1更換成SPI2在P3的幾個(gè)引腳處測(cè)量SPI2的幾個(gè)對(duì)應(yīng)引腳的波形，用邏輯分析儀觀察到不論是SPI2_SEL1b還是SPI2_SEL3b均無信號(hào)，請(qǐng)問這是怎么回事？
2024-01-11 07:08:41
反應(yīng)表面形貌的參數(shù)。通過非接觸測(cè)量，WD4000無圖晶圓幾何形貌測(cè)量設(shè)備將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV、BOW、WARP、在
2024-01-10 11:10:39
SuperViewW1中圖3d輪廓測(cè)量儀器是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。它基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。產(chǎn)品功能(1
2024-01-08 14:26:48
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：OPC-2300液體顆粒計(jì)數(shù)器是普洛帝采用顆粒計(jì)數(shù)器提供者英國普洛帝分析測(cè)試集團(tuán)公司的核心技術(shù)，嚴(yán)格按照英國普洛帝第八代雙激光窄光顆粒檢測(cè)技術(shù)，研制的一款在線液體顆粒計(jì)數(shù)器檢測(cè)設(shè)備，集結(jié)
2024-01-08 11:53:40
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：OPC-2300液體顆粒計(jì)數(shù)器是普洛帝采用顆粒計(jì)數(shù)器提供者英國普洛帝分析測(cè)試集團(tuán)公司的核心技術(shù)，嚴(yán)格按照英國普洛帝第八代雙激光窄光顆粒檢測(cè)技術(shù)，研制的一款在線液體顆粒計(jì)數(shù)器檢測(cè)設(shè)備，集結(jié)
2024-01-08 11:19:28
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：OPC-2300液體顆粒計(jì)數(shù)器是普洛帝采用顆粒計(jì)數(shù)器提供者英國普洛帝分析測(cè)試集團(tuán)公司的核心技術(shù)，嚴(yán)格按照英國普洛帝第八代雙激光窄光顆粒檢測(cè)技術(shù)，研制的一款在線液體顆粒計(jì)數(shù)器檢測(cè)設(shè)備，集結(jié)
2024-01-08 11:16:06
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：OPC-2300液體顆粒計(jì)數(shù)器是普洛帝采用顆粒計(jì)數(shù)器提供者英國普洛帝分析測(cè)試集團(tuán)公司的核心技術(shù)，嚴(yán)格按照英國普洛帝第八代雙激光窄光顆粒檢測(cè)技術(shù)，研制的一款在線液體顆粒計(jì)數(shù)器檢測(cè)設(shè)備，集結(jié)
2024-01-08 11:13:11
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：OPC-2300液體顆粒計(jì)數(shù)器是普洛帝采用顆粒計(jì)數(shù)器提供者英國普洛帝分析測(cè)試集團(tuán)公司的核心技術(shù)，嚴(yán)格按照英國普洛帝第八代雙激光窄光顆粒檢測(cè)技術(shù)，研制的一款在線液體顆粒計(jì)數(shù)器檢測(cè)
2024-01-08 11:02:19
中圖儀器CP系列臺(tái)階儀接觸式表面形貌測(cè)量儀器主要用于臺(tái)階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測(cè)量。測(cè)量時(shí)通過使用2μm半徑的金剛石針尖在超精密位移臺(tái)移動(dòng)樣品時(shí)掃描其表面，測(cè)針的垂直位移距離被轉(zhuǎn)換
2024-01-04 10:08:52
中圖儀器VT6000系列3D共聚焦形貌顯微鏡以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，測(cè)量表面物理形貌，進(jìn)行微納米尺度的三維形貌分析，如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓（縱深
2024-01-03 10:05:05
理解其功能和重要性。 HFQ-SPC1000電能質(zhì)量分析儀是一款全面且精確的電力質(zhì)量測(cè)量設(shè)備。它能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)和記錄電網(wǎng)的各項(xiàng)參數(shù)，包括電壓、電流、頻率等，同時(shí)還能對(duì)電能質(zhì)量進(jìn)行全面的評(píng)估，如諧波含量、閃爍噪聲等。這款儀器的使用，極大地提
2023-12-28 10:57:50142 
纖芯直徑為62.5μm和50μm的多模光纖能混用嗎？混用以后會(huì)對(duì)光纖的傳輸性能產(chǎn)生什么影響？ 可以混用纖芯直徑為62.5μm和50μm的多模光纖，但是混用后會(huì)對(duì)光纖的傳輸性能產(chǎn)生一定的影響。 首先
2023-12-27 15:44:50282 如何使用頻譜分析儀來觀察和分析雜散信號(hào)？ 頻譜分析儀是一種廣泛應(yīng)用于電子領(lǐng)域的儀器，用于觀察和分析信號(hào)的頻譜特性。它可以幫助工程師們檢測(cè)和排除信號(hào)中的雜散信號(hào)，確保設(shè)備的正常工作和無干擾的信號(hào)傳輸
2023-12-21 15:37:16592 微納米表面輪廓形貌的測(cè)量可以幫助我們了解材料的物理特性、表面形態(tài)以及質(zhì)量狀況。如白光干涉儀是一種常見的微納米表面輪廓儀測(cè)量儀器，常用于研究產(chǎn)品的微觀形貌和粗糙度；而共聚焦顯微鏡大傾角超清納米測(cè)量，在滿足精度的情況下使用場(chǎng)景更具有兼容性。選擇適合的測(cè)量儀器對(duì)于準(zhǔn)確獲取樣品表面形貌和特征至關(guān)重要。
2023-12-20 16:38:09358 
WD4000晶圓幾何形貌測(cè)量設(shè)備采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測(cè)量雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立表面3D層析圖像，實(shí)現(xiàn)Wafer厚度、翹曲度、平面度、線粗糙度、總體厚度變化(TTV
2023-12-20 11:22:44
品牌：久濱型號(hào)：JB-500名稱：陶瓷研缽式研磨機(jī)一、產(chǎn)品概述： 本品為大型自動(dòng)研磨設(shè)備，可用于醫(yī)藥微粉、超硬材料微粉、電子微粉、食品微粉、化工微粉、礦物微粉、高分子材料微粉、齒科材料膏體（濕磨
2023-12-14 11:21:09
電源線的直徑可以和信號(hào)線的直徑相同嗎？ 電源線的直徑與信號(hào)線的直徑是否相同，以及它們是否可以互相替換使用，是一個(gè)復(fù)雜而有討論性的問題。在本篇文章中，我將從不同角度詳細(xì)探討這個(gè)問題，并提供一些相關(guān)實(shí)例
2023-12-11 15:24:08262 中圖儀器SuperViewW系列3d表面微觀形貌輪廓儀可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。它是以3D非接觸方式，測(cè)量分析
2023-12-08 11:27:29
中圖儀器SuperViewW1非接觸表面形貌儀白光干涉儀具有測(cè)量精度高、功能全面、操作便捷、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)。它基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸，測(cè)量
2023-12-06 14:04:23
電能質(zhì)量分析儀是一種專門用于分析電網(wǎng)運(yùn)行質(zhì)量的專用儀表，可以準(zhǔn)確快速地測(cè)量與功耗和發(fā)電相關(guān)的各種參數(shù)，包括電壓、電流、相角、功率因數(shù)、有功功率、頻率等多種電參量。同時(shí)，它還具備電參量測(cè)試和矢量分析的功能，有效幫助用戶分析電能質(zhì)量問題，了解電能的工作狀態(tài)和質(zhì)量狀況。
2023-12-04 14:25:40363 
共聚焦顯微鏡其尖端的傾角形貌測(cè)量功能能清晰呈現(xiàn)復(fù)雜結(jié)構(gòu)的細(xì)節(jié)，在形貌測(cè)量方面具有顯著優(yōu)勢(shì)。在微納檢測(cè)領(lǐng)域，共聚焦顯微鏡具有的納米級(jí)別縱向分辨能力，在相同物鏡放大的條件下橫向分辨率更高，能夠清晰地展示
2023-11-29 10:01:430 。例如，在使用動(dòng)態(tài)光散射儀（DLS）測(cè)量顆粒尺寸分布時(shí)，大量噪聲信號(hào)可能導(dǎo)致PDI值偏高。四、PDI與其他參數(shù)之間的關(guān)系
1. PDI與平均粒徑的關(guān)系：PDI值越小，平均粒徑越接近于樣品中直徑為50
2023-11-28 13:38:39
與其它表面形貌測(cè)量方法相比，SuperViewW系列光學(xué)3D表面輪廓儀達(dá)到納米級(jí)別的相移干涉法(PSI)和垂直掃描干涉法(VSI)，具有快速、非接觸的優(yōu)點(diǎn)。它結(jié)合了跨尺度納米直驅(qū)技術(shù)、精密光學(xué)干涉
2023-11-28 10:59:58241 
效果也遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過手動(dòng)的研磨。公司自主研發(fā)的控制系統(tǒng)分別對(duì)碾磨棒轉(zhuǎn)速、碾磨時(shí)間精確控制。是實(shí)驗(yàn)室碾磨微粉的理想設(shè)備。二、適合研磨的顆粒（或粉末）：1、超硬材料微粉，例如
2023-11-24 13:48:04
煙氣在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng)常見顆粒物測(cè)量值異常維修
2023-11-24 10:16:16391 及尺寸的非接觸式快速測(cè)量。SuperViewW3d光學(xué)輪廓儀以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸，典型結(jié)果包括：表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，臺(tái)
2023-11-20 11:46:25
電流不平衡度測(cè)量，故障濾波、事件記錄等多功能為一體的高端便攜式電能質(zhì)量分析儀應(yīng)運(yùn)而生。本文將為您詳細(xì)介紹這款神奇的電能質(zhì)量分析儀的特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì)。
2023-11-15 13:58:44275 
中圖儀器CP200國產(chǎn)臺(tái)階形貌儀是一種接觸式表面形貌測(cè)量儀器，可以對(duì)微米和納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測(cè)量。測(cè)量時(shí)通過使用2μm半徑的金剛石針尖在超精密位移臺(tái)移動(dòng)
2023-11-09 09:11:26
電能質(zhì)量分析儀功能介紹： 測(cè)試功能： 波形實(shí)時(shí)顯示（4路電壓/4路電流）；電壓和電流真有效值；電壓直流成份；電流和電壓峰值；電流和電壓一段時(shí)間內(nèi)的最大/最小值；相量圖顯示；各相諧波的測(cè)量，達(dá)50
2023-11-08 14:55:45204 
干涉現(xiàn)象，使用白光源照射物體，并將反射光經(jīng)過干涉儀的分光裝置后形成干涉圖樣。通過觀察干涉圖樣的變化，就可以獲得物體表面形貌的細(xì)節(jié)信息。
如何使用白光干涉儀來測(cè)量坑的形貌？在使用白光干涉儀測(cè)量坑的形貌
2023-11-06 14:27:48
WD4000晶圓幾何形貌測(cè)量及參數(shù)自動(dòng)檢測(cè)機(jī)通過非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷
2023-11-06 10:49:18
晶圓在加工過程中的形貌及關(guān)鍵尺寸對(duì)器件的性能有著重要的影響，而形貌和關(guān)鍵尺寸測(cè)量如表面粗糙度、臺(tái)階高度、應(yīng)力及線寬測(cè)量等就成為加工前后的步驟。以下總結(jié)了從宏觀到微觀的不同表面測(cè)量方法：?jiǎn)畏N測(cè)量手段
2023-11-03 09:21:580 晶圓在加工過程中的形貌及關(guān)鍵尺寸對(duì)器件的性能有著重要的影響，而形貌和關(guān)鍵尺寸測(cè)量如表面粗糙度、臺(tái)階高度、應(yīng)力及線寬測(cè)量等就成為加工前后的步驟。以下總結(jié)了從宏觀到微觀的不同表面測(cè)量方法：?jiǎn)畏N測(cè)量手段
2023-11-02 11:21:54462 
圖像，通過系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析，并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù)。基于白光干涉原理，SuperViewW1白光干涉三維形貌測(cè)量儀以3
2023-11-01 09:39:26
8gu盤閃存顆粒壞了 可以自己換16g或者更大的閃存顆粒嗎
2023-11-01 06:47:37
？它是利用干涉現(xiàn)象，使用白光源照射物體，并將反射光經(jīng)過干涉儀的分光裝置后形成干涉圖樣。通過觀察干涉圖樣的變化，就可以獲得物體表面形貌的細(xì)節(jié)信息。 如何使用白
2023-10-26 10:47:58
WD4000無圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。1、使用光譜共焦對(duì)射技術(shù)測(cè)量晶圓Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR
2023-10-24 09:42:25554 
如何使用電能質(zhì)量分析儀測(cè)試變頻驅(qū)動(dòng)器的輸出？ 電能質(zhì)量分析儀是一種用于測(cè)量電力系統(tǒng)的電能質(zhì)量參數(shù)的儀器。它能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)、分析和記錄供電系統(tǒng)的電能質(zhì)量，包括電壓、電流、頻率、功率、功率因數(shù)、諧波、峰值
2023-10-22 11:41:56400 使用MAVOWATT系列便攜式電能質(zhì)量分析儀能夠準(zhǔn)確地測(cè)量出三相電路中的相電流值、供電電壓偏差、電力系統(tǒng)頻率偏差和公用電網(wǎng)諧波。
2023-10-20 15:43:49193 
干涉現(xiàn)象，使用白光源照射物體，并將反射光經(jīng)過干涉儀的分光裝置后形成干涉圖樣。通過觀察干涉圖樣的變化，就可以獲得物體表面形貌的細(xì)節(jié)信息。如何使用白光干涉儀來測(cè)量坑的形貌？
2023-10-20 09:52:210 SuperViewW1白光干涉儀結(jié)合數(shù)字圖像處理技術(shù)和三維重建算法來提高測(cè)量的精度和效率，揭秘并測(cè)量坑的形貌，為科學(xué)研究和工程實(shí)踐提供更有力的支持
2023-10-18 09:05:39462 
中圖儀器SuperViewW1白光干涉3D形貌測(cè)量儀以白光干涉技術(shù)原理，是對(duì)各種精密器件表面進(jìn)行納米級(jí)測(cè)量的儀器。它結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，通過測(cè)量干涉條紋的變化來測(cè)量表面三維形貌
2023-10-17 14:24:27
共聚焦光學(xué)系統(tǒng)為基礎(chǔ)，結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和3D重建算法共同組成測(cè)量系統(tǒng)，能用于各種精密器件及材料表面的非接觸式微納米測(cè)量。能測(cè)量表面物理形貌，進(jìn)行微納米尺度的三維形貌分析，如3D表面形貌、2D的縱深
2023-10-11 14:37:46
專業(yè)電能質(zhì)量分析軟件Dran-View（V7.10.08版），現(xiàn)在可以免費(fèi)使用了，無需加密狗(HASP-key)，軟件也能正常運(yùn)行。
德國GMC-I電能質(zhì)量分析儀的用戶，不再需要HASP-key或軟件激活碼進(jìn)行許可便可使用DV7專業(yè)版，不受限制地使用專業(yè)電能分析軟件的強(qiáng)大功能。
2023-10-10 15:32:39199 在當(dāng)今社會(huì)，電力已經(jīng)成為我們生活中不可或缺的一部分。為了保證電力系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行，電能質(zhì)量分析儀應(yīng)運(yùn)而生。它是一款專門用于檢測(cè)和分析電能質(zhì)量的設(shè)備，能夠幫助我們解決電力系統(tǒng)中的各種問題，確保電力供應(yīng)
2023-09-28 10:38:22274 觸針式粗糙度輪廓儀廣泛應(yīng)用于工程領(lǐng)域和制造業(yè)中，用于表面形貌的分析和處理。通過測(cè)量獲得的表面形貌數(shù)據(jù)，可以進(jìn)行各種形式的分析，如峰谷高度分布、表面輪廓特征、表面粗糙度和形狀參數(shù)等。
2023-09-18 09:44:07474 
臺(tái)階儀是一種接觸式表面形貌測(cè)量儀器，可以對(duì)微米和納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測(cè)量。中圖儀器CP系列臺(tái)階儀接觸式表面形貌測(cè)量儀廣泛應(yīng)用于：大學(xué)、研究實(shí)驗(yàn)室和研究所
2023-09-14 16:10:14
表面貼裝技術(shù)中的鋼網(wǎng)設(shè)計(jì)是決定焊膏沉積量的關(guān)鍵因素，而再流焊后形成的焊點(diǎn)形貌與鋼網(wǎng)的開口設(shè)計(jì)有著千絲萬縷的聯(lián)系。從SMT錫膏印刷工藝的理論基礎(chǔ)出發(fā)，結(jié)合實(shí)際PCB（印制線路板）上錫膏印刷量，針對(duì)在不同線寬的高速信號(hào)線衍生形成的焊盤上印刷不同體積的錫膏量，論證再流焊后形成的焊點(diǎn)形貌。
2023-09-12 10:29:03383 
加那利群島拉帕爾馬島的MAGIC 望遠(yuǎn)鏡是為了觀測(cè)發(fā)射高能伽馬射線的宇宙物體（即超新星或黑洞）而建造的。天文學(xué)家使用雙望遠(yuǎn)鏡測(cè)量恒星的直徑，以研究其整個(gè)生命周期的過程。對(duì)于地球上的望遠(yuǎn)鏡來說，這是
2023-09-11 15:31:38199 
使用虹科數(shù)字化儀測(cè)量遙遠(yuǎn)恒星的直徑HongKe'sdigitizercards加那利群島拉帕爾馬島的MAGIC望遠(yuǎn)鏡是為了觀測(cè)發(fā)射高能伽馬射線的宇宙物體（即超新星或黑洞）而建造的。天文學(xué)家
2023-09-09 08:07:32352 
白光干涉儀是一種常見的測(cè)量設(shè)備，它能夠利用不同的光束干涉原理來觀察和測(cè)量顯微形貌。當(dāng)白色光經(jīng)過分束鏡分成兩束光線，這些光線在目標(biāo)物體上反射后重新合并。這樣，生成的光束會(huì)發(fā)生干涉，由此產(chǎn)生一系列明暗相間的干涉條紋。這些條紋的形狀和間距與目標(biāo)物體的表面形貌直接相關(guān)。
2023-08-23 10:35:21441 
、三維表面結(jié)構(gòu)：粗糙度，波紋度，表面結(jié)構(gòu)，缺陷分析，晶粒分析等；
2、二維圖像分析：距離，半徑，斜坡，格子圖，輪廓線等；
3、表界面測(cè)量：透明表面形貌，薄膜厚度，透明薄膜下的表面；
4、薄膜和厚膜
2023-08-21 13:46:12
近日某司送修福祿克電能質(zhì)量分析儀434，客戶反饋電能質(zhì)量分析儀一閃后黑屏，對(duì)儀器進(jìn)行初步檢測(cè)，確定與客戶描述故障一致。本期將為大家分享本維修案例。 下面就是福祿克-434維修情況 ? 福祿克電能質(zhì)量分析
2023-08-16 17:52:11442 
CP國產(chǎn)臺(tái)階儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測(cè)量儀器，其主要用于臺(tái)階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測(cè)量。測(cè)量時(shí)通過使用2μm半徑的金剛石針尖在超精密位移臺(tái)移動(dòng)樣品時(shí)掃描其表面，測(cè)針的垂直位移
2023-08-16 11:16:49
白光干涉儀利用白光干涉原理，通過測(cè)量光的相位變化來獲取物體表面的形貌信息。在工業(yè)制造、科學(xué)研究等領(lǐng)域，被廣泛用于測(cè)量精密器件的形貌、表面缺陷檢測(cè)等方面。白光干涉儀通過對(duì)干涉條紋進(jìn)行圖像處理，可以獲得
2023-07-21 11:05:48418 
白光干涉儀測(cè)量的結(jié)果通常以二維形貌圖或三維形貌圖的形式展示。二維形貌圖是對(duì)干涉條紋進(jìn)行圖像處理得到的，顯示出被測(cè)物體表面的高低起伏。而三維形貌圖則是在二維圖像的基礎(chǔ)上，進(jìn)一步還原出物體表面的立體形貌
2023-07-21 11:03:00522 
SFC系列遠(yuǎn)場(chǎng)掃描儀旨在滿足對(duì)發(fā)光元件光束質(zhì)量分析和測(cè)試的日益增長(zhǎng)的需求。該遠(yuǎn)場(chǎng)掃描儀具有廣泛的操作和測(cè)量范圍，而且并不犧牲速度性能——典型的測(cè)量周期僅需幾秒，非常適合發(fā)光元件的生產(chǎn)測(cè)試。
2023-07-20 15:18:07408 
本次我制作了一個(gè)基于英飛凌單片機(jī)的電能質(zhì)量分析儀。也就是利用單片機(jī)采集交流電壓，利用FFT，計(jì)算電壓中的各物理量，并且利用OLED顯示屏對(duì)計(jì)算結(jié)果進(jìn)行顯示。
2023-07-18 16:56:51510 
光電探測(cè)量采用脈沖激光照明半導(dǎo)體襯底并產(chǎn)生電子-空穴對(duì)。電子-空穴對(duì)擴(kuò)散到傳感器的電極，從而可以檢測(cè)到由載流子擴(kuò)散所引起的電壓變化。
2023-07-10 08:56:22423 
一套完整的測(cè)量設(shè)備或者測(cè)量分析系統(tǒng)，包含了傳感器、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)（硬件）和軟件分析系統(tǒng)三部分。
2023-07-03 15:09:13881 
Femto easy的BeamPro系列光束質(zhì)量分析儀（上海屹持光電代理）。所有CCD都經(jīng)過專業(yè)的激光專家精心篩選和驗(yàn)證，以滿足各種激光束測(cè)量的需求。基于像素大小、
2023-06-29 13:39:29
1，可選超寬光譜多波?系列產(chǎn)品，覆蓋紫外到?波紅外波?范圍。 2，較寬的光斑直徑測(cè)量范圍：光斑直徑范圍可滿足目前市場(chǎng)大部分的光斑產(chǎn)品范圍，并支持更小光斑拓展。
2023-06-28 11:39:46659 
電能質(zhì)量分析儀已經(jīng)成為了企業(yè)電氣安全和正常運(yùn)轉(zhuǎn)的設(shè)備之一，其可靠性和使用效果受到廣泛認(rèn)可。企業(yè)如果想要提高設(shè)備的工作效率，延長(zhǎng)設(shè)備的壽命，降低電能成本，就要盡可能利用電能質(zhì)量分析儀的優(yōu)點(diǎn)，并不斷改進(jìn)和完善設(shè)備，實(shí)現(xiàn)企業(yè)的可持續(xù)發(fā)展。
2023-06-19 16:04:10400 英國真尚有ZM10X系列激光光幕測(cè)徑儀在測(cè)量線纜直徑方面的顯著優(yōu)勢(shì)就是它的高精確度。英國真尚有ZM10X系列具有多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)型號(hào)，可以實(shí)時(shí)檢測(cè)不同直徑的電線，最小可測(cè)0.03mm大小的物體，且測(cè)量精度高達(dá)±0.3um，這在傳統(tǒng)方法中是不可能的。而這種高精度確保了線材的質(zhì)量能夠始終如一地保持，并符合所要求的標(biāo)準(zhǔn)。
2023-06-16 11:59:38322 
?光束質(zhì)量分析儀可實(shí)現(xiàn)激光光斑檢測(cè)及測(cè)試應(yīng)用，為客戶提供定制光束質(zhì)量分析一體化設(shè)計(jì)解決方案，并支持多應(yīng)用開發(fā)。 通過光束分析裝置一體化設(shè)計(jì)，配套衰減方案設(shè)計(jì)，支持實(shí)時(shí)曝光及增益調(diào)節(jié)。 可根據(jù)客戶
2023-06-15 16:24:18305 
噪聲系數(shù)分析儀通常是作為頻譜儀的選件功能，配合標(biāo)準(zhǔn)噪聲源，用Y因子法，測(cè)量分析被測(cè)件DUT的噪聲系數(shù)。
2023-06-12 10:22:301240 
PMT-2擦拭布液體顆粒計(jì)數(shù)器，采用英國普洛帝核心技術(shù)創(chuàng)新型的第八代雙激光窄光顆粒檢測(cè)傳感器，雙精準(zhǔn)流量控制-精密計(jì)量柱塞泵和超精密流量電磁控制系統(tǒng)，可以對(duì)清潔產(chǎn)品濕態(tài)發(fā)塵量、潔凈室
2023-06-08 15:56:10
PMT-2清洗劑液體顆粒計(jì)數(shù)器，采用英國普洛帝核心技術(shù)創(chuàng)新型的第八代雙激光窄光顆粒檢測(cè)傳感器，雙精準(zhǔn)流量控制-精密計(jì)量柱塞泵和超精密流量電磁控制系統(tǒng)，可以對(duì)清洗劑、半導(dǎo)體、超純水、電子產(chǎn)品、平板玻璃
2023-06-08 15:50:31
? 技術(shù)背景 物體三維形貌提供豐富直觀的信息，在現(xiàn)代工業(yè)與生活中許多領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用。的非接觸三維測(cè)量有著廣泛的應(yīng)用。經(jīng)典的外觀幾何測(cè)量諸如長(zhǎng)度，角度，平面度，直線度等的測(cè)量技術(shù)一般采用接觸式測(cè)試
2023-05-29 15:20:351100 
在材料生產(chǎn)檢測(cè)領(lǐng)域中，共聚焦顯微鏡主要測(cè)量表面物理形貌，進(jìn)行微納米尺度的三維形貌分析，如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓（縱深、寬度、曲率、角度）、表面粗糙度等。與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡相比，它具有更高
2023-05-25 11:27:02
測(cè)表面反射回來，另外一束光經(jīng)參考鏡反射，兩束反射光最終匯聚并發(fā)生干涉，顯微鏡將被測(cè)表面的形貌特征轉(zhuǎn)化為干涉條紋信號(hào)，通過測(cè)量干涉條紋的變化，能實(shí)現(xiàn)表面輪廓的三維重建并可進(jìn)行輪廓尺寸分析。
白光干涉儀的形貌
2023-05-23 13:58:04
的PCI Express Gen6，也開始采用了多通道技術(shù)。 安立的信號(hào)質(zhì)量分析儀-R MP1900A系列是一款具備8個(gè)模塊插槽的高性能BERT，通過PPG/ED、及抖動(dòng)/噪聲發(fā)生器等擴(kuò)展測(cè)量
2023-05-17 17:59:55
的PCI Express Gen6，也開始采用了多通道技術(shù)。 安立的信號(hào)質(zhì)量分析儀-R MP1900A系列是一款具備8個(gè)模塊插槽的高性能BERT，通過PPG/ED、及抖動(dòng)/噪聲發(fā)生器等擴(kuò)展測(cè)量
2023-05-17 17:57:44
的PCI Express Gen6，也開始采用了多通道技術(shù)。 安立的信號(hào)質(zhì)量分析儀-R MP1900A系列是一款具備8個(gè)模塊插槽的高性能BERT，通過PPG/ED、及抖動(dòng)/噪聲發(fā)生器等擴(kuò)展測(cè)量
2023-05-17 17:54:39
白光干涉儀是以白光干涉技術(shù)為原理，能夠以優(yōu)于納米級(jí)的分辨率，非接觸測(cè)量樣品表面形貌的光學(xué)測(cè)量儀器，用于表面形貌紋理，微觀結(jié)構(gòu)分析，用于測(cè)試各類表面并自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓
2023-05-15 14:34:231961 
發(fā)電機(jī)及關(guān)鍵任務(wù)測(cè)試應(yīng)用——電能質(zhì)量分析儀Dranetz HDPQ系列
2023-05-12 16:43:18377 
研究人員首先對(duì)銀納米顆粒/銅納米線進(jìn)行了合成，并對(duì)制備的銅納米線和化學(xué)沉積后負(fù)載不同尺寸銀納米顆粒的銅納米線進(jìn)行了形貌和結(jié)構(gòu)表征（圖1）。隨后，利用制備的銀納米顆粒/銅納米線材料制備獲得銀納米顆粒/銅納米線電極，用于后續(xù)無酶葡萄糖傳感性能的研究。
2023-05-12 15:19:28631 
對(duì)機(jī)組運(yùn)行汽輪機(jī)潤(rùn)滑油顆粒污染度（即顆粒度）異常升高的現(xiàn)象進(jìn)行了調(diào)查分析，通過各種油液分析手段，采取逐步排除法，將引起顆粒度異常的原因范圍縮小到了“外部污染”。使問題的解決有了明確的方向。
2023-04-25 13:58:26566 
系統(tǒng)研發(fā)和解決方案開發(fā)，擁有OFDR核心技術(shù)，并成功推出國產(chǎn)多功能光學(xué)矢量分析系統(tǒng)--OCI-V。圖1.光矢量分析系統(tǒng)（OCI-V）OCI-V光學(xué)矢量分析系統(tǒng)，原理
2023-04-02 16:54:22755 
本產(chǎn)品像素大小3.45μm 光斑檢測(cè)直徑范圍34.5μm~7mm 標(biāo)配磁吸衰減，方便操作，可選更高功率衰減配置，功率范圍可達(dá)1000W 支持手動(dòng)和自動(dòng)實(shí)時(shí)曝光及增益調(diào)節(jié) 高性價(jià)比，可代替進(jìn)口激光光束質(zhì)量分析儀，實(shí)現(xiàn)激光光斑檢測(cè)及測(cè)試應(yīng)用
2023-03-24 09:54:27910
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