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金屬氧化物可靠性測(cè)試SEM分析
- SEM(14323)
- 氧化物(8114)
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提升開關(guān)電源可靠性：全面了解測(cè)試項(xiàng)目與標(biāo)準(zhǔn)
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2024-03-21 15:50:27
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83通用互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體 (CMOS) 多路復(fù)用器TMUX1208和TMUX1209數(shù)據(jù)表
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2024-03-20 17:27:10
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0具有閂鎖效應(yīng)抑制特性的互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)開關(guān)TMUX722x數(shù)據(jù)表
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2024-03-20 13:49:530
0現(xiàn)代互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體 (CMOS) 模擬多路復(fù)用TMUX734xF數(shù)據(jù)表
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2024-03-20 11:27:500
0現(xiàn)代互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體 (CMOS) 模擬多路復(fù)用器TMUX7308F和TMUX7309F數(shù)據(jù)表
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2024-03-20 11:14:040
0具有閂鎖效應(yīng)抑制特性的互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體 (CMOS) 開關(guān)TMUX7219M數(shù)據(jù)表
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2024-03-20 11:12:390
0互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體 (CMOS) 多路復(fù)用器TMUX4827數(shù)據(jù)表
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2024-03-20 10:57:050
0具有閂鎖效應(yīng)抑制特性的互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體 (CMOS) 開關(guān)TMUX7236數(shù)據(jù)表
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2024-03-20 10:56:000
0板卡壽命評(píng)估與可靠性提升
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2024-03-15 17:27:02
動(dòng)車壽命評(píng)估與可靠性提升
服務(wù)內(nèi)容橫向科研技術(shù)支持和服務(wù)、高鐵裝備、零部件失效分析、可靠性試驗(yàn)方案及可靠性提升方案開發(fā)與執(zhí)行、裝備及系統(tǒng)健康管理技術(shù)方案開發(fā)及軟硬件平臺(tái)搭建。服務(wù)范圍● 車體部件：側(cè)窗、底部大部件、連接件等
2024-03-15 16:46:27
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2024-03-13 14:28:37316
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2024-03-05 08:40:3566
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首樣免費(fèi)掃描電鏡SEM-EDS測(cè)試分析【博仕檢測(cè)】
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2024-03-01 18:59:58
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結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管和金屬氧化物場(chǎng)效應(yīng)管的分類
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場(chǎng)效應(yīng)管分為結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管和金屬氧化物場(chǎng)效應(yīng)管
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可靠性測(cè)試中HALT實(shí)驗(yàn)與HASS實(shí)驗(yàn)的區(qū)別
電子產(chǎn)品高加速壽命測(cè)試HALT、高加速應(yīng)力篩選測(cè)試HASS，都是可靠性測(cè)試的方法，用于評(píng)估電子產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的性能表現(xiàn)和可靠性。那他們之前的區(qū)別是什么呢，跟隨本文來一起了解。
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2024-01-29 22:46:02
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2024-01-25 10:21:16997
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IGBT的可靠性測(cè)試方案
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2024-01-17 09:56:32448
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本文將介紹半導(dǎo)體的可靠性測(cè)試及標(biāo)準(zhǔn)。除了詳細(xì)介紹如何評(píng)估和制定相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)以外，還將介紹針對(duì)半導(dǎo)體封裝預(yù)期壽命、半導(dǎo)體封裝在不同外部環(huán)境中的可靠性，及機(jī)械可靠性等評(píng)估方法。 什么是產(chǎn)品可靠性？ 半導(dǎo)體
2024-01-13 10:24:17712
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食品包裝用氧化物阻隔透明塑料復(fù)合膜水蒸氣透過率測(cè)試儀
食品包裝用氧化物阻隔透明塑料復(fù)合膜水蒸氣透過率測(cè)試儀產(chǎn)品簡介WVTR-C6水蒸氣透過率測(cè)試系統(tǒng)，專業(yè)、高效、智能的WVTR高端測(cè)試系統(tǒng)，適用于塑料薄膜、復(fù)合膜等膜、醫(yī)療、建筑領(lǐng)域等多種材料的水蒸氣
2024-01-05 16:32:43
3300V SiC MOSFET柵氧可靠性研究
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2024-01-04 09:41:54599
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2023-12-28 15:02:23362
362什么是汽車整車可靠性測(cè)試？
當(dāng)今競(jìng)爭(zhēng)激烈的汽車市場(chǎng)中，汽車的品質(zhì)和可靠性已成為消費(fèi)者選擇的重要標(biāo)準(zhǔn)。通過整車可靠性測(cè)試，汽車制造商可以確保他們的產(chǎn)品在各種極端條件下都能表現(xiàn)出色，從而贏得消費(fèi)者的信任和滿意度。
此外，整車
2023-12-22 17:16:20357
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2023-12-22 17:14:28153
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半導(dǎo)體可靠性測(cè)試主要是為了評(píng)估半導(dǎo)體器件在實(shí)際使用過程中的可靠性和穩(wěn)定性。這些測(cè)試項(xiàng)目包括多種測(cè)試方法和技術(shù)，以確保產(chǎn)品的性能、質(zhì)量和可靠性滿足設(shè)計(jì)規(guī)格和用戶需求。下面是關(guān)于半導(dǎo)體可靠性測(cè)試的詳細(xì)
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696三環(huán)阻燃型小型金屬氧化膜固定電阻器
阻燃型小型金屬氧化膜固定電阻器以高溫?zé)Y(jié)導(dǎo)電膜技術(shù)為基礎(chǔ)，通過在氧化鋁陶瓷基體表面精心燒結(jié)導(dǎo)電膜層，經(jīng)過一系列精密工藝步驟制造而成。在制程中，經(jīng)過壓帽分選、刻槽定值、焊接引出線、涂覆阻燃性外封漆以及標(biāo)識(shí)色碼等工藝步驟，確保產(chǎn)品具備卓越的性能和可靠性。
2023-12-18 17:15:38133
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SD NAND?可靠性驗(yàn)證測(cè)試
SDNAND可靠性驗(yàn)證測(cè)試的重要性SDNAND可靠性驗(yàn)證測(cè)試至關(guān)重要。通過檢驗(yàn)數(shù)據(jù)完整性、設(shè)備壽命、性能穩(wěn)定性，確保產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn)，可提高產(chǎn)品的可信度、提高品牌聲譽(yù)，減少維修成本，確保
2023-12-14 14:29:34164
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2023-12-13 15:36:36384
384【科普小貼士】金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管（MOSFET）
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2023-12-13 14:22:41260
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2023-12-07 11:47:37434
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122淺談車規(guī)級(jí)芯片的可靠性測(cè)試方法
加速環(huán)境應(yīng)力可靠性測(cè)試：需要對(duì)芯片進(jìn)行加速環(huán)境應(yīng)力測(cè)試，模擬高溫、低溫、濕熱和溫度循環(huán)等極端環(huán)境條件。這些測(cè)試旨在評(píng)估芯片在極端溫度條件下的可靠性和穩(wěn)定性。
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565提高PCB設(shè)備可靠性的技術(shù)措施
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電路、結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)中，應(yīng)盡量減少接插件、金屬化孔的數(shù)量，電路器件和芯片盡量采用直接在印制板上焊接的方法，選用表面貼裝器件，采用表面貼裝技術(shù)，以避免接觸不良，確保設(shè)備的可靠性
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如何提升基于DC-DC模塊的電源系統(tǒng)的可靠性？ 基于DC-DC模塊的電源系統(tǒng)可靠性是關(guān)乎設(shè)備穩(wěn)定運(yùn)行的重要因素。為了提高可靠性，我們可以從設(shè)計(jì)、選型、制造、測(cè)試和維護(hù)等方面進(jìn)行優(yōu)化和改進(jìn)。以下是一些
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323淺談通信設(shè)備用光電子器件可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)（下）
器件可靠性驗(yàn)證是GR-468最重要的一個(gè)項(xiàng)目，標(biāo)準(zhǔn)對(duì)光電子器件可靠性試驗(yàn)的執(zhí)行程序與主要項(xiàng)目（測(cè)試項(xiàng)，試驗(yàn)條件，樣本量等）進(jìn)行了說明。主要測(cè)試內(nèi)容分為器件性能測(cè)試、器件應(yīng)力測(cè)試和器件加速老化測(cè)試。
2023-11-10 17:47:27628
628半導(dǎo)體可靠性測(cè)試有哪些測(cè)試項(xiàng)目？測(cè)試方法是什么？
可靠性測(cè)試是半導(dǎo)體器件測(cè)試的一項(xiàng)重要測(cè)試內(nèi)容，確保半導(dǎo)體器件的性能和穩(wěn)定性，保證其在各類環(huán)境長時(shí)間工作下的穩(wěn)定性。半導(dǎo)體可靠性測(cè)試項(xiàng)目眾多，測(cè)試方法多樣，常見的有高低溫測(cè)試、熱阻測(cè)試、機(jī)械沖擊測(cè)試、引線鍵合強(qiáng)度測(cè)試等。
2023-11-09 15:57:52748
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芯片的老化試驗(yàn)及可靠性如何測(cè)試？
芯片的老化試驗(yàn)及可靠性如何測(cè)試？ 芯片的老化試驗(yàn)及可靠性測(cè)試是評(píng)估芯片性能和使用壽命的關(guān)鍵步驟。老化試驗(yàn)旨在模擬芯片在長期使用過程中可能遭遇的各種環(huán)境和應(yīng)激，并確定芯片的可靠性和耐久性。本文將詳細(xì)
2023-11-09 09:12:011120
1120鎂合金微弧氧化電源驅(qū)動(dòng)電路可靠性分析
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0基于金屬氧化物的一氧化碳傳感器的挑戰(zhàn)與發(fā)展
的氣敏材料十分豐富，其中金屬氧化物敏感材料由于其良好的電學(xué)、光學(xué)以及傳感特性被廣泛應(yīng)用。氣體傳感器性能的改進(jìn)主要依托于敏感材料的形貌修飾以及不同材料之間的摻雜與復(fù)合，以起到“1+1>2”的作用，使之具備更優(yōu)異的靈敏度和選擇
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請(qǐng)問機(jī)械溫控開關(guān)的可靠性有多少？
機(jī)械溫控開關(guān)的可靠性有多少？我看溫控開關(guān)的體積很小，價(jià)格便宜，可以用于一些溫度控制方面，不過可靠性有多少呢？
2023-10-31 06:37:26
電子產(chǎn)品的生命之源：可靠性測(cè)試的力量
半導(dǎo)體器件可靠性測(cè)試指的是評(píng)估半導(dǎo)體器件在不同工作條件下的長期穩(wěn)定性和可靠性的一系列測(cè)試和分析方法。這些測(cè)試旨在確保半導(dǎo)體器件在其設(shè)計(jì)壽命內(nèi)能夠正常運(yùn)行，不會(huì)出現(xiàn)意外故障，從而滿足用戶和應(yīng)用的需求
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智能鑰匙是一種新型的智能家居設(shè)備，它使你可以通過手機(jī)或者其他智能設(shè)備輕松地控制你的房門、車門、辦公室等入口。智能鑰匙可以提供更加便捷、安全和智能化的操作方式，但是這種設(shè)備并非完美無缺，它也面臨著一些風(fēng)險(xiǎn)和缺陷，需要經(jīng)過可靠性測(cè)試，確保它能夠可靠地運(yùn)行。
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電子元器件測(cè)試軟件助力可靠性測(cè)試，保證器件性能和質(zhì)量
電子元器件可靠性測(cè)試是保證元器件性能和質(zhì)量的一個(gè)重要測(cè)試項(xiàng)目，同時(shí)也是電子設(shè)備可靠性的基礎(chǔ)。常見的可靠性測(cè)試項(xiàng)目有機(jī)械沖擊測(cè)試、高溫存儲(chǔ)測(cè)試、溫度循壞測(cè)試、引線鍵合強(qiáng)度測(cè)試等。
2023-10-11 14:49:05350
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以創(chuàng)新研發(fā)引領(lǐng)未來 金屬氧化物面板技術(shù)引領(lǐng)行業(yè)新潮流
華映科技擁有自主研發(fā)的金屬氧化物面板技術(shù)，這是目前國內(nèi)領(lǐng)先的氧化物器件技術(shù)。這種技術(shù)的突破，使得華映科技在全球顯示行業(yè)的地位日益提升。2023年，公司的一款12.6寸金屬氧化物2.5K高刷高靈敏臻彩屏，在第十一屆中國電子信息博覽會(huì)上榮獲了顯示創(chuàng)新獎(jiǎng)。
2023-10-10 16:57:09456
456扇出型封裝結(jié)構(gòu)可靠性試驗(yàn)方法及驗(yàn)證
基于可靠性試驗(yàn)所用的菊花鏈測(cè)試結(jié)構(gòu)，對(duì)所設(shè)計(jì)的扇出型封裝結(jié)構(gòu)進(jìn)行了完整的菊花鏈芯片制造及后道組裝工藝制造，并對(duì)不同批次、不同工藝參數(shù)條件下的封裝樣品進(jìn)行電學(xué)測(cè)試表征、可靠性測(cè)試和失效樣品分析。
2023-10-08 10:18:15217
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電流探頭的可靠性驗(yàn)證
電流探頭是一種用于測(cè)量電路中電流的設(shè)備，通常與萬用表或示波器一起使用。它是一個(gè)重要的測(cè)試工具，因此必須進(jìn)行驗(yàn)證以確保其可靠性。
2023-09-22 10:53:07242
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振動(dòng)試驗(yàn) 環(huán)境可靠性測(cè)試
服務(wù)內(nèi)容廣電計(jì)量是國內(nèi)振動(dòng)試驗(yàn)?zāi)芰^完善的權(quán)威檢測(cè)認(rèn)證服務(wù)機(jī)構(gòu)之一，配備了（1~35）噸不同推力的振動(dòng)臺(tái)，可滿足不同尺寸、重量的樣品的振動(dòng)測(cè)試需求。服務(wù)范圍本商品可提供針對(duì)家用電器、汽車零部件、線束
2023-09-21 16:52:00
功率器件可靠性試驗(yàn)測(cè)試項(xiàng)目
龍騰半導(dǎo)體建有功率器件可靠性與應(yīng)用實(shí)驗(yàn)中心，專注于產(chǎn)品設(shè)計(jì)驗(yàn)證、參數(shù)檢測(cè)、可靠性驗(yàn)證、失效分析及應(yīng)用評(píng)估，公司參考半導(dǎo)體行業(yè)可靠性試驗(yàn)條件和抽樣原則，制定產(chǎn)品可靠性規(guī)范并依此對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行完整可靠性驗(yàn)證。
2023-09-20 16:29:21808
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硬件IIC與軟件IIC在使用上的區(qū)別，對(duì)產(chǎn)品可靠性與效率的影響？
硬件IIC與軟件IIC在使用上的區(qū)別，對(duì)產(chǎn)品可靠性與效率的影響
2023-09-20 07:53:05
龍騰半導(dǎo)體建有功率器件可靠性與應(yīng)用實(shí)驗(yàn)中心
? 走進(jìn)龍騰實(shí)驗(yàn)室 功率器件可靠性試驗(yàn)測(cè)試項(xiàng)目系列專題（一） ? 可靠性實(shí)驗(yàn)室介紹 ? 龍騰半導(dǎo)體建有功率器件可靠性與應(yīng)用實(shí)驗(yàn)中心，專注于產(chǎn)品設(shè)計(jì)驗(yàn)證、參數(shù)檢測(cè)、可靠性驗(yàn)證、失效分析及應(yīng)用評(píng)估，公司
2023-09-12 10:23:45698
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110kV金屬氧化物避雷器的停電預(yù)防性試驗(yàn)（MOA的結(jié)構(gòu)原理）
本課程介紹了110kV金屬氧化物避雷器的停電預(yù)防性試驗(yàn)。首先介紹了MOA的結(jié)構(gòu)原理及M0A預(yù)防目的意義。
在電力線上如安裝氧化鋅避雷器后，當(dāng)雷擊時(shí)，雷電波的高電壓使壓敏電阻擊穿，雷電流通過壓敏電阻流入大地，使電源線上的電壓控制在安全范圍內(nèi)，從而保護(hù)了電器設(shè)備的安全。
2023-09-01 10:14:06728
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石墨烯負(fù)載金屬氧化物催化劑的制備方法
石墨烯作為一種特殊的二維材料，具有高導(dǎo)電性、 高比表面積以及優(yōu)異的化學(xué)和機(jī)械穩(wěn)定性，金屬氧化物納米顆粒與石墨烯結(jié)合制備獲得的復(fù)合催化劑材料，可增強(qiáng)催化劑體系的導(dǎo)電性、分散性、ORR活性以及穩(wěn)定性
2023-08-11 10:45:39364
364可靠性證明測(cè)試：高度加速壽命測(cè)試
壽命測(cè)試是一種重要的可靠性測(cè)試方法，用于評(píng)估組件、子系統(tǒng)或系統(tǒng)在預(yù)期或指定的使用壽命條件下的性能和可靠性。壽命測(cè)試旨在模擬實(shí)際應(yīng)用環(huán)境中物品所面臨的各種因素和應(yīng)力，例如時(shí)間、溫度、振動(dòng)、沖擊、電壓等，并通過持續(xù)的測(cè)試和監(jiān)測(cè)來觀察物品在這些條件下的行為。
2023-08-01 16:31:20505
505半導(dǎo)體可靠性測(cè)試有哪些
在半導(dǎo)體器件中，常見的一些加速因子為溫度、濕度、電壓和電流。 在大多數(shù)情況下，加速測(cè)試不改變故障的物理特性，但會(huì)轉(zhuǎn)移觀察時(shí)間。 加速條件和正常使用條件之間的轉(zhuǎn)移稱為“降額”。那么半導(dǎo)體可靠性測(cè)試有哪些？讓凱智通小編告訴你~
2023-07-13 14:47:182548
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詳細(xì)的理解可靠性分配
總之，可靠性分配是一種有助于理解復(fù)雜系統(tǒng)可靠性的方法。通過將系統(tǒng)分解為更小的組件，并為每個(gè)組件分配可靠性指標(biāo)，可以進(jìn)行更詳細(xì)和全面的可靠性分析，從而提高系統(tǒng)的可靠性和性能。
2023-07-11 10:48:01810
810嵌入式軟件可靠性設(shè)計(jì)
設(shè)備的可靠性涉及多個(gè)方面：穩(wěn)定的硬件、優(yōu)秀的軟件架構(gòu)、嚴(yán)格的測(cè)試以及市場(chǎng)和時(shí)間的檢驗(yàn)等等。
2023-07-11 10:09:32213
213電子產(chǎn)品常規(guī)的可靠性測(cè)試項(xiàng)目有哪些？
和儲(chǔ)存的環(huán)境條件下的性能，并分析研究環(huán)境因素的影響程度及其作用機(jī)理。191-0751-6775陳S 常規(guī)的可靠性測(cè)試項(xiàng)目如下： 1、氣候環(huán)境測(cè)試：高溫測(cè)試、低溫測(cè)試、溫濕度循環(huán)/恒定濕熱測(cè)試、冷熱沖擊測(cè)試、快速溫變測(cè)試、低氣壓測(cè)試、
2023-07-04 14:30:441184
1184車規(guī)級(jí)功率器件可靠性測(cè)試難點(diǎn)及應(yīng)用場(chǎng)景
車規(guī)級(jí)功率器件未來發(fā)展趨勢(shì)
材料方面: SiC和GaN是必然趨勢(shì)，GaAs在細(xì)分領(lǐng)域有可能
●封裝方面:高功率密度、高可靠性和定制化
●評(píng)測(cè)方面:多應(yīng)力綜合測(cè)試方法、新型結(jié)溫測(cè)試方法和技術(shù)
●進(jìn)展方面:國產(chǎn)在趕超進(jìn)口(參數(shù)和性能)，可靠性還需要時(shí)間沉淀
2023-07-04 10:48:05415
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華秋干貨鋪：PCB板表面如何處理提高可靠性設(shè)計(jì)
PCB板為什么要做表面處理？
由于PCB上的銅層很容易被氧化，因此生成的銅氧化層會(huì)嚴(yán)重降低焊接質(zhì)量，從而降低最終產(chǎn)品的可靠性和有效性，為了避免這種情況的發(fā)生，需要對(duì)PCB進(jìn)行表面處理。
常見的表面
2023-06-25 11:17:44
PCB板表面如何處理提高可靠性設(shè)計(jì)
PCB板為什么要做表面處理？
由于PCB上的銅層很容易被氧化，因此生成的銅氧化層會(huì)嚴(yán)重降低焊接質(zhì)量，從而降低最終產(chǎn)品的可靠性和有效性，為了避免這種情況的發(fā)生，需要對(duì)PCB進(jìn)行表面處理。
常見的表面
2023-06-25 10:37:54
單片GaN器件集成驅(qū)動(dòng)功率轉(zhuǎn)換的效率/密度和可靠性分析
單片GaN器件集成驅(qū)動(dòng)功率轉(zhuǎn)換的效率、密度和可靠性
2023-06-21 09:59:28
液氮恒溫器在氧化物界面的新應(yīng)用
? 錦正茂的液氮恒溫器在氧化物界面處的二維電子體系（2DES）做為一個(gè)獨(dú)特的平臺(tái)，將典型復(fù)合氧化物、強(qiáng)電子相關(guān)的低溫物理特性以及由2DES有限厚度引起的量子限域集成于一體。
2023-06-19 11:14:56204
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宏展 Lab Companion 可靠性雙85試驗(yàn)
為溫度85℃，且濕度為85%的條件下，對(duì)試驗(yàn)體進(jìn)行老化測(cè)試，也就是嚴(yán)酷的環(huán)境可靠性試驗(yàn)，比較常用的測(cè)試時(shí)間為1000小時(shí)，主要檢驗(yàn)產(chǎn)品在高溫高濕的惡劣環(huán)境下所能承
2023-06-12 16:52:50456
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芯片功能測(cè)試的五種方法！
芯片功能測(cè)試常用5種方法有板級(jí)測(cè)試、晶圓CP測(cè)試、封裝后成品FT測(cè)試、系統(tǒng)級(jí)SLT測(cè)試、可靠性測(cè)試。
2023-06-09 16:25:42
軍用電子元器件二篩，進(jìn)口元器件可靠性篩選試驗(yàn)
軍用電子元器件二篩，二次篩選試驗(yàn)，進(jìn)口元器件可靠性篩選試驗(yàn)
按性質(zhì)分類：
（1）檢查篩選：顯微鏡檢查、紅外線非破壞檢查、X射線非破壞性檢查。
（2）密封性篩選：液浸檢漏、氦質(zhì)譜檢漏、放射性示蹤檢漏
2023-06-08 09:17:22
如何提高芯片測(cè)試準(zhǔn)確性和可靠性老化座
芯片測(cè)試治具是一種用于芯片測(cè)試的實(shí)驗(yàn)室設(shè)備，可以實(shí)現(xiàn)芯片的功能測(cè)試、參數(shù)測(cè)試和性能測(cè)試，它可以幫助電子工程師驗(yàn)證芯片的性能和可靠性，實(shí)現(xiàn)芯片的精確測(cè)試和優(yōu)化。
2023-05-30 15:26:25453
453汽車零部件環(huán)境可靠性實(shí)驗(yàn)室及電磁兼容EMC測(cè)試機(jī)構(gòu)
試驗(yàn)，電壓暫降測(cè)試，騷擾功率試驗(yàn)，電磁抗擾試驗(yàn)室，射頻測(cè)試，電磁場(chǎng)輻射試驗(yàn)，抗繞度試驗(yàn)，電瞬態(tài)干擾試驗(yàn)，插入損耗試驗(yàn)等。
可靠性試驗(yàn)/可靠性測(cè)試：
可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)，加速壽命試驗(yàn)（halt），環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)（ess），可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)，可靠性鑒定試驗(yàn)，可靠性增長試驗(yàn)。
2023-05-23 15:55:57
幾種常見的芯片可靠性測(cè)試方法
可靠性測(cè)試對(duì)于芯片的制造和設(shè)計(jì)過程至關(guān)重要。通過進(jìn)行全面而嚴(yán)格的可靠性測(cè)試，可以提前發(fā)現(xiàn)并解決潛在的設(shè)計(jì)缺陷、制造問題或環(huán)境敏感性，從而確保芯片在長期使用中的性能和可靠性。
2023-05-20 16:47:5211462
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電子產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn)
一般來說為了評(píng)價(jià)分析電子產(chǎn)品可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)稱為可靠性試驗(yàn)，是為預(yù)測(cè)從產(chǎn)品出廠到其使用壽命結(jié)束期間的質(zhì)量情況
2023-05-20 09:16:021009
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可制造性、可靠性和可測(cè)性協(xié)同設(shè)計(jì)
可制造性設(shè)計(jì) (Design for Manufacturabiity， DFM)、可靠性設(shè)計(jì) (Designfor Reliability， DFR)與可測(cè)試性設(shè)計(jì) (Design
2023-05-18 10:55:541430
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北京2023年6月15-17日《硬件電路可靠性設(shè)計(jì)、測(cè)試與案例分析》即將開課！
課程名稱：《硬件電路可靠性設(shè)計(jì)、測(cè)試與案例分析》講師：王老師時(shí)間地點(diǎn)：北京6月15日-17日主辦單位：賽盛技術(shù)課程特色1.案例多，案例均來自于電路設(shè)計(jì)缺陷導(dǎo)致的實(shí)際產(chǎn)品可靠性問題2.課程內(nèi)容圍繞電路
2023-05-18 10:40:50350
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求分享MPC5200CVR400B和PCF8582C-2T/03可靠性數(shù)據(jù)
我想知道產(chǎn)品MPC5200CVR400B和PCF8582C-2T/03的MTBF或FIT值來做可靠性預(yù)測(cè)工作
2023-05-17 08:49:55
嵌入式軟件可靠性設(shè)計(jì)的編程要點(diǎn)
設(shè)備的可靠性涉及多個(gè)方面：穩(wěn)定的硬件、優(yōu)秀的軟件架構(gòu)、嚴(yán)格的測(cè)試以及市場(chǎng)和時(shí)間的檢驗(yàn)等等。
2023-05-16 09:39:57427
427評(píng)估汽車PCB制造商可靠性的5種可靠方法
計(jì)劃和先前的質(zhì)量分析，然后進(jìn)行FMEA（故障模式和影響分析）分析并提出防止產(chǎn)品潛在故障的措施，MSA（測(cè)量系統(tǒng)分析）必須分析測(cè)量結(jié)果的變化以確認(rèn)測(cè)量可靠性，SPC（統(tǒng)計(jì)過程控制）掌握生產(chǎn)規(guī)程并使用統(tǒng)計(jì)技術(shù)來
2023-04-24 16:34:26
通過柔性和剛硬的PCB簡化裝配并提高可靠性
昂貴且復(fù)雜的離散互連電纜會(huì)降低設(shè)計(jì)的可靠性，增加設(shè)計(jì)成本和總體設(shè)計(jì)尺寸。幸運(yùn)的是，還有其他形式的柔性和柔性剛硬的PCB.柔性PCB可以為您提供滿足您的設(shè)計(jì)互連要求的經(jīng)濟(jì)高效且方便的解決方案，并
2023-04-21 15:52:50
《炬豐科技-半導(dǎo)體工藝》金屬氧化物半導(dǎo)體的制造
書籍：《炬豐科技-半導(dǎo)體工藝》 文章：金屬氧化物半導(dǎo)體的制造 編號(hào)：JFKJ-21-207 作者：炬豐科技 概述 CMOS制造工藝概述 ? CMOS制造工藝流程 ? 設(shè)計(jì)規(guī)則 ? 互補(bǔ)金屬氧化物
2023-04-20 11:16:00247
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失效分析和可靠性測(cè)試：為什么SAM現(xiàn)在是必不可少的設(shè)備
對(duì)所有制造材料進(jìn)行100%全面檢查。 制造商測(cè)試實(shí)驗(yàn)室、研發(fā)中心、材料研究小組和質(zhì)量控制部門，尋找微小缺陷正在刺激對(duì)掃描聲學(xué)顯微鏡(SAM)設(shè)備的投資。失效分析和可靠性檢測(cè)計(jì)量技術(shù)已變得至關(guān)重要，現(xiàn)在SAM與X射線和掃描電子顯微鏡(SEM)等其他實(shí)驗(yàn)室測(cè)試和測(cè)量儀器并駕齊驅(qū)。
2023-04-14 16:21:39925
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碳化硅SiC MOSFET:低導(dǎo)通電阻和高可靠性的肖特基勢(shì)壘二極管
Toshiba研發(fā)出一種SiC金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管（MOSFET)，其將嵌入式肖特基勢(shì)壘二極管（SBD）排列成格子花紋（check-pattern embedded SBD），以降低導(dǎo)通電
2023-04-11 15:29:18
PCB設(shè)計(jì)中的可靠性有哪些？如何提高PCB設(shè)計(jì)的可靠性呢？
PCB設(shè)計(jì)中的可靠性有哪些？ 實(shí)踐證明，即使電路原理圖設(shè)計(jì)正確，如果PCB設(shè)計(jì)不當(dāng)，也會(huì)對(duì)電子設(shè)備的可靠性產(chǎn)生不利的影響。舉個(gè)簡單的例子，如果PCB兩條細(xì)平行線靠得很近的話，則會(huì)造成信號(hào)波形
2023-04-10 16:03:54
半導(dǎo)體器件在高溫環(huán)境下的可靠性
半導(dǎo)體元器件在高溫環(huán)境下的可靠性是制造商和用戶十分關(guān)注的問題。高溫試驗(yàn)是一種常用的測(cè)試方法，通過模擬實(shí)際使用中的高溫環(huán)境，可以評(píng)估元器件在高溫下的性能和可靠性。高溫試驗(yàn)需要仔細(xì)設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)方案，包括選擇
2023-04-07 10:21:03766
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求分享BSS138PW/BSS84AKW，115可靠性數(shù)據(jù)
我想知道這些設(shè)備的可靠性數(shù)據(jù)，例如 MTBF 和 FIT，BSS138PW BSS84AKW，115
2023-04-03 08:12:35
氧化鋅壓敏電阻的原理是什么？有何特點(diǎn)？
氧化鋅壓敏電阻以氧化鋅（ZnO）為基料，加入Bi2O3、Co2O3、MnCO3等多種金屬氧化物混合，經(jīng)過高溫?zé)Y(jié)、焊接、包封等多重工序制成的電阻器
2023-03-30 10:26:261973
1973服務(wù)器可靠性設(shè)計(jì)原理及分析方法
可靠性/可用性驗(yàn)證測(cè)試FIT:定義及目的
FIT (Fault Injection Test) :故障注入測(cè)試,通過向系統(tǒng)注入在實(shí)際應(yīng)用中可能發(fā)生的故障,觀察系統(tǒng)功能性能變化,故
障檢測(cè)、定位、隔離以及故障恢復(fù)情況，發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品缺陷、評(píng)估系統(tǒng)可靠性的測(cè)試方法。
2023-03-29 09:18:47589
589在哪里獲得PCA85073ADP/FS32K144HAT0MLHT可靠性測(cè)試報(bào)告？
嗨，我在哪里可以獲得以下芯片的可靠性測(cè)試報(bào)告？FS32K144HAT0MLHTPCA85073ADPTJA1044GT/3
2023-03-23 06:20:13
工商網(wǎng)監(jiān)
評(píng)論